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Microelectronics & Reliability
Microelectronics & Reliability
美国《科学引文索引》(SCI)
美国《工程索引》(EI)
中文名称：微电子学与可靠性
ISSN：
0026-2714
出版周期：
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1.
METHODOLOGY FOR CREATING 'REJUVENATING' DEVICES
机译：
创建“振兴”设备的方法
作者：
E. M. BASKIN
期刊名称：
《Microelectronics & Reliability》
|
1998年第4期
2.
THERMOMECHANICAL FAILURES IN MICROELECTRONIC INTERCONNECTS
机译：
微电子互连中的热机械故障
作者：
J. W. EVANS
;
J. Y. EVANS
;
P. LALL
期刊名称：
《Microelectronics & Reliability》
|
1998年第4期
3.
Application of l/f noise measurements to the characterization of near-interface oxide traps in ULSI n-MOSFETs
机译：
l / f噪声测量在ULSI n-MOSFETs的近界面氧化物陷阱表征中的应用
作者：
S. Villa
;
G. De Geronimo
;
A. Pacelli
期刊名称：
《Microelectronics & Reliability》
|
1998年第12期
4.
Design rule related defects formation
机译：
设计规则相关的缺陷形成
作者：
Y.F. Hsieh
;
B.Y. Tsui
期刊名称：
《Microelectronics & Reliability》
|
1998年第12期
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