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【摘要】为了确保存储器模块制造商的质量,必须对存储器模块进行测试。但是,存在一个问题,即LSI测试仪价格昂贵且成本低廉,因此无法生成任意的测试图案。成本高的内存模块测试仪,具有灵活的内存测试和评估功能。基于内存测试算法和DDR3内存模块接口的内存测试处理器在测试仪中的FPGA上实现。本文介绍了开发的DDR3内存的体系结构此外,我们使用原型报告评估结果。%内存模块制造商需要测试制造的内存模块以确保质量。然而,可商购的存储器模块测试仪价格昂贵,而低成本的存储器模块测试仪具有诸如不能创建任意测试图案的问题。因此,我们开发了一种低成本的存储器模块测试仪,该测试仪在评估和测试方面具有灵活性。在该测试仪中,基于存储器测试算法的存储器测试处理器和DDR3存储器模块接口安装在FPGA上。本文介绍了开发的DDR3内存模块测试仪,并报告了使用原型测试仪的评估结果。
【作者】浅川 毅;松埜 智;土屋 秀和;関 達也;熊澤 慎一;
【作者单位】東海大学大学院工学研究科; 平塚市; 東海大学大学院工学研究科; 平塚市; 株式会社日立ハイテクエンジニアリングサービス.小平市; 株式会社テクニカ; 西多摩郡; 株式会社テクニカ; 西多摩郡;
【年(卷),期】2011(110),413
【年度】2011
【页码】p.1-6
【总页数】6
【原文格式】PDF
【正文语种】jpn
【中图分类】