掌桥科研
一站式科研服务平台
科技查新
收录引用
专题文献检索
外文数据库(机构版)
更多产品
首页
成为会员
我要充值
退出
我的积分:
中文会员
开通
中文文献批量获取
外文会员
开通
外文文献批量获取
我的订单
会员中心
我的包量
我的余额
登录/注册
文献导航
中文期刊
>
中文会议
>
中文学位
>
中国专利
>
外文期刊
>
外文会议
>
外文学位
>
外国专利
>
外文OA文献
>
外文科技报告
>
中文图书
>
外文图书
>
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
美国国防部AD报告
美国能源部DE报告
美国航空航天局NASA报告
美国商务部PB报告
外军国防科技报告
美国国防部
美国参联会主席指示
美国海军
美国空军
美国陆军
美国海军陆战队
美国国防技术信息中心(DTIC)
美军标
美国航空航天局(NASA)
战略与国际研究中心
美国国土安全数字图书馆
美国科学研究出版社
兰德公司
美国政府问责局
香港科技大学图书馆
美国海军研究生院图书馆
OALIB数据库
在线学术档案数据库
数字空间系统
剑桥大学机构知识库
欧洲核子研究中心机构库
美国密西根大学论文库
美国政府出版局(GPO)
加利福尼亚大学数字图书馆
美国国家学术出版社
美国国防大学出版社
美国能源部文献库
美国国防高级研究计划局
美国陆军协会
美国陆军研究实验室
英国空军
美国国家科学基金会
美国战略与国际研究中心-导弹威胁网
美国科学与国际安全研究所
法国国际关系战略研究院
法国国际关系研究所
国际宇航联合会
美国防务日报
国会研究处
美国海运司令部
北约
盟军快速反应部队
北约浅水行动卓越中心
北约盟军地面部队司令部
北约通信信息局
北约稳定政策卓越中心
美国国会研究服务处
美国国防预算办公室
美国陆军技术手册
一般OA
科技期刊论文
科技会议论文
图书
科技报告
科技专著
标准
其它
美国卫生研究院文献
分子生物学
神经科学
药学
外科
临床神经病学
肿瘤学
细胞生物学
遗传学
公共卫生&环境&职业病
应用微生物学
全科医学
免疫学
动物学
精神病学
兽医学
心血管
放射&核医学&医学影像学
儿科
医学进展
微生物学
护理学
生物学
牙科&口腔外科
毒理学
生理学
医院管理
妇产科学
病理学
生化技术
胃肠&肝脏病学
运动科学
心理学
营养学
血液学
泌尿科学&肾病学
生物医学工程
感染病
生物物理学
矫形
外周血管病
药物化学
皮肤病学
康复学
眼科学
行为科学
呼吸学
进化生物学
老年医学
耳鼻喉科学
发育生物学
寄生虫学
病毒学
医学实验室检查技术
生殖生物学
风湿病学
麻醉学
危重病护理
生物材料
移植
医学情报
其他学科
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
主题
主题
题名
作者
关键词
摘要
高级搜索 >
外文期刊
外文会议
外文学位
外国专利
外文图书
外文OA文献
中文期刊
中文会议
中文学位
中国专利
中文图书
外文科技报告
清除
历史搜索
清空历史
首页
>
外文会议
>
其他
>
2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.
2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.
召开年:
召开地:
出版时间:
-
会议文集:
-
会议论文
热门论文
全部论文
全选(
0
)
清除
导出
1.
Total Ionizing Dose and Single Event Latch-Up Characterization of a 16-Bit A-to-D Converter Fabricated in 0.18µm Triple-Well CMOS Process
机译:
采用0.18μm三阱CMOS工艺制造的16位模数转换器的总电离剂量和单事件闩锁特性
作者:
Zanchi Alfio
;
Hisano Shinichi
;
Hafer Craig
;
Kerwin David B.
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
2.
Equipment and Test Results of the Electronic Components to SEE in the Temperature Range
机译:
电子元件在温度范围内符合SEE的设备和测试结果
作者:
Anashin Vasily S.
;
Kozyukov Alexander E.
;
Emeliyanov Vladimir V.
;
Ozerov Alexander I.
;
Vatuev Alexander S.
;
Besetskiy Alexey V.
;
Skuratov Vladimir A.
;
Bakerenkov Alexander S.
;
Belyakov Vladimir V.
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
3.
'PICO-4' Single Event Effects Evaluation and Testing Facility Based on Wavelength Tunable Picosecond Laser
机译:
基于波长可调皮秒激光器的“ PICO-4”单事件效果评估和测试设施
作者:
Egorov Andrey N.
;
Chumakov Alexander I.
;
Mavritskiy Oleg B.
;
Pechenkin Alexander A.
;
Koltsov DmitriyO.
;
Yanenko Andrey V.
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
4.
Low-Energy Proton Testing Using the Boeing Radiation Effects Laboratory 2.2 MeV Dynamitron
机译:
使用波音辐射效应实验室的低能量质子测试2.2 MeV发电机
作者:
Wert Jerry
;
Russell Dennis
;
Bartholet Bill
;
Clemen Jr. Mark
;
Koehn Jason
;
Schasteen Bill
;
Cannon Ethan
;
Cabanas-Holmen Manuel
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
5.
Compendium of Single-Event Latchup and Total Ionizing Dose Test Results of Commercial Analog to Digital Converters
机译:
商用模数转换器的单事件闩锁和总电离剂量测试结果汇编
作者:
Irom Farokh
;
Agarwal Shri G.
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
6.
Single Event Upset Characterization of the Virtex-6 Field Programmable Gate Array Using Proton Irradiation
机译:
使用质子辐照的Virtex-6现场可编程门阵列的单事件翻转表征
作者:
Hiemstra David M.
;
Kirischian Valeri
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
7.
Electrical Test Conditioning Influence on Total Ionizing Dose Response of SRAMs
机译:
电气测试条件对SRAM总电离剂量响应的影响
作者:
Lawrence Reed K.
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
8.
Single Event Effects Characterization of Maxwell 7846B DAC
机译:
Maxwell 7846B DAC的单事件效果表征
作者:
Stone Stephen E.
;
Lombardi Robert E.
;
Seehra Surinder S.
;
Likar Justin J.
;
Begovic Jasmin
;
Herschitz Roman
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
9.
Neutron-Induced Soft Errors in Graphic Processing Units
机译:
图形处理单元中的中子引起的软错误
作者:
Rech P.
;
Aguiar C.
;
Ferreira R.
;
Silvestri M.
;
Griffoni A.
;
Frost C.
;
Carro L.
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
10.
On-Orbit Results for the Xilinx Virtex-4 FPGA
机译:
Xilinx Virtex-4 FPGA的在轨结果
作者:
Quinn Heather
;
Graham Paul
;
Morgan Keith
;
Baker Zachary
;
Caffrey Michael
;
Smith Dave
;
Bell Randy
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
11.
Total Ionizing Dose Radiation Test on the Temperature Sensor TMP36 from Analog Devices
机译:
Analog Devices温度传感器TMP36的总电离剂量辐射测试
作者:
Álvarez Maite
;
Jiménez Juan J.
;
González-Guerrero Miguel
;
Hernando Carlos
;
Guerrero Héctor
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
12.
Guide to the 2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop Record
机译:
2011 IEEE辐射效应数据研讨会记录指南
作者:
Hiemstra David M.
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
13.
Compendium of Recent Test Results of Single Event Effects Conducted by the Jet Propulsion Laboratory
机译:
喷气推进实验室进行的单项效应最新测试结果汇总
作者:
Allen Gregory R.
;
Guertin Steven M.
;
Scheick Leif Z.
;
Irom Farokh
;
Zajac Stephanie
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
14.
Results of Displacement Damage Testing of the Intersil ISL70227SRH Dual Operational Amplifier
机译:
Intersil ISL70227SRH双路运算放大器的位移损坏测试结果
作者:
van Vonno N. W.
;
Hood R. A.
;
Mansilla O.
;
Thomson E. J.
;
Ballou F. C.
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
15.
Total Dose and Single Event Testing of the Intersil ISL75051SRH Low Dropout Regulator
机译:
Intersil ISL75051SRH低压降稳压器的总剂量和单事件测试
作者:
van Vonno N. W.
;
Pearce L. W.
;
Knudsen K. C.
;
Thomson E. J.
;
Bernard T. M.
;
Chesley P. J.
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
16.
Single Event Effects Sensitivity of DDR3 SDRAMs to Protons and Heavy Ions
机译:
单个事件影响DDR3 SDRAM对质子和重离子的敏感性
作者:
Koga R.
;
George J.
;
Bielat S.
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
17.
Programmatic Impact of SDRAM SEFI
机译:
SDRAM SEFI的程序影响
作者:
Guertin Steven M.
;
Allen Gregory R.
;
Sheldon Douglas J.
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
18.
Total Dose and Transient Response of SiGe HBTs from a New 4th-Generation, 90 nm SiGe BiCMOS Technology
机译:
新型第四代90 nm SiGe BiCMOS技术的SiGe HBT的总剂量和瞬态响应
作者:
Lourenco Nelson E.
;
Schmid Robert L.
;
Moen Kurt A.
;
Phillips Stanley D.
;
England Troy D.
;
Cressler John D.
;
Pekarik John
;
Adkisson James
;
Camillo-Castillo Renata
;
Cheng Peng
;
Monaghan John Ellis
;
Gray Peter
;
Harame David
;
Khater Marwan
;
Liu Qizhi
;
Vallett
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
19.
Recent Power MOSFET Single Event Testing Results
机译:
最近的功率MOSFET单事件测试结果
作者:
Scheick Leif Z.
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
20.
Evaluation of Enhanced Low Dose Rate Sensitivity in Discrete Bipolar Junction Transistors
机译:
离散双极结型晶体管中增强的低剂量率灵敏度的评估
作者:
Chen Dakai
;
Topper Alyson
;
Forney James
;
Triggs Brian
;
Kazmakites Tony
;
Pease Ronald
;
Ladbury Raymond
;
LaBel Kenneth
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
21.
Compendium of Total Ionizing Dose and Displacement Damage for Candidate Spacecraft Electronics for NASA
机译:
NASA候选航天器电子设备的总电离剂量和位移损伤简编
作者:
Cochran Donna J.
;
Boutte Alvin J.
;
Chen Dakai
;
Pellish Jonathan A.
;
Ladbury Raymond L.
;
Casey Megan C.
;
Campola Michael J.
;
Wilcox Edward P.
;
OBryan Martha V.
;
LaBel Kenneth A.
;
Lauenstein Jean-Marie
;
Batchelor David A.
;
Oldham Timothy R.
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
22.
Compendium of Radiation Test Results from Ball Aerospace Technologies Corp.
机译:
Ball Aerospace&Technologies Corp.的辐射测试结果简编。
作者:
Scott Katherine
;
Bird John
;
Davies Robert
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
23.
Measurement Methods for Total Ionising Dose Testing: In-Situ versus Standard Practice
机译:
总电离剂量测试的测量方法:原位与标准实践
作者:
Hofman Jiri
;
Sharp Richard
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
24.
A Comparison of High-Energy Electron and Cobalt-60 gamma-Ray Radiation Testing
机译:
高能电子和钴60伽马射线辐射测试的比较
作者:
Casey Megan C.
;
Boutte Alvin J.
;
Campola Michael J.
;
Carts Martin A.
;
Wilcox Edward P.
;
Marshall Cheryl J.
;
Phan Anthony M.
;
Pellish Jonathan A.
;
Powell Wesley A.
;
Xapsos Michael A.
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
25.
SEU, SET, and SEFI Test Results of a Hardened 16Mbit MRAM Device
机译:
硬化的16Mbit MRAM器件的SEU,SET和SEFI测试结果
作者:
Hafer Craig
;
Von Thun Matt
;
Mundie Michelle
;
Bass Derek
;
Sievert Fred
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
26.
Heavy Ion Sensitivity of 16/32-Gbit NAND-Flash and 4-Gbit DDR3 SDRAM
机译:
16/32 Gb NAND闪存和4 Gb DDR3 SDRAM的重离子敏感性
作者:
Grürmann Kai
;
Herrmann Martin
;
Gliem Fritz
;
Schmidt Hagen
;
Leibeling Gilbert
;
Kettunen Heikki
;
Ferlet-Cavrois Véronique
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
27.
Scaling Effects in Highly Scaled Commercial Nonvolatile Flash Memories
机译:
大规模商用非易失性闪存中的缩放效应
作者:
Irom Farokh
;
Nguyen Duc N.
;
Allen Gregory R.
;
Zajac Stephanie A.
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
28.
Radiation Effect Characterization on the QorIQ P2010 Microprocessor
机译:
QorIQ P2010微处理器的辐射效应表征
作者:
Lambert Damien
;
Vega Xavier
;
Gauthier David
;
Azaïs Bruno
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
29.
TID in a Mixed-Signal System-on-Chip: Analog Components Analysis and Clock Frequency Influence in Propagation-Delay Degradation
机译:
混合信号片上系统中的TID:模拟成分分析和时钟频率对传播延迟衰减的影响
作者:
Tambara Lucas A.
;
Kastensmidt Fernanda Lima
;
Junior Evaldo C. P. F.
;
Gonçalez Odair L.
;
Balen Tiago R.
;
de Aguirre Paulo C. C.
;
Arruego Ignacio
;
Lubaszewski Marcelo S.
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
30.
Radiation-Hardened Point-of-Load Buck Regulators for Space Applications
机译:
适用于太空应用的辐射增强型负载点降压稳压器
作者:
Swonger J. W.
;
Horvath Greg
;
Singh Anup
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
31.
Rebound Testing of Intersil Bipolar and BiCMOS Parts
机译:
Intersil双极和BiCMOS零件的回弹测试
作者:
van Vonno N. W.
;
Knudsen K.
;
Hood R.
;
Mansilla O.
;
Bernard T. M.
;
Chesley P. J.
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
32.
Radiation Test Results on COTS and Non-COTS Electronic Devices for NASA Johnson Space Center Spaceflight Projects
机译:
美国宇航局约翰逊航天中心航天项目的COTS和非COTS电子设备的辐射测试结果
作者:
Allums Kimberly K.
;
ONeill Patrick M.
;
Reddell Brandon D.
;
Bailey Charles R.
;
Nguyen Kyson V.
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
33.
Characterization of Radiation Hardened Bipolar Linear Devices for High Total Dose Missions
机译:
用于高总剂量任务的辐射硬化双极线性器件的特性
作者:
McClure Steven S.
;
Harris Richard D.
;
Rax Bernard G.
;
Thorbourn Dennis O.
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
34.
Compendium of Single Event Effects for Candidate Spacecraft Electronics for NASA
机译:
NASA候选航天器电子设备的单事件效果简编
作者:
OBryan Martha V.
;
LaBel Kenneth A.
;
Pellish Jonathan A.
;
Lauenstein Jean-Marie
;
Chen Dakai
;
Marshall Cheryl J.
;
Casey Megan C.
;
Gigliuto Robert A.
;
Sanders Anthony B.
;
Oldham Timothy R.
;
Kim Hak S.
;
Phan Anthony M.
;
Berg Melanie D.
;
Marshall Paul W.
;
Lad
会议名称:
《2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop.》
|
2012年
意见反馈
回到顶部
回到首页