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2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics
2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics
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1.
Non-volatility by spin in modern nanoelectronics
机译:
现代纳米电子学中的自旋非挥发性
作者:
V. Sverdlov
;
A. Makarov
;
J. Weinbub
;
S. Selberherr
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Magnetic tunneling;
Logic gates;
Nonvolatile memory;
Computer architecture;
Microelectronics;
Metals;
Switches;
2.
On the design of compact intelligent industrial transmitters based on piezoresistive MEMS pressure sensors
机译:
基于压阻MEMS压力传感器的紧凑型智能工业变送器的设计
作者:
M. Frantlović
;
P. Poljak
;
I. Jokić
;
D. Randjelović
;
D. Vasiljević-Radović
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Transmitters;
Temperature measurement;
Instruments;
Current measurement;
Voltage measurement;
Voltage control;
Regulators;
3.
Parallel matrix multiplication in 2-gain Kalman filter realized in hardware
机译:
硬件实现的2增益卡尔曼滤波器中的并行矩阵乘法
作者:
Inga Zbierska
;
Tomasz Talaśka
;
Rafał Długosz
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Kalman filters;
Clocks;
Signal resolution;
Covariance matrices;
Adders;
Radar;
Electronic mail;
4.
Power MOSFET single event burnout hardness increasing by neutron preirradiation
机译:
中子预辐照提高功率MOSFET单事件烧断硬度
作者:
L. Kessarinskiy
;
D. Boychenko
;
A. Nikiforov
;
A. Polokhov
;
T. Kritskaya
;
G. Davydov
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Ions;
Radiation effects;
MOSFET;
Electric breakdown;
Neutrons;
Sensitivity;
5.
Real-time locating systems for smart city and intelligent transportation applications
机译:
智慧城市和智能交通应用的实时定位系统
作者:
Marzena Banach
;
Rafał Długosz
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Roads;
Delays;
Trajectory;
Safety;
Urban areas;
Automobiles;
Transponders;
6.
Selected aspects and tradeoffs in transistor level implementation of genetic algorithms
机译:
遗传算法在晶体管级实现中的某些方面和取舍
作者:
Sławomir Jeżewski
;
Rafał Długosz
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Genetic algorithms;
Hardware;
Biological cells;
Algorithm design and analysis;
Field programmable gate arrays;
Registers;
Sociology;
7.
Silicon nanodevices for intelligent communications
机译:
用于智能通信的硅纳米器件
作者:
S. Oda
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Nanowires;
Silicon;
Transistors;
Actuators;
Switches;
Germanium;
Switching circuits;
8.
SOI based double source tunnel FET (DS-TFET) with high on-current and reduced turn-on voltage
机译:
基于SOI的双源隧道FET(DS-TFET)具有高导通电流和降低的导通电压
作者:
N. Bagga
;
A. Kumar
;
S. Dasgupta
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Tunneling;
Logic gates;
Junctions;
Electric fields;
Doping;
Particle separators;
9.
SPICE-level layout-aware single event effects simulation of majority voters
机译:
大多数投票者的SPICE级别的布局感知单事件效果模拟
作者:
A.O. Balbekov
;
M.S. Gorbunov
;
G.I. Zebrev
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Integrated circuit modeling;
Sensitivity;
Semiconductor device modeling;
Simulation;
Analytical models;
Calibration;
Data models;
10.
Tailorable effective optical response of dual-metal plasmonic crystals
机译:
双金属等离子体晶体的可定制有效光学响应
作者:
M. Obradov
;
J. Lamovec
;
I. Mladenović
;
Z. Jakšić
;
S. Vuković
;
G. Isić
;
D. Tanasković
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Plasmons;
Crystals;
Copper;
Nickel;
Optical surface waves;
Nonhomogeneous media;
11.
The implementation of harmonic analysis methods in active power filters control
机译:
谐波分析方法在有源电力滤波器控制中的实现
作者:
B. Jovanović
;
P. Petković
;
S. Milenković
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Harmonic analysis;
Power harmonic filters;
Distortion;
Load modeling;
Power grids;
Power supplies;
12.
The scaling issues of subnanometer EOT gate dielectrics for the ultimate nano CMOS technology
机译:
用于最终纳米CMOS技术的亚纳米EOT栅极电介质的缩放问题
作者:
J. Zhang
;
H. Wong
;
V. Filip
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Annealing;
Logic gates;
Films;
Dielectrics;
Silicon;
Thermal stability;
Performance evaluation;
13.
Total Ionizing Dose Degradation of CMOS 8-transistor Image Sensor with Column ADC
机译:
带有列ADC的CMOS 8晶体管图像传感器的总电离剂量降低
作者:
M. Cherniak
;
A. Smolin
;
R. Mozhaev
;
A. Ulanova
;
A. Nikiforov
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Degradation;
Europe;
Microelectronics;
Sensors;
Integrated circuits;
Registers;
14.
Characterization of Yttrium orthoferrite (YFeO
3
) nanoparticles as humidity sensor materials at room temperature
机译:
室温下钇正铁氧体(YFeO
3 inf>)纳米粒子作为湿度传感器材料的表征
作者:
D.L. Sekulic
;
Z. Lazarevic
;
C. Jovalekic
;
N. Romcevic
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Humidity;
Nanoparticles;
Ferrites;
Temperature measurement;
Conductivity;
Temperature sensors;
15.
A comparison of the tri-layer transmission line model and a finite element model for ohmic contact analysis
机译:
欧姆接触分析的三层传输线模型与有限元模型的比较
作者:
F. Algahtani
;
S. Luong
;
Y. Pan
;
M.S. Alnassar
;
A. Holland
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Contact resistance;
Resistance;
Ohmic contacts;
Power transmission lines;
Analytical models;
Conductivity;
Radio frequency;
16.
Compendium of TID influence on SEE sensitivity investigation
机译:
TID汇编对SEE敏感性调查的影响
作者:
A.A. Novikov
;
A.A. Pechenkin
;
A.I. Chumakov
;
A.N. Tsirkov
;
M.P. Belova
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Sensitivity;
Pump lasers;
Semiconductor lasers;
Laser excitation;
17.
An overview of the modeling and simulation of the single event transients at the circuit level
机译:
在电路级对单事件瞬态进行建模和仿真的概述
作者:
M. Andjelkovic
;
A. Ilic
;
Z. Stamenkovic
;
M. Krstic
;
R. Kraemer
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Integrated circuit modeling;
Analytical models;
Semiconductor device modeling;
Logic gates;
Transistors;
CMOS integrated circuits;
Load modeling;
18.
Analog Device Design for Testability in the Case of Oscillation Based Testing
机译:
基于振荡的测试中可测试性的模拟设备设计
作者:
M. Petrović
;
M. Milić
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Oscillators;
Integrated circuit modeling;
Testing;
Monte Carlo methods;
Estimation;
Performance evaluation;
Frequency measurement;
19.
Approximate ripple carry and carry lookahead adders — A comparative analysis
机译:
近似纹波进位和进位超前加法器—比较分析
作者:
P. Balasubramanian
;
C. Dang
;
D.L. Maskell
;
K. Prasad
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Adders;
Logic gates;
Power dissipation;
Delays;
Distance measurement;
Digital signal processing;
20.
Basic trends in electronic components product range development: Radiation hardness aspects
机译:
电子元器件产品范围发展的基本趋势:辐射硬度方面
作者:
A.Y. Nikiforov
;
D. V. Boychenko
;
V.A. Telets
;
A.A. Smolin
;
V.V. Elesin
;
A.V. Ulanova
;
L.N. Kessarinskiy
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Silicon germanium;
Market research;
CMOS technology;
Heterojunction bipolar transistors;
Microelectronics;
Performance evaluation;
Single event upsets;
21.
Battery capacity estimation of wireless sensor node
机译:
无线传感器节点的电池容量估计
作者:
G. Nikolić
;
T. Nikolić
;
M. Stojčev
;
B. Petrović
;
G. Jovanović
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Batteries;
Wireless sensor networks;
Wireless communication;
Discharges (electric);
Transceivers;
Switches;
Energy consumption;
22.
Classification of nonlinear loads based on artificial neural networks
机译:
基于人工神经网络的非线性负荷分类
作者:
M. Andrejević Stošović
;
D. Stevanović
;
M. Dimitrijević
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Monitoring;
Reactive power;
Instruments;
Harmonic analysis;
Harmonic distortion;
Power system harmonics;
23.
Comparison of on-chip ADC testing techniques
机译:
片上ADC测试技术的比较
作者:
A. Yu. Egorov
;
I. A. Mozhaev
;
P. V. Nekrasov
;
D.V. Boychenko
;
I.O. Loskutov
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Testing;
Nickel;
Instruments;
Integrated circuits;
Software;
Generators;
Europe;
24.
Design and testing issues of a high-speed SOI CMOS dual-modulus prescaler for radiation tolerant frequency synthesizers
机译:
耐辐射频率合成器的高速SOI CMOS双模预分频器的设计和测试问题
作者:
D.I. Sotskov
;
V.V. Elesin
;
K.M. Amburkin
;
G.N. Nazarova
;
N.A. Usachev
;
A.Y. Nikiforov
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Frequency conversion;
Power demand;
Microwave FET integrated circuits;
Microwave integrated circuits;
CMOS process;
25.
Effect of high energy ball milling on the morphology and magnetic properties of powder prepared from HD Nd
2
Fe
14
B material
机译:
高能球磨对HD Nd
2 inf> Fe
14 inf> B材料制备粉末的形貌和磁性的影响
作者:
V. Jović
;
J. Lamovec
;
D. Sojer
;
D. Lončarević
;
I. Mladenović
;
D. Vasiljević Radović
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Powders;
Milling;
Ball milling;
Slurries;
High definition video;
Magnetic anisotropy;
26.
Energy-efficiency vs. performance optimization in low-power wireless transmission
机译:
低功耗无线传输中的能效与性能优化
作者:
N. Zogović
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Power supplies;
Wireless communication;
Power generation;
Power amplifiers;
Fitting;
Patents;
Transceivers;
27.
Evaluation of the mechanical and tribological properties of multilayer CrN/TiN films deposited at low temperatures
机译:
低温沉积多层CrN / TiN薄膜的力学和摩擦学性能评估
作者:
L. Kolaklieva
;
S. Rabadzhiyska
;
R. Kakanakov
;
V. Chitanov
;
T. Cholakova
;
V. Rupetchov
;
G. Mishev
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Coatings;
Substrates;
Resistance;
Temperature;
Strain;
Nonhomogeneous media;
Plasma temperature;
28.
Flip-chip ICs SEE testing technique
机译:
倒装芯片SEE测试技术
作者:
D.V. Bobrovsky
;
A.A. Pechenkin
;
A.A. Novikov
;
A.I. Chumakov
;
N.V. Ryasnoy
;
Y. V. Churilin
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Substrates;
Ions;
Integrated circuits;
Testing;
Lasers;
Radiation effects;
Sensitivity;
29.
FRAM test memory cells radiation hardness research
机译:
FRAM测试存储单元辐射硬度研究
作者:
I.I. Shvetsov-Shilovskiy
;
A.B. Boruzdina
;
A.V. Ulanova
;
O.M. Orlov
;
Y.A. Matveev
;
D.V. Negrov
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Voltage measurement;
Capacitors;
Current measurement;
Transistors;
Integrated circuits;
Physics;
30.
Functional role of Ca
2+
currents within the stereocilia as bio-MEMS: A modeling study
机译:
立体纤毛中Ca
2 + sup>电流作为生物MEMS的功能作用:模型研究
作者:
D.L. Sekulic
;
M.V. Sataric
;
A.V. Joza
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Ions;
Hair;
Mathematical model;
Calcium;
Biological system modeling;
Sensors;
Force;
31.
High sensitivity magnetic sensors compatible with bulk silicon and SOI IC technology
机译:
与体硅和SOI IC技术兼容的高灵敏度磁传感器
作者:
P. Igić
;
O. Kryvchenkova
;
S. Faramehr
;
S. Batcup
;
N. Janković
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Sensitivity;
Magnetic sensors;
Magnetic fields;
Saturation magnetization;
Silicon;
Gallium nitride;
32.
Influence of high voltage pulse trimming on thick-film resistor quality indicators
机译:
高压脉冲微调对厚膜电阻器质量指标的影响
作者:
I. Stanimirović
;
Z. Stanimirović
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Resistors;
Resistance;
Films;
Noise measurement;
Voltage measurement;
Electrical resistance measurement;
Microelectronics;
33.
Integrated current sensor for automotive power switches
机译:
用于汽车电源开关的集成电流传感器
作者:
R. Brata
;
A. Danchiv
;
L. Dobrescu
;
D. Dobrescu
会议名称:
《》
|
2017年
关键词:
Topology;
Transistors;
Sensors;
Logic gates;
Simulation;
Resistance;
Voltage control;
34.
Investigation on cylindrical gate-all-around (GAA) tunnel FETS scaling
机译:
圆柱形全能(GAA)隧道FETS缩放比例的研究
作者:
M. Kessi
;
A. Benfdila
;
A. Lakhlef
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Logic gates;
Performance evaluation;
Electron devices;
Doping;
Transconductance;
Mathematical model;
Threshold voltage;
35.
Low power SAR ADC with two-step switching scheme in 65 nm standard CMOS process
机译:
具有65 nm标准CMOS工艺的两步切换方案的低功耗SAR ADC
作者:
D. Osipov
;
St. Paul
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Switches;
Capacitors;
Microelectronics;
Linearity;
DC-DC power converters;
Switching circuits;
Registers;
36.
Memristor state transition in reconfigurable microwave filter
机译:
可重构微波滤波器中的忆阻器状态转换
作者:
I. Marković
;
M. Potrebić
;
D. Tošić
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Memristors;
Microwave filters;
Band-pass filters;
Microwave circuits;
Programming;
Integrated circuit modeling;
Biological system modeling;
37.
Nanoelectronic graphene devices
机译:
纳米电子石墨烯器件
作者:
P.I. Hagouel
;
I.G. Karafyllidis
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Graphene;
Logic gates;
Junctions;
Electric potential;
Switches;
Carbon;
38.
Numerical computation of the physical shielding factor for different structures of MOSFET in gamma irradiation field
机译:
γ辐射场中MOSFET不同结构的物理屏蔽系数的数值计算
作者:
S. Stanković
;
R. Ilić
;
A. Jakšić
;
D. Nikolić
;
N. Kržanović
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Monte Carlo methods;
Radiation effects;
Numerical models;
Spontaneous emission;
Standards;
Software;
39.
Optimal laser wavelengths for transient ionizing response simulation of CMOS SOI devices with 0.24 μm design rules
机译:
设计规则为CMOS SOI器件进行瞬态电离响应仿真的最佳激光波长
作者:
S.B. Shmakov
;
P.K. Skorobogatov
;
A.V. Ulanova
;
A.B. Boruzdina
;
G.G. Davydov
;
A. Y. Nikiforov
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Laser modes;
Integrated circuits;
Semiconductor lasers;
Transient analysis;
Microelectronics;
40.
Photovoltaics as macroelectronics applying nanostructures as nanoelectronics
机译:
光伏作为宏观电子学,应用纳米结构作为纳米电子学
作者:
M. Topič
;
M. Jošt
;
M. Sever
;
B. Lipovšek
;
J. Krč
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Photovoltaic cells;
Optical scattering;
Optical reflection;
Photovoltaic systems;
Lacquers;
Substrates;
Cameras;
41.
Plastic encapsulated ICs bonding reliability risk assessment at HT automotive application
机译:
HT汽车应用中的塑料封装IC结合可靠性风险评估
作者:
M. Blyzniuk
;
A. Devos
;
M. Furman
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Wires;
Bonding;
Reliability;
Temperature;
Compounds;
Stress;
Force;
42.
Process Parameters Variations Influence on CMOS IC's Hardness to total Ionizing Dose
机译:
工艺参数变化对CMOS IC总离子剂量硬度的影响
作者:
Y.M. Moskovskaya
;
A.Y. Nikiforov
;
D.V. Bobrovskiy
;
A.V. Ulanova
;
A.A. Zhukov
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Integrated circuits;
Power supplies;
Standards;
Logic gates;
Temperature sensors;
CMOS process;
Microelectronics;
43.
SEFI cross-section evaluation by fault injection software approach and hardware detection
机译:
通过故障注入软件方法和硬件检测进行SEFI横截面评估
作者:
I.O. Loskutov
;
P.V. Nekrasov
;
I.I. Shvetsov-Shilovskiy
;
D.V. Boychenko
;
V.M. Uzhegov
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Software;
Single event upsets;
Microelectronics;
Testing;
Hardware;
Microcontrollers;
Registers;
44.
SiC power MOSFETs: The current status and the potential for future development
机译:
SiC功率MOSFET:现状和未来发展的潜力
作者:
S. Dimitrijev
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Silicon carbide;
Power dissipation;
Resistance;
Logic gates;
Capacitance;
Schottky diodes;
Silicon;
45.
Simulation of solo GaN IGBTs
机译:
GaN单晶IGBT的仿真
作者:
S. Faramehr
;
P. Igić
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Gallium nitride;
Insulated gate bipolar transistors;
Logic gates;
HEMTs;
MODFETs;
Electric fields;
46.
Stochastic time response of adsorption-based microanobiosensors with a fluidic reaction chamber: The influence of mass transfer
机译:
带有流体反应室的基于吸附的微型/纳米生物传感器的随机时间响应:传质的影响
作者:
I. Jokić
;
Z. Djurić
;
K. Radulović
;
M. Frantlović
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Stochastic processes;
Mathematical model;
Biological system modeling;
Time factors;
Microfluidics;
Biosensors;
47.
Temperature influence on the TID effects in RadFETs
机译:
温度对RadFET中TID效应的影响
作者:
V. Felitsyn
;
B. Podlepetsky
;
A. Bakerenkov
;
A. Rodin
;
Yu. Sukhoroslova
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Temperature measurement;
Temperature;
Radiation effects;
Semiconductor device measurement;
Temperature sensors;
Voltage measurement;
Transconductance;
48.
The prediction for single event latchup sensitivity parameters of digital CMOS ICs based on its technological features
机译:
基于其技术特征的数字CMOS IC单事件闩锁灵敏度参数预测
作者:
A.E. Rudenkov
;
A.O. Akhmetov
;
D.V. Bobrovsky
;
A.I. Chumakov
;
A.V. Yanenko
;
V.M. Uzhegov
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Integrated circuits;
Sensitivity;
Bars;
Microelectronics;
Estimation;
Crystals;
Ions;
49.
The specialized pulse voltage generator EMI-0502
机译:
专用脉冲电压发生器EMI-0502
作者:
A.N. Shemonaev
;
K.A. Epifantsev
;
P.K. Skorobogatov
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Integrated circuits;
Generators;
Earth Observing System;
Capacitors;
Optical pulse generation;
Electric breakdown;
Junctions;
50.
Total ionizing dose hardness nondestructive individual estimation and predictive grading for silicon-on-insulator ICs
机译:
绝缘体上硅IC的总电离剂量硬度无损个体估计和预测等级
作者:
Y.M. Moskovskaya
;
G.G. Davydov
;
A.V. Sogoyan
;
A.Y. Nikiforov
;
I.B. Yashanin
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Integrated circuits;
Annealing;
Radiation effects;
Read only memory;
Microelectronics;
Power supplies;
Manufacturing processes;
51.
32-channel self-triggered ASIC for GEM detectors
机译:
适用于GEM检测器的32通道自触发ASIC
作者:
E. Atkin
;
I. Bulbakov
;
V. Ivanov
;
P. Ivanov
;
E. Malankin
;
D. Normanov
;
S Petrovskiy
;
V. Shumikhin
;
A. Voronin
;
V. Samsonov
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Detectors;
Semiconductor device measurement;
Mesons;
Capacitance;
Dynamic range;
Prototypes;
Switches;
52.
A case study of C-V hysteresis instability in metal-high-k-oxide-silicon devices with ZrO
2
/Al
2
O
3
/Zr
2
O
2
stack as a charge trapping layer
机译:
ZrO
2 inf> / Al
2 inf> O
3 inf> / Zr <的金属-高k-氧化物-硅器件的CV滞后不稳定性的案例研究inf> 2 inf> O
2 inf>堆叠作为电荷俘获层
作者:
A. Skeparovski
;
D. Spassov
;
A. Paskaleva
;
N. Novkovski
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Capacitors;
Logic gates;
Stress;
Voltage measurement;
Hysteresis;
Substrates;
Silicon;
53.
A low-latency medium access control protocol for industrial wireless LAN applications
机译:
用于工业无线局域网应用的低延迟媒体访问控制协议
作者:
N. Odhah
;
K. Tittelbach-Helmrich
;
Z. Stamenković
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Downlink;
Uplink;
Reliability;
Wireless communication;
Automation;
Payloads;
Industries;
54.
Advanced Stand for Transient Thermal Measurements
机译:
瞬态热测量高级支架
作者:
T. Torzewicz
;
A. Sobczak
;
M. Janicki
;
A. Napieralski
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Temperature measurement;
Thermal resistance;
Electronic packaging thermal management;
Electrical resistance measurement;
Cold plates;
Heating systems;
55.
An HDL model of a digitally controlled oscillator for rapid digital PLL prototyping
机译:
用于快速数字PLL原型制作的数控振荡器的HDL模型
作者:
V. Milovanović
;
B. Nikolić
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Phase locked loops;
Hardware design languages;
Integrated circuit modeling;
Tuning;
Thermal noise;
Phase noise;
56.
Analog ASIC TID behavior in a temperature range
机译:
温度范围内的模拟ASIC TID行为
作者:
A.Y. Borisov
;
L.N. Kessarinskiy
;
M.M. Vanzha
;
M.P. Belova
;
Y.M. Moskovskaya
;
D.V. Boychenko
;
A.Y. Nikiforov
;
V.V. Enns
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Voltage measurement;
IP networks;
Radiation effects;
Temperature measurement;
Operational amplifiers;
Temperature sensors;
Integrated circuits;
57.
Analysis of low-pressure DC breakdown in air
机译:
空气中低压直流击穿的分析
作者:
E. Živanović
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Electric breakdown;
Electron tubes;
Breakdown voltage;
Voltage measurement;
Electric fields;
Ions;
Photonics;
58.
Asynchronous early output section-carry based carry lookahead adder with alias carry logic
机译:
具有别名进位逻辑的基于异步早期输出分段进位的提前进位加法器
作者:
P. Balasubramanian
;
C. Dang
;
D.L. Maskell
;
K. Prasad
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Asynchronous circuits;
Encoding;
Wires;
Logic gates;
Timing;
Adders;
59.
Capacitance model for MOSFET operated in all regions
机译:
在所有区域工作的MOSFET的电容模型
作者:
A. Benfdila
;
A. Lakhlef
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Mathematical model;
Logic gates;
Capacitance;
Data models;
Semiconductor device modeling;
Current measurement;
Threshold voltage;
60.
Compact thermal modelling of power LED light sources
机译:
功率LED光源的紧凑热模型
作者:
T. Torzewicz
;
K. Baran
;
T. Raszkowski
;
A. Samson
;
H. Wachta
;
A. Napieralski
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Thermal resistance;
Temperature measurement;
Light emitting diodes;
Heating systems;
Current measurement;
Junctions;
61.
Comparison of the SET sensitivity of standard logic gates designed in 130 nm CMOS technology
机译:
采用130 nm CMOS技术设计的标准逻辑门的SET灵敏度比较
作者:
M. Andjelkovic
;
M. Krstic
;
R. Kraemer
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Logic gates;
Integrated circuit modeling;
Semiconductor device modeling;
SPICE;
Standards;
Analytical models;
Sensitivity;
62.
Dual-phase-lag thermal model of test microchip structure dedicated to electronic circuit thermal properties estimation using artificial intelligence
机译:
专用于使用人工智能估算电路热特性的测试微芯片结构的双相滞后热模型
作者:
T. Raszkowski
;
A. Samson
;
M. Zubert
;
M. Janicki
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Mathematical model;
Temperature distribution;
Heating systems;
Heat transfer;
Thermal analysis;
Microelectronics;
Nanostructures;
63.
Electrical and charge trapping properties of HfO
2
/Al
2
O
3
multilayer dielectric stacks
机译:
HfO
2 inf> / Al
2 inf> O
3 inf>多层电介质堆叠的电和电荷俘获特性
作者:
V. Davidović
;
A. Paskaleva
;
D. Spassov
;
E. Guziewicz
;
T. Krajewski
;
S. Golubović
;
S. Djorić-Veljković
;
I. Manić
;
D. Danković
;
N. Stojadinović
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Dielectrics;
Hafnium compounds;
Capacitance-voltage characteristics;
Silicon;
Nonhomogeneous media;
Annealing;
Breakdown voltage;
64.
Electrical properties of rare earth doped BaTiO
3
ceramics
机译:
稀土掺杂BaTiO
3 inf>陶瓷的电学性能
作者:
V. Paunović
;
V. Mitić
;
M. Đorđević
;
Z. Prijić
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Temperature measurement;
Ceramics;
Resistance;
Barium;
Frequency measurement;
Electric variables measurement;
Temperature;
65.
Estimation technique for LED sensitivity to structural damage based on minority carriers lifetime measurements
机译:
基于少数载流子寿命测量的LED对结构损坏敏感性的估算技术
作者:
R.K. Mozhaev
;
M.E. Cherniak
;
A.V. Ulanova
;
A.Y. Nikiforov
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Light emitting diodes;
Radiation effects;
Neutrons;
Degradation;
Microelectronics;
Charge carrier lifetime;
Voltage measurement;
66.
Experiments on electrical overstress influence on digital ICs depending on the input/output port configuration
机译:
取决于输入/输出端口配置的过电压对数字IC的影响的实验
作者:
A.N. Shemonaev
;
K.A. Epifantsev
;
P.K. Skorobogatov
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Earth Observing System;
Integrated circuits;
Pins;
Electric breakdown;
Testing;
Current measurement;
Voltage measurement;
67.
Formation of short terahertz electromagnetic pulses in nonlinear paraelectrics
机译:
非线性顺电中短太赫兹电磁脉冲的形成
作者:
V. Grimalsky
;
S. Koshevaya
;
J. Escobedo-Alatorre
;
E. Jatirian-Foltides
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Baseband;
Crystals;
Modulation;
Resonant frequency;
Dispersion;
Acoustic waves;
TV;
68.
Frequency dependence of SEU in 0.18um processor
机译:
0.18um处理器中SEU的频率依赖性
作者:
V.A. Marfin
;
P.V. Nekrasov
;
I.O. Loskutov
;
A.Y. Nikiforov
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Single event upsets;
Clocks;
Microelectronics;
Radiation effects;
Testing;
Europe;
69.
GaN HEMT small-signal modelling: Neural networks versus equivalent circuit
机译:
GaN HEMT小信号建模:神经网络与等效电路
作者:
Z. Marinković
;
G. Crupi
;
A. Caddemi
;
V. Marković
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Integrated circuit modeling;
HEMTs;
Equivalent circuits;
Gallium nitride;
Temperature measurement;
Microwave circuits;
70.
Implementation of fuzzy logic operators as digital asynchronous circuits in CMOS technology
机译:
在CMOS技术中将模糊逻辑运算符实现为数字异步电路
作者:
Tomasz Talaśka
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Fuzzy logic;
Hardware;
Fuzzy systems;
CMOS technology;
Transistors;
Conferences;
Power electronics;
71.
Innovative bipolar-CMOS integration for RF communication circuits with low-cost high-performance horizontal current bipolar transistor (HCBT)
机译:
具有低成本高性能水平电流双极晶体管(HCBT)的RF通信电路的创新双极CMOS集成
作者:
T. Suligoj
;
M. Koričić
;
J. Žilak
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Stress;
Silicon carbide;
Standards;
Integrated circuit reliability;
Degradation;
Hot carriers;
72.
Investigation of ionizing transients by femtosecond X-ray source ionization
机译:
飞秒X射线源电离的电离瞬变研究
作者:
M.P. Belova
;
L.N. Kessarinskiy
;
A.Y. Borisov
;
A.I. Chumakov
;
D.V. Boychenko
;
K.A. Ivanov
;
I.N. Tsymbalov
;
R.V. Volkov
;
A.B. Savelev
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Laser beams;
Radiation effects;
Microelectronics;
Integrated circuits;
Semiconductor lasers;
Europe;
73.
Joint model of dose rate radiation effects in bipolar devices
机译:
双极设备中剂量率辐射效应的联合模型
作者:
V. Pershenkov
;
A. Bakerenkov
;
V. Telets
;
V. Belyakov
;
V. Shurenkov
;
V. Felitsyn
;
A. Rodin
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Electron traps;
Degradation;
Radiation effects;
Microelectronics;
Numerical models;
Transistors;
Radiative recombination;
74.
Modelling of threshold voltage shift in pulsed NBT stressed P-channel power VDMOSFETs
机译:
脉冲NBT应力P沟道功率VDMOSFET中阈值电压漂移的建模
作者:
D. Danković
;
I. Manić
;
N. Stojadinović
;
Z. Prijić
;
S. Djorić-Veljković
;
V. Davidović
;
A. Prijić
;
A. Paskaleva
;
D. Spassov
;
S. Golubović
会议名称:
《2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics》
|
2017年
关键词:
Stress;
Threshold voltage;
Negative bias temperature instability;
Thermal variables control;
Integrated circuit modeling;
Degradation;
Resistors;
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