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1.
COMPARISON BETWEEN CONVENTIONAL ANDTWO-DIMENSIONAL XRD
机译:
常规XRD与二维XRD的比较
作者:
Bob B. He
;
Uwe Preckwinkel
;
Kingsley L. Smith
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
2.
HIGH TEMPERATURE ELASTIC STRAIN EVOLUTION IN Si3N4-BASEDCERAMICS
机译:
Si3N4基陶瓷中的高温弹性应变演化
作者:
G.A. Swift
;
E. Ustundag
;
B. Clausen
;
M.A.M. Bourke
;
H.-T. Lin
;
C.-W. Li
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
3.
RESIDUAL STRESS DETERMINATIONS USING PARALLEL BEAM OPTICS
机译:
使用平行光束光学元件确定残余应力
作者:
Thomas R. Watkins
;
O. Burl Cavin
;
Jianming Bai
;
J. Alexander Chediak
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
4.
THE INFLUENCE OF SURFACE ROUGHNESS ON THE REFRACTIONOF X-RAYS AND ITS EFFECT ON BRAGG PEAK POSITIONS
机译:
表面粗糙度对X射线折射的影响及其对布拉格峰位置的影响
作者:
Michael H. Ott
;
Detlef L?he
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
5.
APPLICATION OF SYNCHROTRON EDXRD STRAIN PROFILING INSHOT PEENED MATERIALS
机译:
SYNCHROTRON EDXRD应变渗透材料的应用。
作者:
Igor Zakharchenko
;
Yuriy Gulak
;
Zhong Zhong
;
Mark Croft
;
ThomasrnTsakalakos
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
6.
EFFECT OF REINFORCEMENT PARTICLE FRACTURE ON THELOAD PARTITIONING IN AN Al-SiC COMPOSITE
机译:
增强颗粒断裂对Al-SiC复合材料载荷分配的影响
作者:
Hahn Choo
;
Bhaskar S. Majumdar
;
Partha Rangaswamy
;
Mark A.M. Bourke
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
7.
CHARACTERIZATION OF THE SOLIDS WASTE IN THE HANFORDWASTE TANKS USING A COMBINATION OF XRD, SEM AND PLM
机译:
XRD,SEM和PLM结合表征汉福德废料池中的固体废物
作者:
R. W. Warrant
;
G. A. Cooke
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
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2002年
8.
IN-SITU, IN AIR, HIGH-TEMPERATURE STUDIES OF OXIDE SYSTEMSUSING THE THERMAL-IMAGING TECHNIQUE
机译:
利用热成像技术对氧化物系统进行原位,空气中高温研究
作者:
L. F. Siah
;
J. Schneider
;
W. M. Kriven
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
9.
X-RAY STRESS ANALYSIS OF DAMAGE EVOLUTION IN Ti-SiCUNIDIRECTIONAL FIBER COMPOSITES
机译:
Ti-碳化硅纤维复合材料损伤演化的X射线应力分析
作者:
Jay C. Hanan
;
Ersan üstündag
;
Irene J. Beyerlein
;
Geoffrey A. Swift
;
rnJonathan D. Almer
;
Ulrich Lienert
;
Dean R. Haeffner
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
10.
CRYSTAL STRUCTURE DETERMINATIONS OF THREE-LAYERAURIVILLIUS CERAMICS USING A NEW PARALLEL BEAM X-RAYPOWDER DIFFRACTOMETER
机译:
新型平行光束X射线衍射仪测定三层陶瓷的晶体结构
作者:
Michael S. Haluska
;
Scott Speakman
;
Scott T. Misture
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
11.
APPLICATION OF THE BACKSCATTER FUNDAMENTALPARAMETER METHOD WITH SIMULTANEOUS EXCITATION BY 55 Fe AND 109 Cd RADIOISOTOPE SOURCES
机译:
55 Fe和109 Cd放射性同位素同时激发的背向散射基本参数方法的应用
作者:
Dariusz Wegrzynek
;
Andrzej Markowicz
;
Ernesto Chinea-Cano
;
SamuelrnBamford
;
Philip J. Potts
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
12.
ANISOTROPIC STRAIN-LIKE LINE BROADENING DUE TO COMPOSITIONVARIATIONS
机译:
组成变化导致的各向异性应变线膨胀
作者:
A. Leineweber
;
E. J. Mittemeijer
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
13.
LATTICE DILATION IN A HYDROGEN CHARGED STEEL
机译:
充氢钢的晶格稀释
作者:
Guiru L. Nash
;
Hahn Choo
;
Philip Nash
;
Luc L. Daemen
;
Mark A. M. Bourke
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
14.
HIGH-TEMPERATURE X-RAY DIFFRACTION STUDY OF PHASE EVOLUTIONIN Ba2YCu3O6+x FILMS USING THE 'BaF2 CONVERSION PROCESS'
机译:
使用“ BaF2转化过程”对Ba2YCu3O6 + x薄膜中相演化的高温X射线衍射研究
作者:
W. Wong-Ng
;
I. Levin
;
M. Vaudin
;
R. Feenstra
;
L.P. Cook
;
J.P. Cline
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
15.
SPECTRAL INTERFERENCE IN X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS OFCOMMON MATERIALS
机译:
常用材料的X射线荧光光谱分析中的光谱干扰
作者:
Frank R. Feret
;
Hafida Hamouche
;
Yves Boissonneault
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
16.
EFFECT OF THE RESIDUAL STRESS ON THE MECHANICALSTRENGTH OF THE THIN FILMS
机译:
残余应力对薄膜的机械强度的影响
作者:
Masahide Gotoh
;
Shigeki Takago
;
Toshihiko Sasaki
;
Yukio Hirose
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
17.
DIAGNOSIS OF LN-DOPED PZT FILMS VIA MICRODIFFRACTION:CORRELATION OF PROPERTIES TO OBSERVED FWHM
机译:
通过微衍射诊断掺LN的PZT薄膜:性能与实测FWHM的相关性
作者:
Mark A. Rodriguez
;
Geoff Brennecka
;
Bruce Tuttle
;
Ralph Tissot
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
18.
INVESTIGATION OF LOCAL TEXTURES IN EXTRUDED MAGNESIUMBY SYNCHROTRON RADIATION
机译:
同步辐射对镁的局部织构的研究
作者:
Heinz-Günter Brokmeier
;
Anke Günther
;
Sang-Bong Yi
;
Wenhai Ye
;
rnThomas Lippmann
;
Ulf Garbe
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
19.
RENDERING OF CRYSTALLOGRAPHIC ORIENTATIONS,ORIENTATION AND POLE PROBABILITY DENSITY FUNCTIONS
机译:
晶体学方向,方向和极概率密度函数的呈现
作者:
Helmut Schaeben
;
K. Gerald van den Boogaart
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
20.
TIME-RESOLVED X-RAY DIFFRACTION STUDIES OF THE TEXTUREFORMATION KINETICS IN THE C49-C54 TiSi2 PHASETRANSFORMATION
机译:
C49-C54 TiSi2相变中形变动力学的时间分辨X射线衍射研究
作者:
A. S. ?zcan
;
K. F. Ludwig. Jr.
;
C. Lavoie
;
C. Cabral. Jr.
;
J. M. E. Harper
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
21.
VACANCY FORMATION DURING LOW-TEMPERATURE Ag(001)AND Ag(111) HOMOEPITAXY
机译:
低温Ag(001)和Ag(111)同位异位时的空位形成
作者:
C.E. Botez
;
K. Li
;
E. Lu
;
W.C. Elliott
;
P.F. Miceli
;
E. Conrad
;
rn P.W. tephens
会议名称:
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|
2002年
22.
MONOCAPILLARY OPTICS DEVELOPMENTS AND APPLICATIONS
机译:
单毛细管光学的发展与应用
作者:
D. H. Bilderback
;
R. Huang
;
A. Kazimirov
;
I. A. Kriksunov
;
K. Limburg
;
rnE. Fontes
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
23.
ANALYSIS OF GEOLOGIC MATERIALS USING RIETVELDQUANTIATIVE X-RAY DIFFRACTION
机译:
利用RIETVEL定性X射线衍射分析地质材料
作者:
Robin M. Gonzalez
;
Thomas E. Edwards
;
Timothy D. Lorbiecke
;
Ryan S. Winburn
;
rnJohn R. Webster
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
24.
IDENTIFICATION OF FORGED WORKS OF ART BY PORTABLEEDXRF SPECTROMETRY
机译:
便携式XRF光谱法鉴定伪造艺术品
作者:
M. Ardid
;
J.L. Ferrero
;
D. Juanes
;
C. Roldán
;
M. Crespo
;
M.E. Pernett
;
M.Marzal
;
M. Burke
;
S. Rovira
;
R. Vives
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
25.
X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS IN THE FORENSIC SCIENCE:THE LAST RESORT IN MANY CRIMINAL CASES
机译:
法医学中的X射线衍射分析:许多刑事案件中的最后手段
作者:
Werner Kugler
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
26.
CURVATURE MEASUREMENTS OF STRESSED SURFACE-ACOUSTIC-WAVEFILTERS USING BRAGG ANGLE CONTOUR MAPPING
机译:
布拉格角轮廓映射法测量应力表面声波滤波器的曲率
作者:
Paul M. Adams
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
27.
THERMAL FATIGUE PROPERTIES OF LASER PEENED HOT WORKDIE STEEL (H13)
机译:
激光热作模具钢(H13)的热疲劳性能
作者:
Koji Yatsushiro
;
Masaaki Sano
;
Makoto Kuramoto
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
28.
STRESS ANALYSIS USING BREMSSTRAHLUNG RADIATION
机译:
气浮辐射的应力分析
作者:
F. A. Selim
;
D.P. Wells
;
J. F. Harmon
;
J. Kwofie
;
rnA. K. Roy
;
T. White
;
T. Roney
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
29.
A HIGH-TEMPERATURE POWDER DIFFRACTION FURNACE
机译:
高温粉末衍射炉
作者:
M. D. Dolan
;
S. Zdzieszynski
;
S. T. Misture
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
30.
MINIMIZATION OF MICROABSORPTION EFFECTS IN COMPLEXMIXTURES
机译:
最大限度地减少复杂混合物中的微吸收效应
作者:
Bradley M. Pederson
;
Robin M. Gonzalez
;
Ryan S. Winburn
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
31.
UNDERKARAT JEWELRY: THE PERFECT CRIME?INVESTIGATIONS AND ANALYSIS OF JEWELRY USING XRF
机译:
UNDERKARAT JEWELRY:完美犯罪?使用XRF对珠宝的调查和分析
作者:
Don Kloos
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
32.
LASER-COMPTON SCATTERING AS A POTENTIAL BRIGHTX-RAY SOURCE
机译:
激光康普顿散射作为潜在的BRIGHTX射线源
作者:
K. Chouffani
;
D. Wells
;
F. Harmon
;
G. Lancaster
;
J. Jones
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
33.
ANNEALING STUDIES OF PURE AND ALLOYED TANTALUMEMPLOYING ROCKING CURVES
机译:
纯钛和铝合金制摇摆曲线的退火研究
作者:
David W. Richards
;
Michael P. Kramer
;
Joel W. House
;
Robert J. De Angelis
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
34.
CALIBRATION OF DIFFRACTOMETERS II:INTERNAL CONSISTENCY AND THE BALANCE
机译:
衍射仪的校准II:内部一致性和平衡
作者:
G. Berti
;
M. DAcunto
;
U. Bartoli
;
F. De Marco
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
35.
HEAVY MINERAL ANALYSIS OF SANDSTONESBY RIETVELD ANALYSIS
机译:
桑德斯顿的重矿物分析通过RIETVELD分析
作者:
John R. Webster
;
Roy P. Kight
;
Ryan S. Winburn
;
Christopher A. Cool
会议名称:
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2002年
36.
RIETVELD ANALYSIS OF COMPLEX MIXTURES. WHATCAN WE DO?
机译:
复杂混合物的RIETVELD分析。我们能做什么?
作者:
Ryan S. Winburn
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
37.
APPLICATIONS OF X-RAY DIFFRACTIONIN THE IMAGING INDUSTRY
机译:
X射线衍射在影像工业中的应用
作者:
Thomas N. Blanton
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
38.
STRUCTURE OF NANOCRYSTALLINE MATERIALS BY THEATOMIC PAIR DISTRIBUTION FUNCTION TECHNIQUE
机译:
纳米对材料的热力学对分布功能技术
作者:
V. Petkov
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
39.
A NEW SMALL ANGLE X-RAY SCATTERING TECHNIQUE FORDETERMINING NANO-SCALE PORE/PARTICLE SIZE DISTRIBUTIONSIN THIN FILM
机译:
确定薄膜中纳米尺度孔/颗粒尺寸分布的一种新的小角度X射线散射技术
作者:
Y. Ito. K. Omote
;
J. Harada
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
40.
MANAGING BACKGROUND PROFILES USING ANEW X’CELERATOR DETECTOR
机译:
使用新的X'CELERATOR探测器管理背景资料
作者:
R. W. Morton
;
D. E. Simon
;
J. J. Gislason
;
S. Taylor
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
41.
HIGH TEMPERATURE X-RAY DIFFRACTION STUDYOF REACTION RATES IN CERAMICS
机译:
陶瓷中反应速率的高温X射线衍射研究
作者:
M.S. Peterson
;
C.A. Say
;
S.A. Speakman
;
S.T. Misture
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
42.
DEVELOPMENT OF MEASURING SYSTEM FOR STRESS BY MEANSOF IMAGE PLATE FOR LABORATORY X-RAY EXPERIMENT
机译:
实验室X射线实验图像板应力测量系统的研制。
作者:
Koichi Hiratsuka
;
Toshihiko Sasaki
;
Katsuhiro Seki
;
Yukio Hirose
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
43.
THE USE OF X-RAY DIFFRACTION MEASUREMENTS TODETERMINE THE EFFECT OF AGING ON RESIDUAL STRESSES INUNIDIRECTIONAL AND WOVEN GRAPHITE/POLYIMIDECOMPOSITES
机译:
使用X射线衍射测量确定老化对非定向和编织石墨/聚酰亚胺复合材料残余应力的影响
作者:
B. Benedikt
;
M. Gentz
;
L. Kumosa
;
P. K. Predecki
;
D. Armentrout
;
M. Kumosa
;
rnJ. K. Sutter
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
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2002年
44.
ANALYSIS OF THE SURFACE MORPHOLOGY OF CVD-GROWNDIAMOND FILMS WITH X-RAY DIFFRACTION
机译:
用X射线衍射分析CVD金刚石薄膜的表面形态
作者:
M.J. Fransen
;
J. te Nijenhuis
;
J.H.A. Vasterink
;
R.L Stolk
;
J.J. Schermer
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
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2002年
45.
PULP AND PAPER PLANT MATERIALS ISSUES ADDRESSED BY X-RAY ANDNEUTRON DIFFRACTION METHODS
机译:
X射线和中子衍射法解决的纸浆和造纸厂材料问题
作者:
C. R. Hubbard
;
R. A. Peascoe
;
J. R. Keiser
会议名称:
《》
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2002年
46.
WAVEGUIDE-RESONANCE MECHANISM FOR X-RAY BEAMPROPAGATION: PHYSICS AND EXPERIMENTAL BACKGROUND
机译:
X射线束传播的波导管共振机理:物理和实验背景
作者:
V.K. Egorov
;
E.V. Egorov
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
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2002年
47.
USE OF X-RAYS IN THE UNITED KINGDOM FORENSIC SCIENCESERVICE
机译:
X射线在联合王国法医科学服务中的使用
作者:
David F. Rendle
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
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2002年
48.
METHODOLOGY OF SYNCHROTRON EDXRD STRAIN PROFILING
机译:
SYNCHROTRON EDXRD应变分析的方法学
作者:
Igor Zakharchenko
;
Yuriy Gulak
;
Zhong Zhong
;
Mark Croft
;
ThomasrnTsakalakos
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
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2002年
49.
REEL-TO-REEL TEXTURE ANALYSIS OF HTS COATEDCONDUCTORS USING A MODIFIED GADDS SYSTEM
机译:
使用改进的GADS系统分析高温超导涂层导体的线对线纹理
作者:
J.L. Reeves
;
V. Selvamanickam
;
R.L. Snyder
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
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2002年
50.
ZINC/IRON PHASE TRANSFORMATION STUDIES ONGALVANNEALED STEEL COATINGS BY X-RAY DIFFRACTION
机译:
X射线衍射分析镀锌钢涂层的锌/铁相变
作者:
S.Wienstr?er
;
M. Fransen
;
H. Mittelst?dt
;
C. Nazikkol
;
M. V?lker
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
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2002年
51.
PERFORMANCE OF A YB, DOUBLE -I CRYSTAL MONOCHROMATORFOR DISPERSING SYNCHROTRON_RADIATION AT SPRING - 8
机译:
YB双I晶体单色仪在春天时分散同步辐射的性能-8
作者:
Masaru Kitamura
;
Hideki Yoshikawa
;
Tetsuro Mochizuki
;
Aurel Mihai Vlaicu
;
rnAtsushi Nisawa
;
Nobuhiro Yagi
;
Masato Okui
;
Masahiro Kimura
;
Takaho Tanaka
;
rnSei Fukushima
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
52.
RIETVELD REFINEMENT OF 2-THETA SPLIT RANGES– A METHOD FOR REDUCING ANALYSIS TIME
机译:
2θ分裂范围的RIETVELD精简-减少分析时间的方法
作者:
Karin Laursen
;
Tim White
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
|
2002年
53.
THREE-DIMENSIONAL MAPPING OF FATIGUE CRACK POSITIONVIA A NOVEL X-RAY PHASE CONTRAST APPROACH
机译:
通过新颖的X射线相位对比方法对疲劳裂纹位置进行三维映射
作者:
K. Ignatiev
;
W.-K. Lee
;
K. Fezzaa
;
G.R. Davis
;
J.C. Elliott
;
S.R. Stock
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
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2002年
54.
VORTEX? – A NEW HIGH PERFORMANCE SILICON DRIFTDETECTOR FOR XRD AND XRF APPLICATIONS
机译:
涡流? –用于XRD和XRF应用的新型高性能硅漂移检测器
作者:
Shaul Barkan
;
Jan S. Iwanczyk
;
Bradley E. Patt
;
Liangyuan Feng
;
Carolyn R. Tull
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
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2002年
55.
DEVELOPMENT OF A WAVELENGTH DISPERSIVE X-RAYFLUORESCENCE SPECTROMETER USING A MULTI-CAPILLARYX-RAY LENS FOR X-RAY DETECTION
机译:
用多毛细管X射线透镜检测波长色散X射线荧光光谱仪
作者:
Yuji Horino
;
Yoshiaki Mokuno
;
Tadashi Narusawa
;
Shoji Kuwabara
;
rnSumio Shibata
;
Hiroyoshi Soejima
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
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2002年
56.
MCSHAPE: A MONTE CARLO CODE FOR SIMULATION OF POLARIZED PHOTON TRANSPORT
机译:
MCSHAPE:偏光子运输模拟的蒙特卡洛代码
作者:
J .E . Ferná ndez
;
V. G. Molinari
;
M. Bastiano
;
V. S cot
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
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2002年
57.
ACCURATE QUANTIFICATION OF RADIOACTIVE MATERIALS BYX-RAY FLUORESCENCE: GALLIUM IN PLUTONIUM METAL
机译:
X射线荧光法精确定量放射性材料:QU金属中的镓
作者:
Christopher G. Worley
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
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2002年
58.
POLARIZATION FOR BACKGROUND REDUCTION IN EDXRF ---THE TECHNIQUE THAT DOES INDEED WORK
机译:
EDXRF中的背景降低极化-确实可以工作的技术
作者:
Richard W. Ryon
会议名称:
《Advances in X-ray analysis (ICDD2003)》
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2002年
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