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Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics II; Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering; vol.6704
Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics II; Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering; vol.6704
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1.
Progress in the X-ray Optics Metrology lab at Diamond Light Source
机译:
Diamond Light Source的X射线光学和计量实验室的进展
作者:
Simon. G. Alcock
;
K. J. S. Sawhney
会议名称:
《Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics II; Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering; vol.6704》
|
2007年
关键词:
x-ray optics;
metrology;
interferometry;
2.
A Microstitching Interferometer for Evaluating the Surface Profileof Precisely Figured Hard X-ray K-B Mirrors
机译:
用于评估精确绘制的硬X射线K-B镜表面轮廓的微缝干涉仪
作者:
Lahsen Assoufid
;
Jim Qian
;
Cameron M. Kewish
;
Chian Liu
;
Ray Conley
;
Albert T. Macrer
;
Delvin Lindley
;
Christopher Saxer
会议名称:
《Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics II; Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering; vol.6704》
|
2007年
关键词:
microstitching;
elliptical x-ray mirror;
profile-coating;
long trace profiler;
3.
Hard x-ray wavefront measurement and control for hard x-ray nanofocusing
机译:
硬X射线纳米聚焦的硬X射线波前测量和控制
作者:
Soichiro Ha
;
Hidekazu Mimura
;
Satoshi Matsuyama
;
Hirokatsu Yumoto
;
Takashi Kimura
;
Yasuhisa Sano
;
Kenji Tamasaku
;
Yoshinori Nishino
;
Makina Yabashi
;
Tetsuya Ishikawa
;
Kazuto Yamauchi
会议名称:
《Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics II; Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering; vol.6704》
|
2007年
关键词:
hard x-ray mirror;
x-ray nanofocusing;
phase-error correction;
differential deposition;
at-wavelength wavefront metrology;
4.
Suppressing vibration errors in phase-shifting interferometry
机译:
抑制相移干涉仪中的振动误差
作者:
Leslie L. Deck
会议名称:
《Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics II; Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering; vol.6704》
|
2007年
5.
Systematic error reduction: non-tilted reference beam method for Long Trace Profiler
机译:
系统误差减少:长轨迹轮廓仪的非倾斜参考光束方法
作者:
Shinan Qian
;
Kun Qian
;
Yiling Hong
;
Liusi Sheng
;
Tonglin Ho
;
Peter Takacs
会议名称:
《Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics II; Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering; vol.6704》
|
2007年
6.
Comparison of slope and height profiles for flat synchrotron x-ray mirrors measured with a long trace profiler and a PMI Fizeau interferometer
机译:
使用长轨迹轮廓仪和PMI Fizeau干涉仪测量的平面同步加速器X射线镜的斜率和高度轮廓比较
作者:
Jun Qian
;
Lahsen Assoufid
;
Albert Macrer
会议名称:
《Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics II; Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering; vol.6704》
|
2007年
关键词:
long trace profiler;
LTP;
phase measuring interferometer;
PMI;
Fizeau interferometer;
synchrotron x-ray mirror;
7.
Recent developments on the Daresbury Laboratory long trace profiler
机译:
Daresbury实验室长痕量轮廓仪的最新发展
作者:
A. Gleeson
会议名称:
《Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics II; Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering; vol.6704》
|
2007年
关键词:
LTP;
profiler;
stability;
temperature;
vibration;
8.
New Procedures for the Adjustment of Elliptically Bent Mirrors with the Long Trace Profiler
机译:
使用长轨迹轮廓仪调整椭圆弯曲镜的新程序
作者:
Wayne R. McKinney
;
Steven C. Irick
;
Jonathan L. Kirschman
;
Alastair A. MacDowell
;
Tony Warwick
;
Valeriy V. Yashchuk
会议名称:
《Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics II; Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering; vol.6704》
|
2007年
关键词:
synchrotron radiation;
elliptical bender;
mirror;
adaptive optic;
x-ray;
long trace profiler;
9.
Surface Gradient Integrated Profiler for X-ray and EUV optics - Self calibration method of measured position for an off-axis parabolic mirror (f=150mm) measurement
机译:
用于X射线和EUV光学器件的表面梯度集成轮廓仪-离轴抛物面镜(f = 150mm)测量的测量位置的自校准方法
作者:
Y.Higshi
;
K.Endo
;
T.Kume
;
K.Enmi
;
J. Uhikoshi K. Ueno
;
Y.Mori
会议名称:
《Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics II; Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering; vol.6704》
|
2007年
关键词:
surface figuring;
slope error;
normal vector;
goniometer;
asymmetric aspheric shape;
10.
Flat-field calibration of CCD detector for Long Trace Profiler
机译:
长轨迹轮廓仪CCD检测器的平场校准
作者:
Jonathan L. Kirschman
;
Edward E. Domning
;
Keith D. Franck
;
Steven C. Irick
;
Tony Warwick
;
Valeriy V. Yashchuk
;
Alastair A. MacDowell
;
Wayne R. McKinney
;
Gregory Y. Morrison
;
Brian V. Smith
会议名称:
《Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics II; Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering; vol.6704》
|
2007年
关键词:
long trace profiler;
LTP;
LTP detector;
camera calibration;
flat field source;
error reduction;
optical metrology;
11.
Microstitching interferometer and relative angle determinable stitching interferometer for half-meter-long X-ray mirror
机译:
用于半米长的X射线镜的微针迹干涉仪和相对角度可确定的针迹干涉仪
作者:
Haruhiko Ohashi
;
Takashi Tsumufa
;
Hiromi Okada
;
Hidekazu Mimura
;
Tatsuhiko Masunaga
;
Yasunori Senba
;
Shunji Goto
;
Kazuto Yamauchi
;
Tetsuya Ishikawa
会议名称:
《Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics II; Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering; vol.6704》
|
2007年
关键词:
x-ray;
synchrotron radiation;
mirror;
stitching interferometer;
12.
Second metrology round-robin of APS, ESRF and SPring-8 laboratories of elliptical and spherical hard-x-ray mirrors
机译:
椭圆和球形硬X射线镜的APS,ESRF和SPring-8实验室的第二次计量循环
作者:
A. Rommeveaux
;
L. Assoufid
;
H. Ohashi
;
H. Mimura
;
K. Yamauchi
;
J. Qian
;
T. Ishikawa
;
C. Morawe
;
A. T. Macrer
;
A. Khounsary
;
S. Goto
会议名称:
《Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics II; Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering; vol.6704》
|
2007年
关键词:
long trace profiler;
round robin;
x-ray mirrors;
interferometer;
stitching;
13.
High order harmonics wave front measurement and optimization
机译:
高次谐波波前测量与优化
作者:
J. Gautier
;
A.S Morlens
;
P. Zeitoun
;
E. Papalarazou
;
G.Rey
;
C. Valentin
;
J.P Goddet
;
S. Sebban
;
Guillaume Dovillaire
;
Xavier Levecq
;
Samuel Bucourt
会议名称:
《Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics II; Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering; vol.6704》
|
2007年
14.
Precision Tiltmeter as a Reference for Slope Measuring Instruments
机译:
精密倾斜仪作为坡度测量仪器的参考
作者:
Jonathan L. Kirschman
;
Edward E. Domning
;
Gregory Y. Morrison
;
Brian V. Smith
;
Valeriv V. Yashchuk
会议名称:
《Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics II; Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering; vol.6704》
|
2007年
关键词:
tiltmeter;
slope measuring instrument;
long trace profiler;
LTP;
error reduction;
reference;
x-ray optics;
optical metrology;
15.
Proposal for a Universal Test Mirror for Characterization of Slope Measuring Instruments
机译:
关于表征斜度测量仪器的通用测试镜的建议
作者:
Valeriy V. Yashchuk
;
Wayne R. McKinney
;
Tony Warwick
;
Tino Noll
;
Frank Siewert
;
Thomas Zeschke
;
Ralf D. Geckeler
会议名称:
《Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics II; Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering; vol.6704》
|
2007年
关键词:
slope measuring instrument;
long trace profiler;
LTP;
calibration;
systematic error reduction;
test mirror;
16.
Optimized Use and Calibration of Autocollimators in Deflectometry
机译:
偏转仪中自动准直仪的优化使用和校准
作者:
Ralf D. Geckeler
;
reas Just
会议名称:
《Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics II; Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering; vol.6704》
|
2007年
关键词:
deflectometry;
autocollimator;
angle;
angle calibration;
traceability;
flatness standard;
precision metrology;
17.
Binary pseudo-random grating as a standard test surface for measurement of modulation transfer function of interferometric microscopes
机译:
二进制伪随机光栅作为标准测试表面,用于测量干涉显微镜的调制传递函数
作者:
Valeriy V. Yashchuk
;
Wayne R. McKinney
;
Peter Z. Takacs
会议名称:
《Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics II; Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering; vol.6704》
|
2007年
关键词:
standard test surface;
interferometric microscope;
modulation transfer function;
power spectral density;
optical metrology;
calibration;
error reduction;
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