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1.
Imaging issues for interferometric measurement of aspheric surfacesusing CGH null correctors
机译:
非球面干涉测量的成像问题 r 使用CGH空校正器
作者:
Ping Zhou
;
Jim Burge
;
Chunyu Zhao
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
cGH;
imaging aberration;
transfer function;
talbot effect;
phase smoothing;
edge diffraction;
2.
An Analytic Expression for the Field Dependence of FRINGE Zernike Polynomial Coefficients in Rotationally Symmetric Optical Systems
机译:
旋转对称光学系统中FRINGE Zernike多项式系数的场相关性的解析表示
作者:
Jannick P. Rolland
;
Cristina Dunn
;
Kevin P. Thompson
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
geometric aberrations;
zernike polynomials;
optical testing;
optical alignment;
3.
Image continuity at different levels of zoom for Moiré techniques
机译:
使用Moiré技术的不同缩放级别的图像连续性
作者:
Mehrdad Abolbashari
;
Awad S. Gerges
;
Angela Davies
;
Faramarz Farahi
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
moiré technique;
moiré system;
image continuity;
image registration;
affine transformation;
4.
High-speed optical coherence imaging: towards the structure and thephysiology of living tissue
机译:
高速光学相干成像:针对活组织的结构和生理
作者:
Maciej Wojtkowski
;
Ireneusz Grulkowski
;
Anna Szkulmowska
;
rnMaciej Szkulmowski
;
Andrzej Kowalczyk
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
optical coherence tomography;
retinal imaging;
functional imaging;
5.
Comparison of Different Film Thickness Evaluation Algorithms Applicable to Spectrometric InterrogationSystems
机译:
适用于光谱询问的不同膜厚评估算法的比较 r nSystems
作者:
Florian Hirth
;
Ana Pérez Grassi
;
Daniel G. Dorigo
;
Alexander W. Koch
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
thin film reflectometry;
algorithm evaluation;
spectrometric interrogation system;
6.
Spectroscopy with a coherent dual frequency comb interferometer at3.4μm
机译:
相干双频梳形干涉仪在 r 3.4μm处进行光谱分析
作者:
Esther Baumann
;
Fabrizio R. Giorgetta
;
Ian Coddington
;
William C. Swann
;
rnNathan R. Newbury
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
frequency combs;
mid-IR;
molecular spectroscopy work of an agency of the US government;
not subject to copyright;
7.
Determination of refractive index of transparent plate by Fabry-Perotfringe analysis
机译:
Fabry-Perot r nfringe分析法测定透明板的折射率
作者:
Hee Joo Choi
;
Hwan Hong Lim
;
Han Seb Moon
;
Tae Bong Eom
;
Jung Jin Ju
;
Myoungsik Cha
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
index of refraction;
interferometry;
metrology;
8.
Simultaneous measurement of spectral reflectivity and birefringence of a stone surface using polarization phase-shifting interferometer
机译:
使用偏振相移干涉仪同时测量石材表面的光谱反射率和双折射
作者:
H. Kobayashi
;
I. Ishimaru
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
spectroscopy;
polarization;
birefringence;
optical retardation;
polarization phase-shifting interferometer;
stone inspection;
9.
Measurement of Surface Resistivity/Conductivity of Carbon Steel in5-20ppm of RA-41 Inhibited Seawater by OpticalInterferometry Techniques
机译:
光学干涉法测量RA-41抑制海水中r n5-20ppm中碳钢的表面电阻率/电导率
作者:
K.Habib
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
electrical resistivity;
electrical conductivity;
alternating current (aC) impedance (resistance);
holographic interferometry;
carbon steel;
room temperature;
seawater;
corrosion inhibitor;
fe oxide-hydroxides;
10.
Large-Optics shearing interferometer for the wavefront sensing ofwidely tunable laser
机译:
用于大范围可调激光器的波前传感的大光学剪切干涉仪
作者:
Zhu Luan
;
Lijuan Wang
;
Yu Zhou
;
Enwen Dai
;
Jianfeng Sun
;
Liren Liu
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
shearing interferometer;
wavefront;
equal optical path;
large aperture;
widely tunable laser;
11.
Wavefront calculation from backscattering phase in opticalrough surfaces.
机译:
从光学 r 粗糙表面中的反向散射相位进行波前计算。
作者:
G. Diaz-Gonzalez
;
J. Munoz-Lopez
;
J. Castro-Ramos
;
A. Santiago-Alvarado
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
scattering;
phase;
rough surfaces;
12.
One-shot in-line digital holography based two-dimensional Hilbertdemodulation technique
机译:
基于单次在线数字全息的二维希尔伯特 r n解调技术
作者:
Weiqing Pan
;
Yongjian Zhu
;
Yufeng Fan
;
Haitao Lang
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
in-line digital holography;
two-dimensional hilbert transform;
single-exposure;
13.
Wave-front reconstruction by digital phase retrieval method in highpower laser
机译:
大功率激光中数字相位检索方法的波前重构
作者:
Wei Huang
;
Dean Liu
;
Xuejie Zhang
;
Yan Zhang
;
JianQiang Zhu
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
fresnel diffraction;
phase retrieval;
wavefront;
intensity distribution;
14.
Cryogenic wavefront error measurement for the James Webb Space Telescope fine guidance sensor powered optics
机译:
詹姆斯·韦伯太空望远镜精细制导传感器供电的光学器件的低温波前误差测量
作者:
Clinton E. Evans
;
Elliot S. Greenberg
;
David A. Aldridge
;
Jeffrey J. Santman
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
optical-Path-Difference (oPD);
oPD-Measurement;
vacuum;
cryogenic;
interferometry;
james webb space telescope (jWST);
fine guidance sensor (fGS);
15.
Extended averaging phase-shift schemes for Fizeau interferometry on high-numerical-aperture spherical surfaces
机译:
高数值孔径球面上Fizeau干涉测量的扩展平均相移方案
作者:
Jan Burke
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
Fizeau interferometry;
optical testing;
sphere metrology;
phase shifting;
16.
Dual frequency sweeping interferometry for absolute distance metrology at long ranges: implementation and performance
机译:
用于远距离绝对距离计量的双频扫描干涉仪:实现和性能
作者:
Alexandra Cabral
;
Manuel Abreu
;
José M. Rebord(a)o
;
Vitor Oliveira
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
interferometry;
distance measurement;
space metrology;
fabry-Perot;
tunable laser;
17.
Real-time phase demodulation of heterodyne speckle interference patterns using correlation image sensor
机译:
利用相关图像传感器对外差散斑干涉图样进行实时相位解调
作者:
Akira Kimachi
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
digital speckle pattern interferometry;
heterodyne interferometry;
real-time phase demodulation;
correlation image sensor;
18.
Theoretical Analysis and Optimisation of the Method of Excess Fractions for Long Range Metrology
机译:
远程计量学中超分数方法的理论分析与优化
作者:
Konstantinos Falaggis
;
David P. Towers
;
Catherine E. Towers
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
multi-wavelength interferometry;
absolute metrology;
excess fractions;
fibre sensors;
19.
Uni-axial measurement of three-dimensional surface profile by liquid crystal digital shifter
机译:
液晶数字移位器对三维表面轮廓的单轴测量
作者:
Yukitoshi OTANI
;
Fumio KOBAYASHI
;
Yasuhiro MIZUTANI
;
Shuugo Watanabet
;
Manabu Haradat
;
Toru YOSHIZAWA
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
3D surface profile measurement;
3D surface profile measurement with the projection grating;
uni-axis;
digital sifter;
20.
Fast and flexible calibration of a phase-based 3-D imaging systemby uneven fringe projection
机译:
基于不均匀条纹投影的基于相位的3-D成像系统的快速灵活的校准
作者:
Zonghua Zhang
;
Tong Guo
;
Sixiang Zhang
;
Xing Fu
;
Xiaotang Hu
;
Catherine E. Towers
;
rn David P. Towers
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
flexible 3-D calibration;
uneven fringe projection;
3-D imaging;
absolute phase calculation;
21.
Self-referencing calibration method for transmission spheresin Fizeau interferometry
机译:
透射球自参考校准方法 r n菲索干涉法
作者:
Jan Burke
;
David S. Wu
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
fizeau interferometry;
optical testing;
sphere metrology;
calibration methods;
22.
Self-calibrating lateral scanning white-light interferometer
机译:
自校准横向扫描白光干涉仪
作者:
Florin Munteanu
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
interferometry;
interferometer;
phase-shifting;
self-calibrating;
lateral scanning;
23.
Discrete Step Wavemeter
机译:
离散阶梯波表
作者:
Carl Aleksoff
;
Hao Yu
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
wavemeter;
interferometer;
holography;
tunable laser;
metrology;
retroreflectors;
24.
Theoretical and experimental investigation of statistics of spatial derivatives of Stokes parameters for polarization speckle
机译:
极化散斑斯托克斯参数空间导数统计的理论和实验研究
作者:
Shun Zhang
;
Paul Roulleau
;
Akihiro Matsuda
;
Mitsuo Takeda
;
Wei Wang
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
polarization speckle;
random polarization states;
derivatives of Stokes parameters;
25.
3-D coherence holography using a commercial projector for display and incoherent illumination of a coherence hologram
机译:
使用商用投影仪进行相干全息图的显示和不相干照明的3D相干全息
作者:
Dinesh N. Naik
;
Takahiro Ezawa
;
Rakesh Kumar Singh
;
Yoko Miyamoto
;
Mitsuo Takeda
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
holography;
coherence;
image reconstruction;
26.
Non-steady-state photo-EMF effect induced by an arbitrary 1-Dperiodical light distribution
机译:
任意一维非周期光分布引起的非稳态光电动势效应
作者:
Ileana Guízar-Iturbide
;
Luis Gerardo de la Fraga
;
Ponciano Rodríguez-Montero
;
SvetlanarnMansurova
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
visibility;
periodical pattern;
non-steady-state photo-EMF effect;
27.
Polarized Point Diffraction Interferometer for FringeStabilization
机译:
用于边缘的偏振点衍射干涉仪 r n稳定
作者:
Hagyong Kihm
;
Yun-Woo Lee
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
interferometry;
testing;
alignment;
image quality assessment;
28.
Investigation of three-beam interference fringes with controllable phase shift of two reference waves
机译:
具有两个参考波可控相移的三光束干涉条纹的研究
作者:
Maxim A. Volynsky
;
Igor P. Gurov
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
fringe visibility;
three-beam interferometry;
29.
Adaptive photodetector versus conventional method for localizationof the Talbot self-images
机译:
自适应光电探测器与传统方法对Talbot自成像的定位 r n
作者:
Ileana Guízar-Iturbide
;
Luis Gerardo de la Fraga
;
Ponciano Rodríguez-Montero
;
SvetlanarnMansurova
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
talbot effect;
ronchi grating;
visibility;
non-steady-state photo-EMF effect;
30.
Autofocusing on pure phase object for living cell imaging in lensless Fourier transform digital holography
机译:
在无透镜傅里叶变换数字全息术中对纯相对象进行自动聚焦以进行活细胞成像
作者:
Zhao Jie Wang Dayong
;
Wang Yunxin
;
Liu Changgeng
;
Li Yan
;
Cui Huakun
;
Wan Yuhong
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
digital holography;
phase image;
autofocusing criterion function;
living cell;
31.
Improve 4-D shape measurement by using projector defocusing
机译:
通过使用投影仪散焦来改善4D形状测量
作者:
Yuanzheng Gong
;
Song Zhang
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
phase shifting;
real time;
three dimensional;
defocusing.;
32.
A New Color Structured Light Coding Method for Three-DimensionalMeasurement of Isolated Objects
机译:
用于孤立物体的三维测量的一种新的彩色结构光编码方法
作者:
Ke Ma
;
Qican Zhang
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
optical measurement;
three-dimension shape measurement;
color-coded fringes;
isolated objects;
33.
A fast 3D shape measurement based on two orthogonal grating projection
机译:
基于两个正交光栅投影的快速3D形状测量
作者:
Xianyu Su
;
Yunfu Dou
;
Qican Zhang Liqun Xiang
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
3D shape measurement;
fringe projection;
modulation measurement profilometry;
34.
Survey of interferometric techniques used to test JWST optical components
机译:
用于测试JWST光学组件的干涉技术概述
作者:
H. Philip Stahl
;
Chris Alongi
;
Andrea Arneson
;
Rob Bernier
;
Bob Brown
;
Dave Chaney
;
rnGlen Cole
;
Jay Daniel
;
Lee Dettmann
;
Ron Eng
;
Ben Gallagher
;
Robert Garfield
;
JamesrnHadaway
;
Patrick Johnson
;
Allen Lee
;
Doug Leviton
;
Adam Magruder
;
Michael Messerly
;
rnAnkit Pate
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
optical testing;
optical metrology;
astronomical telescope;
optical engineering;
jWST;
35.
Linear systems theory for the analysis of phase-shiftingalgorithms
机译:
用于相移 r 算法的线性系统理论
作者:
Julio C. Estrada
;
Manuel Serving
;
Juan A. Quiroga
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
signal processing;
phase demodulation;
interferogram analysis;
36.
Generating sinusoidal fringe by defocusing: potentials for unprecedentedly high-speed 3-D shape measurement using a DLPprojector
机译:
通过散焦产生正弦条纹:使用DLP r n投影仪进行前所未有的高速3-D形状测量的潜力
作者:
Ji Li
;
Song Zhang
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
high speed;
three dimensional;
fringe analysis;
defocusing;
grating;
37.
A compact LED-based Phase Measuring Deflectometry setup
机译:
基于LED的紧凑型相位测量折光仪设置
作者:
Petri Lehtonen
;
Yuankun Liu
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
phase measuring deflectometry;
pMD;
lED;
surface shape measurement;
glossy surface;
free-form mirror;
sinusoidal fringe;
film frame;
38.
3-D micro-structure measurement by high resolution fringe analysisfor shadow moiré image by SEM
机译:
高分辨率条纹分析法测量3D微结构 r n用于SEM的阴影纹图像
作者:
Y. Arai
;
S. Kanameishi
;
S. Yokozeki
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
three-dimensional measurement;
sEM;
micro product 3-D measurement;
high resolution;
39.
Frequency-stepping interferometry for accurate metrology of rough components and assemblies
机译:
频率步进干涉法可精确测量粗零件和组件
作者:
Thomas J. Dunn
;
Chris A. Lee
;
Mark J. Tronolone
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
tunable laser;
interferometry;
fourier transform;
mode-hopping;
external-cavity tunable laser;
white light interferometry;
coordinate measuring machine;
distance measuring interferometry;
40.
Noise Reduction in Dynamic Interferometry Measurements
机译:
动态干涉测量中的降噪
作者:
Michael North Morris
;
Markar Naradikian
;
James Millerd
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
interferometer;
spatial phase-shifting;
dynamic;
vibration insensitivity;
extended source;
coherent noise;
noise reduction;
41.
Low-cost full-field microinterferometer heads produced by hot-embossing technology
机译:
通过热压印技术生产的低成本全场微干涉仪测头
作者:
M. Kujawinska
;
J. Krezel
;
R. Krajewski
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
grating interferometry;
interferometric tomograph;
miniaturization;
replication;
hot-embossing;
42.
Precision Interferometry in Less than Ideal Environments
机译:
在不太理想的环境中进行精密干涉测量
作者:
James C. Wyant
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
43.
The spatial frequency response and resolution limitations of pixelated mask spatial carrier based phase shiftinginterferometry
机译:
基于像素化掩模空间载波的相移 r n干涉测量的空间频率响应和分辨率限制
作者:
Brad Kimbrough
;
James Millerd
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
interferometry;
optical testing;
spatial carrier;
44.
Multiple-wavelength interferometers using backpropagation of optical fields for profile measurement of thin glass sheets
机译:
使用光场反向传播的多波长干涉仪,用于薄玻璃板的轮廓测量
作者:
Osami Sasaki
;
Choi Samuel
;
Takamasa Suzuki
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
multiple wavelengths;
interferometer;
shape measurement;
backpropagation of optical field;
45.
Fiber optical interferometric sensor based on a piezo-driven oscillation
机译:
基于压电驱动振荡的光纤干涉传感器
作者:
Markus Schulz
;
Peter Lehmann
;
Jan Niehues
会议名称:
《Interferometry XV: Techniques and analysis》
|
2010年
关键词:
fiber optical sensor;
confocal focus scan;
piezoelectric bending beam;
common-path interferometer;
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