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EMAS 2010 : 9th EMAS regional workshop on electron probe microanalysis of materials today : practical aspects
EMAS 2010 : 9th EMAS regional workshop on electron probe microanalysis of materials today : practical aspects
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1.
QUANTITATIVE DETERMINATION OF VAN GOGH'S PAINTING GROUNDS USING SEM/EDS
机译:
用SEM / EDS定量测定Van Gogh涂漆地面
作者:
Ralph Haswel
;
Leslie Carlyle
;
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会议名称:
《EMAS 2010 : 9th EMAS regional workshop on electron probe microanalysis of materials today : practical aspects》
|
2010年
2.
INTRODUCTION TO EPMA AND SEM
机译:
EPMA和SEM简介
作者:
Hans Dijkstra
会议名称:
《EMAS 2010 : 9th EMAS regional workshop on electron probe microanalysis of materials today : practical aspects》
|
2010年
3.
LIGHT ELEMENT ANALYSIS
机译:
轻元素分析
作者:
Hans Dijkstra
会议名称:
《EMAS 2010 : 9th EMAS regional workshop on electron probe microanalysis of materials today : practical aspects》
|
2010年
4.
ANALYSIS OF PAINTINGS BY MULTISPECTRALIR REFLECTOGRAPHY
机译:
用多光谱红外光谱分析颜料
作者:
Claudia Daffara
会议名称:
《EMAS 2010 : 9th EMAS regional workshop on electron probe microanalysis of materials today : practical aspects》
|
2010年
5.
ANALYSIS OF ANCIENT AND HISTORIC GLASS AND CERAMIC GLAZES BY LASER ABLATION INDUCTIVELY COUPLED PLASMA MASS SPECTROMETRY
机译:
激光烧蚀-电感耦合等离子体质谱法分析古代和历史玻璃及陶瓷釉
作者:
Norman H. Tennent
;
Johannes T. van Elteren
;
Vid S Selih
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《EMAS 2010 : 9th EMAS regional workshop on electron probe microanalysis of materials today : practical aspects》
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6.
IN SITU ANALYSIS OF OBJECT SURFACES BY PORTABLE X-RAY DIFFRACTION AND FLUORESCENCE
机译:
便携式X射线衍射和荧光法对物体表面的原位分析。
作者:
Francois Mirambet
;
Jacques Castaing
会议名称:
《EMAS 2010 : 9th EMAS regional workshop on electron probe microanalysis of materials today : practical aspects》
|
2010年
7.
IDENTIFICATION OF EARLY SYNTHETIC ORGANIC DYESTUFFS USING ji-RAMAN SPECTROSCOPY
机译:
用拉曼光谱法鉴定早期合成的有机染料
作者:
Suzan de Groot
会议名称:
《EMAS 2010 : 9th EMAS regional workshop on electron probe microanalysis of materials today : practical aspects》
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8.
PXRF, ji-XRF, VACUUM ji-XRF, AND EPMA ANALYSIS OF 'EMAIL CHAMPLEVE' OBJECTS PRESENT IN BELGIAN MUSEUMS
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比利时博物馆中“电子邮件Champleve”对象的PXRF,ji-XRF,VACUUM ji-XRF和EPMA分析
作者:
Veerle Van der Linden
;
Eva Meesdom
;
Annemie Devos
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Rita Van Dooren
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;
Elsje Janssen
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Bart Vekemans
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Laszlo Vincze
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《EMAS 2010 : 9th EMAS regional workshop on electron probe microanalysis of materials today : practical aspects》
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9.
PARC SOFTWARE: A NOVEL APPROACH TOQUANTITATIVE INTERPRETATION OF SPECTRAL IMAGING DATASETS IN TERMS OF PHASE COMPOSITION AND DISTRIBUTION
机译:
PARC软件:一种新的方法,可以对相成像和分布的光谱成像数据集进行定量解释
作者:
Corrie J.G. van Hoek
;
Michiel de Roo
;
Grishja van der Veer
;
Sieger R. van der Laan
会议名称:
《EMAS 2010 : 9th EMAS regional workshop on electron probe microanalysis of materials today : practical aspects》
|
2010年
10.
PERFORMANCE CHARACTERISTICS OF WDS AND EDS DETECTORS
机译:
WDS和EDS检测器的性能特征
作者:
Michael B. Matthews
会议名称:
《EMAS 2010 : 9th EMAS regional workshop on electron probe microanalysis of materials today : practical aspects》
|
2010年
11.
SAMPLE PREPARATION FOR EPMA
机译:
EPMA的样品制备
作者:
Silvia Richter
;
J. Mayer
会议名称:
《EMAS 2010 : 9th EMAS regional workshop on electron probe microanalysis of materials today : practical aspects》
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2010年
12.
ELECTRON BACKSCATTER DIFFRACTION: A BRIDGE BETWEEN MICROSTRUCTURE AND QUANTITATIVE ANALYSIS IN MATERIAL SCIENCE
机译:
电子背散射:材料科学中的微观结构与定量分析之间的桥梁
作者:
Patricia Romano Trieuero
会议名称:
《EMAS 2010 : 9th EMAS regional workshop on electron probe microanalysis of materials today : practical aspects》
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2010年
13.
QUANTIFICATION IN ELECTRON PROBE MICROANALYSIS
机译:
电子探针显微分析的定量
作者:
Xavier Llovet
会议名称:
《EMAS 2010 : 9th EMAS regional workshop on electron probe microanalysis of materials today : practical aspects》
|
2010年
14.
STUDY OF SURFACES BY LOW VOLTAGE AND VARIABLE PRESSURE SEM
机译:
低压低压差扫描电镜的表面研究
作者:
Ineke Joosten
会议名称:
《EMAS 2010 : 9th EMAS regional workshop on electron probe microanalysis of materials today : practical aspects》
|
2010年
15.
HOW TO STUDY A PIGMENT THAT HAS DISAPPEARED?
机译:
如何研究已消失的颜料?
作者:
Katrien Keune
会议名称:
《EMAS 2010 : 9th EMAS regional workshop on electron probe microanalysis of materials today : practical aspects》
|
2010年
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