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Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii
Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii
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1.
The Reliability of an Integrated Detector Preamplifier
机译:
集成检测器前置放大器的可靠性
作者:
A. O. Ibidunni
会议名称:
《Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii》
|
1999年
2.
TARNISHING RESISTANCE OF COPPER, SILVER AND ITS ALLOYS FOR ELECTRONIC APPLICATIONS
机译:
电子应用中的铜,银及其合金的耐蚀性
作者:
P.L. Cavallotti
;
M. Bestetti
;
L. Magagnin
;
V. Sirtori
;
F. Zambon
会议名称:
《Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii》
|
1999年
3.
SIMPLE METHOD FOR EVALUATING THE CORROSIVENESS OF INDOOR ENVIRONMENTS USING A METAL PLATE
机译:
用金属板评估室内环境腐蚀性的简单方法
作者:
Masamitsu Watanabe
;
Nobue Aoki
;
Kosuke Ikeda
会议名称:
《Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii》
|
1999年
4.
Reliability of Electronics in Harsh Environments: Electrical Leakage and Corrosion Caused By Hygroscopic Pollutant Particles
机译:
电子在恶劣环境中的可靠性:由吸湿性污染物颗粒引起的漏电和腐蚀
作者:
R. B. Comizzoli
;
C. A. Jankoski
;
G. A. Peins
;
L.A. Psota-Kelty
;
D. J. Siconolfi
;
J. D. Sinclair
会议名称:
《Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii》
|
1999年
5.
PASSIVITY AND ELECTROCHEMICAL STUDY OF SOFT MAGNETIC MATERIALS
机译:
软磁性材料的钝化与电化学研究
作者:
Gilles Poupon
;
Jean -Michel Maire
会议名称:
《Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii》
|
1999年
6.
A COMBINATORIAL APPROACH TO DETERMINE MECHANISMS OF ATMOSPHERIC COPPER SULFIDATION
机译:
确定大气硫化铜机理的组合方法
作者:
J.C. Barbour
;
J.P. Sullivan
;
J.W. Braithwaite
;
N. Missert
;
J.S. Nelson
;
R.G. Dunn
;
K. G. Minor
;
G. Copeland
;
S. Lucero
会议名称:
《Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii》
|
1999年
7.
NON-HERMETIC OPTOELECTRONIC DEVICES
机译:
非密封光电器件
作者:
J. W. Osenbach
会议名称:
《Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii》
|
1999年
8.
MASS CHANGES OF METALLIC COUPONS IN VARIOUS GAS CORROSION TEST ENVIRONMENTS
机译:
各种气体腐蚀测试环境中金属离子的质量变化
作者:
Yasuo Yokoi
会议名称:
《Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii》
|
1999年
9.
IMPROVEMENT ON MONITORING AND REDUCTION OF CORROSION DEFECTS ON INTEGRATED CIRCUIT METALLIZATION
机译:
集成电路金属化中腐蚀缺陷的监测和减少的改进
作者:
Karl E.Mautz
会议名称:
《Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii》
|
1999年
10.
DIELECTRIC PROPERTIES OF GELS USED FOR PRESSURE SENSOR ENCAPSULATION
机译:
用于压力传感器封装的凝胶的介电性能
作者:
David J. Monk
;
Yanil Cruz
;
Carl Lopez
;
Theresa Maudie
;
Dennis Stanerson
;
Slobodan Petrovic
会议名称:
《Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii》
|
1999年
11.
CORROSION FAILURE CHARACTERISTICS OF ELECTRONIC COMPONENTS AND PERSPECTIVES FOR PREVENTION AND CONTROL
机译:
电子元件的腐蚀破坏特征及预防和控制的观点
作者:
Yuichi Ishikawa
;
Toshinori Ozaki
会议名称:
《Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii》
|
1999年
12.
Corrosion Induced Electrostatic Damage Potential
机译:
腐蚀引起的静电损坏电位
作者:
John P. Franey
会议名称:
《Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii》
|
1999年
13.
CREVICE CORROSION INITIATION AT ENGINEERED CU-RICH DEFECTS IN AL THIN FILMS
机译:
薄铝膜中富含铜的工程缺陷对裂纹的腐蚀作用
作者:
N. Missert
;
K. A. Son
;
F. D. Wall
;
J. C. Barbour
;
J. P. Sullivan
;
K. R. Zavadil
;
R. G. Copeland
;
M. A. Martinez
;
R. G. Buchheit
;
C. S. Jeffcoate
;
H. S. Isaacs
会议名称:
《Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii》
|
1999年
14.
EVALUATION OF CORROSION RESISTANCE OF METAL EVAPORATED TAPE BY ELECTROCHEMICAL MEASUREMENTS
机译:
电化学测量评价金属蒸镀胶带的耐蚀性
作者:
Seisho Take
;
Masaru Okuyama
;
S. Yuditskaya
;
D.B. Mitton
;
R.M. Latanision
会议名称:
《Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii》
|
1999年
15.
CORROSION PREVENTION AND CONTROL OF ELECTRONICS
机译:
电子腐蚀与控制
作者:
Risto Hienonen
;
Reima Lahtinen
会议名称:
《Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii》
|
1999年
16.
CONDUCTION MECHANISM OF ELECTRICAL CONTACT ENHANCING CHEMICALS
机译:
电触头增强化学物质的传导机理
作者:
Guilian Gao
;
Dongkai Shangguan
会议名称:
《Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii》
|
1999年
17.
ANODIC OXIDATION BEHAVIOUR OF ALUMINUM AND COPPER IN PROPYLENE CARBONATE
机译:
碳酸丙烯酯中铝和铜的阳极氧化行为
作者:
Jin KAWAKITA
;
Kenzo KOBAYASHI
会议名称:
《Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii》
|
1999年
18.
Atmospheric Corrosivity Control via Surface Active Papers
机译:
通过表面活性纸控制大气腐蚀
作者:
R. G. Kelly
;
C. M. Weyant
会议名称:
《Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii》
|
1999年
19.
AN ARRAY ELECTRODE TECHNIQUE FOR MAPPING CORROSION POTENTIAL AT THE POLYMER/METAL INTERFACE
机译:
聚合物/金属界面处腐蚀电位的阵列电极技术
作者:
Changjian Lin
;
Xiangdong Zhuo
;
Tinh Nguyen
会议名称:
《Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii》
|
1999年
20.
VCI-INHIBITORS TO PROTECT ELECTRONIC PRODUCTS AGAINST CORROSION IN TROPICAL ATMOSPHERES
机译:
用于防止电子产品在热带大气中腐蚀的VCI抑制剂
作者:
Soili Rossi
;
Salme Nurmi
;
Virve Christiansen
;
Raija Ilmen
会议名称:
《Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii》
|
1999年
21.
ULTRATHIN ORGANIC FILMS FOR CORROSION PROTECTION IN MICROELECTRONIC DEVICES
机译:
超薄有机膜在微电子设备中的腐蚀防护
作者:
M. Stratmann
;
M. Unger
;
M. Rohwerder
;
R. E. Lobnig
会议名称:
《Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii》
|
1999年
22.
Reliability Characterization of RuO_2 Thin Film Resistors
机译:
RuO_2薄膜电阻器的可靠性表征
作者:
L. F. Garfias
;
D. J. Siconolfi
;
G. R. Crane
;
R. B. Comizzoli
;
G. A. Peins
会议名称:
《Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii》
|
1999年
23.
Effects of Moisture and High Temperature Exposure on Manufacturability and Reliability of Solder Joints
机译:
潮湿和高温暴露对焊点可制造性和可靠性的影响
作者:
MarjorieAnn Erickson Natishan
;
Chien Cheng Tu
会议名称:
《Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii》
|
1999年
24.
Corrosion and Protection of Metals in the Presence of Submicron Dust Particles
机译:
亚微米粉尘颗粒对金属的腐蚀与防护
作者:
R.Lobnig
;
R.P.Frankenthal
;
C.A.Jankoski
;
D.J.Siconolfi
;
J.D.Sinclair
;
M.Unger
;
M.Stratmann
会议名称:
《》
|
1999年
25.
CORROSION RESISTANCES OF ELECTRODEPOSITED MAGNETIC THIN FILMS
机译:
电沉积磁薄膜的耐蚀性
作者:
N. V. Myung
;
K. Nobe
会议名称:
《Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii》
|
1999年
26.
CHARACTERIZATION OF THE EFFECT OF Au/Al BONDPAD CORROSION ON MICROELECTRONIC DEVICE RELIABILITY
机译:
表征金/铝键合腐蚀对微电子器件可靠性的影响
作者:
N. R. Sorensen
;
J. W. Braithwaite
;
D. W. Peterson
;
J. R. Michael
;
D. G. Robinson
;
M. P. Strizich
会议名称:
《Fourth International Symposium on Corrosion and Reliability of Electronic Materials and Devices, 4th, Oct 17-22, 1999, Honolulu, Hawaii》
|
1999年
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