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1.
Site selection considerations for scanning and transmission electron microscopes
机译:
扫描和透射电子显微镜的选址注意事项
作者:
Wayne Vogen
;
Vibration Engineering Consultants
;
Inc.
;
Oakland
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
2.
Achieving microradian accuracy with silicon position-sensitive detectors
机译:
利用硅位置敏感探测器实现微弧度精度
作者:
Richard Gaughan
;
Lockheed Missiles Space Co.
;
Inc.
;
Boulder Creek
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
3.
New kind of scanning device of low mechanical vibration noises in confocal scanning optical microscope
机译:
共焦扫描光学显微镜中一种新型的低机械振动噪声扫描装置
作者:
Zhang Shen
;
Haihui Electric Co.
;
Shenzhen
;
China
;
Chunkan Tao
;
East China Institute of Technology
;
Nanjing
;
Jiangsu
;
China.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
4.
Method to overcome the random factors in arranging a coherent bundle of optic fiber
机译:
克服布置光纤相干束中随机因素的方法
作者:
Zhang Shen
;
Haihui Electric Co.
;
Shenzhen
;
China.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
5.
Matching performance requirements with technology: an applicationsapproach to vibration isolation,
机译:
将性能要求与技术相匹配:一种用于隔振的应用方法,
作者:
Thomas A. Cellucci
;
Newport Corp.
;
Irvine
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
6.
Generic criteria for vibration-sensitive equipment
机译:
振动敏感设备的通用标准
作者:
Colin G. Gordon
;
Colin Gordon Associates
;
San Mateo
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
7.
Factors in the design and selection of vibration-sensitive equipment
机译:
振动敏感设备的设计和选择因素
作者:
Norman Owen
;
San Francisco State Univ.
;
San Francisco
;
CA
;
USA
;
Reuben Hale
;
Response Dynamics
;
Oakland
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
8.
Vibration considerations in the design of the Advanced Photon Source at Argonne National Laboratory
机译:
阿贡国家实验室高级光子源设计中的振动考虑
作者:
Joseph A. Jendrzejczyk
;
Argonne National Lab.
;
Argonne
;
IL
;
USA
;
Martin W. Wambsganss
;
Argonne National Lab.
;
Argonne
;
IL
;
USA.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
9.
Vibration measurement techniques for advanced test and manufacturing facilities
机译:
先进测试和制造设备的振动测量技术
作者:
Randy O. Goucher
;
Applied Technology Associates
;
Inc.
;
Albuquerque
;
NM
;
USA
;
Dennis Smith
;
Applied Technology Associates
;
Inc.
;
Albuquerque
;
NM
;
USA.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
10.
Stability and vibration control in synchrotron light source buildings
机译:
同步加速器光源建筑物的稳定性和振动控制
作者:
Jules B. Godel
;
Brookhaven National Lab.
;
Upton
;
NY
;
USA.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
11.
Recent advancements in passive and active vibration control systems
机译:
被动和主动振动控制系统的最新进展
作者:
K.P. Heiland
;
Integrated Dynamics Engineering GmbH
;
Floersheim
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
12.
Review of several methods for processing vibration data
机译:
审查处理振动数据的几种方法
作者:
Hal Amick
;
Acentech Inc.
;
Canoga Park
;
CA
;
USA
;
Sean K. Bui
;
Acentech Inc.
;
Canoga Park
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
13.
Accurate characterization of low-level vibration environments using seismological sensors and systems
机译:
使用地震传感器和系统准确表征低级振动环境
作者:
Robert L. Nigbor
;
Agbabian Associates
;
Inc.
;
Pasadena
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
14.
Effect of a viscoelastic admixture on transient vibration in a concrete and steel floor
机译:
粘弹性混合物对混凝土和钢质地板瞬态振动的影响
作者:
Neil Moiseev
;
Cerami
;
Associates
;
Inc.
;
Long Island City
;
NY
;
USA.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
15.
Continuous vibration monitoring system at an operating microelectronics fabrication plant
机译:
运行中的微电子制造工厂的连续振动监测系统
作者:
Goutam Paul
;
Intel Corp.
;
Santa Clara
;
CA
;
USA
;
Rajesh Mehta
;
Intel Corp.
;
Santa Clara
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
16.
Matching performance requirements with technology: an applications approach to vibration isolation
机译:
通过技术满足性能要求:隔振的应用方法
作者:
Author(s): Thomas A. Cellucci Newport Corp. Irvine CA USA.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
17.
Evaluation of acceptable levels and standards of vibration in relation to large telescopes and observatories
机译:
评估与大型望远镜和天文台有关的可接受的振动水平和标准
作者:
Brian H. Thomas
;
Vibration Consultants Instrumentation Ltd.
;
Lymm
;
Cheshire
;
United Kingdom
;
Duncan C. McKellar
;
Vibration Consultants Instrumentation Ltd.
;
Lymm
;
Cheshire
;
United Kingdom
;
Margaret Melbourne
;
Vibration Consultants Instrumentation Lt
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
18.
Design of metrology laboratory and microfab center against vibration from shakers laboratory of the new Hong Kong University of Science and Technology
机译:
新香港科技大学振动实验室的计量实验室和微加工中心的设计
作者:
Westwood K. Hong
;
Arup Acoustics
;
Hong Kong
;
Hong Kong
;
Nicholas Boulter
;
Arup Acoustics
;
Hong Kong
;
Hong Kong.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
19.
Vibration control and isolation design for the Electrical Engineering/Computer Science Building University of Minnesota--Minneapolis Minnesota
机译:
明尼苏达大学电气工程/计算机科学大楼的振动控制和隔离设计-明尼苏达州明尼阿波利斯
作者:
David L. Pederson
;
Environmental Services
;
Inc.
;
Minneapolis
;
MN
;
USA.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
20.
Using wavelength change as a depth scanner to overcome the mechanical vibration in confocal scanning optical microscope
机译:
使用波长变化作为深度扫描仪克服共聚焦扫描光学显微镜中的机械振动
作者:
Zhang Shen
;
Haihui Electric Co.
;
Shenzhen
;
China
;
Chunkan Tao
;
East China Institute of Technology
;
Nanjing
;
Jiangsu
;
China
;
Xiaoliang Fu
;
East China Institute of Technology
;
Jiangsu
;
Jiangsu
;
China.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
21.
Study of ground effects on building foundation vibration using two-dimensional real-mode finite element analysis
机译:
二维实模式有限元分析研究地基对建筑物基础振动的影响
作者:
William B. Rockwood
;
Colin Gordon Associates
;
San Mateo
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
22.
Site selection and design of a low-vibration building for submicron technology a
机译:
用于亚微米技术的低振动建筑物的选址和设计
作者:
Alain Brochet
;
SGS-Thomson Microelectronics
;
Grenoble
;
France
;
Jean Bernard
;
SETEC Travaux Publics et Industriels
;
Paris Cedex 1
;
France.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
23.
Remote recording of small vibrations of objects by a double-mode gas laser
机译:
通过双模气体激光器远程记录物体的微小振动
作者:
Victor N. Petrovsky
;
Moscow Engineering Physics Institute
;
Moscow
;
Russia
;
Russia
;
Michael L. Anishenko
;
Moscow Engineering Physics Institute
;
Moscow
;
Russia
;
Evgeniy D. Protsenko
;
Moscow Engineering Physics Institute
;
Moscow
;
Russia
;
Russia
;
Nickolay Nau
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
24.
Secondary mirror cho
机译:
副镜框
作者:
Tetsu Yamamoto
;
Mitsubishi Electric Corp.
;
8-chome
;
Amagasaki
;
Hyogo
;
Japan
;
Takaharu Ueda
;
Mitsubishi Electric Corp.
;
8-chome
;
Amagasaki
;
Hyogo
;
Japan
;
Daisuke Ogata
;
Mitsubishi Electric Corp.
;
8-chome
;
Amagasaki
;
Hyogo
;
Japan
;
Shigeki Mizuno
;
Mitsubishi
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
25.
Quantification of structural vibration and development of criteria: an introduction to IES draft standard RP-24
机译:
定量分析结构振动和制定标准:IES标准RP-24简介
作者:
Stephen R. Neal
;
Frank Hubach Associates
;
Inc.
;
Richmond
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
26.
Protecting vibration environments with zoning and land-use ordinances
机译:
通过分区和土地使用条例保护振动环境
作者:
Ramon E. Nugent
;
Acentech Inc.
;
Canoga Park
;
CA
;
USA
;
Hal Amick
;
Acentech Inc.
;
Canoga Park
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
27.
PC-based trending and analysis of floor vibration in sensitive fabrication areas
机译:
基于PC的敏感制造区域中地板振动的趋势分析
作者:
Jon E. Palm
;
DataSignal Systems
;
Inc.
;
Friendswood
;
TX
;
USA
;
Ben Middleton
;
DataSignal Systems
;
Inc.
;
Friendswood
;
TX
;
USA.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
28.
Design of stiff low-vibration floor structures
机译:
刚性低振动地板结构的设计
作者:
Hal Amick
;
Acentech Inc.
;
Canoga Park
;
CA
;
USA
;
Steven G. Hardash
;
Anderson DeBartolo Pan
;
Inc.
;
Tucson
;
AZ
;
USA
;
Paul E. Gillett
;
National Optical Astronomy Observatories
;
Tucson
;
AZ
;
USA
;
Ronald J. Reaveley
;
Reaveley Engineers Associates
;
Inc.
;
Salt L
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
29.
Effective and well-proven condition monitoring system using portable and permanently installed instrumentation
机译:
使用便携式且永久安装的仪器,有效且久经考验的状态监测系统
作者:
Brian H. Thomas
;
Vibration Consultants Instrumentation Ltd.
;
Lymm
;
Cheshire
;
United Kingdom
;
Duncan C. McKellar
;
Vibration Consultants Instrumentation Ltd.
;
Lymm
;
Cheshire
;
United Kingdom
;
Margaret Melbourne
;
Vibration Consultants Instrumentation Lt
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
30.
Dynamic holographic vibrometry on photorefractive media
机译:
光折射介质上的动态全息振动法
作者:
George Y. Dovgalenko
;
IRPA `Rotor-Control`
;
Fayetteville
;
AR
;
USA
;
Vladimir M. Eskov-Soskovetz
;
IRPA `Rotor-Control`
;
Cherkassy
;
Ukraine.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
31.
Design for vibration control in microelectronics facilities
机译:
微电子设备中的振动控制设计
作者:
Roger Anderson
;
American Institute of Architects
;
Oakhurst
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
32.
Controlling horizontal microscale vibration in building floor entablatures
机译:
控制建筑地板实体中的水平微尺度振动
作者:
Frank J. Hubach
;
Frank Hubach Associates
;
Inc.
;
Richmond
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
33.
Monitoring vibrations in microelectronics facilities
机译:
监控微电子设备中的振动
作者:
John J. OSullivan
;
Vibration Engineering Consultants
;
Inc.
;
Woburn
;
MA
;
USA.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
34.
Negative-stiffness-mechanism vibration isolation systems
机译:
负刚度隔振系统
作者:
David L. Platus
;
Minus K Technology
;
Los Angeles
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
35.
Microvibration monitoring: some recent experiences in an operating microelectronics facility
机译:
微振动监测:运行中的微电子设备的一些最新经验
作者:
Kevin Hassett
;
Intel Corp.
;
Hillsboro
;
OR
;
USA.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
36.
Influence of foundation design on environmental vibration
机译:
基础设计对环境振动的影响
作者:
James T. Nelson
;
Wilson
;
Ihrig Associates
;
Inc.
;
Oakland
;
CA
;
USA
;
Warren E. Blazier
;
Jr.
;
Warren Blazier Associates
;
Inc.
;
San Francisco
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
|
1991年
37.
Influence of bases and benches on the performance of vibration-sensitive equipment
机译:
底座和工作台对振动敏感设备性能的影响
作者:
Colin G. Gordon
;
Colin Gordon Associates
;
San Mateo
;
CA
;
USA
;
Yung Q. Tran
;
Colin Gordon Associates
;
San Mateo
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
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1991年
38.
Improved vibration isolation system for a scanning electron microscope
机译:
用于扫描电子显微镜的改进的隔振系统
作者:
Peter A. Jennings
;
Leica Cambridge Ltd.
;
Cambridge
;
United Kingdom
;
John W. Willson
;
Leica Cambridge Ltd.
;
Cambridge
;
United Kingdom
;
Roy H. Bannister
;
Cranfield Institute of Technology
;
Cranfield
;
Bedford
;
United Kingdom.
会议名称:
《Vibration Control in Microelectronics, Optics, and Metrology》
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1991年
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