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Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences
Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences
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1.
Through-focus scanning optical microscopy
机译：
通过聚焦扫描光学显微镜
作者：
Ravikiran Attota Ronald G. Dixson and Andras E. Vladár
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2011年
2.
Study of a large range metrological atomic force microscope applied for calibration of a vertical PZT stage
机译：
垂直PZT阶段校准校准大型计量原子力显微镜的研究
作者：
S. H. Wang S. L. Tan and G. Xu
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2011年
3.
Measurement strategies and uncertainty estimations for pitch and step height calibrations by metrological AFM
机译：
测量策略和计量AFM的音高和阶梯高度校准的不确定性估计
作者：
V. Korpelainen J. Sepp? and A. Lassila
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2011年
4.
Traceable calibration of a critical dimension atomic force microscope
机译：
临界尺寸原子力显微镜的可追踪校准
作者：
Ronald Dixson Ndubuisi G. Orji Craig D. McGray and Jon Geist
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2011年
5.
Morphological classification and microanalysis of tire tread particles worn by abrasion or corrosion
机译：
磨损或腐蚀磨损轮胎胎面颗粒的形态学分类和微分分析
作者：
Giovanni F. Crosta
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2011年
6.
A metrological scanning probe microscope based on a quartz tuning fork detector
机译：
基于石英调谐叉探测器的计量扫描探针显微镜
作者：
Bakir Babic Christopher H. Freund Malcolm Lawn John R. Miles and Jan Herrmann
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2011年
7.
Analysis of particles produced during airbag deployment by scanning electron microscopy with energy dispersive x-ray spectroscopy and their deposition on surrounding surfaces: a mid-research summary
机译：
通过扫描电子显微镜与能量分散X射线光谱和围绕围绕表面沉积的扫描电子显微镜，分析气囊展开颗粒：中等研究摘要
作者：
J. Matney Wyatt
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2011年
8.
Secondary electron emission spectra and energy selective imaging in helium ion microscope
机译：
氦离子显微镜中的二次电子发射光谱和能量选择性成像
作者：
Yu. Petrov and O. Vyvenko
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2011年
9.
Nanodispersion, nonlinear image filtering, and materials classification
机译：
纳米分散，非线性图像滤波和材料分类
作者：
Giovanni F. Crosta and Jun S. Lee
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2011年
10.
The characterization of nanoparticles using analytical electron microscopy
机译：
使用分析电子显微镜表征纳米颗粒
作者：
Whitney B. Hill
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2011年
11.
New developments at PTB in 3D-AFM with tapping and torsion AFM mode and vector approach probing strategy
机译：
用攻丝和扭转AFM模式和矢量方法探测策略的3D-AFM中PTB的新发展
作者：
G. Dai W. H?ssler-Grohne D. Hüser H. Wolff J. Fluegge and H. Bosse
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2011年
12.
Use of fluorescence and scanning electron microscopy as tools in teaching biology
机译：
使用荧光和扫描电子显微镜作为教学生物学工具
作者：
Nabarun Ghosh Jessica Silva Aracely Vazquez A B. Das and Don W. Smith
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
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2011年
13.
Front Matter: Volume 8036
机译：
正面问题：卷8036
作者：
SPIE
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
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2011年
14.
Creating nanohole arrays with the helium ion microscope
机译：
用氦离子显微镜创建纳米孔阵列
作者：
Mohan Ananth
;
Lewis Stern
;
David Ferranti
;
Chuong Huynh
;
John Notte
;
Larry Scipioni
;
Colin Sanford
;
Bill Thompson
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
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2011年
15.
Is scanning electron microscopy/energy dispersive x-ray spectroscopy (SEM/EDS) quantitative? Effect of specimen shape
机译：
扫描电子显微镜/能量分散X射线光谱（SEM / EDS）定量吗？样品形状的影响
作者：
Dale E. Newbury and Nicholas W. M. Ritchie
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
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2011年
16.
Characterization and source identification of fugitive dusts by light and electron microscopy
机译：
光和电子显微镜逃逸粉尘的表征与源识别
作者：
Richard S. Brown
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
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2011年
17.
3D-measurement using a scanning electron microscope with four Everhart-Thornley detectors
机译：
3D测量使用带有四个Everhart-Thornley探测器的扫描电子显微镜
作者：
Taras Vynnyk Renke Scheuer and Eduard Reithmeier
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
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2011年
18.
Integrating research and advanced microscopy into the high school curriculum
机译：
将研究和先进的显微镜整合到高中课程中
作者：
Craig Queenan
;
Alyssa Calabro
;
David Becker
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2012年
19.
Advances in high-speed low-latency communications for nanopositioning in advanced microscopy
机译：
高速低延迟通信在先进显微镜下纳米定位的研究进展
作者：
Scott C. Jordan
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2012年
20.
Scientific working group on gunshot residue (SWGGSR): a progress report
机译：
枪支残渣科学工作组（SWGGSR）：进度报告
作者：
Michael A. Trimpe
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2011年
21.
Study of LCE nanocomposites through electron microscopy
机译：
通过电子显微镜研究LCE纳米复合材料
作者：
N. Torras
;
J. Jobet
;
J. E. Marshall
;
K. Zinoviev
;
D. Yates
;
L. Rotkina
;
J. Esteve
;
E. M. Terentjev
;
E. M. Campo
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2011年
22.
Transmission electron microscopy of electrospun GaN nanofibers
机译：
Electrome Ortrom entrom onement电子显微镜显微镜
作者：
Joshua L. Robles-García
;
Anamaris Meléndez
;
Douglas Yates
;
Jorge J. Santiago-Avilés
;
Idalia Ramos
;
Eva M. Campo
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2011年
23.
Development of photomask linewidth measurement and calibration using AFM and SEM in NMIJ
机译：
在NMIJ中使用AFM和SEM的光掩模线宽测量和校准
作者：
Kentaro Sugawara Osamu Sato Ichiko Misumi Satoshi Gonda and Mingzi Lu
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2011年
24.
Particle number density gradient samples for nanoparticle metrology with atomic force microscopy
机译：
具有原子力显微镜的纳米颗粒计量的粒子数密度梯度样本
作者：
Malcolm A. Lawn Renee V. Goreham Jan Herrmann and Asa K. J?mting
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2011年
25.
Dispersion free all reflective confocal microscope objective
机译：
分散免费所有反射共聚焦显微镜目标
作者：
Wojtek J. Walecki Mike Scaggs Peter S. Walecki and Fanny Szondy
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2011年
26.
Hybrid metrology for critical dimension based on scanning methods for IC manufacturing
机译：
基于IC制造的扫描方法的关键尺寸杂交计量
作者：
J. Foucher
;
N. Griesbach Schuch Figueiro
;
J. Rouxel
;
R. Thérèse
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2012年
27.
Robust probes for high resolution chemical detection and imaging
机译：
高分辨率化学检测和成像的强大探头
作者：
Rebecca L. Agapov
;
Mark D. Foster
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2012年
28.
Atomic force microscope cantilevers as encoder for real-time displacement measurements
机译：
原子力显微镜悬臂作为用于实时位移测量的编码器
作者：
Xiaomei Chen
;
Helmut Wolff
;
Ludger Koenders
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2012年
29.
Image processing with Maple for simplified analysis in scanning microscopy
机译：
用枫木进行图像处理，用于扫描显微镜的简化分析
作者：
Alejandro Mesa
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2012年
30.
Advanced image composition with intra-frame drift correction
机译：
具有帧内漂移校正的先进图像组成
作者：
Petr Cizmar András E. Vladár and Michael T. Postek
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2011年
31.
Extension of gravity center method for diameter calibration of polystyrene standard particles with a metrological AFM
机译：
具有计量AFM的聚苯乙烯标准颗粒直径校准重力中心方法
作者：
Ichiko Misumi
;
Keiji Takahata
;
Kentaro Sugawara
;
Satoshi Gonda
;
Kensei Ehara
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2012年
32.
Response of electrospun CNT composites to irradiation
机译：
Electrom ow CNT复合材料对照射的响应
作者：
S. M. Rosa
;
J. P. Crespo
;
I. Ramos
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2012年
33.
Nanomanipulation system for scanning electron microscope
机译：
扫描电子显微镜纳米尺度系统
作者：
P. Woo
;
I. Mekuz
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2012年
34.
Front Matter: Volume 8378
机译：
正面问题：第8378卷
作者：
Proceedings of SPIE
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2012年
35.
Multi-signal FIB/SEM tomography
机译：
多信号fib / sem断层扫描
作者：
Lucille A. Giannuzzi
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2012年
36.
Progress on CD-AFM tip width calibration standards
机译：
CD-AFM尖端宽度校准标准的进展
作者：
Ronald Dixson
;
Boon Ping Ng
;
Craig D. McGray
;
Ndubuisi G. Orji
;
Jon Geist
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2012年
37.
Does your SEM really tell the truth?
机译：
你的sem真的说实话吗？
作者：
Michael T. Postek
;
András E. Vladár
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2012年
38.
Past, present, and future of backscatter electron (BSE) imaging
机译：
过去，现在和未来的反散射电子（BSE）成像
作者：
Oliver C. Wells
;
Michael S. Gordon
;
Lynne M. Gignac
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2012年
39.
Investigation of cellular interactions of nanoparticles by helium ion microscopy
机译：
氦离子显微镜纳米粒子细胞相互作用的研究
作者：
B. W. Arey V. Shutthanandan Y. Xie A. Tolic N. Williams and G. Orr
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2011年
40.
Application possibilities of several modern methods of microscopy and microanalysis in forensic science field
机译：
法医科学领域几种现代显微镜和微观分析方法的应用可能性
作者：
Marek Kotrly and Ivana Turkova
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2011年
41.
Probative value of gunshot residue on victims of shootings and comparison of gunshot residue results with modern technology versus older testing of samples
机译：
枪支残渣对枪击受害者的试验价值，与现代技术对枪支残渣的比较与旧的样品
作者：
Robert S. White and William J. Mershon
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2011年
42.
Faults and foibles of quantitative scanning electron microscopy/energy dispersive x-ray spectrometry (SEM/EDS)
机译：
定量扫描电子显微镜/能量分散X射线光谱法（SEM / EDS）的故障和毛坯
作者：
Dale E. Newbury
;
Nicholas W. M. Ritchie
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2012年
43.
Deformation of polystyrene nanoparticles under different AFM tapping loads
机译：
不同AFM攻丝载荷下聚苯乙烯纳米粒子的变形
作者：
Bo-Ching He
;
Huay-Chung Liou
;
Yong-Qing E. Chang
;
Shan-Peng Pan
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2012年
44.
Forensic practice in the field of protection of cultural heritage
机译：
文化遗产保护领域的法医实践
作者：
Marek Kotrly
;
Ivana Turková
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2012年
45.
Improving the performance of the critical dimension-scanning electron microscope with the contrast transfer function
机译：
具有对比传递函数的临界尺寸扫描电子显微镜的性能
作者：
Aron J. Cepler
;
Bradley L. Thiel
会议名称：
《Conference on scanning microscopies: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences》
|
2012年
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