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American Society for Precision Engineering Topical Meeting on Precision Interferometric Metrology

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1.COMPACT DYNAMIC INTERFEROMETER FOR ON-MACHINE MEASUREMENT

机译：紧凑动态干涉仪，用于机上测量
- 作者：Michael North Morris;James Millerd;Christopher King
- 会议名称：《American Society for Precision Engineering Topical Meeting on Precision Interferometric Metrology》 | 2010年
2.RETRACE AND PROPAGATION ERROR IN A NON-NULL INTERFEROMETER

机译：非空干涉仪中的回溯和传播错误
- 作者：Frank Riepenhausen;Bernd Dorband;Stefan Schulte
- 会议名称：《American Society for Precision Engineering Topical Meeting on Precision Interferometric Metrology》 | 2010年
3.HIGH-RESOLUTION ABSOLUTE LENGTH AND THICKNESS MEASUREMENTS FROM LARGE STAND -OFF DISTANCES

机译：大型立场距离的高分辨率绝对长度和厚度测量
- 作者：Peter A. Roos;Randy R. Reibel;Trenton J. Berg;Nathan J. Greenfield
- 会议名称：《American Society for Precision Engineering Topical Meeting on Precision Interferometric Metrology》 | 2010年
4.WAVELENGTH SCANNING INTERFEROMETER FOR STRUCTURED SURFACES

机译：结构化表面的波长扫描干涉仪
- 作者：X. Jiang;F. Gao
- 会议名称：《American Society for Precision Engineering Topical Meeting on Precision Interferometric Metrology》 | 2010年
5.CHALLENGES AND SOME SOLUTIONS FOR THE MEASUREMENT OF ASPHERIC AND FREEFORM SURFACES

机译：对非球面和自由形状测量的挑战和一些解决方案
- 作者：E. Garbusi;G. Baer;W. Osten
- 会议名称：《American Society for Precision Engineering Topical Meeting on Precision Interferometric Metrology》 | 2010年
6.A NON-CONTACT SURFACE MEASUREMENT SYSTEM FOR COMPLEX OPTICAL GEOMETRIES

机译：用于复杂光学几何形状的非接触面测量系统
- 作者：Scott DeFisher;Michael Bechtold;David Mohring
- 会议名称：《American Society for Precision Engineering Topical Meeting on Precision Interferometric Metrology》 | 2010年
7.SCALE-BASED COMPARISON OF INTERFEROMETRIC, CONFOCAL AND STYLUS MEASUREMENTS AND THEIR ABILITY TO DISCRIMINATE

机译：基于规模的干涉，共焦和触控笔测量的比较及其区分能力
- 作者：Brendan M. Powers;Donald K. Cohen;Joseph OHearn;Christopher A. Brown
- 会议名称：《American Society for Precision Engineering Topical Meeting on Precision Interferometric Metrology》 | 2010年
8.LIGO - A LOOK BEHIND ATTOMETER (10~(-18) m) SENSITIVITY AND BEYOND

机译：Ligo - 看起来瞄准表（10〜（-18）m）敏感性和超越
- 作者：Volker Quetschke
- 会议名称：《American Society for Precision Engineering Topical Meeting on Precision Interferometric Metrology》 | 2010年
9.INFORMATION EFFICIENT WHITE-LIGHT INTERFEROMETRY

机译：信息有效的白光干涉测量
- 作者：Ondrej Hybl;Gerd Hausler
- 会议名称：《American Society for Precision Engineering Topical Meeting on Precision Interferometric Metrology》 | 2010年
10.MICRODEFLECTOMETRY AND STRUCTURED ILLUMINATION MICROSCOPY - NEW TOOLS FOR 3D-METROLOGY AT NANOMETER SCALE

机译：微透明度测定和结构化照明显微镜 - 纳米尺度3D计量的新工具
- 作者：Gerd Hausler;Markus Vogel;Zheng Yang;Alexander Kessel
- 会议名称：《American Society for Precision Engineering Topical Meeting on Precision Interferometric Metrology》 | 2010年
11.ON-MACHINE METROLOGY FOR ASPHERIC OPTICS TESTING

机译：非球面光学测试的机床计量
- 作者：Christopher W. King;Niail McGee;David Loke;David Riley;Gerry McCavana;Richard Freeman;Roger Morton;David Walker;Sam Wei;Ping Zhou
- 会议名称：《American Society for Precision Engineering Topical Meeting on Precision Interferometric Metrology》 | 2010年
12.VACUUM SUPPORT FOR A LARGE INTERFEROMETRIC REFERENCE SURFACE

机译：真空载体对大型干涉式参考表面
- 作者：Masaki Hosoda;Robert E. Parks;James H. Burge
- 会议名称：《American Society for Precision Engineering Topical Meeting on Precision Interferometric Metrology》 | 2010年
13.SCOTS, AN ALTERNATIVE TO SURFACE TOPOGRAPHIC INTERFEROMETRY

机译：苏格兰，曲面地形干涉测量的替代方案
- 作者：Peng Su;Robert E. Parks;Roger Angel;Lirong Wang;James H. Burge
- 会议名称：《American Society for Precision Engineering Topical Meeting on Precision Interferometric Metrology》 | 2010年
14.ULTRA-PRECISION LINEAR MOTION METROLOGY

机译：超精密线性运动计量
- 作者：Ronnie R. Fesperman;M. Alkan Donmez;Shawn P. Moylan
- 会议名称：《American Society for Precision Engineering Topical Meeting on Precision Interferometric Metrology》 | 2010年
15.FLATNESS MEASUREMENTS OF THIN, PLANE-PARALLEL OPTICS FLOATED ON A HEAVY LIQUID

机译：薄，平行的平行光学器件的平坦度测量漂浮在重型液体上
- 作者：Ulf Griesmann;Quandou Wang;Johannes A. Soons;Eric C. Benck;Jiyoung Chu;Jaewoong Sohn
- 会议名称：《American Society for Precision Engineering Topical Meeting on Precision Interferometric Metrology》 | 2010年
16.AIR-REFRACTIVE-INDEX STABILIZATION USING A FABRY-PEROT CAVITY AND A HE-NE FREQUENCY STABILIZED LASER

机译：使用法布里 - 珀罗腔和HE-NE稳定激光器的空气折射率稳定
- 作者：Tuan B. Q.;Aketagawa M.;Ohkubo Y.;Murai Y.
- 会议名称：《American Society for Precision Engineering Topical Meeting on Precision Interferometric Metrology》 | 2010年
17.A STUDY ON RESPONSE PROPERTIES OF SURFACE TEXTURE MEASURING INSTRUMENTS IN TERMS OF SURFACE WAVELENGTH

机译：表面纹理测量仪表在表面波长方面的响应性能研究
- 作者：Akihiro Fujii;Hitoshi Suzuki;Kazuhisa Yanagi
- 会议名称：《American Society for Precision Engineering Topical Meeting on Precision Interferometric Metrology》 | 2010年
18.A LINEAR MODEL OF FRINGE GENERATION AND ANALYSIS IN COHERENCE SCANNING INTERFEROMETRY

机译：相干扫描干涉法中的边缘生成和分析的线性模型
- 作者：Kanik Polodhi;Jeremy Coupland;Richard Leach
- 会议名称：《American Society for Precision Engineering Topical Meeting on Precision Interferometric Metrology》 | 2010年
19.SENSITIVITY ANALYSIS OF PERIODIC ERROR IN HETERODYNE INTERFEROMETRY

机译：外差干涉测量中周期误差的敏感性分析
- 作者：Vasishta Ganguly;Nam Ho Kim;Hyo Soo Kim;Tony Schmitz
- 会议名称：《American Society for Precision Engineering Topical Meeting on Precision Interferometric Metrology》 | 2010年
20.INCREASED LATERAL RESOLUTION OF SPHERES AND ASPHERES THROUGH SUBAPERTURE STITCHING INTERFEROMETRY

机译：通过亚射流缝合干涉测量增加球体的横向分辨率和非球面
- 作者：C. Supranowitz;J. Fleig;G. Forbes;A. Kulawiec;D. Miladinovic;P. Murphy
- 会议名称：《American Society for Precision Engineering Topical Meeting on Precision Interferometric Metrology》 | 2010年