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ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness
ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness
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1.
45nm Cu damascene structure measured by optical scatterometry for advanced process control - (PPT)
机译:
45NM Cu镶嵌结构通过光学散射测量,用于先进过程控制 - (PPT)
作者:
C. Arsac
;
D. Galpin
;
C. Monget
;
S. Chhun
;
V. Caubet-Hilloutou
;
M. Melller
;
O. Doclot
;
C. Regnler
;
A. Tarnowka
;
A. Eliyahu
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
2.
Predictive and Preventive Maintenance (PPIVS) Tools and Performance Analytics for Semiconductor Equipment - (PPT)
机译:
半导体设备的预测和预防性维护(PPIVS)工具和性能分析 - (PPT)
作者:
Edzel R. Lapira
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
3.
Control Performance Assessment of EWMA controllers - (PPT)
机译:
EWMA控制器的控制性能评估 - (PPT)
作者:
Xiaojing Jiang
;
Jin Wang
;
John Stuber
;
Thomas F. Edgar
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
4.
Using Idling-Machine Model To Reduce Manufacturing Cost In Freescale Semiconductor - (PPT)
机译:
使用空转机模型降低飞思卡尔半导体的制造成本 - (PPT)
作者:
Yiwei Cai
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
5.
'Equipment productivity improvement obtained by robot speed increases utilizing a new end effector technology - (PPT)
机译:
“通过机器人速度获得的设备生产力提高利用新的终端效应技术 - (PPT)
作者:
Michael Dailey
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
6.
ARDE in Via Etching - (PPT)
机译:
通过蚀刻arde - (ppt)
作者:
Rod Hill
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
7.
Yield Optimal Dynamic Sampling: Modeling, Algorithm, Software, and ROI Analysis - (PPT)
机译:
收益率最优动态采样:建模,算法,软件和ROI分析 - (PPT)
作者:
Dadi Gudmundsson
;
Mike Zhang
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
8.
Setting Specifications Through Surrogate Parameters And Monte Carlo Simulation - (PPT)
机译:
通过代理参数和Monte Carlo仿真设置规范 - (PPT)
作者:
D. W. McCormack Jr.
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
9.
Analytical Techniques Drive Advances In Cleaning Chamber Components - (PPT)
机译:
分析技术在清洁室组件中驱动前进 - (PPT)
作者:
Jason Wang
;
Satya Adamala
;
Joe Sommers
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
10.
Material Tracking Mode For Small Lot Manufacturing - (PPT)
机译:
小型制造的材料跟踪模式 - (PPT)
作者:
James Moyne
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
11.
A Versatile Automated Defect Detection and Classification System for Assembly, Test Semiconductor Manufacturing - (PPT)
机译:
组装,测试半导体制造 - (PPT)的多功能自动缺陷检测和分类系统
作者:
Bonnie Bennett
;
Jeff Pettinato
;
Asaad Said
;
Una Karam
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
12.
450mm Transition Update - (PPT)
机译:
450mm过渡更新 - (PPT)
作者:
Tom Jefferson
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
13.
ISMI Next Generation Factory Program Industry Briefing - (PPT)
机译:
ISMI下一代工厂计划行业简报 - (PPT)
作者:
Olaf Rothe
;
Brad Van Eck
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
14.
D1D LEED Energy Savings Overview - (PPT)
机译:
D1D LEED节能概述 - (PPT)
作者:
Ryan Shelby
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
15.
Fitting A Median To 1/f Noise Data - (PPT)
机译:
将中位数拟合到1 / f噪声数据 - (PPT)
作者:
Ed Russell
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
16.
Computing Statistics on Very Large (and sometimes changing) Data sets - (PPT)
机译:
计算统计数据非常大(有时改变)数据集 - (PPT)
作者:
Bruce Aldridge
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
17.
Developing performance from within, starts with just one drop - (PPT)
机译:
从内部开发性能,从一滴开始 - (PPT)
作者:
JOb Aids
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
18.
Overcoming the Limitations of Lean, Six Sigma, and the Theory of Constraints in Reentrant Factories - (PPT)
机译:
克服瘦六西格玛和克莱特工厂的限制理论的局限性 - (PPT)
作者:
James P. Ignizio
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
19.
Enabling Timely Revolutions in the Performance of Multi-Product Fabs - (PPT)
机译:
在多产品FAB的性能方面实现及时转动 - (PPT)
作者:
Charles Weber
;
Asser Fayed
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
20.
Uniformity monitoring of a ultrafast anneal tool in a production environment using KLA-Tencor SURFmonitor - (PPT)
机译:
使用KLA-Tencor Surfmonitor - (PPT)生产环境中超快退火工具的均匀性监测 - (PPT)
作者:
Jan Holub
;
Andreas Wocko
;
Sanda Radovanovic
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
21.
Sustainable and Energy Efficient Semiconductor Manufacturing - (PPT)
机译:
可持续节能半导体制造 - (PPT)
作者:
Andreas Neuber
;
Krishna Vepa
;
Parth Sethia
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
22.
MultiGEM, a Poor Man's EDA - (PPT)
机译:
Multigem,一个穷人的EDA - (PPT)
作者:
Chris Winemiller
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
23.
Factory Considerations for Interface A Applications - (PPT)
机译:
接口应用程序的工厂注意事项 - (PPT)
作者:
Larry Barto
;
Robert Russin
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
24.
Building an Effective Defect Pareto through Design Integration - (PPT)
机译:
通过设计集成构建有效的缺陷Pareto - (PPT)
作者:
Allen Park
;
Ellis Chang
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
25.
A Simple Method for Estimating the Amount of Feedwater Required to Operate a Semiconductor Process Tool - (PPT)
机译:
一种简单的方法,用于估计操作半导体过程工具所需的供油量 - (PPT)
作者:
Teresa Zhang
;
Mark Denome
;
Andreas Neuber
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
26.
SNAPBACK: Why and How the Flow of Manufacturing Offshore Could Reverse - (PPT)
机译:
Snapback:为什么以及制造海上的流程如何逆转 - (PPT)
作者:
G. Dan Hutcheson
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
27.
CROSSING AUTOMATION: Modular Design Approach for Automation Systems - (PPT)
机译:
交叉自动化:自动化系统模块化设计方法 - (PPT)
作者:
Ghulam Mustafa
;
Larry Wise
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
28.
Improvement of the end point detection in contact hole etching - (PPT)
机译:
接触孔蚀刻中终点检测的改进 - (PPT)
作者:
Kazuhide Fukaya
;
Toshikazu Hanawa
;
Taikan Ando
;
Masashi Sahara
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
29.
The Feasibility of Alternative and Renewable Energy in the Semiconductor Industry - (PPT)
机译:
半导体行业替代和可再生能源的可行性 - (PPT)
作者:
Mike Frisch
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
30.
First Wafer Delay and Setup: How to Measure, Define and Improve First Wafer Delay and Setup Times in Semiconductor Fabs - (PPT)
机译:
第一个晶圆延迟和设置:如何测量,定义和改进半导体Fabs中的第一晶片延迟和设置时间 - (PPT)
作者:
Peter Vandermeulen
;
Martin Petraitis
;
Stefan Radloff
;
Blane Rhoads
;
Mario Abravanel
;
Dylan Steeg
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
31.
Utilizing The Right Machine Speed Model to Minimize Cost - (PPT)
机译:
利用正确的机器速度模型以最小化成本 - (PPT)
作者:
Marino Arturo
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
32.
Reducing the CoO of Factory-Wide R2R Through Selection Deployment of a Commercial System - (PPT)
机译:
通过选择和部署商业系统 - (PPT)减少工厂范围的R2R的COO
作者:
Luke Mielke
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
33.
Improved Film Production in a High Volume Fab - (PPT)
机译:
在高卷Fab - (PPT)中改进薄膜生产
作者:
Craig C. Ramsey
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
34.
Enhanced Equipment Quality Assurance (EEQA) Methodology, Concepts, and Results of Demonstrating its Application and Benefits - (PPT)
机译:
增强设备质量保证(EEQA)方法,概念和展示其应用和福利的结果 - (PPT)
作者:
Steve Geist
;
Shigeru Kobayashi
;
Michio Honma
;
Gino Crispieri
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
35.
Accelerating Manufacturing Business Intelligence - A Semiconductor example - (PPT)
机译:
加速制造商业智能 - 半导体例子 - (PPT)
作者:
Michael Hackerott
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
36.
Laser Center Finder As An Early Indicator of Robot Condition and Bearing Performance - (PPT)
机译:
激光中心发现者作为机器人条件和轴承性能的早期指示 - (PPT)
作者:
Lay Huat Ang
;
Smark Wu
;
Andrew Clearwater
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
37.
6th ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness 5D the R-evolution to Fab Management - (PPT)
机译:
第六ismi制造有效性研讨会5d对Fab管理的R-演变 - (PPT)
作者:
Arthur Chuang
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
38.
The Road to Recovery: The Good, The Bad and The Ugly - (PPT)
机译:
恢复的道路:好的,坏和丑陋 - (ppt)
作者:
Angelos G. Angelou
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
39.
Lot and Wafer Sampling Plan Methodology for Outgoing DPM Control - (PPT)
机译:
批次和晶圆抽样计划方法用于传出DPM控制 - (PPT)
作者:
Abraham Chen
;
Yaohua Zhang
;
J. DaRon Huffaker
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
40.
Improving Process Speed by Statistical Evaluation of Raw Tool Time - (PPT)
机译:
通过原始工具时间的统计评估提高流程速度 - (PPT)
作者:
Michael Rettelbach
;
Sebastian Werner
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
41.
Developing A New Manufacturing Operation Policy Framework (MOPF) for Multiple Semiconductor Manufacturing Fabs - (PPT)
机译:
为多个半导体制造FABS开发新的制造操作策略框架(MOPF) - (PPT)
作者:
Kyoung-Shik Jun
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
42.
Emerging Greenhouse Gas Regulations and the Implications for the Semiconductor Industry - (PPT)
机译:
新兴温室气体法规和半导体行业的影响 - (PPT)
作者:
Bruce S. Klafter
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
43.
AMHS Scheduling in Semiconductor Manufacturing: Motivation and Insights - (PPT)
机译:
半导体制造中的AMHS调度:动机和见解 - (PPT)
作者:
Emrah Zarifoglu
;
Erhan Kutanoglu
;
John Hasenbein
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
44.
Microstructural Evolution of Process Induced Defects in Metal Layers of 180nm Al-Cu Interconnect Architectures - (PPT)
机译:
180nm Al-Cu互连架构金属层工艺诱导缺陷的微观结构演化 - (PPT)
作者:
P. S. Frankwicz
;
P. Kurkowski
;
C. Viera
;
T. Moutinho
;
Mark Johnson
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
45.
Solutions for Agile Semiconductor Manufacturing - (PPT)
机译:
敏捷半导体制造解决方案 - (PPT)
作者:
Sanjiv Mittal
;
Helen Armer
;
Scott Watson
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
46.
Accelerating Yield Entitlement Core Information Management Hub for Semiconductor Operations - (PPT)
机译:
用于半导体操作的加速收益效应核心信息管理中心 - (PPT)
作者:
Mike Downer
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
47.
Monitoring of Remote Plasma Source and Chemical/Thermal Chamber Cleans - (PPT)
机译:
监控远程等离子源和化学/热室清洁 - (PPT)
作者:
Jerome Cannon
;
Matthew Minton
;
Eric McCormick
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
48.
Implementation of MIMO R2R control regulation on furnace processes - (PPT)
机译:
MIMO R2R控制调节对炉过程 - (PPT)
作者:
Agnes Roussy
;
Benoist Richard
;
Laurent Brun
;
Denis Pompier
;
Jacques PInaton
;
Christophe Mace
;
Nicolas Csejtei
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
49.
Limitations on Continuous Emission Monitors CEMS for Quantifying Semiconductor Greenhouse Gas GHG Emissions - (PPT)
机译:
用于量化半导体温室气体的连续发射监测器CEMS的限制 - (PPT)
作者:
T. Higgs
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
50.
PlanSim: Capacity Planning Based On Linear Programming - (PPT)
机译:
计划:基于线性规划的容量规划 - (PPT)
作者:
Martin Romauch
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
51.
Correct Measurement System Metrics to Evaluate Gauge Capability - (PPT)
机译:
正确测量系统指标评估仪表能力 - (PPT)
作者:
J. DaRon Huffaker
;
Yaohua Zhang
;
Abraham Chen
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
52.
Implanter Exhaust Savings -Energy/Capital - (PPT)
机译:
植入机排气储蓄 - 单体/首都 - (PPT)
作者:
Steve Russo
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
53.
3D Interconnect/TSV Manufacturing: Lessons Learned - (PPT)
机译:
3D Interconnect / TSV制造:学习的经验教训 - (PPT)
作者:
Andrew C. Rudack
;
Raymond Caramto
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
54.
Immersion and Dry Lithography Monitoring for Flash Memories (After Develop Inspection and Photo Cell Monitor) using a Darkfield Imaging Inspector with Advanced Binning - (PPT)
机译:
使用具有高级分宁的暗田成像检测器浸入和干燥光刻监测(开发检验和光电电池监测器) - (PPT)
作者:
P. Parisi
;
A. Mani
;
C. Perry-Sullivan
;
J. Kopp
;
G. Simpson
;
C. Brown
;
M. Renis
;
M. Padovani
;
C. Severgnini
;
P. Piacentini
;
P. Piazza
;
A. Beccalli
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
55.
Job Scheduling Optimization in Semiconductor Manufacturing Via Simulation-Based Approximate Dynamic Programming - (PPT)
机译:
基于仿真的近似动态编程 - (PPT)的半导体制造中的作业调度优化 - (PPT)
作者:
Jose A. Ramirez-Hernandez
;
Emmanuel Fernandez
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
56.
Going Nonlinear: On Modeling and Nonlinear Regression - (PPT)
机译:
运作非线性:在建模与非线性回归 - (PPT)
作者:
Theresa Utlaut
;
Kevin Anderson
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
57.
Split Testing: Batch Effects, Systematic Effects and Sloth - (PPT)
机译:
分体式测试:批处理,系统效果和懒惰 - (PPT)
作者:
Andrew Brendler
;
Patrick McCutcheon
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
58.
Using Virtual Metrology to Improve Productivity and Reduce Waste: Approaches, Challenges, and a Case Study of CD Control at Etch - (PPT)
机译:
使用虚拟计量来提高生产力并减少废物:蚀刻蚀刻的方法,挑战和CD控制的案例研究 - (PPT)
作者:
James Moyne
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
59.
Drivers for Environmental Information Exchange: A Electronics Manufacturing Perspective - (PPT)
机译:
环境信息交流司机:电子制造视角 - (PPT)
作者:
John Messina
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
60.
Optimizing Manual Material Delivery with Real-Time Location and Workflow Technologies - (PPT)
机译:
使用实时位置和工作流程技术优化手动材料交付 - (PPT)
作者:
Parris Hawkins
;
Jason Maughan
;
Rick Sheffield
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
61.
Joint Maintenance and Operations Decision Making in Flexible Manufacturing Systems - (PPT)
机译:
灵活制造系统的联合维护和运营决策 - (PPT)
作者:
Dragan Djurdjanovic
;
Merve Celen
;
Michael Cholette
;
Alexander Bleakie
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
62.
Virtual Metrology for In-situ Etch Rate Prediction in a Plasma Etch Process - (PPT)
机译:
用于等离子体蚀刻过程中原位蚀刻速率预测的虚拟计量 - (PPT)
作者:
T. F. Edgar
;
J. Stuber
;
Bhalinder Gill
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
63.
The Importance of Enhanced Equipment Quality Assurance (EEQA) Methodology and Implementation in the Semiconductor Industry - (PPT)
机译:
增强设备质量保证(EEQA)方法和实施的重要性 - (PPT)
作者:
Steve Geist
;
Shigeru Kobayashi
;
Michio Honma
;
Gino Crispieri
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
64.
The Semiconductor Recovery Driven by Innovation Technology - (PPT)
机译:
创新和技术驱动的半导体恢复 - (PPT)
作者:
David L. Bergeron
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
65.
Time Synchronization on a Budget: An Incremental Implementation Roadmap - (PPT)
机译:
预算的时间同步:增量实现路线图 - (PPT)
作者:
Alan Weber
;
Jim Hollister
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
66.
Statistical DOE and Analysis for Illuminator - (PPT)
机译:
统计DOE和照明器分析 - (PPT)
作者:
Helen Hu
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
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2009年
67.
DEVELOPMENT OF A CU POLISH PROCESS FOR THE SPEEDFAM AURIGA C - (PPT)
机译:
Speedfam Auriga C - (PPT)的Cu波兰工艺的开发
作者:
Christopher Eric Brannon
;
Chris Nauert
;
Michael Wedlake
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
68.
Optimized Pad Conditioning for HSS STI CMP - (PPT)
机译:
HSS STI CMP的优化焊盘调节 - (PPT)
作者:
Gene Davis
;
David Slutz
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
69.
Sealing in Success: The Role of Perfluoroelastomer Seals in Advanced IC Production - (PPT)
机译:
成功密封:全氟弹素密封件在高级IC生产中的作用 - (PPT)
作者:
Dalia Vernikovsky
;
Drew Elliott
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
70.
Propose An Optimized LEED's Green Fab Model for Semiconductors - (PPT)
机译:
为半导体提出优化的LEED的绿色工厂模型 - (PPT)
作者:
Arthur Chuang
;
Tony Chen
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
71.
A NOVEL APPROACH TO VISUALIZING MANUFACTURING DATA: FROM ANALYSIS TO DIAGNOSTIC - (PPT)
机译:
一种可视化制造数据的新方法:从分析到诊断 - (PPT)
作者:
Franck GASNIER
;
Gulllaume HENNION
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
72.
New Predictive Maintenance Method Prevents Wafer Handling Damage in High Volume Manufacturing Environment - (PPT)
机译:
新的预测性维护方法可防止晶片处理大量制造环境中的损坏 - (PPT)
作者:
Yigal Tomer
;
Ein Harod
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
73.
Optimization Solvers in Run-to-Run - (PPT)
机译:
在运行 - 运行中的优化求解器 - (PPT)
作者:
Courtney K. Hanish
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
74.
Scheduling Diffusion Area In Real Time - (PPT)
机译:
实时调度扩散区域 - (PPT)
作者:
Tanju Yurtsever
;
Jenn Johns
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
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2009年
75.
Context Dependant Degradation Modeling of a PECVD Tool - (PPT)
机译:
PECVD工具的上下文相关降解建模 - (PPT)
作者:
Dragan Djurdjanovic
;
Michael Cholette
;
Alexander Bleakie
;
Merve Celen
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
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2009年
76.
Smarter Defect Inspection by use of Design Data Information - (PPT)
机译:
使用设计数据信息更智能缺陷检查 - (PPT)
作者:
Remo Kirsch
;
Ulrich Zeiske
;
Mirko Beyer
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
77.
Emerging Technologies in a Changing Economy - (PPT)
机译:
变化经济中的新兴技术 - (PPT)
作者:
David L. Bergeron
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
78.
BIM, LEED, or get out of the Way? What does all this alphabet mean? How can we use it to help us? - (PPT)
机译:
BIM,LEED,或走开?所有这些字母表是什么意思?我们如何使用它来帮助我们? - (PPT)
作者:
Allan D. Chasey
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
79.
The European CLP Regulation: Changes To REACH Adopting EHS Criteria - (PPT)
机译:
欧洲CLP规则:达到ehs标准的变更 - (PPT)
作者:
Lauren Grane
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
80.
Estimation of Variability from Processes with a Nested Structure - (PPT)
机译:
嵌套结构的过程的可变性估计 - (PPT)
作者:
Diane K. Michelson
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2009年
81.
UNDERSTANDING TRUE COST OF UNSCHEDULED DOWNTIMES IN SEMICONDUCTOR ASSEMBLY TEST - (PPT)
机译:
了解半导体组装和测试中未安排的下行筹码的真实成本 - (PPT)
作者:
Ivy Tan
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2011年
82.
Optimum Real Time Dispatching Implementation: Case Study - (PPT)
机译:
最佳实时调度实现:案例研究 - (PPT)
作者:
Ariel Meyuhas
;
Marino Arturo
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2011年
83.
The Economics of the ITRS - (PPT)
机译:
ITRS的经济学 - (PPT)
作者:
Scotten W. Jones
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2011年
84.
Reduced Cost of Ownership Copper CMP Process using Third Generation Low Abrasive Selective Slurry - (PPT)
机译:
使用第三代低磨料选择性浆料降低铜CMP工艺成本 - (PPT)
作者:
Christopher Eric Brannon
;
Christopher Schutte
;
Brian Zinn
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2011年
85.
Dynamic Headcount - Labor Productivity Optimization on a Nonlinear Production Line - (PPT)
机译:
非线性生产线的动态头部 - 劳动生产率优化 - (PPT)
作者:
Adva Joshua
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2011年
86.
Using Simulation To Model CVD Cluster Tool Throughput Performance - (PPT)
机译:
使用模拟模拟CVD群集工具吞吐量性能 - (PPT)
作者:
Roland Schelasin
;
Scott Hopkins
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2011年
87.
Analysis of Principal OES Peaks (POP) for the process control of photomask dry etching - (PPT)
机译:
Photomask干蚀刻过程控制的主要OES峰值(POP)分析 - (PPT)
作者:
Il-Yong Jang
;
SungWon Kwon
;
Ji Young Kim
;
ByungGook Kim
;
HanKu Cho
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2011年
88.
Dynamic MSA (Measurement System Analysis) based on AIAG methods - (PPT)
机译:
基于AIAG方法的动态MSA(测量系统分析) - (PPT)
作者:
Chris Gerling
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2011年
89.
Data mining and machine learning technique in semiconductor manufacturing processes (PECVD) - (PPT)
机译:
半导体制造过程中的数据挖掘与机器学习技术(PECVD) - (PPT)
作者:
Benjamin Lenz
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
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2011年
90.
Update of JAMP Activities - For the best practices of the contained substance management across the whole global industries supply chains - (PPT)
机译:
JAMP活动的更新 - 用于整个全球产业和供应链中所含物质管理的最佳实践 - (PPT)
作者:
Shigehito Ibuka
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2011年
91.
Greenhouse Gas Regulations and Impacts - (PPT)
机译:
温室气体法规和影响 - (PPT)
作者:
T. Higgs
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2011年
92.
The use of a high throughput inspection tool to increase wafer and lot sampling for improved lot screening and a higher level of in-line control over single wafer excursions - (PPT)
机译:
使用高吞吐量检测工具来增加晶圆和批次采样,以改善批次筛选和更高水平的单晶片巡航 - (PPT)
作者:
Gregoire Ducotey
;
Karim Mestadi
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2011年
93.
APC Control Requirements for Advanced Nodes - ISMI Manufacturing Week - Advanced Process Control - (PPT)
机译:
APC控制要求的高级节点 - ISMI制造周 - 高级过程控制 - (PPT)
作者:
Michael L. Passow
;
Bill Muth
;
Emily Hwang
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2011年
94.
Chamber Matching at Sputter Clean Chambers with Inductively Coupled Plasma - (PPT)
机译:
具有电感耦合等离子体的溅射清洁室的腔室匹配 - (PPT)
作者:
N. Urbansky
;
S. Franke
;
T. Beger
;
M. Watzke
;
M. Klick
;
R. Rothe
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2011年
95.
Simulation-based Method to Design Conveyors in Semiconductor Wafer Fabs - (PPT)
机译:
基于仿真的半导体晶片Fabs的输送机的方法 - (PPT)
作者:
Leanna Miller
;
Alger Bradley
;
Ashley Tish
;
Jesus Jimenez
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2011年
96.
What's New in the 3rd Edition of 'Applied Reliability' - (PPT)
机译:
第3版“应用可靠性” - (PPT)是什么新的
作者:
Paul A. Tobias
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2011年
97.
The NanoHealth Safety Landscape -Opportunities and Challenges for the Semiconductor Industry - (PPT)
机译:
纳米健康与安全景观 - opportunities和半导体行业的挑战 - (PPT)
作者:
Sara Brenner
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
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2011年
98.
Solutions to Reduce Energy and Resource Consumption - (PPT)
机译:
降低能源和资源消耗的解决方案 - (PPT)
作者:
Andreas Neuber
;
Paul Fisher
;
Jay Jung
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2011年
99.
Process Mining for Process Visualization and Improvement in Semiconductor Manufacturing - (PPT)
机译:
流程挖掘用于过程可视化和半导体制造的改进 - (PPT)
作者:
Il-Gyo Chong
;
Byungsup Ahn
;
Chanuk Jeon
;
Hanku Cho
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2011年
100.
Using Poisson regression to model the count of customer returns - (PPT)
机译:
使用泊松回归模拟客户返回的计数 - (PPT)
作者:
Joel Dobson
会议名称:
《ISMI Symposium on Manufacturing Effectiveness》
|
2011年
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