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IEEE International Test Confeence
IEEE International Test Confeence
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1.
Technical Program Committee
机译:
技术方案委员会
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
2.
TTTC: Test Technology Technical Council
机译:
TTTC:测试技术技术委员会
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
3.
Author Index
机译:
作者索引
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
4.
Octal-Site EVM Tests for WLAN Transceivers on 'Very' Low-Cost ATE Platforms
机译:
WLAN收发器上的八万站点EVM测试在“非常”的低成本ATE平台上
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
5.
Launch-on-Shift-Capture Transition Tests
机译:
启动换档捕获过渡测试
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
6.
A Hybrid A/D Converter with 120dB SNR and -125dB THD
机译:
具有120dB SNR和-125dB THD的混合A / D转换器
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
7.
Generating Test Signals for Noise-Based NPR/ACPR Type Tests in Production
机译:
生成基于噪声的NPR / ACPR类型测试的测试信号
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
8.
A Shared Parallel Built-In Self-Repair Scheme for Random Access Memories in SOCs
机译:
SOC中随机访问记忆的共享并行内置自修复方案
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
9.
Wafer-Level Characterization of Probecards using NAC Probing
机译:
使用NAC探测的波波级表征
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
10.
An Effective and Flexible Multiple Defect Diagnosis Methodology Using Error Propagation Analysis
机译:
使用误差传播分析有效且灵活的多缺陷诊断方法
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
11.
Efficiently Performing Yield Enhancements by Identifying Dominant Physical Root Cause from Test Fail Data
机译:
通过从测试失败数据识别主导物理根本原因,有效地执行产量增强
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
12.
Design for Test of Asynchronous NULL Convention Logic (NCL) Circuits
机译:
异步空约定逻辑(NCL)电路测试的设计
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
13.
Engineering Test Coverage on Complex Sockets
机译:
复杂插座上的工程测试覆盖
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
14.
SoC Test Architecture Design and Optimization Considering Power Supply Noise Effects
机译:
考虑电源噪声效应,SOC测试架构设计与优化
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
15.
Solving In-Circuit Defect Coverage Holes with a Novel Boundary Scan Application
机译:
用新颖的边界扫描应用解决电路缺陷覆盖孔
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
16.
An Electronic Module for 12.8 Gbps Multiplexing and Loopback Test
机译:
用于12.8 Gbps多路复用和环回测试的电子模块
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
17.
Testing Methodology of Embedded DRAMs
机译:
嵌入式DRAM测试方法
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
18.
Turbo1500: Toward Core-Based Design for Test and Diagnosis Using the IEEE 1500 Standard
机译:
Turbo1500:使用IEEE 1500标准对基于核心设计进行测试和诊断
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
19.
Modeling Test Escape Rate as a Function of Multiple Coverages
机译:
根据多个覆盖的函数建模测试逃生率
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
20.
Unraveling Variability for Process/Product Improvement
机译:
处理/产品改进的解开变化
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
21.
Frequency and Power Correlation between At-Speed Scan and Functional Tests
机译:
频率扫描与功能测试之间的频率和功率相关性
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
22.
On Accelerating Path Delay Fault Simulation of Long Test Sequences
机译:
关于加速路径延迟故障模拟长测试序列
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
23.
Optical Diagnostics for IBM POWER6?? Microprocessor
机译:
IBM Power6的光学诊断?微处理器
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
24.
A New Method for Measuring Aperture Jitter in ADC Output and Its Application to ENOB Testing
机译:
ADC输出中孔径抖动的一种新方法及其在ENOB测试中的应用
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
25.
Efficient High-Speed Interface Verification and Fault Analysis
机译:
高效的高速接口验证和故障分析
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
26.
Evaluating the Effectiveness of Physically-Aware N-Detect Test using Real Silicon
机译:
评估使用真实硅的物理知识N检测测试的有效性
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
27.
A History-Based Diagnosis Technique for Static and Dynamic Faults in SRAMs
机译:
基于历史的SRAM静态和动态故障的诊断技术
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
28.
Leveraging IEEE 1641 for Tester-Independent ATE Software
机译:
利用IEEE 1641用于独立于测试员 - 独立于测试者的ATE软件
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
29.
'Plug #x00026; Test' at System Level via Testable TLM Primitives
机译:
通过可测试的TLM基元系统级别的“即插即用”
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
关键词:
Design for Testability (DFT);
System Level Design;
System Test;
Transaction Level Modeling (TLM);
30.
A New Wafer Level Latent Defect Screening Methodology for Highly Reliable DRAM Using a Response Surface Method
机译:
一种新的晶片级潜在缺陷筛选方法,用于使用响应表面方法的高度可靠的DRAM
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
31.
Increasing Scan Compression by Using X-chains
机译:
通过使用X-Chains增加扫描压缩
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
32.
Implementation Update: Logic Mapping On SPARC?? Microprocessors
机译:
实现更新:SPARC上的逻辑映射??微处理器
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
33.
Implicit Identification of Non-Robustly Unsensitizable Paths using Bounded Delay Model
机译:
使用界延迟模型隐含非鲁布浴性无常识路径的识别
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
34.
Bridging the gap between Design and Test Engineering for Functional Pattern Development
机译:
桥接功能模式开发设计与测试工程的差距
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
35.
Defect Oriented Testing of the Strap Problem Under Process Variations in DRAMs
机译:
在DRAM中的过程变化下的带状问题的缺陷导向测试
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
36.
Optimized Circuit Failure Prediction for Aging: Practicality and Promise
机译:
老化优化电路故障预测:实用性和承诺
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
37.
A Study of Outlier Analysis Techniques for Delay Testing
机译:
延迟测试的异常分析技术研究
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
38.
Built-in Self-Calibration of On-chip DAC and ADC
机译:
片上DAC和ADC的内置自校准
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
关键词:
ADC;
BIST;
DAC;
Mixed-Signal Circuits;
Self-Calibration;
Sigma-Delta Modulator;
SoC;
39.
Problems Using Boundary-Scan for Memory Cluster Tests
机译:
使用边界扫描的问题用于内存群集测试
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
40.
The Test Features of the Quad-Core AMD Opteron?? Microprocessor
机译:
四核AMD Opteron的测试特征??微处理器
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
41.
On-chip Programmable Capture for Accurate Path Delay Test and Characterization
机译:
片上可编程捕获,用于准确路径延迟测试和表征
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
42.
Using Implications for Online Error Detection
机译:
利用在线错误检测的影响
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
43.
Reducing Power Supply Noise in Linear-Decompressor-Based Test Data Compression Environment for At-Speed Scan Testing
机译:
降低基于线性解压缩的测试数据压缩环境中的电源噪声,用于速度扫描测试
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
44.
Interconnect-Aware and Layout-Oriented Test-Pattern Selection for Small-Delay Defects
机译:
对小延迟缺陷的互连感知和面向布局的测试模式选择
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
45.
Measurement Repeatability for RF Test Within the Load-board Constraints of High Density and Fine Pitch SOC Applications
机译:
用于高密度和细间距SOC应用的负载板限制内RF测试的测量可重复性
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
46.
CONCAT: CONflict Driven Learning in ATPG for Industrial designs
机译:
CONCAT:冲突驱动ATPG的工业设计学习
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
47.
SAT-based State Justification with Adaptive Mining of Invariants
机译:
基于SAT的状态理由,具有自适应挖掘不变
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
48.
Fabrication Defects and Fault Models for DNA Self-Assembled Nanoelectronics
机译:
DNA自组装纳米电子产品的制造缺陷和故障模型
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
49.
Deterministic Diagnostic Pattern Generation (DDPG) for Compound Defects
机译:
用于复合缺陷的确定性诊断模式生成(DDPG)
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
50.
Diagnosis of design-silicon timing mismatch with feature encoding and importance ranking - the methodology explained
机译:
具有特征编码和重要性排名的设计 - 硅定时失配的诊断 - 方法论解释
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
51.
Towards a World Without Test Escapes: The Use of Volume Diagnosis to Improve Test Quality
机译:
对于没有测试逃脱的世界:使用卷诊断以提高测试质量
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
52.
Test Access Mechanism for Multiple Identical Cores
机译:
多个相同核的测试访问机制
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
53.
A New Language Approach for IJTAG
机译:
一种新的IJTAG语言方法
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
54.
A Novel Pattern Generation Framework for Inducing Maximum Crosstalk Effects on Delay-Sensitive Paths
机译:
一种用于诱导延迟敏感路径的最大串扰影响的新型模式生成框架
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
55.
Integration of Hardware Assertions in Systems-on-Chip
机译:
在片上系统中的硬件断言集成
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
56.
High Throughput Diagnosis via Compression of Failure Data in Embedded Memory BIST
机译:
通过压缩嵌入式内存BIST压缩失败数据的高吞吐量诊断
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
57.
Beyond 10 Gbps? Challenges of Characterizing Future I/O Interfaces with Automated Test Equipment
机译:
超过10 Gbps?用自动化测试设备表征未来I / O接口的挑战
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
58.
Hardware-based Error Rate Testing of Digital Baseband Communication Systems
机译:
基于硬件基带通信系统的错误速率测试
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
59.
Production Multivariate Outlier Detection Using Principal Components
机译:
使用主组件生产多变量异常检测
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
60.
Transition Test on UltraSPARC?? T2 Microprocessor
机译:
UltraSparc的过渡测试T2微处理器
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
61.
Non-contact Testing for SoC and RCP (SIPs) at Advanced Nodes
机译:
高级节点的SOC和RCP(SIPS)的非接触式测试
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
62.
Testing Techniques for Hardware Security
机译:
硬件安全测试技术
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
63.
EVM Testing of Wireless OFDM Transceivers Using Intelligent Back-End Digital Signal Processing Algorithms
机译:
使用智能后端数字信号处理算法的无线OFDM收发器的EVM测试
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
64.
Distributed Embedded Logic Analysis for Post-Silicon Validation of SOCs
机译:
SOCS后硅验证的分布式嵌入式逻辑分析
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
65.
Low Energy On-Line SBST of Embedded Processors
机译:
嵌入式处理器的低能量在线SBST
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
66.
On the Correlation between Controller Faults and Instruction-Level Errors in Modern Microprocessors
机译:
关于现代微处理器中控制器故障与指令级别错误的相关性
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
67.
IEEE 1500 Core Wrapper Optimization Techniques and Implementation
机译:
IEEE 1500核心包装器优化技术和实现
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
68.
Optimized EVM Testing for IEEE 802.11a/n RF ICs
机译:
IEEE 802.11a / n rf IC的优化EVM测试
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
69.
Architecture for Testing Multi-Voltage Domain SOC
机译:
用于测试多电压域SoC的架构
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
70.
VAST: Virtualization-Assisted Concurrent Autonomous Self-Test
机译:
巨大:虚拟化辅助并发自治自主测试
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
71.
A High-Speed Structural Method for Testing Address Decoder Faults in Flash Memories
机译:
一种高速结构方法,用于测试闪存中的地址解码器故障
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
72.
Extraction, Simulation and Test Generation for Interconnect Open Defects Based on Enhanced Aggressor-Victim Model
机译:
基于增强侵略者 - 受害者模型的互连开放缺陷的提取,仿真和试验
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
关键词:
ATPG;
Interconnect opens;
Open-via defects;
fault simulation;
73.
Justifying DFT with a Hierarchical Top-Down Cost-Benefit Model
机译:
用分层自上而下的成本效益模型证明DFT
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
74.
Peak Power Reduction Through Dynamic Partitioning of Scan Chains
机译:
通过动态分配扫描链的峰值功率降低
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
75.
A Field Analysis of System-level Effects of Soft Errors Occurring in Microprocessors used in Information Systems
机译:
信息系统中使用的微处理器中发生的软误差的系统级效应的现场分析
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
76.
Low Power Scan Shift and Capture in the EDT Environment
机译:
低功耗扫描移位和EDT环境中的捕获
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
77.
Detection and Diagnosis of Static Scan Cell Internal Defect
机译:
静态扫描单元内缺陷的检测与诊断
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
78.
DFT Architecture for Automotive Microprocessors using On-Chip Scan Compression supporting Dual Vendor ATPG
机译:
用于汽车微处理器的DFT架构,使用片上扫描压缩支持双供应商ATPG
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
79.
A Tutorial on STDF Fail Datalog Standard
机译:
STDF失败Datalog标准的教程
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
80.
A Power-Aware Test Methodology for Multi-Supply Multi-Voltage Designs
机译:
用于多电源多电压设计的动力感知测试方法
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
81.
Built-in Self-Test and Fault Diagnosis for Lab-on-Chip Using Digital Microfluidic Logic Gates
机译:
使用数字微流体逻辑门的芯片实验室内置自测和故障诊断
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
82.
Time-dependent Behaviour of Full Open Defects in Interconnect Lines
机译:
互连线上完全打开缺陷的时间依赖行为
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
83.
On-line Failure Detection in Memory Order Buffers
机译:
内存顺序缓冲区中的在线故障检测
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
84.
External Loopback Testing Experiences with High Speed Serial Interfaces
机译:
外部环回测试高速串行接口的经验
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
85.
Detection of Internal Stuck-open Faults in Scan Chains
机译:
扫描链中的内部卡住故障检测
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
86.
Power-Aware At-Speed Scan Test Methodology for Circuits with Synchronous Clocks
机译:
具有同步时钟的电路的电源感知的高速扫描测试方法
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
87.
Align-Encode: Improving the Encoding Capability of Test Stimulus Decompressors
机译:
对齐 - 编码:提高测试刺激减压器的编码能力
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
88.
DFX of a 3rd Generation, 16-core/32-thread UltraSPARC?? CMT Microprocessor
机译:
DFX为3 Rd sup>生成,16核/ 32线UltraSparc ?? CMT微处理器
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
89.
Direct Cell-Stability Test Techniques for an SRAM Macro with Asymmetric Cell-Bias-Voltage Modulation
机译:
具有非对称细胞偏压调制的SRAM宏的直接电池稳定性测试技术
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
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2008年
90.
Test Generation for Interconnect Opens
机译:
互连的测试生成打开
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
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2008年
91.
On-chip Timing Uncertainty Measurements on IBM Microprocessors
机译:
IBM微处理器上的片上时序不确定性测量
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
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2008年
92.
Analysis of Retention Time Distribution of Embedded DRAM - A New Method to Characterize Across-Chip Threshold Voltage Variation
机译:
嵌入式DRAM的保留时间分布分布 - 一种特征在芯片阈值电压变化的新方法
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
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2008年
93.
Functional Test and Speed/Power Sorting of the IBM POWER6 and Z10 Processors
机译:
IBM Power6和Z10处理器的功能测试和速度/功率分类
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
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2008年
94.
IEEE 1500 Compatible Secure Test Wrapper For Embedded IP Cores
机译:
IEEE 1500用于嵌入式IP核心的兼容安全测试包装器
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
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2008年
95.
This is a Test: How to Tell if DFT and Test Are Adding Value to Your Company
机译:
这是一个测试:如何判断DFT和测试是否向贵公司添加价值
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
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2008年
96.
NoC Reconfiguration for Utilizing the Largest Fault-free Connected Sub-structure
机译:
NOC重新配置,用于利用最大的无故障连接的子结构
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
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2008年
97.
A Generic Framework for Scan Capture Power Reduction in Test Compression Environment
机译:
用于测试压缩环境中的扫描捕获功率降低的通用框架
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
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2008年
98.
Hardware Overhead Reduction for Memory BIST
机译:
内存BIST的硬件开销减少
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
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2008年
99.
Wireless Test Structure for Integrated Systems
机译:
集成系统的无线测试结构
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
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2008年
100.
Overview of IEEE P1450.6.2 Standard; Creating CTL Model For Memory Test and Repair
机译:
IEEE P1450.6.2标准概述;创建CTL模型进行内存测试和修复
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
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2008年
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