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Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference
Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference
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1.
Epitaxy and atomic structure determination of Au/TiO_2 interfaces by combined EBSD and HRTEM
机译:
EBITAXY和原子结构通过组合EBSD和HRTEM的AU / TIO_2接口确定AU / TIO_2界面
作者:
F. Cosandey
;
P. Stadelmann
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
2.
Quantitative mapping of concentrations and bonding states by energy filtering TEM
机译:
能量滤波温度浓度和粘合状态的定量映射
作者:
J. Mayer
;
J. M. Plitzko
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
3.
Microstructural characterization of longitudinal magnetic recording media
机译:
纵向磁记录介质的微观结构特征
作者:
Robert Sinclair
;
Dong-Won Park
;
Claus Habermeier
;
Kai Ma
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
4.
Electron backscatter diffraction: a powerful tool for phase identification in the SEM
机译:
电子反向散射衍射:SEM中的相位识别的强大工具
作者:
J. R. Michael
;
R. P. Goehner
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
5.
Investigating atomic scale phenomena at materials interfaces with correlated techniques in STEM/tem
机译:
研究材料界面的原子尺度现象,茎/极限相关技术
作者:
N. D. Browning
;
A. W. Nicholls
;
E. M. James
;
I. Arslan
;
Y. Xin
;
K. Kishida
;
S. Stemmer
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
6.
Controlled environment transmission electron microscopy
机译:
受控环境透射电子显微镜
作者:
I. M. Robertson
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
7.
LEEM investigations of BCC metals grown heteroepitaxially on sapphire
机译:
leem对bcc金属的研究生长在蓝宝石上杂志
作者:
W. Swiech
;
M. Ondrejcek
;
R. S. Appleton
;
C. S. Durfee
;
M. Mundschau
;
C. P. Flynn
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
8.
Stem analysis of the segregation on Bi to ∑19a grain boundaries in Cu
机译:
铜中BI的偏析分析
作者:
W. Sigle
;
L. S. Chang
;
W. Gust
;
M. Ruhle
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
9.
Microdiffraction, EDS, and HREM investigation for phase identification with the electron microscope
机译:
用电子显微镜进行相位识别的微量微量折磨,EDS和HREM研究
作者:
P. Ruterana
;
A. Redjaimia
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
10.
Environmental scanning electron microscopy as tool to study shrinkage microcracks in cement-based materials
机译:
环境扫描电子显微镜作为研究水泥基材料的收缩微裂纹的工具
作者:
J. Bisschop
;
J. G. M. Van Mier
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
11.
Investigation of copper segregation to the ∑5(310)/001 symmetric tilt grain boundary aluminum
机译:
对称倾斜晶界铝的铜偏析研究
作者:
Jurgen M. Plitzko
;
Geoffrey H. Campbell
;
Wayne E. King
;
Stephen M. Foiles
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
12.
In situ study of zirconia stabilization by anion exchange (N for O) using high temperature, controlled atmosphere electron diffraction
机译:
使用高温,控制气氛电子衍射对阴离子交换(N对于O)的氧化锆稳定性的原位研究
作者:
Renu Sharma
;
Eberhard Schweda
;
Dirk Naedele
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
13.
Experimental methods and data analysis for fluctuation microscopy
机译:
波动显微镜的实验方法和数据分析
作者:
P. M. Voyles
;
M. M. J. Treacy
;
J. M. Gibson
;
H. C. Jin
;
J. R. Abelson
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
14.
Measuring the thin film strain tensor near aluminum grain boundaries via a new image processing approach to CBED HOLZ patterns
机译:
通过新的图像处理方法测量铝晶界附近的薄膜应变张量,以CBED Holz图案
作者:
J. Inoue
;
A. F. Schwartzman
;
L. B. Freund
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
15.
High sensitivity convergent beam electron diffraction for the determination of the tetragonal distortion of epitaxial films
机译:
高灵敏度会聚光束电子衍射,用于确定外延膜的四边形变形
作者:
C. Schuer
;
M. Leicht
;
T. Marek
;
H. P. Strunk
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
16.
Electron channeling X-ray microanalysis for cation configuration in irradiated magnesium aluminate spinel
机译:
电子通道X射线微基分析,用于照射镁铝酸镁尖晶石中的阳离子
作者:
S. Matsumura
;
T. Soeda
;
N. J. Zaluzec
;
C. Kinoshita
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
17.
Site occupancy determination by ALCHEMI of Nb and Cr in γ-TiAl and their effects on the α to γ massive phase transformation
机译:
Nb和Cr在γ-TiAl中的Alchemi和γ对γ对γ大量相变的影响的靶向含量测定
作者:
T. M. Miller
;
L. Wang
;
W. H. Hofmeister
;
J. E. Wittig
;
I. M. Anderson
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
18.
Combined HRTEM and EFTEM study of precipitates in tungsten and chromium-containing TiB{sub}2
机译:
钨中沉淀物的HRTEM和EFTEM研究组合和含铬TIB {SUB} 2
作者:
W. Mader
;
B. Freitag
;
K. Kelm
;
R. Telle
;
C. Schmalzried
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
19.
SEM/EDX spectrum imaging and statistical analysis of a metal/ceramic braze
机译:
SEM / EDX光谱成像和金属/陶瓷钎焊的统计分析
作者:
Paul G. Kotula
;
Michael R. Keenan
;
Ian M. Anderson
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
20.
Imaging heterophase molecular materials in the environmental SEM
机译:
在环境SEM中成像异相色谱分子材料
作者:
B. L. Thiel
;
A. M. Donald
;
D. J. Stokes
;
I. C. Bache
;
N. Stelmashenko
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
21.
Theoretical explanation of Pt trimers observed by Z-contrast STEM
机译:
Z-对比度观察到PT三晶胞的理论解释
作者:
Karl Sohlberg
;
Sokrates T. Pantelides
;
Stephen J. Pennycook
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
22.
An electron microscope study of diffusion assisted dislocation processes in intermetallic GAMMA TiAl
机译:
金属间γ末端扩散辅助位错过程的电子显微镜研究
作者:
F. Appel
;
U. Lorenz
;
M. Oehring
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
23.
Flux mapping and magnetic behavior of grain boundaries in Nd-Fe-B magnets
机译:
ND-Fe-B磁体中晶界的磁通映射和磁性行为
作者:
V. V. Volkov
;
Yimei Zhu
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
24.
Atomic scale analysis of cubic zirconia grain boundaries
机译:
立方氧化锆晶界的原子规模分析
作者:
E. C. Dickey
;
X. Fan
;
M. Yong
;
S. B. Sinnott
;
S. J. Pennycook
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
25.
Characterization of the interface between lanthanum hexa-aluminate and sapphire by exit wave reconstruction
机译:
出口波重建镧六南铝酸盐和蓝宝石界面的表征
作者:
B. Wessler
;
A. Steinecker
;
W. Mader
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
26.
Specimen current imaging of delamination ceramic films on metal substrates in the SEM
机译:
SEM中金属基板上分层陶瓷膜的标本电流成像
作者:
S. Rangarajan
;
A. H. King
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
27.
Energy dispersive X-ray spectrometry with the transition EDGE sensor microcalorimeter: a revolutionary advance in materials microanalysis
机译:
能量分散X射线光谱法与过渡边缘传感器微量电流仪:材料微观分析的革命性进展
作者:
Dale Newbury
;
David Wollman
;
Kent Irwin
;
Gene Hilton
;
John Martinis
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
28.
X-ray elemental mapping of multi-component steels
机译:
多组分钢的X射线元素映射
作者:
Adam J. Papworth
;
David B. Williams
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
29.
Determination of coherency strain fields around coherent particles in Ni-Al alloys by HREM and CBED
机译:
HREM和CBED的镍氢合金相干颗粒周围相干应变场的测定
作者:
H. A. Calderon
;
L. Calzado
;
C. Kisielowski
;
C. Y. Wang
;
R. Kilaas
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
30.
Bonding in ion-implanted carbon films characterized by TEM spectrum lines and energy-filtered imaging
机译:
在离子植入碳膜中粘合,其特征在于TEM谱线和能量滤波成像
作者:
J. Bentley
;
K. C. Walter
;
N. D. Evans
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
31.
Analysis high resolution TEM study of Au/TiO{sub}2 catalysts
机译:
Au / TiO {sub} 2催化剂的高分辨率TEM研究
作者:
T. Akita
;
K. Tanaka
;
S. Tsubota
;
M. Haruta
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
32.
Atomic structure of gold and copper boundaries
机译:
金和铜边界的原子结构
作者:
C. J. D. Hetherington
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
33.
Ion-implanted amorphous silicon studied by variable coherence TEM
机译:
通过可变相干温度研究的离子植入的非晶硅
作者:
J. Y. Cheng
;
J. M. Gibson
;
P. M. Voyles
;
M. M. J. Treacy
;
D. C. Jacobson
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
34.
Atomic and electronic structure analysis of ∑=3, 9 and 27 boundary, and multiple junction in β-SiC
机译:
σ= 3,9和27边界的原子和电子结构分析,β-SiC中的多结
作者:
K. Tanaka
;
M. Kohyama
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
35.
Effects of as deposited and alloying temperatures on the distribution of Cu in 0.5 Cu-Al films
机译:
沉积和合金化温度对0.5%Cu-Al薄膜Cu分布的影响
作者:
P. L. Smith
;
J. Gazda
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
36.
Characterization of intergranular phases in doped zirconia polycrystals
机译:
掺杂氧化锆多晶中晶间相的表征
作者:
N. D. Evans
;
P. H. Imamura
;
J. Bentley
;
M. L. Mecartney
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
37.
The atomic structure of mosaic grain boundary dislocations in GaN epitaxial layers
机译:
GaN外延层马赛克晶界脱位的原子结构
作者:
V. Potin
;
G. Nouet
;
P. Ruterana
;
R. C. Pond
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
38.
On-particle EDS analysis of bimetallic, carbon-supported catalysis
机译:
双金属,碳支持催化的粒子EDS分析
作者:
Deborah L. Boxall
;
Edward A. Kenik
;
Charles M. Lukehart
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
39.
Interface structure and Zn diffusion in the Cd Te/Zn Te/Si system grown by MBE
机译:
MBE生长的CD / Zn TE / SI系统中的界面结构和Zn扩散
作者:
S. C. Y. Tsen
;
David J. Smith
;
P. A. Crozier
;
S. Rujirawat
;
S. Sivananthan
;
G. Brill
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
40.
High-resolution scanning electron microscopy and microanalysis of supported metal catalysis
机译:
高分辨率扫描电子显微镜和支持金属催化的微分分析
作者:
Jingyue Liu
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
41.
Energy-loss filtered imaging of segregation-induced interface broadening in SiGe/Si P-channel MOSFET device structures
机译:
SiGe / Si P沟道MOSFET器件结构中隔离诱导界面扩展的能量损耗过滤成像
作者:
D. J. Norris
;
A. G. Cullis
;
T. J. Grasby
;
E. H. C. Parker
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
42.
Formation of AlN films on Ti/TiN arc-layer interface with Al-0.5 interconnects evaluated by XPS and energy-filtered-TEM
机译:
用XPS和能量滤波器评估的Al-0.5%互连在Ti / TiN弧层界面上形成ALN薄膜
作者:
J. Gazda
;
J. Zhao
;
P. Smith
;
R. A. White
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
43.
Epitaxy and atomic structure determination of Au/TiO{sub}2 interfaces by combined EBSD and HRTEM
机译:
EBSD和HRTEM组合的AU / TIO {SUB} 2接口的外延和原子结构确定
作者:
F. Cosandey
;
P. Stadelmann
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
44.
Electron microscopy of single molecules
机译:
单分子的电子显微镜
作者:
D. E. Luzzi
;
B. W. Smith
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
45.
A new approach towards property nanomeasurements using in-situ TEM
机译:
使用原位TEM的物业纳米脲的一种新方法
作者:
Z. L. Wang
;
P. Poncharal
;
W. A. De Heer
;
R. P. Gao
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
46.
Electronic effects on grain boundary structure in BCC metals
机译:
BCC金属晶界结构的电子效应
作者:
Geofferey H. Campbell
;
Wayne E. King
;
James Belak
;
John A. Moriarty
;
Stephen M. Foiles
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
47.
Structure refinement of S-phase precipitates in Al-Cu-Mg alloys by quantitative HRTEM
机译:
通过定量HRTEM在Al-Cu-Mg合金中进行S相的沉淀物的结构细化
作者:
R. Kilaas
;
V. Radmilovic
;
U. Dahmen
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
48.
Atomic-scale imaging of dopant atom distributions within silicon δ-doped layers
机译:
硅δ掺杂层内的掺杂剂原子分布的原子级成像
作者:
R. Vanfleet
;
D. A. Muller
;
H. J. Gossmann
;
P. H. Citrin
;
J. Silcox
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
49.
Analysis of the atomic scale defect chemistry in oxygen deficient materials by STEM
机译:
茎缺氧材料中原子缺陷化学分析
作者:
Y. Ito
;
S. Stemmer
;
R. F. Klie
;
N. D. Browning
;
A. Sane
;
T. J. Mazanec
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
50.
Relationship between structure and luminescent properties of epitaxial grown Y{sub}2O{sub}3:Eu thin films on LaAlO{sub}3 substrates
机译:
外延生长y {Sub} 2O {Sub} 3:Laalo {Sub} 3基板上的eu薄膜的关系与发光特性
作者:
H. J. Gao
;
G. Duscher
;
X. D. Fan
;
S. J. Pennycook
;
D. Kumar
;
K. G. Cho
;
P. H. Holloway
;
R. K. Singh
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
51.
Structural study of a 100 45° twist plus 7.5° tilt grain boundary in aluminium by HREM
机译:
通过HREM的A 100扭曲加7.5°倾斜晶界的结构研究
作者:
M. Shamsuzzoha
;
P. A. Deymier
;
David J. Smith
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
52.
Interfacial interaction between Cr thin films and oxide glasses
机译:
Cr薄膜和氧化玻璃之间的界面相互作用
作者:
N. Jiang
;
J. Silcox
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
|
2001年
53.
High spatial resolution X-ray microanalysis of radiation-induced segregation in proton-irradiated stainless steels
机译:
质子辐照不锈钢中辐射诱导辐射辐射的高空间分辨率X射线微分析
作者:
E. A. Kenik
;
J. T. Busby
;
G. S. Was
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
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2001年
54.
In-situ observation of melting and solidification
机译:
原位观察熔化和凝固
作者:
H. Saka
;
S. Arai
;
S. Muto
;
H. Miyai
;
S. Tsukimoto
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
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2001年
55.
Electron holography of nanostructured magnetic materials
机译:
纳米结构磁性材料的电子全能
作者:
R. E. Dunin-Borkowski
;
B. Kardynal
;
M. R. Mccartney
;
M. R. Scheinfein
;
David J. Smith
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
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2001年
56.
Incoherent high-resolution Z-contrast imaging of silicon and gallium arsenide using HAADF-STEM
机译:
使用HAADF-茎的硅和砷化镓的不连贯的高分辨率Z-对比度成像
作者:
Y. Kotaka
;
T. Yamazaki
;
Y. Kikuchi
;
K. Watanabe
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
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2001年
57.
Microcharacterization of heterogeneous specimens containing tire dust
机译:
含轮胎灰尘的异质标本的微特化
作者:
Marina Camatini
;
Gaia M. Corbetta
;
Giovanni F. Crosta
;
Tigran Dolukhanyan
;
Giampaolo Giuliani
;
Changmo Sung
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
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2001年
58.
Surface sensitivity effects with local probe scanning auger-scanning electron microscopy
机译:
用局部探针扫描螺旋扫描电子显微镜的表面敏感性效应
作者:
D. T. L. Van Agterveld
;
G. Palasantzas
;
J. Th. M. De Hosson
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
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2001年
59.
The effect of different oxidizing atmospheres of the initial kinetics of copper oxidation as studied by in situ UHV-TEM
机译:
用原位UHV-TEM研究不同氧化型铜氧化初始动力学的影响
作者:
Mridula D. Bharadwaj
;
Anu Gupta
;
J. Murray Gibson
;
Judith C. Yang
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
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2001年
60.
Nanocrystal thickness information from Z-STEM: 3-D imaging in one shot
机译:
来自Z-STEM的纳米晶体厚度信息:3-D一次成像一次
作者:
A. V. Kadavanich
;
T. Kipeny
;
M. Erwin
;
S. J. Rosenthal
;
S. J. Pennycook
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
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2001年
61.
EFFECTS OF 'AS DEPOSITED' AND ALLOYING TEMPERATURES ON THE DISTRIBUTION OF Cu IN 0.5 percent Cu-Al FILMS.
机译:
“沉积”和合金化温度对0.5%Cu-Al薄膜Cu分布的影响。
作者:
P. L. SMITH
;
J. GAZDA
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
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2001年
62.
In-situ annealing transmission electron microscopy study of Pd/Ge/Pd/GaAs interfacial reactions
机译:
原位退火透射电子显微镜PD / GE / Pd / GaAs界面反应研究
作者:
F. Radulescu
;
J. M. McCarthy
;
E. A. Stach
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
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2001年
63.
SPECIMEN CURRENT IMAGING OF DELAMINATION IN CERAMIC FILMS ON METAL SUBSTRATES IN THE SEM
机译:
SEM中金属基板上陶瓷膜中分层的样本电流成像
作者:
S. RANGARAJAN
;
A. H. KING
会议名称:
《Advances in Materials Problem Solving with the Electron Microscope Conference》
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2001年
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