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Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties
Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties
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1.
Excess vacancy generation by silicide formation in Si
机译:
Si中硅化物形成过量的空位
作者:
R.J.Jaccodine
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
2.
Micromechanical analysis of residual stress effect in CVD-processed diamond wafer
机译:
CVD加工金刚晶晶圆中残余应力效应的微机械分析
作者:
J-H.Jeong
;
D.Kwon
;
J-K.Lee
;
W-S.Lee
;
Y-J.Baik
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
3.
Mechanical properties of Al thin films as measured by bulge testing
机译:
通过凸起测试测量的Al薄膜的力学性能
作者:
Yinmin Wang
;
Richard L.Edwards
;
Kevin J.Hemker
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
4.
Effect of annealing on microstructure and properties of Al-Ti multilayered films
机译:
退火对多层薄膜微观结构和性质的影响
作者:
R.Mitra
;
A.Madan
;
R.A.Hoffman
;
W.A.Chiou
;
J.R.Weertman
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
5.
In situ characterization of stress development in gelatin film during controlled drying
机译:
原位表征在控制干燥过程中明胶薄膜的应力发育
作者:
Mengcheng Lu
;
Siu-Yue Tam
;
P.Randall Schunk
;
C.Jeffrey Brinker
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
6.
Strain and mosaic structure in Si_(0.7)Ge_90.3) epilayers grown on Si(001) substrates characterized by high resolution x-ray diffraction
机译:
Si_(0.7)Ge_90.3中的应变和马赛克结构)在Si(001)基板上生长的脱落剂,其特征在于高分辨率X射线衍射
作者:
J.H.Li
;
S.C.Moss
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
7.
Silicide induced mechanical stress in Si: what are the consequences for MOS technology
机译:
SI硅化物诱导的机械应力:MOS技术的后果是什么
作者:
Karen Maex
;
An Steegen
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
8.
Stress development in low dielectric constant silica films during drying and heating process
机译:
干燥和加热过程中低介电常数二氧化硅膜的应力发育
作者:
Mengcheng Lu
;
C.Jeffrey Brinker
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
9.
Study of crack propagation at an oxide/polymer interface under varying loading conditions
机译:
不同负载条件下氧化物/聚合物界面裂纹繁殖的研究
作者:
Dimitrios Pantelidis
;
Jeffrey Snodgrass
;
Reinhold H.Dauskardt
;
John C.Bravman
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
10.
Stress and stress relaxation study of sputtered PZT thin films for microsystems applications
机译:
微系统应用溅射PZT薄膜的应力和应力松弛研究
作者:
E.Defay
;
C.Malhaire
;
C.Dubois
;
D.Barbier
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
11.
Micromechanical analysis of residual stress effect in CVD-processed diamond wafer
机译:
CVD加工金刚晶晶圆中残余应力效应的微机械分析
作者:
J-H.Jeong
;
D.Kwon
;
J-K.Lee
;
W-S.Lee
;
Y-J.Baik
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
12.
Hydrogen induced plastic deformation of thin films
机译:
氢诱导薄膜的塑性变形
作者:
A.Pundt
;
U.Laudahn
;
U.v.Hulsen
;
U.Geyer
;
T.Wagner
;
M.Getzlaff
;
M.Bode
;
R.Wiesendanger
;
R.Kirchheim
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
13.
Tribochemistry of ZDOL decomposition on carbon overcoats in ultra-high vacuum (UHV)
机译:
超高真空(UHV)中Zdol分解Zdol分解的培养学化学(UHV)
作者:
C.S.Bhatia
;
C-Y.Chen
;
W.Fong
;
D.B.Bogy
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
14.
A brittle to ductile transition (BDT) in adhered thin films
机译:
粘附薄膜中的韧性转变(BDT)
作者:
W.W.Gerberich
;
A.A.Volinsky
;
N.I.Tymiak
;
N.R.Moody
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
15.
Influence of nanometer-scale multilayered thin films on fatigue crack initiation
机译:
纳米尺度多层薄膜对疲劳裂纹引发的影响
作者:
M.R.Stoudt
;
R.C.Cammarata
;
R.E.Ricker
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
16.
The implications of energetic and kinetic surface instability for a stress measurement technique
机译:
能量和动力学表面不稳定性对应力测量技术的影响
作者:
H.H.Yu
;
Z.Suo
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
17.
Fatigue of thin silver films investigated by dynamic microbeam deflection
机译:
动态微沟偏转研究薄银膜的疲劳
作者:
R. Schwaiger
;
O. Kraft
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
18.
Electromigration modeling of blech experiment with comparison to recent experimental data
机译:
近期实验数据比较的Blech实验的电迁移模型
作者:
Zhineng Fan
;
M.A.Korhonen
;
C-Y.Li
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
19.
Wafer scale testing of MEMS structural films
机译:
MEMS结构膜的晶圆刻度测试
作者:
Brian J.Gally
;
C.Cameron Abnet
;
Stuart Borwn
;
Clarence Chui
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
20.
Micro- wear scan test on the carbon overcoats as thin as 6 nm or less
机译:
碳外涂层的微观扫描测试,如6纳米或更少
作者:
T.W.Wu
;
Thomas W.Scharf
;
Hong Zhang
;
John A.Barnard
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
21.
Fabrication and characterization of functionally gradient diamond-like carbon coatings
机译:
功能梯度金刚石状碳涂层的制造与表征
作者:
Q.Wei
;
A.K.Sharma
;
S.Yamolenko
;
J.Sankar
;
J.Narayan
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
22.
Tensile properties of amorphous diamond films
机译:
无定形金刚石薄膜的拉伸性能
作者:
D.A.LaVan
;
R.J.Hohlfelder
;
J.P.Sullivan
;
T.A.Friedmann
;
M.Mitchell
;
C.I.H.Ashby
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
23.
Strain relaxation in thin films: the effect of dislocation blocking
机译:
薄膜中应变松弛:脱位阻断的效果
作者:
Peter J.Goodhew
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
24.
In-situ characterization of stress development in gelatin film during controlled drying
机译:
温度下明胶薄膜应力发育的原位特征
作者:
Mengcheng Lu
;
Siu-Yue Tam
;
P. Randall Schunk
;
C. Jeffrey Brinker
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
25.
Influence of the deposition parameters on the electrical and mechanical properties of physically vapor-deposited iridium and rhodium thin films
机译:
沉积参数对物理气相沉积铱和铑薄膜电气和力学性能的影响
作者:
Ilan Golecki
;
Margaret Eagan
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
26.
Stress relaxation in uniquely oriented SiGe/Si epitaxial layers
机译:
唯一定向SiGe / Si外延层的应力松弛
作者:
M.E.Ware
;
R.J.Nemanich
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
27.
Microbridge testing of thin films under small deformation
机译:
小变形下薄膜的微生物测试
作者:
T.Y.Zhang
;
Y.J.Su
;
C.F.Qian
;
M.H.Zhao
;
L.Q.Chen
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
28.
Measurement of residual stresses by load and depth sensing spherical indentation
机译:
负载和深度传感球形压痕测量残余应力
作者:
B.Taljat
;
G.M.Pharr
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
29.
Activation volume for inelastic deformation in polycrystalline Ag films at low temperatures
机译:
低温下多晶硅膜中的非弹性变形的活化体积
作者:
Mauro J.Kobrinsky
;
Carl V.Thompson
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
30.
Wafer curvature studies of strengthening mechanisms in thin films on substrates
机译:
薄膜基材上薄膜强化机制的晶片曲率研究
作者:
O.S.Leung
;
W.D.Nix
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
31.
Measuring thin film fracture toughness using the indentation sinking-in effect and focused ion beam
机译:
使用压痕下沉效果和聚焦离子束测量薄膜断裂韧性
作者:
Ting Y.Tsui
;
Young-Chang Joo
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
32.
Relation between macro- and microstress in thin metallic layers
机译:
薄金属层中宏观和微长的关系
作者:
Leon J.Seijbel
;
Rob Delhez
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
33.
Stress, microstructure and temperature stability of reactive sputter deposited Ta(N) thin films
机译:
反应溅射沉积Ta(n)薄膜的应力,微观结构和温度稳定性
作者:
K.D.Leedy
;
M.J.OKeefe
;
J.T.Grant
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
34.
In situ study of dislocation behavior in columnar Al thin film on Si substrate during thermal cycling
机译:
在热循环期间Si衬底上柱状铝薄膜脱位行为的原位研究
作者:
Charles W.Allen
;
Herbert Schroeder
;
Jon M.Hiller
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
35.
Measurement of local strain in thin aluminum interconnects using convergent beam electron diffraction (CBED)
机译:
使用会聚光束电子衍射(CBED)测量薄铝互连中的局部应变
作者:
S.Kramer
;
J.Mayer
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
36.
Diffusional hillock formation in Al thin films controlled by creep
机译:
通过蠕变控制的Al薄膜漫射小丘形成
作者:
Deok-kee Kim
;
William D.Nix
;
Eduard Arzt
;
Michael D.Deal
;
James D.Plummer
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
37.
Evaluation of mechanical properties of DLC-TiC microlaminate coatings
机译:
DLC-TIC微氨基涂层机械性能评价
作者:
R.Bahl
;
M.Bedawyas
;
D.Patel
;
Ashok Kumar
;
M.Shamsuzzoha
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
38.
Plastic and elastic behavior of sputtered bilayered film by nanoindentation
机译:
纳米茚满的溅射双层膜的塑料和弹性行为
作者:
N.Kikuchi
;
E.Kusano
;
Y.Sawahira
;
A.Kinbara
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
39.
The microstructure and nanoindentation behaviour of TiN/NbN multilayers
机译:
锡/ NBN多层的微观结构和纳米狭窄行为
作者:
J. M. Molina-Aldareguia
;
S. J. Lloyd
;
Z. H. Barber
;
M. G. Blamire
;
W. J. Clegg
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
40.
Nanomechanical properties of amorphous carbon and carbon nitride thin films prepared by shielded Arc ion plating
机译:
屏蔽电弧离子电镀制备的无定形碳和氮化碳薄膜的纳米力学性能
作者:
N.Tajima
;
S.Saze
;
H.Sugimura
;
O.Takai
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
41.
On the robustness of scratch testing for thin films: the issue of tip geometry for critical load measurement
机译:
关于薄膜划痕测试的鲁棒性:临界负荷测量尖端几何问题
作者:
Vincent D.Jardret
;
Warren C.Oliver
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
42.
Viscoelastic behavior of polymer films during scratch test: a quantitative analysis
机译:
划痕试验期间聚合物薄膜的粘弹性行为:定量分析
作者:
Vincent D.Jardret
;
Warren C.Oliver
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
43.
The influence of thermal history and alloying elements on temporary strengthening of thin Al-Cu films
机译:
热历史与合金元素对薄铝膜临时强化的影响
作者:
J.P.Lokker
;
G.C.A.M.Janssen
;
S.Radelaaar
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
44.
Mechanical properties and toughening of a polymethylsilsesquioxane network
机译:
聚甲基硅酸硅氧烷网络的机械性能和增韧
作者:
Bizhong Zhu
;
Dimitris E.Katsoulis
;
Gregg A.Zank
;
Frederick J.McGarry
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
45.
Plasticity in copper thin films
机译:
铜薄膜的可塑性
作者:
V.Weihnacht
;
W.Bruckner
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
46.
Film stress influence of bilayer metallization on the structure of RF MEMS switches
机译:
双层金属化对RF MEMS开关结构的薄膜应力影响
作者:
R.E.Strawser
;
R.Cortez
;
M.J.OKeefe
;
K.D.Leedy
;
J.L.Ebel
;
H.T.Henderson
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
47.
Thermal shock behavior of thin Bi-material ceramic systems
机译:
薄双材料陶瓷系统的热冲击行为
作者:
E.P.Busso
;
Y.V.Tkach
;
R.P.Travis
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
48.
Microcrystalline and nanocrystalline diamond film deposition on cobalt chrome alloy
机译:
微晶和纳米晶金刚石膜沉积在钴铬合金上
作者:
Mare D.Fries
;
Yogesh K.Vohra
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
49.
Adsorption/desorption phenomena in silicate glasses: modeling and application to a sub-micron bicmos technology
机译:
硅酸盐眼镜中的吸附/解吸现象:对亚微米BICMOS技术建模和应用
作者:
T.Hoffmann
;
V.Senez
;
P.Leduc
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
50.
Mechanical stress measurements in damascene-fabricated aluminum interconnect lines
机译:
镶嵌制造铝互连线中的机械应力测量
作者:
Paul R.Besser
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
51.
The strength and fracture of passive oxide films on metals
机译:
金属上无源氧化物膜的强度和骨折
作者:
M.Pang
;
D.E.Wilson
;
D.F.Bahr
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
52.
Stress effects on Al and Al(Cu) thin film grain-boundary diffusion
机译:
对Al和Al(Cu)薄膜晶界扩散的应力影响
作者:
X-Y.Liu
;
C-L.Liu
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
53.
Nanoindentaiton probing of environmental effects on polymer coating properties
机译:
纳米茚满都对聚合物涂层性能的环境影响探讨
作者:
X.Xia
;
D.Rowenhorst
;
K.B.Yoder
;
L.E.Scriven
;
W.W.Gerberich
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
54.
Hardness and elastic modulus measurements of AlN and TiN sub-micron thin films using the continuous stiffness measurement techniqeu with FEM analysis
机译:
使用连续刚度测量TechniQeu具有FEM分析的ALN和锡亚微米薄膜的硬度和弹性模量测量
作者:
T.A.Rawdanowicz
;
J.Sankar
;
J.Narayan
;
V.Godbole
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
55.
Stress effects in the oxidation of planar SiO_2 thin films
机译:
平面SiO_2薄膜氧化中的应力效应
作者:
T.J.Delph
;
R.J.Jaccodine
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
56.
Fatigue of thin silver investigated by dynamic microbeam deflection
机译:
动态微沟偏转调查的薄银疲劳
作者:
R.Schwaiger
;
O.Kraft
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
57.
A methodology for the calibration of spherical indenters
机译:
一种校准球形压头的方法
作者:
J.G.Swadener
;
G.M.Pharr
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
58.
Elastic constants of diamond like carbon films by surface brillouin scattering
机译:
用表面布里渊散射等碳金刚石的弹性常数
作者:
A. C. Ferrari
;
J. Robertson
;
R. Pastorelli
;
M. G. Beghi
;
C. E. Bottani
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
59.
Residual stresses in MEMS structures
机译:
MEMS结构中的残余应力
作者:
B.S.Majumdar
;
W.D.Cowan
;
N.J.Pagano
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
60.
Mechanical properties and adhesion of PZT thin films for MEMS
机译:
MEMS的PZT薄膜的机械性能和粘附性
作者:
J.M.Jungk
;
B.T.Crozier
;
A.Bandyopadhyay
;
N.R.Moody
;
D.F.Bahr
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
61.
Room temperature deposition of silicon oxynitride films with low stress using sputtering-type electron cyclotron resonance plasmas
机译:
使用溅射型电子回旋谐振等离子体具有低应力的室温沉积硅氧氮膜
作者:
D.Gao
;
K.Furukawa
;
H.Nakashima
;
J.Gao
;
J.Wang
;
K.Muraoka
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
62.
Mechanical behavior of indium oxide thin films on polymer substrates
机译:
聚合物基材上氧化铟薄膜的力学行为
作者:
D.R.Cairns
;
S.M.Sachsman
;
D.K.Sparacin
;
R.P.Witte II
;
G.P.Crawford
;
D.C.Paine
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
63.
Superlayer residual stress effect on the indentation adhesion measurements
机译:
超塑性残余应力对压痕粘附测量的影响
作者:
Alex A.Volinsky
;
Neville R.Moody
;
William W.Gerberich
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
64.
Quantitative study of nanoscale contact and pre-contact mechanics using force modulation
机译:
使用力调制定量研究纳米级接触和预接触机械的研究
作者:
S.A.Syed Asif
;
K.J.Wahl
;
R.J.Colton
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
65.
The mechanical properties of common interlevel dielectric films and their influences on aluminum interconnect extrusions
机译:
常见的间片介电膜的力学性能及其对铝互连挤压的影响
作者:
Fen Chen
;
Baozhen Li
;
Timothy D.Sullivan
;
Clara L.Gonzalez
;
Christopher D.Muzzy
;
H.K.Lee
;
Mark D.Levy
;
Michael W.Dashiell
;
James Kolodzey
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
66.
Passivated interconnect lines: thermomechanical analysis and curvature measurements
机译:
钝化的互连线:热机械分析和曲率测量
作者:
A.Wikstrom
;
P.Fudmundson
;
S.Suresh
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
67.
Nanoindentation study of amorphous metal multilayered thin films
机译:
非晶金属多层薄膜的纳米凸缘研究
作者:
J.B.Vella
;
R.C.Cammarata
;
T.P.Weihs
;
C.L.Chien
;
A.B.Mann
;
H.Kung
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
68.
Stress in spin valve multilayers during antiferromagnetic phase transformation
机译:
反铁磁相变换期间旋转阀多层的应力
作者:
B. J. Daniels
;
S. P. Bozeman
;
H. Ha
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
69.
Micro-wear scan test on the carbon overcoats as thin as 6 nm or less
机译:
在碳外涂层上的微磨损扫描测试为6纳米或更小
作者:
T. W. Wu
;
Thomas W. Scharf
;
Hong Zhang
;
John A. Barnard
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
70.
Relation between macro-and microstress in thin metallic layers
机译:
薄金属层宏观和微带的关系
作者:
Leon J. Seijbel
;
Rob Delhez
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
71.
Influence of the deposition parameters the electrical and mechanical properties of physically vapor-deposited iridium and rhodium thin films
机译:
沉积参数对物理气相沉积铱和铑薄膜的电力和力学性能
作者:
Ilan Golecki
;
Margaret Eagan
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
72.
Computing thin film mechanical properties with the oliver and pharr method
机译:
用奥利弗和Pharr方法计算薄膜机械性能
作者:
P.J.Wolff
;
B.N.Lucas
;
E.G.Herbert
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
73.
Modified edge lift-off test: experimental modifications for multifilm systems
机译:
修改边缘升降机测试:Multifilm系统的实验修改
作者:
J.C.Hay
;
E.G.Liniger
;
X-H.Liu
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
74.
Micromechanics-based modeling of interfacial debonding in multilayer structures
机译:
多层结构中界面剥离的基于微机械的建模
作者:
P.A.Klein
;
H.Gao
;
A.Vainchtein
;
H.Fujimoto
;
J.Lee
;
Q.Ma
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
75.
Microstructural evolution in copper films undergoing laser pulsing at high pressures
机译:
高压激光脉冲铜膜的微观结构演变
作者:
R.Jakkaraju
;
C.D.Dobson
;
A.L.Greer
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
76.
The effect of film thickness on stress and transformation behavior in cobalt thin films
机译:
薄膜厚度对钴薄膜应力和转化行为的影响
作者:
H.Th.Hesemann
;
P.Mullner
;
O.Kraft
;
E.Arzt
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
77.
Annlysis of adhesion strength of interfaces between thin films using molecular dynamics technique
机译:
分子动力学技术分析薄膜界面界面的粘合强度
作者:
T.Iwasaki
;
H.Miura
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
78.
Coherent and incoherent relaxation in III-V heterostructures
机译:
III-V异质结构的相干和不连贯的放松
作者:
Andre Rocher
;
Etienne Snoeck
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
79.
Intrinsic stress measurments in CVD diamond films
机译:
CVD金刚石电影中的固有压力测量
作者:
Jin Yu
;
J.G.Kim
;
Y.C.Sohn
;
Y.S.Lee
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
80.
Sequential operation of three distinct misfit dislocation introduction mechanisms in an epitaxial billayer film
机译:
三个不同的错入脱位介绍机制的连续运行
作者:
V.Gopal
;
E.P.Kvam
;
E-H.Chen
;
J.M.Woodall
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
81.
Ion implantation and misfit dislocation formation in p/p~+ silicon
机译:
P / P〜硅中的离子植入和错配脱位形成
作者:
Petra Feichtinger
;
Hiroaki Fukuto
;
Rajinder Sandhu
;
Benjamin Poust
;
Mark S.Goorsky
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
82.
Hall-petch hardening in pulsed laser deposited nickel and copper thin films
机译:
脉冲激光沉积镍和铜薄膜中的Hall-Pazch硬化
作者:
J.A.Knapp
;
D.M.Follsteadt
;
J.C.Banks
;
S.M.Myers
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
83.
Studies of plasticity in thin Al films using picosecond ultrasonics
机译:
使用PicoSecond超声波薄膜膜的可塑性研究
作者:
G.A.Antonelli
;
H.J.Maris
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
84.
Elastic constants of diamond-like carbon films by surface brillouin scattering
机译:
通过表面布里渊散射的金刚石碳膜弹性常数
作者:
A.C.Ferrari
;
J.Robertson
;
R.Pastorelli
;
M.G.Beghi
;
C.E.Bottani
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
85.
Mechanical characterization of surfaces by nanotribological measurements of sliding and abrasive terms
机译:
通过滑动和磨料条款的纳米纤维学测量机械表征
作者:
S.Enders
;
P.Grau
;
G.Berg
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
86.
Effects of seeding over the microstructure and stresses of diamond thin films
机译:
播种对金刚石薄膜微观结构和应力的影响
作者:
S.Gupta
;
G.Morell
;
R.S.Katiyar
;
D.R.Gilbert
;
R.K.Singh
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
87.
Mechanical properties of electroplated copper thin films
机译:
电镀铜薄膜的力学性能
作者:
K.Takahashi
;
R.Spolenak
;
C.A.Volkert
;
S.Fiorillo
;
J.Miner
;
W.L.Brown
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
88.
Phase formation and mechanical properties of multiphase carbide coatings
机译:
多相碳化物涂料的相形成和力学性能
作者:
J.E.Krzanowski
;
S.H.Koutzaki
;
J.Nainaparampil
;
J.S.Zabinski
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
89.
Processing, microstructure, and fracture behavior of nickel/nickel aluminide multilayered thin films
机译:
镍/镍铝多层薄膜的加工,微观结构和断裂行为
作者:
R.Banerjee
;
J.P.Fain
;
G.B.Thompson
;
P.M.Anderson
;
H.L.Fraser
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
90.
Bending response of a 100 nm thick free standing aluminum cantilever beam
机译:
弯曲响应100 nm厚的自由站立铝悬臂梁
作者:
M.Taher A.Saif
;
Aman Haque
;
Materials Research Society
会议名称:
《Symposium on thin films---Stresses and mechanical properties》
|
2000年
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