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International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing
International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing
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1.
OPERATOR MODELING
机译:
操作员建模
作者:
Casilda de Pablo
;
Maria Jose Rosendo
;
Maria Dolores Rodriguez
;
Rafael Oliva
;
Santiago Aparicio
;
Manuel Fernandez
;
Javier Bonal
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
operator;
simulation;
staffing modeling;
2.
GOLDEN SIGNATURE MODELING TO IMPROVE MARGIN YIEI
机译:
金色签名模型改善边缘yiei
作者:
Kevin Ryan
;
Frank Anastasio
;
K. Preston White
;
Christina Mastrangelo
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
semiconductor manufacturing;
process control;
data mining;
3.
WAFER FAB CYCLE TIME MANAGEMENT USING MES DATA
机译:
使用MES数据的晶片FAB周期时间管理
作者:
Frank Chance
;
Jennifer Robinson
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
cycle time management;
manufacturing execution system (MES);
4.
REENGINEERING THE SUPPLY CHAIN: THE ONE-SITE SOLUTION
机译:
重新进入供应链:一个现场解决方案
作者:
Douglas L. Kahn
;
Herbert Biake
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
supply chain;
strategic alliances;
outsourcing;
reengineering;
5.
STATISTICAL OUTLIER TESTS FOR DETECTING LATENT PHYSICAL DEFECTS IN SEMICONDUCTOR DEVICES AT ELECTRICAL PROBE
机译:
用于检测电气探针半导体器件潜在物理缺陷的统计转口试验
作者:
Jose Torres
;
Daniel Koch
;
James Stanley
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
regression;
defectivity;
semiconductor;
probe;
outlier;
6.
MODELING AND IMPLEMENTATION OF A REAL-TIME EMBEDDED SCHEDULER F0R CVD CLUSTER TOOLS
机译:
建模与实现实时嵌入式调度器F0R CVD群集工具
作者:
Tae-Eog Lee
;
Hwan-Yong Lee
;
Ja-Hee Kim
;
Yong-Ho Shin
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
cluster toolsl scheduler;
design;
finite state machine;
7.
A NOTE ON CONTROLLING THE HOMOGENEITY OF OXIDE LAYERS
机译:
关于控制氧化物层均匀性的注释
作者:
Thomas Cobet
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
oxide layers;
statistical control;
homogeneity;
8.
DETERMINING EQUIPMENT PERFORMANCE TO INCREASE THROUGHPUT WITHOUT INCREASING CAPITAL COST USING DISCRETE EVENT SIMULATION (DES)
机译:
使用离散事件仿真(DES)确定设备性能增加吞吐量而不增加资本成本
作者:
Seth A. Fischbein
;
Mario Villacourt
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
reliability;
DES;
discrete event simulation;
modeling;
utilization;
availability;
9.
EQUIPMENT HEALTH MONITORING AND ITS RELATIONSHIP TO WAFER TOX MEASUREMENTS ON A PLASMA ETCH TOOL
机译:
设备健康监测及其与等离子蚀刻工具晶圆Tox测量的关系
作者:
Mike Sanders
;
Sang Mun Chon
;
Hun Cha
;
Yoo Seok Jang
;
Sang-Yeob Cha
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
equipment health monitoring;
multivariate SPC;
dry etch;
advanced fault detection;
oxide thickness;
10.
VALUE-BASED DISPATCHING FOR SEMICONDUCTOR WAFER FABRICATION
机译:
半导体晶片制造的基于价值的分派
作者:
Tanju Yurtsever
;
Neal G. Pierce
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
dispatching;
semiconductor wafer fabrication.;
value-based dispatching;
on-time delivery;
11.
QUALITY VERSUS PROFITABILITY
机译:
质量与盈利能力
作者:
Elart von Collani
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
profitability;
statistical process control;
quality;
12.
MODELING AND SIMULATING SUPPLY CHAINS FOR INCREASED PERFORMANCE AND PROFITABILITY
机译:
建模和模拟供应链,提高性能和盈利能力
作者:
John W. Fowler
;
Karl Kempf
;
Charles W. Arnold
;
Shamin. Shirodkar
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
13.
MODELING OPERATOR CROSS TRAINING IN WAFER FABRICATION GIVEN UNCERTAIN DEMAND: A Stochastic Programming Approach
机译:
晶圆制造中的仿效操作员交叉训练给出了不确定的需求:随机编程方法
作者:
W
;
Chii-Liang Wee
;
John W. Fowler
;
W. Matthew Carlyle
;
Megan Walsh
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
stochastic programming;
recourse;
optimization;
workforce allocation;
worker cross training;
14.
DATA MINING, STRIP MINING AND OTHER HISTORICAL DATA HIGH JINX
机译:
数据挖掘,剥离挖掘等历史数据高Jinx
作者:
Mark A. Sorell
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
data mining;
project goals;
semiconductor manufacturing;
JMP software;
large data sets;
outliers;
data preparation;
15.
DATA MINING OF ELECTRICAL CHARACTERISTICS FOR PROCESS COMPARISONS
机译:
流程比较的电气特性数据挖掘
作者:
Carole Jesse
;
Shantha Krishnamurthy
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
electrical;
statistics;
compare;
correlation;
probe;
16.
A SURVEY OF APPLICATIONS OF FLUID MODELS TO SEMICONDUCTOR FAB OPERATIONS
机译:
流体模型对半导体Fab操作的应用调查
作者:
John J. Hasenbein
;
Ron Billings
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
fluid models;
combinatorial optimization;
multiclass queueing networks;
on-line policies;
fab operations;
17.
STATISTICAL TECHNIQUES FOR CHARACTERIZATION AND DIAGNOSTICS OF KEY LITHOGRAPHY EQUIPMENT PERFORMANCE PARAMETERS
机译:
关键光刻设备性能参数表征和诊断的统计技术
作者:
Greg Pederson
;
Maitrayee Ganguly
;
Pradeep Govil
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
ANOVA;
linewidth;
diagnostics;
error analysis;
principal component;
18.
A MODELING APPROACH FOR FACTORY MANAGEMENT
机译:
工厂管理建模方法
作者:
Roger Pingel
;
Gerald Winz
;
Joerg Domaschke
;
Steven Brown
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
performance evaluation;
factory;
equipment;
simulation;
queuing;
static;
throughput;
cycle time;
19.
DATA MINING FOR YIELD IMPROVEMENTS
机译:
数据挖掘以获得提高
作者:
Weidong Wang
;
Richard Kittler
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
statistics;
decision tree;
data mining;
yield;
semiconductor;
20.
HIGH-FIDELITY RAPID PROTOTYPING OF THE REAL-TIME FAB OPERATIONS THROUGH DISCRETE EVENT SYSTEM MODELING
机译:
通过离散事件系统建模实时FAB操作的高保真快速原型设计
作者:
Leon McGinnis
;
Jenn-Fong Wu
;
Chen Zhou
;
Douglas Bodner
;
Spyros Reveliotis
;
Jonghun Park
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
high-fidelity fab modeling;
web-based simulation;
realtime shop-floor control;
flexible automation;
21.
META-MODELING OF A CLUSTER TOOL SIMULATOR
机译:
群集工具模拟器的元建模
作者:
Mike Preimer
;
Lee Schruben
;
David Ruppert
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
additive models;
regression splines;
modeling average cycle time;
latin hypercubes;
22.
A BAYESIAN METHODOLOGY USING COMBINED DUANE GROWTH MODEL PREDICTION AND WEIBULL MODEL PREDICTION TO PLAN AND EVALUATE SYSTEM RELIABILITY DEMONSTRATION TESTING
机译:
使用联合杜安生长模型预测和威布尔模型预测的贝叶斯方法来规划和评估系统可靠性演示测试
作者:
Brian H. Xing
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
reliability plan and evaluation;
bayesian methodology;
weibull model;
duane model;
23.
ENTERPRISE-WIDE STRATEGIC AND LOGISTICS PLANNING FOR SEMICONDUCTOR MANUFACTURING
机译:
半导体制造的企业范围的战略和物流规划
作者:
J
;
W. Matthew Carlyle
;
John. W. Fowler
;
Jonas Stray
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
mathematical programming;
strategic decision support;
24.
TWO METHODOLOGIES FOR QUICKLY SIZING FACTORIES WITH DISCRETE EVENT SIMULATION, AND OBSERVATIONS OF RESONANCE AND CHAOS IN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING
机译:
用离散事件仿真快速施胶工厂的两种方法,以及半导体制造中的共振和混沌的观察
作者:
Mathias Schulz
;
Timothy D. Stanley
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
simulation;
partitioned flow algorithm;
excess equipment algorithm;
chaos;
cycle time;
factory sizing;
25.
An Example of the Tactical Application of Simulation, Support of FOUP Size Conversion in a 300mm Pilot Line
机译:
模拟的战术应用的示例,在300mm试点线中支持FOUP大小转换
作者:
Mathias Schulz
;
Timothy D. Stanley
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
300mm pilot line;
simulation;
lot size;
front opening unified pod (FOUP);
26.
The Impact of Yield Variation on Cost of Ownership
机译:
产量变异对所有权成本的影响
作者:
Richard W. Jarvis
;
Daren L. Dance
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
cost-of-wnership;
yield;
semiconductor;
particles;
manufacturing;
27.
Demand Activated Manufacturing Architecture (DAMA) Model for Supply Chain Collaboration
机译:
供应链协作的需求激活制造架构(DAMA)模型
作者:
Marge Petersen
;
Leon Chapman
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
collaboration;
e-commerce;
supply chain;
architecture;
business model;
28.
The Application of an Enterprise Resource Planning System for the Return Material Authorization Process in High-Tech Manufacturing
机译:
企业资源规划系统在高科技制造中返回材料授权过程中的应用
作者:
Raymond F. Boykin
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
ERP;
RMA;
supply chain;
29.
MODELING OF MOLECULAR CONTAMINATION ON WAFERS
机译:
晶圆上分子污染的建模
作者:
Sheng-Bai Zhu
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
30.
Demand Activated Manufacturing Architecture (DAMA) Supply Chain Collaboration Development Methodology
机译:
需求激活制造建筑(DAMA)供应链协作开发方法
作者:
Leon Chapman
;
Marge Petersen
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
development methodology;
collaborative environments;
participatory design;
culture;
31.
PRODUCTIVITY IMPROVEMENT THROUGH INTELLIGENT DATA REPORTING IN A SEMICONDUCTOR WAFER FABRICATION FACILITY
机译:
通过半导体晶片制造设施中的智能数据报告的生产力改进
作者:
Girdhar Arora
;
Hung-Nan Chen
;
Russ M. Dabbas
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
wafer fabrication;
theoretical cycle time (TCT);
line balance;
performance reports;
computer integrated manufacturing (CIM);
32.
A MODEL PREDICTIVE CONTROL APPROACH FOR REAL-TIME OPTIMIZATION OF REENTRANT MANUFACTURING LINES
机译:
一种模型预测控制方法,用于实时优化重圈生产线
作者:
Daniel E. Rivera
;
Felipe D. Vargas-Villamil
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
reentrant lines;
cycle time;
real-time optimization;
model predictive control;
33.
LIKELIHOOD-BASED LIMITS AND Cpk MEASURE FOR STRATIFIED PRODUCT GROUPS
机译:
基于可能性的限制和分层产品组的CPK测量
作者:
Alexander R. de Leon
;
Daniel C. Bonzo
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
stratification;
maximum likelihood estimation (MLE);
capability index;
control limits;
mixture;
34.
DEVELOPMENT OF A FULL-SCALE AND REDUCED SEMICONDUCTOR MANUFACTURING MODEL FOR ADVANCED INPUT CONTROL AND BOTTLENECK QUEUING
机译:
开发用于高级输入控制和瓶颈排队的全尺寸和减少半导体制造模型
作者:
Je
;
John Fowler
;
Jerald Hunter
;
Donald Collins
;
Jennie Si
;
Deana Delp
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
semiconductor manufacturing;
neuro-dynamic programming;
modeling;
input release policies;
bottleneck queuing;
35.
USING AUTOMATIC DATA COLLECTION TO ACCELERATE FAB IMPROVEMENTS
机译:
使用自动数据收集加速Fab改进
作者:
Harvey Wohlwend
;
Clete Deller
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
automatic data collection;
SECS II;
ARAMS;
E58;
TP2;
36.
DYNAMIC LOT STREAMING WITH POTENTIAL APPLICATION CM SEMICONDUCTOR MANUFACTURING
机译:
具有潜在应用CM半导体制造的动态批次流
作者:
Adar Kalir
;
Subhash C. Sarin
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
lot streaming;
flow shop;
multiple machines;
37.
ON THE VALIDITY OF APPROXIMATION FORMULAE FOR MACHINE DOWNTIMES
机译:
关于机器停机时间近似公式的有效性
作者:
M
;
Alexander K. Schoemig
;
Mathias Duemmler
;
Oliver Rose
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
flow factor;
machine downtimes;
approximation;
38.
PERFORMANCE EVALUATION OF AND DECISION MAKING TOOLS FOR SEMICONDUCTOR WAFER PROBING FACILITIES
机译:
半导体晶片探测设施的性能评估和决策工具
作者:
Hermann Gold
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
inventory/production operating characteristics;
queues with control;
39.
CONFLICT RESOLVING ALGORITHM TO IMPROVE PRODUCTIVITY IN SINGLE-WAFER PROCESSING
机译:
冲突解决算法提高单晶片处理中的生产率
作者:
Hilario L. Oh
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
conflict;
queuing;
networks;
parallel processing;
single-wafer processing;
40.
SPLITTING PRODUCTION WAFER LOTS TO MAXIMIZE THE POWER OF PROCESS COMPARISONS
机译:
分裂生产晶圆批次以最大化过程比较的力量
作者:
George Milliken
;
Jack E. Reece
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
nested anova split plot design;
41.
MULTI-OBJECTIVE SCHEDULING IN SEMICONDUCTOR TEST MANUFACTURING USING SIMULATION BASED ON-LINE NEAR-REAL-TIME SYSTEM
机译:
半导体测试制造中的多目标调度在基于仿真的近实时系统
作者:
David Chia Chu Wei
;
Chin Soon Chong
;
Appa Iyer Sivakumar
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
online simulation;
semiconductor testing;
pareto optimization;
dynamic scheduling;
42.
A SIMULATION BASED ANALYSIS OF THE EFFECT OF SCHEDULING AND LOT RELEASE ON CYCLE TIME DISTRIBUTION AND THROUGHPUT IN SEMICONDUCTOR BACKEND
机译:
基于模拟的调度和批量释放对半导体后端循环时间分布和吞吐量的影响分析
作者:
Appa Iyer Sivakumar
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
98 tile cycle time;
cycle time distribution;
lot release scheduling;
throughput;
simulation;
43.
BATCHING AND SCHEDULING AT BATCH PROCESSING WORKSTATION IN A SEMICONDUCTOR FABRICATION FACILITY PRODUCING MULTIPLE PRODUCT TYPES WITH DISTINCT DUE DATES
机译:
在生产多种产品类型的半导体制造工具中的批处理工作站批量处理和调度。
作者:
Jae-Gon Kim
;
Yeong-Dae Kim
;
Hyung-Un Kim
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
batch scheduling;
simulation;
due date;
44.
COP AND COO MODEL FOR SEMICONDUCTOR PRODUCT MIX MANUFACTURING
机译:
半导体产品混合制造的COP和COO模型
作者:
Samuel C. Wood
;
Yoshio Iwata
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
cost;
semiconductor equipment;
product mix;
efficiency;
45.
STEPPER SCHEDULING IN SEMICONDUCTOR WAFER FABRICATION PROCESS
机译:
半导体晶片制造过程中的步进调度
作者:
Bokang Kim
;
Seung-Hee Yea
;
Sooyoung Kim
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
stepper;
wafer fabrication;
semiconductor;
scheduling;
46.
Increase Semiconductor Equipment Productivity by a Process Monitor
机译:
通过过程监视器提高半导体设备的生产率
作者:
Lar
;
S. Muhammed
;
Ken Carlock
;
Nick Samiotes
;
Bill Bintz
;
Larry Bourget
;
K. C. Lin
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
process monitor;
reference wafer template;
47.
A GENERAL MODEL FOR QUALITY IMPROVEMENT
机译:
一种质量改进的一般模型
作者:
HAIM SHORE
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
box-cox normalizing transformation;
quality improvement;
inverse normalizing transformations;
generalized linear models;
experimental design;
48.
WEB-BASED MINING OF STATISTICAL INFORMATION
机译:
基于网络的统计信息挖掘
作者:
Scott Paiva
;
Madhukar Joshi
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
SPC;
automation;
web page;
49.
EXPERIENCES IN EXECUTING PRODUCTIVITY IMPROVEMENT PROGRAMS IN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING
机译:
在半导体制造中执行生产力改进计划的经验
作者:
James A. Irwin
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
semiconductor manufacturing;
factory of the future;
productivity;
automation;
50.
ROBUST SCHEDULING RULES FOR THE SEMICONDUCTOR FABRICATION LINE
机译:
半导体制造线的强大调度规则
作者:
Sooyoung Kim
;
Hanmin Cho
;
Jongkwan Park
;
Young Hoon Lee
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
scheduling;
fabrication;
semiconductor;
51.
RENEWAL APPROXIMATIONS OF THE DEPARTURE SCV'S FOR BATCH ARRIVAL AND SERVICE WORKSTATIONS
机译:
批量到达和服务工作站的出发SCV的续订近似
作者:
Bryan L. Deuermeyer
;
Guy L. Curry
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
departure SCV;
batch processing;
52.
CONCEPTUALIZING THE SUPPLIER-BUYER RELATIONSHIP MANAGEMENT PROCESS
机译:
概念化供应商 - 买方关系管理过程
作者:
Richard A. Reid
;
Elsa L. Koljonen
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
conceptual models;
theory of constraints;
supplier-buyer partnership;
53.
BOTTLENECK BASED MODELING OF SEMICONDUCTOR SUPPLY CHAINS
机译:
基于瓶颈的半导体供应链建模
作者:
B
;
Yoke-Hean Low
;
Chu-Cheow Lim
;
Boon-Ping Gan
;
Sanjay Jain
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
supply chain;
cycle time;
bottleneck;
semiconductor manufacturing;
simulation;
54.
AUTOMATED ANALYSIS OF FAILURE EVENT DATA
机译:
自动分析失败事件数据
作者:
Bruce M. Thompson
;
James E. Campbell
;
Fred Freerks
;
Corey Hennessy
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
reliability;
software;
optimization;
spare parts;
failure event data;
55.
ANALYSIS OF THE SHORT TERM IMPACT OF CHANGES IN PRODUCT MIX
机译:
分析产品组合变化的短期影响
作者:
Oliver Rose
;
Mathias A. Duemmler
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
product mix;
dispatch rules;
simulation;
surge analysis;
56.
CONTROL ORIENTED DISPATCHING IN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING
机译:
半导体制造中的控制定向调度
作者:
Nital S. Patel
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
dispatching;
semiconductor manufacturing;
run-to-run control;
minimax policies;
dynamic games;
57.
STATISTICAL ANALYSIS OF MANUFACTURING LINE DATA IN A SEMICONDUCTOR FABRICATION FACILITY
机译:
半导体制造设施中生产线数据的统计分析
作者:
Hung-Nan Chen
;
Russ Dabbas
;
Girdhar Arora
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
semiconductor fabrication;
cycle time;
WIP;
output;
manufacturing;
58.
300 mm FACTORY SIMULATION MODELING AND ANALYSIS
机译:
300毫米工厂仿真建模和分析
作者:
Mathias Schulz
;
James Berry
;
Robert Wright
;
Joshua Cheatham
;
Elizabeth Campbell
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
semiconductor factory modeling;
300 mm wafers;
automated material handling;
59.
CYCLE TIME MODELING USING A BAYESIAN APPROACH
机译:
使用贝叶斯方法进行循环时间建模
作者:
Mathias Schulz
;
James Berry
;
Christina Chen
会议名称:
《International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing》
|
2000年
关键词:
cycle time mean;
model averaging;
bayesian model selection;
bayesian analysis;
cycle time variance;
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