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Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors
Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors
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1.
STM-light emission from metal deposited semiconductor surfaces
机译:
金属沉积半导体表面的STM光发射
作者:
N. Yamamoto
;
S. Kagami
;
H. Minoda
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
2.
Spectrally resolved cathodoluminescence determination of dopant diffusion in InP/InGaAsP based multi quantum well fabry-perot lasers
机译:
基于INP / INGAASP的多量子阱法布里 - 珀罗激光器的光谱分辨的阴离子致发光测定掺杂剂扩散
作者:
C. Zanotti-Fregonara
;
C. Ferrari
;
L. Lazzarini
;
G. Salviati
;
M. Meliga
;
D. Bertone
;
R. Y. Fang
;
G. Morello
;
R. Paoletti
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
3.
Optical properties of Si nanowires on a Si{111} surface
机译:
Si {111}表面上Si纳米线的光学性质
作者:
N. Ozaki
;
Y. Ohno
;
S. Takeda
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
4.
Photoreflectance near-field scanning optical microscopy
机译:
光反射近场扫描光学显微镜
作者:
Charles Paulson
;
Brian Hawkins
;
Jingxi Sun
;
Arthur B. Ellis
;
Leon Mccaughan
;
T. F. Kuech
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
5.
Effects of rapid thermal annealing on the intersubband energy spacing of self-assembled InAs/GaAs quantum dots
机译:
快速热退火对自组装INAS / GaAs量子点的梭粗能量间距的影响
作者:
X. C. Wang
;
S. J. Chua
;
S. J. Xu
;
Z. H. Zhang
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
6.
Optical properties of pseudomorphic Sn_xGe_(1-x) alloys
机译:
假形晶体Sn_xge_(1-x)合金的光学性质
作者:
Regina Ragan
;
Harry A. Atwater
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
7.
Microvoids in polycrystalline CVD diamond
机译:
多晶CVD金刚石中的微脂
作者:
Karen M. Mcnamara
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
8.
Light-excitation-based spectroscopy of electronic defects in novel materials
机译:
基于光激励的新材料电子缺陷光谱学
作者:
A. Castaldini
;
A. Cavallini
;
L. Polenta
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
9.
Internal spatial modes and local propagation properties in optical waveguides measured using near-filed scanning optical microscopy
机译:
使用近场扫描光学显微镜测量光波导中的内部空间模式和局部传播性能
作者:
Bennett B. Goldbrg
;
M. Selim Unlu
;
Greg Vander Rhodes
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
10.
Optical characterization individual nanostructures by STM light emission
机译:
STM光发射的光学表征单个纳米结构
作者:
S. Ushioda
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
11.
Characterization of Si, SiGe and SOI structures using photoluminescence
机译:
使用光致发光的Si,SiGe和SOI结构的表征
作者:
V. Higgs
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
12.
Microstructural characterization of antimonide based III-V compounds and their effect on electro-optical properties of substrate materials and devices
机译:
基于锑苷酸的III-V化合物的微观结构表征及其对基材和装置电光性能的影响
作者:
P. S. Dutta
;
R. J. Gutmann
;
G. W. Charache
;
C. A. Wang
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
13.
Optical and microstructural characterization of nanocrystalline silicon superlattices
机译:
纳米晶体超晶格的光学和微观结构表征
作者:
L. Tsybeskov
;
G. F. Grom
;
R. Krishnan
;
P. M. Fauchet
;
J. P. McCaffrey
;
J. M. Baribeau
;
G. I. Sproule
;
D. J. Lockwood
;
V. Timoshenko
;
J. Diener
;
H. Heckler
;
D. Kovalev
;
F. Koch
;
T. N. Blanton
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
14.
Determination of optical properties of fluorocarbon polymer thin films by a variable angle spectroscopic ellipsometry
机译:
通过可变角度光谱椭圆形测定氟碳聚合物薄膜光学性质的测定
作者:
Kang-Kuk Lee
;
Jin-Goo Park
;
Hyung-Jae Shin
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
15.
Photoemitters based on glass-ITO structures
机译:
基于Glass-ITO结构的光专员
作者:
J. Olesik
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
16.
Optical properties and defect structure of movpe InGa N films
机译:
Movpe Inga N膜的光学性质和缺陷结构
作者:
A. Cremades
;
M. Albrecht
;
J. M. Ulloa
;
J. Piqueras
;
H. P. Strunk
;
D. Hanser
;
R. F. Davis
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
17.
Optical emission related to holes confined in p-type δ-doped layers in GaAs
机译:
与GaAs中的P型δ掺杂层限制的孔相关的光学发射
作者:
Q. X. Zhao
;
M. Willander
;
P. O. Holtz
;
W. Lu
;
H. F. Dou
;
S. C. Shen
;
G. Li
;
C. Jagadish
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
18.
Studies of photoreflectance in Cd_(1-x)Mn_xTe/Cd_(1-y)Mn_yTe superlattices
机译:
CD_(1-X)MN_XTE / CD_(1-Y)MN_YTE超大图中的光反射的研究
作者:
Chenjia Chen
;
Xuezhong Wang
;
Haitao Li
;
Xiaogan Liang
;
Guangyu Chai
;
Zheng Ning
;
Xun Wang
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
19.
Quantum confinement of above-band-gap transitions in Ge quantum dots
机译:
GE量子点中的上限带间隙过渡的量子限制
作者:
C. W. Teng
;
J. F. Muth
;
R. M. Kolbas
;
K. M. Hassan
;
A. K. Sharma
;
A. Kvit
;
J. Narayan
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
20.
A study of the origin of band-a emission in homoepitaxial diamond thin films
机译:
主页型金刚石薄膜中带发射起源的研究
作者:
Daisuke Takeuchi
;
Hideyuki Watanabe
;
Sadanori Yamanaka
;
Hideyo Okushi
;
Koji Kajimura
;
Hidetaka Sawada
;
Hideki Ichinose
;
Takashi Sekiguchi
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
21.
Optical absorption and luminescence study of the effect of thermal treatments on the porous silicon surface
机译:
热处理对多孔硅表面影响的光学吸收和发光研究
作者:
R. Plugaru
;
G. Craciun
;
M. Bercu
;
J. Rams
;
J. Piqueras
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
22.
Analysis of the crystallization kinetics and microstructure of polycrystalline SiGe films by optical techniques
机译:
光学技术分析多晶SiGe膜的结晶动力学和微观结构
作者:
J. Olivares
;
P. Martin
;
A. Rodriguez
;
J. Sangrador
;
O. Martinez
;
J. Jimenez
;
T. Rodriguez
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
23.
Micro-Raman characterization of arsenic-implanted silicon: interpretation of the spectra
机译:
砷植入硅的微拉曼特征:光谱的解释
作者:
James P. Lavine
;
David D. Tuschel
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
24.
Development of low energy cathodoluminescence system and its application to the study of ZnO powders
机译:
低能阴极致发光系统的发展及其在ZnO粉末研究中的应用
作者:
Takashi Sekiguchi
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
25.
Cathodoluminescence from In_xGa_(1-x)As layers grown on GaAs using a transmission electron microscope
机译:
从In_xga_(1-x)的阴极发光,作为使用透射电子显微镜在GaAs上生长的层
作者:
N. Yamamoto
;
T. Mita
;
S. Heun
;
A. Franciosi
;
J. M. Bonard
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
26.
Optically induced condensation of impurity excitations in transparent solids
机译:
在透明固体中光学诱导杂质激发的缩合
作者:
E. A. Manykin
;
M. I. Ojovan
;
P. P. Poluektov
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
27.
Optical characterization of ion implanted SiC
机译:
离子植入SiC的光学表征
作者:
E. K. Williams
;
D. Ila
;
D. B. Poker
;
D. K. Hensley
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
28.
Nondestructive analysis of current gain of InP/InGaAs heterojunction bipolar transistor structures using photoreflectance spectroscopy
机译:
使用光反射光谱的INP / InGaAs异质结双极晶体管结构的无损分析
作者:
Hiroki Sugiyama
;
Noriyuki Watanabe
;
Kazuo Watanabe
;
Takashi Kobayashi
;
Kazumi Wada
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
29.
Low temperature photoluminescence and photoinduced current spectroscopy on CdZnTe grown by high-pressure bridgman technique
机译:
低温光致发光和光线突出电流光谱通过高压Bridgman技术生长的Cdznte
作者:
A. Zerrai
;
K. Cherkaoui
;
S. Mergui
;
A. Zumbiehl
;
M. Hage-Ali
;
G. Marrakchi
;
G. Bremond
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
30.
Micro-Raman study of charge carrier distribution and cathodoluminescence microanalysis of porous GaP membranes
机译:
多孔间隙膜的电荷载体分布和阴极发光微分析的微拉曼研究
作者:
I. M. Tiginyanu
;
M. A. Stevens
;
Kalceff
;
A. Sarua
;
G. Irmer
;
J. Monecke
;
O. Cojocari
;
H. L. Hartnagel
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
31.
Study of GaSb junction devices by cathodoluminescence and scanning tunneling spectroscopy
机译:
通过阴极发光和扫描隧穿光谱研究Gasb结装置的研究
作者:
P. Hidalgo
;
B. Mendez
;
J. Piqueras
;
P. S. Dutta
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
32.
Optical integrated waveguides characterization by scanning near field optical microscope
机译:
光学集成波导通过扫描近场光学显微镜表征
作者:
X. Borrise
;
N. Barniol
;
F. Perez-Murano
;
G. Abadal
;
X. Aymerich
;
D. Jimenez
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
33.
Photo-induced current spectroscopy in undoped CVD diamond films
机译:
在未掺杂的CVD金刚石薄膜中的光诱导的电流光谱
作者:
E. Borchi
;
M. Bruzzi
;
Lombardi
;
D. Menichello
;
S. Miglio
;
S. Pirolli
;
S. Sciortino
;
D. Serafini
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
34.
Photoluminescence and photoluminescence excitation mechanisms for porous silicon and silicon oxynitride
机译:
多孔硅和氧氮化硅的光致发光和光致发光激励机制
作者:
Xingsheng
;
Liu
;
Jesus Noel Calata
;
Houyun Liang
;
Wangzhou Shi
;
Xuanyin Lin
;
Kuixun
;
Lin
;
G. G. Qin
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
35.
Investigation of deep levels in GaP liquid phase epitaxial layers on substrates with vapor pressure heat treatment
机译:
蒸气压热处理基板上间隙液相外延层深层的研究
作者:
T. J. Yu
;
K. Suto
;
J. Nishizawa
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
36.
Micro-Raman characterization of unusual defect structure in arsenic-implanted silicon
机译:
砷植入硅中异常缺陷结构的微拉曼特征
作者:
David D. Tuschel
;
James P. Lavine
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
37.
Scanning tunneling microscope-induced luminescence studies of defects in GaN layers and heterostructures
机译:
扫描隧道显微镜诱导的GaN层和异质结构缺陷的发光研究
作者:
S. Evoy
;
C. K. Harnett
;
S. Keller
;
U. K. Mishra
;
S. P. DenBaars
;
H. G. Craighead
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
38.
Confocal micro-Raman characterization of SiC epilayers
机译:
SiC脱衬的共聚焦微拉曼特征
作者:
Ran Liu
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
39.
Depth-resolved microspectroscopy of porous silicon multilayers
机译:
多孔硅多层的深度分辨的微光谱
作者:
S. Manotas
;
F. Agullo-Rueda
;
J. D. Moreno
;
R. J. Martin-Palma
;
R. Guerrero-Lemus
;
J. M. Martinez-Duart
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
40.
Study of the radiative and non-radiative recombination processes at dislocations in silicon by photoluminescence and lbic measurements
机译:
通过光致发光和LBIC测量研究硅错位辐射和非辐射重组过程的研究
作者:
S. Pizzini
;
S. Binetti
;
M. Acciarri
;
M. Casati
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
41.
Hybridization in electronic states and optical properties of covalent amorphous semiconductors
机译:
共价非晶半导体的电子状态杂交和光学性质
作者:
Yuzo Shinozuka
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
42.
Homogeneity of thermally-annealed lightly Fe-doped Si InP
机译:
热退火的均匀性轻微掺杂Si Inp
作者:
M. Avella
;
J. Jimenez
;
R. Fornari
;
E. De La Puente
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
43.
Mesoscopic characterization of the optical property of antiphase boundaries in CuPt-ordered GaInP_2
机译:
中序命令增益PAINP_2中抗血清边界的光学性质的介观表征
作者:
Y. Ohno
;
S. Takeda
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
44.
Study of Raman scattering on InP/InGaAs/InP HEMTs
机译:
在INP / INGAAS / INP HEMTS上的拉曼散射研究
作者:
K. Radhakrishnan
;
T. H. K. Patrick
;
H. Q. Zheng
;
S. F. Yoon
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
45.
Energy behavior with magnetic field of negatively charged magneto excitons in quantum wells and heterojunctions
机译:
用量子孔和异质结的带负电磁激环磁场的能量行为
作者:
F. M. Munteanu
;
Y. Kim
;
C. H. Perry
;
D. G. Rickel
;
J. A. Simmons
;
J. L. Reno
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
46.
Viewport influence on optical pyrometry and deposition process in MOCVD vertical rotating disc reactors
机译:
视口对MoCVD垂直旋转盘反应器中光学热测定和沉积过程的影响
作者:
Anton Prokopenko
;
Alexander Gurary
;
Vadim Boguslavskiy
;
Jeffrey Ramer
;
Matthew Schurman
会议名称:
《Symposium on Optical Microstructural Characterization of Semiconductors》
|
1999年
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