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International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems
International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems
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Organizers
机译:
组织者
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
2.
Using RESURF Technique for Edge Termination of Semi-Vertical GaN Devices
机译:
使用Resurf技术进行半垂直GaN设备的边缘终端
作者:
B. Bakeroot
;
K. Geens
;
M. Borga
;
H. Liang
;
S. You
;
S. Decoutere
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Micromechanical devices;
Design automation;
Semiconductor diodes;
Epitaxial growth;
Gallium nitride;
Junctions;
Standards;
3.
Quasi-static I-V characterization utilized for isothermal and thermal parameters comparison in InAlN/GaN or AlGaN/GaN HEMTs
机译:
用于等温和热参数的准静态I-V表征在Inaln / GaN或AlGaN / GaN Hemts中的等温和热参数比较
作者:
M. Florovič
;
J. Kováč
;
A. Chvála
;
J.-C. Jacquet
;
S. L. Delage
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Temperature;
HEMTs;
Thermal conductivity;
Wide band gap semiconductors;
Isothermal processes;
MODFETs;
Aluminum gallium nitride;
4.
Root cause analysis of gate shorts in semi-vertical GaN MOSFET devices
机译:
半垂直GaN MOSFET设备中门短路的根本原因分析
作者:
Patrick Diehle
;
Susanne Hübner
;
Carlo De Santi
;
Kalparupa Mukherjee
;
Enrico Zanoni
;
Matteo Meneghini
;
Karen Geens
;
Shuzhen You
;
Stefaan Decoutere
;
Frank Altmann
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Electric breakdown;
Microscopy;
Logic gates;
Topology;
Reliability;
Gallium nitride;
Stress;
5.
Frequency Doubler Based on a Lateral Multi-Channel GaN Schottky Barrier Diode for 5G Technology
机译:
基于横向多通道GaN肖特基势垒二极管的频率倍增5G技术
作者:
M. Alathbah
;
A. Eblabla
;
K. Elgaid
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Schottky diodes;
5G mobile communication;
Schottky barriers;
Power system harmonics;
Harmonic analysis;
Gallium nitride;
Power generation;
6.
Incremental Capacity Analysis for Prediction of Li-Ion Battery Degradation Mechanisms: Simulation Study
机译:
锂离子电池降解机制预测的增量容量分析:仿真研究
作者:
M. Kemeny
;
P. Ondrejka
;
M. Mikolasek
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Degradation;
Lithium-ion batteries;
Analytical models;
Semiconductor devices;
Battery management systems;
Predictive models;
Integrated circuit modeling;
7.
MoS2 Supercapacitors for Energy Storage Applications: Evaluation Of Morphological Factor
机译:
用于储能应用的MOS2超级电容器:形态因素评估
作者:
P. Ondrejka
;
M. Kemeny
;
V. Rehacek
;
M. Dubina
;
I. Hotovy
;
M. Mikolasek
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Electrodes;
Micromechanical devices;
Semiconductor devices;
Supercapacitors;
Electrolytes;
Sulfur;
Molybdenum;
8.
Characterization of thermal energy harvesters with COB LED chips
机译:
具有COB LED芯片的热能收割机的特征
作者:
J. Novak
;
V. Janicek
;
T. Teply
;
A. Boura
;
M. Husák
;
J. Foit
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Micromechanical devices;
Semiconductor devices;
Lighting;
Light emitting diodes;
Generators;
Thermal energy;
Resistance heating;
9.
Piezoelectric Microgenerator
机译:
压电微生物
作者:
M. Husak
;
P. Martinek
;
V. Janicek
;
J. Novak
;
A. Boura
;
J. Foit
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Micromechanical devices;
Renewable energy sources;
Semiconductor devices;
Piezoelectric effect;
Piezoelectric devices;
Electronic circuits;
Power generation;
10.
Special oscillators
机译:
特殊振荡器
作者:
Julius Foit
;
Miroslav Husák
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Q-factor;
Micromechanical devices;
Power supplies;
Semiconductor devices;
Power system harmonics;
Oscillators;
Tuning;
11.
Front-side diamond deposition on the GaN membranes
机译:
GaN膜上的前侧金刚石沉积
作者:
T. Izsák
;
G. Vanko
;
M. Držík
;
S. Kasemann
;
J. Zehetner
;
M. Vojs
;
B. Zat’ko
;
Š. Potocký
;
A. Kromka
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Micromechanical devices;
Temperature sensors;
Thermal expansion;
Temperature;
Films;
Diamond;
Gallium nitride;
12.
Optimization of diamond growth on structured, soft and brittle substrates
机译:
结构化,柔软和脆性基材上的金刚石生长优化
作者:
O. Babcenko
;
T. Izsák
;
M. Varga
;
K. Aubrechtová Dragounová
;
S. Potocky
;
S. Stehlik
;
G. Vanko
;
L. Gajdosova
;
S. Kasemann
;
J. Zehetner
;
A. Kromka
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Micromechanical devices;
Diamond;
Acoustics;
Polymers;
Coatings;
Acceleration;
Substrates;
13.
Organic pentacene and fullerene C60 inverters: the influence of gate dielectric
机译:
有机五苯和富勒烯C60逆变器:栅极电介质的影响
作者:
Miroslav Novota
;
Michal Sobota
;
Michal Micjan
;
Martin Weis
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Silicon compounds;
Pentacene;
Semiconductor devices;
Logic gates;
Fullerenes;
Inverters;
Dielectrics;
14.
Fabrication of Micro-Force Transducer Based on Carbon Nano-Flake Balls for Assisting Drosophila Monitoring system
机译:
基于碳纳米片球的微型力传感器制造用于辅助果蝇监测系统的微型换能器
作者:
Richard Adiputra
;
Yi-Hung Chen
;
Robert Andok
;
Hung-Yin Tsai
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Silicon compounds;
Wet etching;
Ultrasonic variables measurement;
Force;
Catalysis;
Sensors;
Substrates;
15.
IoT monitoring system for farmers
机译:
农民监测系统
作者:
V. Janicek
;
J. Novak
;
T. Teply
;
M. Husak
;
A. Boura
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Semiconductor devices;
Cows;
Sensors;
Servers;
Object recognition;
Monitoring;
Testing;
16.
Study of Proximity Effects in HSQ e-Beam Resist on TiO2 Thin Film
机译:
TiO2薄膜HSQ电子束抗蚀剂的邻近效应研究
作者:
Ivan Kostic
;
Katia Vutova
;
Anna Bencurova
;
Pavol Nemec
;
Robert Andok
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Electron beams;
Simulation;
Hydrogen;
Proximity effects;
Resists;
Titanium dioxide;
Substrates;
17.
Miniature viscometer based on self-mixing interferometer
机译:
基于自混合干涉仪的微型粘度计
作者:
Petr Martinek
;
Miroslav Husák
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Viscosity;
Vibrations;
Micromechanical devices;
Semiconductor device measurement;
Liquids;
Vibration measurement;
Electrical resistance measurement;
18.
Flexible inkjet sensor fabricated by inkjet printing
机译:
柔性喷墨传感器由喷墨印刷制造
作者:
Adam Vadzak
;
Juraj Nevrela
;
Michal Micjan
;
Martin Weis
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Temperature sensors;
Silver;
Wearable computers;
Ink jet printing;
Polymers;
Optimization;
Substrates;
19.
Concept of a Platinum Hotplate on Thermoisolated Polyimide Membrane
机译:
铂铂热板的概念在热蚀地聚酰亚胺膜上
作者:
M. Predanocy
;
I. Hotový
;
R. Andok
;
V. Řeháček
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Temperature distribution;
Semiconductor devices;
Platinum;
Thermomechanical processes;
Polyimides;
Finite element analysis;
Stress;
20.
The novel concept of a portable human stress-meter
机译:
便携式人类压力计的新颖概念
作者:
E. Vavrinsky
;
H. Svobodova
;
M. Kopani
;
V. Stopjakova
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Smart textiles;
Semiconductor device measurement;
Semiconductor devices;
Synchronization;
Reliability;
Stress;
Monitoring;
21.
Neural Network for Electrothermal Circuit Model of SiC Power MOSFET
机译:
SIC电源MOSFET电热电路模型的神经网络
作者:
A. Chvála
;
Ľ. Černaj
;
J. Marek
;
P. Príbytný
;
J. Kozárik
;
D. Donoval
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Semiconductor device modeling;
Training;
MOSFET;
Silicon carbide;
Artificial neural networks;
Calibration;
Integrated circuit modeling;
22.
Novel approach for reliability testing of high voltage isolated semiconductor packages
机译:
高压隔离半导体包装可靠性测试的新方法
作者:
Rainer Schaller
;
Horst Theuss
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Micromechanical devices;
Semiconductor device measurement;
Semiconductor devices;
High-voltage techniques;
Sensors;
Integrated circuit reliability;
Stress;
23.
Trends in Fan Out Wafer Level Packaging
机译:
扇出晶圆级包装的趋势
作者:
Horst Theuss
;
Christian Geissler
;
Walter Hartner
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Micromechanical devices;
Fans;
Semiconductor devices;
Semiconductor device reliability;
Market research;
Wafer scale integration;
24.
Impact Of Repetitive UIS And SC Stress On Degradation Of Power SIC TrenchMosfets
机译:
重复UIS和SC压力对电力SIC沟槽劣化的影响
作者:
J. Marek
;
J. Kozárik
;
A. Chvála
;
M. Minárik
;
P. Špánik
;
M. Jagelka
;
D. Donoval
;
M. Donoval
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Performance evaluation;
Degradation;
Logic gates;
Hot carrier injection;
Leakage currents;
Stress;
Switching circuits;
25.
Electrothermal Model of Power IGBT Module for Circuit Simulations
机译:
电力IGBT模块电热模型电路模拟
作者:
P. Príbytný
;
A. Chvála
;
J. Marek
;
D. Donoval
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Insulated gate bipolar transistors;
Semiconductor device modeling;
Circuit simulation;
Mathematical model;
Transistors;
Integrated circuit modeling;
Matlab;
26.
Novel Slotted mmWave CPW Branch Line Coupler for MMIC and Sub-THz Applications
机译:
MMIC和SUB-THZ应用的新型开槽MMWAVE CPW分支线耦合器
作者:
M. Alathbah
;
A. Eblabla
;
K. Elgaid
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Power transmission lines;
Shape;
Resonant frequency;
Couplers;
Real-time systems;
Semiconductor diodes;
Resonators;
27.
Copper oxide field-effect transistor fabricated by sol-gel method
机译:
通过溶胶 - 凝胶法制造的氧化铜场效应晶体管
作者:
Tomas Vincze
;
Michal Micjan
;
Martin Weis
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Electrodes;
Micromechanical devices;
Gold;
Aluminum;
Transistors;
Copper;
Standards;
28.
DLTS Study of Emission and Capture Processes in InAlGaN/GaN HEMT Structures for 5G
机译:
DLTS在5G中的inalGan / GaN HEMT结构中的排放和捕获过程研究
作者:
M. Matus
;
J. Drobný
;
J. Vadovsky
;
A. Kosa
;
P. Benko
;
J. Kovac
;
S. L. Delage
;
L. Stuchlíková
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Gallium;
Silicon carbide;
HEMTs;
Logic gates;
Energy states;
Fats;
Wide band gap semiconductors;
29.
Study of Emission and Capture Processes in Semi-vertical GaN-on-Si Trench-MOSFETs
机译:
半垂直GAN-on-SI沟槽 - MOSFET中发射和捕获过程的研究
作者:
J. Drobny
;
J. Marek
;
A. Kosa
;
K. Geens
;
M. Borga
;
H. Liang
;
S. You
;
S. Decoutere
;
L. Stuchlikova
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Location awareness;
Micromechanical devices;
Semiconductor devices;
Space charge;
Energy states;
Deep level transient spectroscopy;
Surface treatment;
30.
Degradation of 600V GaN HEMTs under Repetitive Short Circuit Conditions
机译:
重复短路条件下600V GaN HEMT的降解
作者:
J. Kozárik
;
J. Marek
;
M. Minárik
;
A. Chvála
;
L. Černaj
;
M. Donoval
;
D. Donoval
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Degradation;
Semiconductor device measurement;
Current measurement;
HEMTs;
MODFETs;
Gallium nitride;
Stress;
31.
Morphology, Crystalline Quality, and Optical Properties of MOCVD-grown InN/InAlN Heterostructures
机译:
Mocvd-Growrown Inn / Inaln异质结构的形态学,晶体质量和光学性质
作者:
Michal Kučera
;
Stanislav Hasenőhrl
;
Edmund Dobročka
;
Alica Rosová
;
Peter Eliáš
;
Filip Gucmann
;
Ján Kuzmík
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Buffer layers;
X-ray scattering;
Optical buffering;
Morphology;
Surface morphology;
Optical films;
High-speed optical techniques;
32.
Investigation of HVPE grown layers on MOVPE GaN/sapphire templates for application as drift layer in vertical GaN power devices
机译:
Movpe GaN / Sapphire模板在垂直GaN电源装置中漂移层的Movpe GaN / Sapphire模板上的HVPE种植层的研究
作者:
Tailang Xie
;
Martin Krupinski
;
Sven Jachalke
;
Cláudia Silva
;
Andreas Großer
;
Jan Gärtner
;
Rico Hentschel
;
Thomas Mikolajick
;
Andre Wachowiak
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Semiconductor device measurement;
Epitaxial layers;
Surface morphology;
Doping;
Surface topography;
Epitaxial growth;
Gallium nitride;
33.
Gamma spectrometry of semi-insulating GaAs detectors degraded by 5 MeV electrons up to 2 MGy
机译:
半绝缘GaAs探测器的伽马光谱测量频率降低了5meV电子,最高可达2毫米
作者:
A. Šagátová
;
B. Zať’ko
;
E. Kováčová
;
V. Nečas
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Micromechanical devices;
Spectroscopy;
Semiconductor device measurement;
Semiconductor devices;
Gallium arsenide;
Detectors;
Photonics;
34.
The Schottky barrier detectors based on 4H-SiC epitaxial layer
机译:
基于4H-SIC外延层的肖特基屏障探测器
作者:
B. Zat’ko
;
A. Šagátová
;
L. Hrubčín
;
P. Boháček
;
E. Kováčová
;
Y. B. Gurov
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Temperature measurement;
Semiconductor device measurement;
Radiation detectors;
Current measurement;
Schottky barriers;
Doping;
Detectors;
35.
Investigation of Mg contact on SI-GaAs
机译:
Si-GaAs Mg接触的研究
作者:
F. Dubecký
;
P. Hubík
;
G. Vanko
;
B. Zaťko
;
P. Boháček
;
M. Sekáčová
;
A. Šagátová
;
V. Nečas
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Metallization;
Thermionic emission;
Gallium arsenide;
Sensor phenomena and characterization;
Semiconductor diodes;
Tuning;
Standards;
36.
Study of subsurface damage in Ge optics machined by SPDT
机译:
SPDT加工GE光学地下损伤的研究
作者:
Z. Zápražný
;
D. Korytár
;
B. Zat’ko
;
M. Jergel
;
Y. Halahovets
;
Jozef Dobrovodský
;
Pavol Noga
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Imaging;
Crystals;
Germanium;
Optics;
Surface roughness;
Rough surfaces;
Surface finishing;
37.
The Influence of the Rapid Thermal Annealing Process on Defect Distribution in GaAsN p-i-n Structures for Solar Cells
机译:
快速热退火过程对太阳能电池GAASN P-I-N结构缺陷分布的影响
作者:
A. Kosa
;
J. Drobny
;
W. Dawidowski
;
M. Mikolasek
;
B. Sciana
;
L. Stuchlikova
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
关键词:
Annealing;
Gallium arsenide;
Sociology;
Indium tin oxide;
Energy states;
Statistics;
Transient analysis;
38.
Committees
机译:
委员会
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
39.
Preface
机译:
前言
会议名称:
《International Conference on Advanced Semiconductor Devices And Microsystems》
|
2020年
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