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International Test Conference in Asia
International Test Conference in Asia
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1.
Test strategy for storage SOCs
机译:
存储SOC的测试策略
作者:
Abhishek Bhattacharya
;
Ramesh Tekumalla
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Testing;
Clocks;
IP networks;
Computer architecture;
Discrete Fourier transforms;
Conferences;
Security;
2.
An automotive MP-SoC featuring an advanced embedded instrument infrastructure for high dependability
机译:
一种用于高可靠性的高级嵌入式仪器基础设施的汽车MP-SEC
作者:
Hans G. Kerkhoff
;
Ghazanfar Ali
;
Hassan Ebrahimi
;
Ahmed Ibrahim
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Instruments;
Monitoring;
Temperature measurement;
Temperature sensors;
Plasma temperature;
Aging;
Timing;
3.
Low-distortion signal generation for analog/mixed-signal circuit testing with digital ATE
机译:
模拟/混合信号电路测试的低失真信号生成数字ate
作者:
Masayuki Kawabata
;
Koji Asami
;
Shohei Shibuya
;
Tomonori Yanagida
;
Haruo Kobayashi
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Harmonics suppression;
Integrated circuits;
Testing;
4.
Fan-out wafer level chip scale package testing
机译:
扇出晶圆级芯片尺度包测试
作者:
Hao Chen
;
Hung-Chih Lin
;
Min-Jer Wang
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Pins;
Gold;
Sockets;
Fingers;
Random access memory;
Reliability;
5.
A fully automatic test system for characterizing large-array fine-pitch micro-bump probe cards
机译:
用于表征大型阵列微距微凸块探针卡的全自动测试系统
作者:
Erik Jan Marinissen
;
Ferenc Fodor
;
Bart De W?chter
;
J?rg Kiesewetter
;
Eric Hill
;
Ken Smith
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Probes;
Resistors;
Electrical resistance measurement;
Cameras;
Switches;
Software;
6.
Physical-aware diagnosis of multiple interconnect defects
机译:
物理意识诊断多互连缺陷
作者:
Po-Hao Chen
;
Chi-Lin Lee
;
Jing-Yu Chen
;
Po-Wei Chen
;
James Chien-Mo Li
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Pins;
Circuit faults;
Dictionaries;
Mathematical model;
Logic gates;
Integrated circuit interconnections;
Integrated circuit modeling;
7.
State assignment for fault tolerant stochastic computing with linear finite state machines
机译:
具有线性有限状态机的容错随机计算的状态分配
作者:
Hideyuki Ichihara
;
Motoi Fukuda
;
Tsuyoshi Iwagaki
;
Tomoo Inoue
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Circuit faults;
Transient analysis;
Silicon;
Markov processes;
Fault tolerance;
Fault tolerant systems;
8.
A run-pause-resume silicon debug technique for multiple clock domain systems
机译:
用于多个时钟域系统的run-pause-resume硅调试技术
作者:
Shuo-Lian Hong
;
Kuen-Jong Lee
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Clocks;
Receivers;
Logic gates;
Transmitters;
Debugging;
IP networks;
Flip-flops;
9.
Enhancing security of logic encryption using embedded key generation unit
机译:
使用嵌入式密钥生成单元增强逻辑加密的安全性
作者:
Rajit Karmakar
;
Santanu Chattopadhyay
;
Rohit Kapur
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Encryption;
Logic gates;
Foundries;
Integrated circuits;
Hardware;
10.
Speeding up power verification by merging equivalent power domains in RTL design with UPF
机译:
通过使用UPF的RTL设计中的等效电源域加速功率验证
作者:
Charles C.-H. Hsu
;
Charles H.-P. Wen
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Merging;
Power system management;
Tools;
Power supplies;
Ports (Computers);
Power control;
Switches;
11.
Adapting an industrial memory BIST solution for testing CAMs
机译:
适用于测试凸轮的工业记忆BIST解决方案
作者:
Jais Abraham
;
Uttam Garg
;
Glenn Colon-Bonet
;
Ramesh Sharma
;
Chennian Di
;
Benoit Nadeau-Dostie
;
Etienne Racine
;
Martin Keim
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Cams;
Micromechanical devices;
Built-in self-test;
Random access memory;
Arrays;
Heuristic algorithms;
Legged locomotion;
12.
A lightweight X-masking scheme for IoT designs
机译:
用于物联网设计的轻量级X型屏蔽方案
作者:
Daniel Tille
;
Benedikt Gottinger
;
Ulrike Pfannkuchen
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Pins;
System-on-chip;
Timing;
Hardware;
Protocols;
Business;
Silicon;
13.
Software-hardware-cooperated built-in self-test scheme for channel-based DRAMs
机译:
基于频道的DRAM的软件 - 硬件合作的内置自检方案
作者:
Tsung-Fu Hsieh
;
Jin-Fu Li
;
Kuan-Te Wu
;
Jenn-Shiang Lai
;
Chih-Yen Lo
;
Ding-Ming Kwai
;
Yung-Fa Chou
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Built-in self-test;
Random access memory;
Clocks;
Delays;
Process control;
Phased arrays;
14.
A hybrid concurrent error detection scheme for simultaneous improvement on probability of detection and diagnosability
机译:
一种混合并发误差检测方案,用于同时改进检测概率和诊断
作者:
Chih-Hao Wang
;
Tong-Yu Hsieh
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Observability;
15.
On the effects of real time and contiguous measurement with a digital temperature and voltage sensor
机译:
在数字温度和电压传感器的实时和连续测量的影响
作者:
Yousuke Miyake
;
Yasuo Sato
;
Seiji Kajihara
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Voltage measurement;
Temperature sensors;
Q measurement;
Heating systems;
Temperature measurement;
Oscillators;
System-on-chip;
16.
Evaluation of loop transfer function based dynamic testing of LDOs
机译:
基于LDO的循环传递函数评估
作者:
Mehmet Ince
;
Ender Yilmaz
;
Jae Woong Jeong
;
LeRoy Winemberg
;
Sule Ozev
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Transfer functions;
Regulators;
Transient analysis;
Testing;
Voltage measurement;
Transient response;
Frequency measurement;
17.
An integrated design environment of fault tolerant processors with flexible HW/SW solutions for versatile performance/cost/coverage tradeoffs
机译:
具有灵活HW / SW解决方案的容错处理器的集成设计环境,用于多功能性能/成本/覆盖权衡
作者:
Yi-Ju Ke
;
Yi-Chieh Ghen
;
Jng-Jer Huang
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Program processors;
Fault tolerance;
Fault tolerant systems;
Circuit faults;
Hardware;
Instruments;
18.
Testing-for-manufacturing (TFM) for ultra-thin IPD on InFO
机译:
关于信息的超薄IPD测试 - 制造测试(TFM)
作者:
Tang-Jung Chiu
;
Yu-Lun Tseng
;
Yen-Cheng Lin
;
Yi-Chen Wang
;
Hung-Chih Lin
;
Min-Jer Wang
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Stress;
Testing;
Probes;
Silicon;
Rails;
Capacitance;
19.
Adaptive block-based refresh techniques for mitigation of data retention faults and reduction of refresh power
机译:
基于自适应块的刷新技术,用于缓解数据保留故障和刷新功率的减少
作者:
Shyue-Kung Lu
;
Hung-Kai Huang
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Random access memory;
Hardware;
Fabrication;
Standards;
Power demand;
Computer architecture;
Maintenance engineering;
20.
Symbiotic system models for efficient IOT system design and test
机译:
有效物联网系统设计和测试的共生系统模型
作者:
Cheng-Wen Wu
;
Bing-Yang Lin
;
Hsin-Wei Hung
;
Shu-Mei Tseng
;
Chi Chen
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Symbiosis;
Reliability;
Maintenance engineering;
Monitoring;
Energy consumption;
Market research;
Internet of Things;
21.
Trustworthy reconfigurable access to on-chip infrastructure
机译:
值得信赖的可重新配置对片上基础架构的访问
作者:
Michael A. Kochte
;
Rafal Baranowski
;
Hans-Joachim Wunderlich
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
IEEE Standards;
Instruments;
Registers;
System-on-chip;
Security;
Multiplexing;
Latches;
22.
Tutorial I: Topic: Automotive test strategies
机译:
教程I:主题:汽车测试策略
作者:
Yervant Zorian
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Conferences;
Tutorials;
Testing;
Automotive engineering;
Patents;
Business;
Systematics;
23.
A dependable AMR sensor system for automotive applications
机译:
用于汽车应用的可靠性AMR传感器系统
作者:
Andreina Zambrano
;
Hans G. Kerkhoff
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Fault tolerance;
Fault tolerant systems;
Automotive applications;
Bridge circuits;
Safety;
Mathematical model;
Aging;
24.
Test item priority estimation for high parallel test efficiency under ATE debug time constraints
机译:
在ATE调试时间约束下测试项目优先估计以获得高并行测试效率的
作者:
Young-woo Lee
;
Inhyuk Choi
;
Kang-Hoon Oh
;
James Jinsoo Ko
;
Sungho Kang
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Testing;
Optimization;
Mathematical model;
Time factors;
Estimation;
Debugging;
Mass production;
25.
A mathematical model to assess the influence of parallelism in a semiconductor back-end test floor
机译:
一种评估半导体后端测试地板中并行性的影响的数学模型
作者:
Davide Appello
;
M. Laurino
;
M. Pranzo
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Parallel processing;
Job shop scheduling;
Integrated circuits;
Mathematical model;
Testing;
26.
A quick jitter tolerance estimation technique for bang-bang CDRs
机译:
Bang-Bang CDR的快速抖动公差估算技术
作者:
Yen-Long Lee
;
Soon-Jyh Chang
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Jitter;
Testing;
Estimation;
Indexes;
Iterative closest point algorithm;
27.
GPU-accelerated fault dictionary generation for the TRAX fault model
机译:
Trax故障模型的GPU加速故障字典代代
作者:
Matthew Beckler
;
R. D. Shawn Blanton
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Circuit faults;
Logic gates;
Graphics processing units;
Computational modeling;
Integrated circuit modeling;
Kernel;
Instruction sets;
28.
Cell-aware test generation time reduction by using switch-level ATPG
机译:
通过使用交换机级别ATPG,单元感知测试生成时间减少
作者:
Po-Yao Chuang
;
Cheng-Wen Wu
;
Harry H. Chen
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Test pattern generators;
29.
Test generation for open and delay faults in CMOS circuits
机译:
CMOS电路中打开和延迟故障的测试生成
作者:
Cheng-Hung Wu
;
Kuen-Jong Lee
;
Sudhakar M Reddy
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Circuit faults;
Logic gates;
Delays;
Transistors;
Integrated circuit modeling;
Semiconductor device modeling;
Transforms;
30.
Test Strategy for Storage SOCs
机译:
存储SOC的测试策略
作者:
Abhishek Bhattacharya
;
Ramesh Tekumalla
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
SOC;
scan;
test;
cost;
coverage;
31.
Test Item Priority Estimation for High Parallel Test Efficiency under ATE Debug Time Constraints
机译:
在ATE调试时间约束下测试项目优先估计以获得高并行测试效率的
作者:
Young-woo Lee
;
Inhyuk Choi
;
Kang-Hoon Oh
;
James Jinsoo Ko
;
Sungho Kang
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
parallel test efficiency;
test program optimization;
test item priority estimation;
automatic test equipment;
costs of test;
32.
Software-Hardware-Cooperated Built-In Self-Test Scheme for Channel-Based DRAMs
机译:
基于频道的DRAM的软件 - 硬件合作的内置自检方案
作者:
Tsung-Fu Hsieh
;
Jin-Fu Li
;
Kuan-Te Wu
;
Jenn-Shiang Lai
;
Chih-Yen Lo
;
Ding-Ming Kwai
;
Yung-Fa Chou
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
DRAM;
built-in self-test;
processor;
test;
channel-based DRAM;
33.
A Hybrid Concurrent Error Detection Scheme for Simultaneous Improvement on Probability of Detection and Diagnosability
机译:
一种混合并发误差检测方案,用于同时改进检测概率和诊断
作者:
Chih-Hao Wang
;
Tong-Yu Hsieh
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Hybrid Concurrent;
Detection Scheme;
Simultaneous Improvement;
34.
Test Generation for Open and Delay Faults in CMOS Circuits
机译:
CMOS电路中打开和延迟故障的测试生成
作者:
Cheng-Hung Wu
;
Kuen-Jong Lee
;
Sudhakar M Reddy
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Test Generation;
Delay Faults;
CMOS Circuits;
35.
A Mathematical Model to assess the influence of parallelism in a Semiconductor Back-End Test Floor
机译:
一种评估半导体后端测试地板中并行性的影响的数学模型
作者:
Davide Appello
;
M. Laurino
;
M. Pranzo
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Test at back-end;
Integer Programming;
Scheduling;
36.
Symbiotic System Models for Efficient IOT System Design and Test
机译:
有效物联网系统设计和测试的共生系统模型
作者:
Cheng-Wen Wu
;
Bing-Yang Lin
;
Hsin-Wei Hung
;
Shu-Mei Tseng
;
Chi Chen
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
built-in self-test (BIST);
built-in self-repair (BISR);
on-line testing;
resilient system;
symbiotic computing;
symbiotic system;
yield improvement;
37.
An Integrated Design Environment of Fault Tolerant Processors with Flexible HW/SW Solutions for Versatile Performance/Cost/Coverage Tradeoffs
机译:
具有灵活HW / SW解决方案的容错处理器的集成设计环境,用于多功能性能/成本/覆盖权衡
作者:
Yi-Ju Ke
;
Yi-Chieh Chen
;
Ing-Jer Huang
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
processor;
fault-tolerant;
fault injection;
data error;
control flow error;
tradeoffs;
38.
Low-Distortion Signal Generation for Analog/Mixed-Signal Circuit Testing with Digital ATE
机译:
模拟/混合信号电路测试的低失真信号生成数字ate
作者:
Masayuki Kawabata
;
Koji Asami
;
Shohei Shibuya
;
Tomonori Yanagida
;
Haruo Kobayashi
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Low-distortion signal generation;
Harmonics suppression;
Analog/mixed-signal IC testing;
ATE;
39.
Adaptive Block-Based Refresh Techniques for Mitigation of Data Retention Faults and Reduction of Refresh Power
机译:
基于自适应块的刷新技术,用于缓解数据保留故障和刷新功率的减少
作者:
Shyue-Kung Lu
;
Hung-Kai Huang
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
DRAM;
data retention fault;
refresh period;
low power;
yield;
40.
GPU-Accelerated Fault Dictionary Generation for the TRAX Fault Model
机译:
Trax故障模型的GPU加速故障字典代代
作者:
Matthew Beckler
;
R. D. (Shawn) Blanton
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
GPU-Accelerated Fault;
Dictionary Generation;
TRAX Fault Model;
41.
A Fully Automatic Test System for Characterizing Large-Array Fine-Pitch Micro-Bump Probe Cards
机译:
用于表征大型阵列微距微凸块探针卡的全自动测试系统
作者:
Erik Jan Marinissen
;
Ferenc Fodor
;
Bart De Wachter
;
J?rg Kiesewetter
;
Eric Hill
;
Ken Smith
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Automatic Test System;
Characterizing Large-Array;
Probe Cards;
42.
A Dependable AMR Sensor System for Automotive Applications
机译:
用于汽车应用的可靠性AMR传感器系统
作者:
Andreina Zambrano
;
Hans G. Kerkhoff
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Dependability;
self-x capabilities;
fault-tolerant;
angle error;
AMR sensors;
43.
A Quick Jitter Tolerance Estimation Technique for Bang-bang CDRs
机译:
Bang-Bang CDR的快速抖动公差估算技术
作者:
Yen-Long Lee
;
Soon-Jyh Chang
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Clock and data recovery;
Jitter tolerance estimation;
44.
A Lightweight X-Masking Scheme for IoT Designs
机译:
用于物联网设计的轻量级X型屏蔽方案
作者:
Daniel Tille
;
Benedikt Gottinger
;
Ulrike Pfannkuchen
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Lightweight X-Masking;
Scheme;
IoT Designs;
45.
A Run-Pause-Resume Silicon Debug Technique for Multiple Clock Domain Systems
机译:
用于多个时钟域系统的run-pause-resume硅调试技术
作者:
Shuo-Lian Hong
;
Kuen-Jong Lee
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
silicon debug;
hardware debugging;
breakpoint;
run-pause-resume;
clock domain crossing;
46.
Trustworthy Reconfigurable Access to On-Chip Infrastructure
机译:
值得信赖的可重新配置对片上基础架构的访问
作者:
Michael A. Kochte
;
Rafal Baranowski
;
Hans-Joachim Wunderlich
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
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2017年
关键词:
Hardware security;
trustworthiness;
IJTAG;
IEEE Std 1687;
secure DFT;
secure pattern retargeting;
reconfigurable scan network;
47.
State Assignment for Fault Tolerant Stochastic Computing with Linear Finite State Machines
机译:
具有线性有限状态机的容错随机计算的状态分配
作者:
Hideyuki Ichihara
;
Motoi Fukuda
;
Tsuyoshi Iwagaki
;
Tomoo Inoue
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
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2017年
关键词:
approximate computing;
soft error;
Markov model;
Hamming distance;
motion detection;
48.
Adapting an Industrial Memory BIST solution for testing CAMs
机译:
适用于测试凸轮的工业记忆BIST解决方案
作者:
Jais Abraham
;
Uttam Garg
;
Glenn Colon-Bonet
;
Ramesh Sharma
;
Chennian Di
;
Benoit Nadeau-Dostie
;
Etienne Racine
;
Martin Keim
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
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2017年
关键词:
Binary CAM;
Ternary CAM;
BIST;
49.
An Automotive MP-SoC Featuring an Advanced Embedded Instrument Infrastructure for High Dependability
机译:
一种用于高可靠性的高级嵌入式仪器基础设施的汽车MP-SEC
作者:
Hans G. Kerkhoff
;
Ghazanfar Ali
;
Hassan Ebrahimi
;
Ahmed Ibrahim
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
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2017年
关键词:
IJTAG embedded instruments;
IEEE 1687;
power-supply voltage amp;
temperature monitors;
power-supply current I_(ddt);
slack-delay amp;
IRF monitors;
50.
Testing-for-Manufacturing (TFM) for Ultra-thin IPD on InFO
机译:
关于信息的超薄IPD测试 - 制造测试(TFM)
作者:
Tang-Jung Chiu
;
Yu-Lun Tseng
;
Yen-Cheng Lin
;
Yi-Chen Wang
;
Hung-Chih Lin
;
Min-Jer Wang
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
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2017年
关键词:
Integration fan-out (InFO);
integrated passive device (IPD);
testing-for-manufacturing (TFM);
51.
Speeding Up Power Verification by Merging Equivalent Power Domains in RTL Design with UPF
机译:
通过使用UPF的RTL设计中的等效电源域加速功率验证
作者:
Charles C.-H. Hsu
;
Charles H.-P. Wen
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
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2017年
关键词:
Power Domain;
UPF;
Power Management;
52.
Cell-Aware Test Generation Time Reduction by Using Switch-Level ATPG
机译:
通过使用交换机级别ATPG,单元感知测试生成时间减少
作者:
Po-Yao Chuang
;
Cheng-Wen Wu
;
Harry H. Chen
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
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2017年
关键词:
cell-aware testing;
switch-level test generation;
cell internal defects;
fault injection;
channel-connected network;
53.
Fan-Out Wafer Level Chip Scale Package Testing
机译:
扇出晶圆级芯片尺度包测试
作者:
Hao Chen
;
Hung-Chih Lin
;
Min-Jer Wang
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
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2017年
关键词:
Integrated fan out wafer level chip scale package (InFO WLCSP);
Through InFO via (TIV);
loopback test;
defect;
yield learning;
package on package (PoP);
dynamic random access memory (DRAM);
redistribution layer (RDL);
partition design;
diagnosis;
burn-in board;
gold finger;
redundancy;
54.
Enhancing Security of Logic Encryption Using Embedded Key Generation Unit
机译:
使用嵌入式密钥生成单元增强逻辑加密的安全性
作者:
Rajit Karmakar
;
Santanu Chattopadhyay
;
Rohit Kapur
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
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2017年
关键词:
Hardware security;
logic encryption;
key-gates;
key generation unit;
55.
Evaluation of Loop Transfer Function Based Dynamic Testing of LDOs
机译:
基于LDO的循环传递函数评估
作者:
Mehmet Ince
;
Ender Yilmaz
;
Jae Woong Jeong
;
LeRoy Winemberg
;
Sule Ozev
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
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2017年
关键词:
Evaluation;
Loop Transfer Function;
Dynamic Testing;
56.
Physical-aware Diagnosis of Multiple Interconnect Defects
机译:
物理意识诊断多互连缺陷
作者:
Po-Hao Chen
;
Chi-Lin Lee
;
Jing-Yu Chen
;
Po-Wei Chen
;
James Chien-Mo Li
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
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2017年
关键词:
Physical-aware Diagnosis;
multiple defects;
open;
bridging;
57.
On the effects of real time and contiguous measurement with a digital temperature and voltage sensor
机译:
在数字温度和电压传感器的实时和连续测量的影响
作者:
Yousuke Miyake
;
Yasuo Sato
;
Seiji Kajihara Kyushu
会议名称:
《International Test Conference in Asia》
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2017年
关键词:
Temperature sensor;
Voltage sensor;
Ring Oscillator;
Fully digital design;
Field test;
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