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IEEE On-Line Testing Symposium
IEEE On-Line Testing Symposium
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1.
A Modulo p Checked Self-Checking Carry Select Adder
机译:
Modulo P检查自检携带选择加法器
作者:
V. Ocheretnij
;
M. Gossel
;
E. S. Sogomonyan
;
D. Marienfeld
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
2.
Challenges and opportunities for FPGA programmable system platforms
机译:
FPGA可编程系统平台的挑战和机遇
作者:
Bolsens I.
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
关键词:
field programmable gate arrays;
process design;
logic design;
FPGA programmable system platforms;
process technology;
architecture innovation;
deep submicron effect;
silicon;
ASIC;
processors;
field programmable gate array;
design authoring;
logic gates;
3.
Low-Cost On-Line Fault Detection Using Control Flow Assertions
机译:
使用控制流断置的低成本在线故障检测
作者:
Rajesh Venkatasubramanian
;
John P. Hayes
;
Brian T. Murray
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
4.
Radiation test methodology for SRAM-based FPGAs by using THESIC+
机译:
使用TheSIC +基于SRAM的FPGA的辐射测试方法
作者:
M. Alderighi
;
F. Casini
;
S. DAngelo
;
F. Faure
;
M. Mancini
;
S. Pastore
;
G. R. Sechi
;
R. Velazco
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
5.
Evaluation of the Quality of Testing Path Delay Faults under Restricted Input Assumption
机译:
评估受限输入假设下测试路径延迟故障的质量
作者:
Andrzej Krasniewski
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
6.
Synthesis of Low-Cost Parity-Based Partially Self-Checking Circuits
机译:
基于低成本奇偶校验的部分自检电路的合成
作者:
Kartik Mohanram
;
Egor S. Sogomonyan
;
Michael Gossel
;
Nur A. Touba
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
7.
Technology scaling trends and accelerated testing for soft errors in commercial silicon devices
机译:
商业硅装置软误差的技术缩放趋势及加速测试
作者:
Baumann R.
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
关键词:
failure analysis;
integrated circuit testing;
SRAM chips;
technology scaling trends;
accelerated testing;
soft errors;
commercial silicon devices;
soft error sensitivity;
memory components;
logic components;
integration densities;
operating voltages;
rad;
8.
A Model for Transient Fault Propagation in Combinatorial Logic
机译:
组合逻辑中瞬态故障传播模型
作者:
Martin Omana
;
Giacinto Papasso
;
Daniele Rossi
;
Cecilia Metra
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
9.
A Sense Amplifier Based Circuit for Concurrent Detection of Soft and Timing Errors in CMOS ICs
机译:
基于读出放大器的电路,用于CMOS IC中的软和定时误差的并发检测
作者:
Y. Tsiatouhas
;
S. Matakias
;
A. Arapoyanni
;
Th. Haniotakis
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
10.
An Efficient BIST scheme for High-Speed Adders
机译:
高速加加罐器的高效BIST方案
作者:
D. G. Nikolos
;
D. Nikolos
;
H. T. Verges
;
C. Efstathiou
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
11.
Foundation of Combined Datapath and Controller Self-checking Design
机译:
组合数据路径和控制器自检设计的基础
作者:
Petros Oikonomakos
;
Mark Zwolinski
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
12.
Analyzing SEU Effects in SRAM-based FPGAs
机译:
分析SRAM基于SRAM的FPGA效应
作者:
M. Violante
;
M. Ceschia
;
M. Sonza Reorda
;
A. Paccagnella
;
P. Bernardi
;
M. Rebaudengo
;
D. Bortolato
;
M. Bellato
;
P. Zambolin
;
A. Candelori
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
13.
On-Line Testable Decimation Filter Design for AMS Systems
机译:
AMS系统的在线可测试抽取滤波器设计
作者:
M. A. NAAL
;
E. SIMEU
;
S. MIR
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
关键词:
On-line testing;
Non-concurrent;
Semi-concurrent;
ΣΔ;
Decimation filters;
Analogue BIST;
14.
Crosstalk Effect Minimization for Encoded Busses
机译:
编码总线的串扰效果最小化
作者:
L. Di Silvio
;
D. Rossi
;
C. Metra
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
15.
Increasing Implementability of p-driven Threshold Checkers
机译:
增加P驱动阈值检查的可实现性
作者:
V. Varshavsky
;
I. Levin
;
V. Ostrovsky
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
16.
Fault Injection in Digital Logic Circuits at the VHDL Level
机译:
VHDL级别数字逻辑电路故障注射
作者:
S. R. Seward
;
P. K. Lala
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
17.
A Fault Injection Tool for SRAM-based FPGAs
机译:
基于SRAM的FPGA故障注入工具
作者:
M. Alderighi
;
S. DAngelo
;
M. Mancini
;
G. R. Sechi
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
18.
Power Consumption of Fault Tolerant Codes: the Active Elements
机译:
容错代码的功耗:活动元素
作者:
D. Rossi
;
V. E. S. van Dijk
;
R. P. Kleihorst
;
A. K. Nieuwland
;
C. Metra
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
19.
Control Signal Protection - A New Challenge For High Performance Processors
机译:
控制信号保护 - 高性能处理器的新挑战
作者:
M. Pflanz
;
H. T. Vierhaus
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
20.
On a Redundant Diversified Steering Angle Sensor
机译:
在冗余多元化转向角传感器上
作者:
Elmar Dilger
;
Matthias Gulbins
;
Thomas Ohnesorge
;
Bernd Straube
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
21.
Low-Cost, On-Line Software-Based Self-Testing of Embedded Processor Cores
机译:
低成本,基于在线软件的嵌入式处理器核心的自检
作者:
G. Xenoulis
;
D. Gizopoulos
;
N. Kranitis
;
A. Paschalis
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
22.
On Compaction-Based Concurrent Error Detection
机译:
基于压缩的并发错误检测
作者:
Sobeeh Almukhaizim
;
Petros Drineas
;
Yiorgos Makris
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
23.
An RT-level Concurrent Error Detection Technique for Data Dominated Systems
机译:
数据主导系统的RT级并发错误检测技术
作者:
O. Goloubeva
;
M. Sonza Reorda
;
M. Violante
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
24.
InTeRail: using existing and extra interconnects to test core-based SOCs
机译:
Interrail:使用现有和额外的互连来测试基于核心的SOC
作者:
Kagaris D.
;
Tragoudas S.
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
关键词:
automatic test pattern generation;
integrated circuit testing;
system-on-chip;
InTeRail;
SOCs;
test access mechanism;
TAM;
embedded core;
system-on chip;
core interconnect;
DFT hardware;
design-for-testability;
interconnect test rail;
test application ti;
25.
Error-Injection-Based Failure Characterization of the IEEE 1394 Bus
机译:
基于错误喷射的IEEE 1394总线的故障表征
作者:
D. J. Beauregard
;
Z. Kalbarczyk
;
R. K. Iyer
;
S. Chau
;
L. Alkalai
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
26.
On-Line Error Detecting Constant Delay Adder
机译:
在线错误检测恒定延迟加法器
作者:
Whitney J. Townsend
;
Jacob A. Abraham
;
Parag K. Lala
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
27.
Increasing implementability of /spl beta/-driven threshold checkers
机译:
增加/ SPLβ/ - 驱动阈值检查的可实现性
作者:
Varshavsky V.
;
Levin I.
;
Ostrovsky V.
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
关键词:
fault diagnosis;
CMOS integrated circuits;
CMOS logic circuits;
circuit testing;
/spl beta/-driven threshold checkers implementability;
threshold functions;
component threshold scheme stability;
defective circuits;
calibration;
majority evaluation;
speci;
28.
A Configurable Built in Current Sensor for Mixed Signal Circuit Testing
机译:
用于混合信号电路测试的电流传感器内置的可配置
作者:
Rodrigo Picos
;
Joan Font
;
Eugeni Isern
;
Miquel Roca
;
Eugenic Garcia
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
29.
Property Coverage for Quality Assessment of Fault Tolerant or Fail Safe Systems
机译:
容错或故障安全系统质量评估的物业覆盖
作者:
P. M. Goncalves
;
M. B. Santos
;
I. C. Teixeira
;
J. P. Teixeira
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
30.
Accurate and Efficient Analysis of Single Event Transients in VLSI Circuits
机译:
对VLSI电路中的单个事件瞬变进行准确有效地分析
作者:
M. Sonza Reorda
;
M. Violante
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
31.
A Watchdog Processor to Detect Data and Control Flow Errors
机译:
看门狗处理器以检测数据和控制流错误
作者:
Alfredo Benso
;
Stefano Di Carlo
;
Giorgio Di Natale
;
Paolo Prinetto
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
32.
Automatic toolset for fault tolerant design: results demonstration on a running industrial application
机译:
用于容错设计的自动工具集:结果演示运行工业应用
作者:
Alberto Manzone
;
Claudio Genta
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
33.
An Evaluation of Built-in vs. Off-chip Strategies for On-line Transient Current Testing
机译:
对在线瞬态电流测试的内置与外部策略的评估
作者:
B. Alorda
;
J. Segura
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
关键词:
Current based testing;
Transient current;
Off-chip current monitors;
Built-in current monitors;
Power grid modeling;
34.
An Improved Markov Source Design for Scan BIST
机译:
扫描BIST改进的马尔可夫源设计
作者:
Chaowen Yu
;
Wei Li
;
Sudhakar M. Reddy
;
Irith Pomeranz
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
35.
Memory Built-in Self-Repair for Nanotechnologies
机译:
内置内置自修复纳米技术
作者:
M. Nicolaidis
;
N. Achouri
;
L. Anghel
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
36.
On the Probability of Detecting Data Errors Generated by Permanent Faults Using Time Redundancy
机译:
关于使用时间冗余检测永久性故障生成的数据错误的概率
作者:
Joakim Aidemark
;
Peter Folkesson
;
Johan Karlsson
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
37.
Designing FPGA based Self-Testing Checkers for m-out-of-n Codes
机译:
设计基于FPGA的M-OUT-N-OUT-OF-NUT验证
作者:
A. Matrosova
;
V. Ostrovsky
;
I. Levin
;
K. Nikitin
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
38.
In TeRail: Using Existing and Extra Interconnects to Test Core-Based SOCs
机译:
在Terail中:使用现有和额外的互连来测试基于核心的SoC
作者:
Dimitri Kagaris
;
Spyros Tragoudas
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
39.
Perspectives of Combining on-line and off-line Test Technology for Dependable Systems on a Chip
机译:
芯片上可靠系统结合在线和离线测试技术的透视图
作者:
Christian Galke
;
Marcus Grabow
;
Heinrich Theodor Vierhaus
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
40.
A Design Method for Embedded Self-Testing t-UED and BUED Code Checkers
机译:
嵌入式自我测试T-UED和BUED代码检查的设计方法
作者:
Steffen Tarnick
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
41.
The positive effect on IC yield of embedded Fault Tolerance for SEUs
机译:
SEU嵌入式容错IC产量的积极影响
作者:
Andre K. Nieuwland
;
Richard P. Kleihorst
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
42.
FAUST: FAUlt-injection Script-based Tool
机译:
浮士电:基于故障注射脚本的工具
作者:
A. BENSO
;
S. Di CARLO
;
G. Di NATALE
;
P. PRINETTO
;
I. SOLCIA
;
L. TAGLIAFERRI
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
43.
Separate Dual-Transistor Registers - A Circuit Solution for On-line Testing of Transient Error in UDSM-IC
机译:
单独的双晶体管寄存器 - 用于UDSM-IC中瞬态误差的在线测试的电路解决方案
作者:
Yi Zhao
;
Sujit Dey
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
44.
Defect Analysis for Delay-Fault BIST in FPGAs
机译:
FPGA中延迟故障BIST的缺陷分析
作者:
P. Girard
;
O. Heron
;
S. Pravossoudovitch
;
M. Renovell
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
45.
INTRODUCING SW-BASED FAULT HANDLING MECHANISMS TO COPE WITH EMI IN EMBEDDED ELECTRONICS: ARE THEY A GOOD REMEDY?
机译:
介绍基于SW的故障处理机制,以应对嵌入式电子产品的EMI:它们是一个很好的补救措施吗?
作者:
F. Vargas
;
D. Brum
;
D. Prestes
;
L. Bolzani
;
E. Shod
;
M. Reorda
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
46.
Analysis of Bit Transition Count for EDAC Encoded FSM
机译:
EDAC编码FSM的位转换计数分析
作者:
N. Venkateswaran
;
V. Balaji
;
V. Mahalingam
;
T. L. Rajaprabhu
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
47.
An improved source design for scan BIST
机译:
改进扫描源设计
作者:
Chaowen Yu
;
Wei LI
;
Reddy S.M.
;
Pomeranz I.
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
关键词:
built-in self test;
integrated circuit testing;
Markov processes;
integrated circuit design;
source design;
scan BIST;
built-in self-test;
Markov sources;
fault efficiency;
area overhead;
pseudorandom pattern generators;
consecutive bits;
test vectors;
t;
48.
Perspectives of combining online and offline test technology for dependable systems on a chip
机译:
将在线和离线测试技术结合在芯片上可靠系统的透视图
作者:
Galke C.
;
Grabow M.
;
Vierhaus H.T.
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
关键词:
integrated circuit testing;
built-in self test;
logic testing;
system-on-chip;
silicon;
elemental semiconductors;
radiation hardening (electronics);
integrated circuit reliability;
online test technology;
offline test technology;
systems on a chip;
silic;
49.
An Analog Checker With Input-Relative Tolerance for Duplicate Signals
机译:
具有输入相对公差的模拟检查器,用于重复信号
作者:
Haralampos-G. D. Stratigopoulos
;
Yiorgos Makris
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
50.
A Methodology for Test Replacement Solutions of Obsolete Processors
机译:
过时处理器测试替换解决方案的方法
作者:
R. Velazco
;
L. Anghel
;
S. Saleh
会议名称:
《IEEE On-Line Testing Symposium》
|
2003年
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