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Workshop on RTL and high level testing
Workshop on RTL and high level testing
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1.
Compaction Network design for Feedback-Free MISR
机译:
压缩网络设计,用于无反馈MISR
作者:
Yinhe Han
;
Huawei Li
;
Xiaowei Li
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
2.
A Fast Fault Diagnosis Algorithm for Crossed Cube Connected Multicomputer Systems under the Maeng-Malek Model
机译:
毛国马球模型下跨越多维数据集多电脑系统的快速故障诊断算法
作者:
Xiaofan Yang
;
Graham M. Megson
;
David J. Evans
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
关键词:
system-level fault diagnosis;
comparison model;
diagnosis algorithm;
crossed cube;
3.
A RTL-level BIST Structure for a Remote Sensing Satellite ASIC
机译:
用于遥感卫星ASIC的RTL级BIST结构
作者:
Xiaodong Xie
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
4.
A System-Level Fault Diagnosis Algorithm Based on Preprocessing and Parallel Hopfield Neural Network
机译:
一种基于预处理和并行Hopfield神经网络的系统级故障诊断算法
作者:
Xiaofan Yang
;
Lijun Zhao
;
Graham M. Megson
;
David J. Evans
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
关键词:
system-level fault diagnosis;
probabilisticdiagnosis algorithm;
parallel hopfield neural network;
5.
On Test Data Compression Using Selective Don't-Care Identification
机译:
在测试数据压缩时,使用选择性不关注识别
作者:
Terumine Hayashi
;
Haruna Yoshioka
;
Tsuyoshi Shinogi
;
Hidehiko
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
关键词:
test data compression;
multiple scan structure;
don't-care identification;
test cost reduction;
6.
Fast and Efficient Test Point Selection Algorithm for Scan-Based BIST
机译:
基于扫描的BIST的快速高效测试点选择算法
作者:
He Hu
;
Sun Yihe
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
7.
A WGL Verification Approach Based on Polynomial Symbolic Manipulations
机译:
基于多项式符号操纵的WGL验证方法
作者:
Zhen-Jun Du
;
Guang-Sheng Ma
;
Gang Feng
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
关键词:
WGL;
polynomial symbolic manipulations;
verification;
8.
Safety Checking By Problem Solving
机译:
问题解决安全检查
作者:
Weimin Wu
;
Di Wang
;
Weiwei Zheng
;
Jinian Bian
;
Ming Zhu
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
9.
VRM: Verilog RTL Model for High-Level Testing
机译:
VRM:Verilog RTL模型用于高级测试
作者:
Li Shen
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
关键词:
high-level testing;
verilog;
RTL;
circuit modeling;
logic simulation;
10.
Random Pattern Testability of Circuits Derived from BDDs
机译:
来自BDD的电路随机图案耐用性
作者:
Junhao Shi
;
Goerschwin Fey
;
Rolf Drechsler
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
11.
Controller Testing Using Combination of GAs and Symbolic Methods
机译:
使用气体和符号方法的组合进行控制器测试
作者:
Reihaneh Saberi
;
Elham Safi
;
Zohreh Karimi
;
Zainalabedin Navabi
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
12.
Preliminary Study Towards the EMI-Induced Bit-Flips Prediction for COTS Microprocessors
机译:
初步研究对COTS微处理器的EMI诱导的位翻转预测
作者:
F. Vargas
;
D. C. Lopes
;
D. B. Brum
;
J. Chaves da Silva
;
D. Barros Jr.
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
关键词:
electromagnetic interference (EMI);
EMI-induced fault modeling and bit-flips prediction;
COTS microprocessors;
13.
A Novel Register Allocation Method For Testability Improvement
机译:
一种用于可测试性改进的新型寄存器分配方法
作者:
Saeed Safari
;
Hadi Esmaeilzadeh
;
Amir Hossein Jahangir
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
关键词:
high-level synthesis for testability;
register allocation;
conflict graph;
weighted graph coloring;
simulated annealing;
14.
An Approach to Non-Scan Design for Delay Fault Testability of Controllers
机译:
控制器延迟故障可测试性的非扫描设计方法
作者:
Tsuyoshi Iwagaki
;
Satoshi Ohtake
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
15.
Testing System-On-Chip by Window Comparator of Cores' Test Output Voltages
机译:
通过窗口比较器测试芯片上的芯片测试输出电压
作者:
K. Y. Ko
;
Mike W. T. Wong
;
Y.S. Lee
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
16.
A Test Access Mechanism Interfacing with IEEE 1149.1 TAP for Testing IP Based System-on-a-Chip
机译:
与IEEE 1149.1的测试访问机制接口连接用于测试基于IP的IP系统的芯片
作者:
WANG Yong-sheng
;
XIAO Li-yi
;
YU Ming-yan
;
WANG Jin-xiang
;
YE Yi-zheng
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
17.
Efficient RT-ievel Fault Diagnosis Methodology
机译:
高效的RT-IEVEL故障诊断方法
作者:
Ozgur Sinanoglu
;
Alex Orailoglu
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
18.
A Wiring-Aware Approach to Minimizing Built-in Self-Test Overhead
机译:
最大限度地减少内置自测开销的接线感知方法
作者:
Abdil Rashid Mohamed
;
Zebo Peng
;
Petru Eles
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
关键词:
BIST insertion;
test synthesis;
wiring area;
and simulated annealing;
19.
Verilog RTL Model Based Concurrent Fault Simulation
机译:
基于Verilog RTL模型的并发故障模拟
作者:
Li Shen
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
关键词:
high-level testing;
RTL;
circuit modeling;
fault model;
concurrent fault simulation;
20.
A Genetic Testing Framework for Self-Testing of Microprocessor Cores
机译:
微处理器核心测试的基因检测框架
作者:
Elham Safi
;
Reihaneh Saberi
;
Saeed Shamshiri
;
Zainalabedin Navabi
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
21.
An Improvement of a Test Plan Generation Algorithm for Hierarchical Test Based on Strong Testability
机译:
基于强可测试性的分层测试测试计划生成算法的改进
作者:
Tomoo Inoue
;
Naoki Okamoto
;
Hideyuki Ichihara
;
Toshinori Hosokawa
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
关键词:
hierarchical test generation;
strong testability;
datapath;
test plan;
22.
Property Classification for Hybrid Verification1
机译:
混合验证的财产分类1
作者:
Ming Zhu
;
Jinian Bian
;
Weimin Wu
;
Hongxi Xue
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
23.
A New Low-Power Scan-Path Architecture
机译:
新的低功耗扫描路径架构
作者:
E. Atoofian
;
S. Hatami
;
Z. Navabi
;
M. Alisafaee
;
A. Afzali-Kusha
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
24.
Error Detection and Correction in VLSI Systems by Complementary logic and Alternating-Retry
机译:
互补逻辑和交替重试,VLSI系统中的错误检测和校正
作者:
Jian-Hui Jiang
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
25.
On the Non-scan BIST Schemes under Power Constraints for RTL Data Paths
机译:
在RTL数据路径的功率约束下的非扫描BIST方案上
作者:
Zhiqiang You
;
Michiko Inoue
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
26.
Testability Analysis Algorithm of Behavioral VHDL Description
机译:
行为VHDL描述的可测试性分析算法
作者:
Zhang Shengbing
;
Gao Deyuan
;
Li Ying
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
27.
Test Length Minimization under Power Constraints for Combinational Circuits
机译:
在组合电路的功率约束下测试长度最小化
作者:
Hao-Wu
;
Michiko Inoue
;
Zhiqiang You
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
28.
ACSAT: A SAT Solver via Solving TSP by ACO
机译:
ACSAT:通过ACO解决TSP的SAT求解器
作者:
Jianzhou Zhao
;
Jinian Bian
;
Weimin Wu
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
29.
A High-Level Testing Generation Method Based on Verilog RTL Model
机译:
基于Verilog RTL模型的高级测试生成方法
作者:
Yan Gao
;
Li Shen
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
关键词:
high-level testing;
RT-level;
verilog;
30.
A Novel Partition-based Technique to Reduce Power, Time and Data Volume in Scan-based Test
机译:
基于分区的基于分区的技术,以降低基于扫描的测试中的功率,时间和数据量
作者:
Mohammad Hosseinabady
;
Shervin Sharifi
;
Zainalabedin Navabi
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
31.
A New Strategy and Design for Mixed Signal SOC Testing
机译:
混合信号SOC测试的新策略与设计
作者:
C.V.Guru Rao
;
Debdeep Mukhopadhyay
;
D.Roy Chowdhury
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
32.
On Complete Deterministic Testing Logic in BIST for High Availability Systems
机译:
关于高可用性系统BIST的完整确定性测试逻辑
作者:
V.Mahalingam
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
关键词:
built in self test (BIST);
law power design;
finite state machine (FSM);
deterministic testing;
33.
A Sufficient Condition for Pessimistically t/t Diagnosable Systems with Application to Cube-Connected Systems
机译:
具有应用于立方连接系统的悲观T / T诊断系统的足够条件
作者:
Xiaofan Yang
;
Graham M. Megson
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
关键词:
system-level fault diagnosis;
pessimistic diagnosability;
cube-connected system;
34.
Combining SystemC with Unit Test for System Level Verification of SoC
机译:
将Systemc与单元测试合并为SOC的系统级验证
作者:
Yan Chen
;
Bo Zhou
;
Weidong Qiu
;
Chenglian Peng
会议名称:
《Workshop on RTL and high level testing》
|
2003年
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