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Denver X-ray conference

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1.INFLUENCE OF TEXTURE AND ANISOTROPY ON MICROSTRESSES AND FLOW BEHAVIOR IN A DUPLEX STAINLESS STEEL DURING LOADING

机译：纹理和各向异性对加载过程中双工不锈钢微带和流动性的影响
- 作者：J. Johansson Moverare;M. Oden
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
2.X-RAY MICROBEAM DIFFRACTION COMPARISON OF MESOTEXTURES IN PLATES OF THREE ALUMINUM ALLOYS

机译：三种铝合金平板中介质纹理的X射线微观衍射比较
- 作者：K. Ignatiev;Z.U. Rek;S.R.Stock
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
3.COMPLETE POLE FIGURE MEASUREMENT USING ONLY BACK- REFLECTION METHOD WITH IMAGING PLATE AND APPLICATION TO THREE-DIMENSIONAL ANALYSIS OF TEXTURE

机译：仅使用具有成像板的背反射方法的完整极值图测量，并应用于纹理的三维分析
- 作者：{missing}
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
4.FOCUSING CRYSTAL VON HAMOS SPECTROMETERS FOR XRF APPLICATIONS

机译：聚焦水晶von Hamos光谱仪XRF应用
- 作者：D. Clark Turner;Larry V. Knight;A. Reyes-Mena;Paul W. Moody;Hans K. Pew;James D. Phillips;Alexander P. Shevelko;Sergei Voronov;Oleg F. Yakushev
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
5.XRD RAPID SCREENING SYSTEM FOR COMBINATORIAL CHEMISTRY

机译：组合化学的XRD快速筛选系统
- 作者：Bob B. He;John Anzelmo;Peter LaPuma;Uwe Preckwinkel;Kingsley Smith
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
6.AN INVESTIGATION OF GIANT MAGNETORESISTANCE (GMR) SPIN- VALVE STRUCTURES USING X-RAY DIFFRACTION AND REFLECTIVITY

机译：使用X射线衍射和反射率的巨磁阻（GMR）旋转阀结构的研究
- 作者：Elliot Brown;Matthew Wormington
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
7.USING A CHARGE-COUPLED DEVICE (CCD) TO GATHER X-RAY FLUORESCENCE (XRF)AND X-RAY DIFFRACTION (XRD) INFORMATION SIMULTANEOUSLY

机译：使用电荷耦合器件（CCD）以同时收集X射线荧光（XRF）和X射线衍射（XRD）信息
- 作者：A. Reyes-Mena;S. Cornaby;H. K. Pew;P. W. Moody;T. Hughes;A. Stradling;L. V. Knight
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
8.WHITE AND MONOCHROMATIC X-RAY MICROBEAM INVESTIGATIONS OF MATERIALS MICROSTRUCTURE AND TRI-AXIAL STRESS

机译：白色和单色X射线微磁束研究材料微观结构和三轴应力
- 作者：B.C. Larson;G.E. Ice;N. Tamura;W. Yang;J. Z. Tischler;J.-S. Chung;J. D. Budai;K.-S. Chung;H. Weiland;W.P. Lowe
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
9.Study on Evaluation of Residual Phase Stress of the Dual Phase Stainless Steel

机译：双相不锈钢残留相应力评价研究
- 作者：Hajime Hirose;Hideaki Hashi;Toshihiko Sasaki
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
10.APPLYING THE RIETVELD METHOD TO MINERAL FILLED POLYPHENYLENE SULFIDE COMPOUNDS

机译：将RIETVELD方法应用于矿物填充的聚苯硫化物化合物
- 作者：R. W. Morton;D. E. Simon;J. F. Geibel;J. J. Gislason;R. L. Heald
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
11.Study on Fracture Analysis of (α+γ) Dual Phase Stainless Steel Using X-ray Diffraction

机译：使用X射线衍射（α+γ）双相不锈钢断裂分析研究
- 作者：Hajime HIROSE;Toshihiko SASAKI;Masumi SAKA
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
12.A COMPACT X-RAY SPECTROMETER WITH MULTI-CAPILLARY X-RAY LENS AND FLAT CRYSTALS

机译：具有多毛细管X射线镜片和扁平晶体的紧凑型X射线光谱仪
- 作者：Hiroyoshi SOEJIMA;Tadashi NARUSAWA
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
13.WAVELET REPRESENTATION OF DIFFRACTION POLE FIGURES

机译：衍射极值的小波表示
- 作者：Helmut Schaeben;J(u)rgen Prestin;Daniel Potts
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
14.COMPOSITION DEPENDENCE OF X-RAY ELASTIC CONSTANTS OF TITANIUM ALUMINIDE INTERMATALLIC COMPOUNDS

机译：钛铝化合物硅化钛化合物X射线弹性常数的构成依赖性
- 作者：Takashi Kondoh;Tokimasa Goto;Toshihiko Sasaki;Yukio Hirose
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
15.COMPARISON OF THREE UNIVERSAL CURVES FOR THE ESCAPE PROBABILITY OF X-RAY EXCITED ELECTRONS II. EVALUATION OF LAYER THICKNESSES AS DETERMINED BY TOTAL ELECTRON YIELD (TEY)

机译：三种通用曲线对X射线激发电子II的逃逸概率的比较。通过电子收率（Tey）确定的层厚度评价
- 作者：Horst Ebel;Robert Svagera;Maria F. Ebel;Wolfgang S.M.Werner
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
16.AN INSTRUMENT FOR RAPID TEXTURE MAPPING ON 200 MM WAFERS

机译：200 mm晶圆上快速纹理映射的仪器
- 作者：K. J. Kozaczek;R. I. Martin;D. S. Kurtz;P. R. Moran;S. P. OLeary;R. L. Martin
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
17.ANALYTICAL MICRO X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

机译：分析微X射线荧光光谱仪
- 作者：William Chang;Jonathan Kerner;Edward Franco
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
18.PROGRESS IN X-RAY DIFFRACTION OF RESIDUAL MACRO-STRESS DETERMINATION RELATED TO SURFACE LAYER GRADIENTS AND ANISOTROPY

机译：与表面层梯度和各向异性相关的残余宏应激测定的X射线衍射进展
- 作者：S.J. Skrzypek;A. Baczma(n)ski
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
19.A CRITICAL EVALUATION OF LINE OVERLAP CORRECTIONS IN X-RAY SPECTROMETRY

机译：X射线光谱校正线重叠校正的关键评估
- 作者：Larry E. Creasy
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
20.X-RAY STRESS DETERMINATION OF COLD-ROLLED STEEL SHEET USING ORIENTATION DISTRIBUTION FUNCTION

机译：X射线应力测定冷轧钢板使用方向分布函数
- 作者：Shouichi Ejiri;Toshihiko Sasaki;Hirofumi Inoue;Yoshio Shirasuna;Yukio Hirose
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
21.RESIDUAL STRESSES IN TUNGSTEN / BULK METALLIC GLASS COMPOSITES

机译：钨/块状金属玻璃复合材料中的残余应力
- 作者：Danut Dragoi;Ersan (U)st(u)ndag;Bjorn Clausen;Mark A. M. Bourkc
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
22.AN EVALUATION OF XRD AND XRF METHODS USED IN AN ALUMINIUM BATH ANALYSIS.

机译：铝浴分析中使用的XRD和XRF方法的评价。
- 作者：Sergei Kirik;Igor Yakimov
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
23.IN SITU X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS OF DISORDER AND STRAIN IN ION IMPLANTED CERAMIC THIN FILMS

机译：原位X射线衍射分析离子植入陶瓷薄膜中的病症和菌株
- 作者：S. Grigull;M. Ishimaru;M. Nastasi;C. A. Zorman;M. Mehregany
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
24.FUSED BEADS FROM METAL DRILLINGS AND CHIPS EXAMPLE OF APPLICATION TO TIN-LEAD ALLOYS

机译：从金属钻孔和芯片的融合珠子在锡铅合金的应用示例
- 作者：Jimmy Blanchette;Fernand Claisse
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
25.MICRO-DIFFRACTION WITH MONO-CAPILLARIES

机译：用单毛细管微衍射
- 作者：M.J. Fransen;J.H.A. Vasterink;J. te Nijenhuis
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
26.DETERMINATION OF THE ELECTRON DENSITY DISTRIBUTION IN TETRAGONAL BaTiO_3 USING THE MAXIMUM ENTROPY METHOD

机译：使用最大熵法测定四边形BATIO_3中的电子密度分布
- 作者：Jimpei Harada;Makoto Sakata;Yukikuni Akishige;Keiko Yugami;Tamotsu Nakata;HiroshiTanakac;Eiji Nishibori;Yoshihiro Kuroiwa;Masaki Takata
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
27.THE CNESTEN EDXRF SPECTROMETERS - SENSITIVITY, CALIBRATION AND APPLICATION TO GEOCHEMISTRY

机译：CNESTEN EDXRF光谱仪 - 地球化学的灵敏度，校准和应用
- 作者：A. Rahmani;M. Bounakhla;F. Benya(i)ch;A. Saadane
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
28.RESIDUAL STRESSES IN Ti-SiC COMPOSITES

机译：Ti-SiC复合材料中的残余应力
- 作者：Jay C. Hanan;Danut Dragoi;Ersan (U)st(u)ndag;I. Cevdet Noyan;Dean Haeffner;Peter L. Lee
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
29.INVESTIGATION OF THE REDUCTION OF NiAl_2O_4

机译：调查NIAL_2O_4的减少
- 作者：Bjorn Clausen;Ersan (U)st(u)ndag;Mark A. M. Bourke
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
30.AN X-RAY DIFFRACTION STUDY OF TRIPHENYL BASED DISCOTIC LIQUID CRYSTALS

机译：基于三苯基的盘晶液晶的X射线衍射研究
- 作者：T. N. Blanton;H.P. Chen;J. Mastrangelo;S.H. Chen
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
31.NON-DESTRUCTIVE IN-SITU REAL-TIME MEASUREMENTS OF STRUCTURAL PHASE TRANSITIONS USING NEUTRON TRANSMISSION

机译：使用中子传输的结构相变的非破坏性原位实时测量
- 作者：S. Vogel;M.A.M. Bourke;J.C. Hanan;H.-G. Priesmeyer;E. (U)st(u)ndag
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
32.An XRD Study of the Structure and Microstructure of the laboratory Synthesized Crystals of MgNb_2O_6 (MN) and PbMg_(1/3)Nb_(2/3)O_3 (PMN)

机译：MgNB_2O_6（Mn）和PBMG_（1/3）Nb_（2/3）O_3（PMN）的实验室合成晶体结构和微观结构的XRD研究
- 作者：C. O. Paiva-Santos;A. A. Cavalheiro;M. A. Zaghete;M. Cilense;J. A. Varela;M. T. Silva Giotto;Y. P. Mascarenhas
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
33.CALIBRATION OF A HIGH TEMPERATURE X-RAY DIFFRACTION STAGE BY DIFFERENTIAL THERMAL EXPANSION

机译：通过差动热膨胀校准高温X射线衍射阶段
- 作者：A.R. Drews
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
34.APPROACHING A UNIVERSAL SAMPLE PREPARATION METHOD FOR XRF ANALYSIS OF POWDER MATERIALS

机译：接近粉末材料XRF分析的通用样品制备方法
- 作者：John Anzelmo;Alexander Seyfarth;Larry Arias
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
35.X-RAY DIFFRACTION IMAGING AS A TOOL OF MESOSTRUCTURE ANALYSIS

机译：X射线衍射成像作为模拟结构分析的工具
- 作者：J. Fiala;S. N(e(me(c)ek
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
36.THE IMPORTANCE OF THE SPECIMEN DISPLACEMENT CORRECTION IN RIETVELD PATTERN FITTING WITH SYMMETRIC REFLECTION-OPTICS DIFFRACTION DATA

机译：用对称反射光学衍射数据的RIETVELD图案拟合标本位移校正的重要性
- 作者：B.H. OConnor;D.Y. Li;B.A. Hunter
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
37.AN ELASTIC CONSTANTS DATABASE AND XEC CALCULATOR FOR USE IN XRD RESIDUAL STRESS ANALYSIS

机译：用于XRD残余应力分析的弹性常数数据库和XEC计算器
- 作者：A.C. Vermeulen
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
38.X-RAY STRESS ANALYSIS IN PRESENCE OF GRADIENTS AND TEXTURE

机译：在梯度和质地存在下X射线应力分析
- 作者：Ch. Genzel
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
39.XRF'S ROLE IN THE PRODUCTION OF MAGNESIUM METAL BY THE MAGNETHERMIC METHOD

机译：XRF在镁金属生产中的作用通过镁通过镁法
- 作者：H. L. Baker
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
40.APPLICATIONS OF FAST X-RAY REFLECTOMETRY - A TOOL FOR IN-SITU THIN FILM ANALYSIS

机译：快速X射线反射仪的应用 - 一种原位薄膜分析的工具
- 作者：Dileep K Agnihotri;Richard Ortega
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
41.X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS BASED ON KNOWLEDGE SYSTEM

机译：基于知识系统的X射线荧光分析
- 作者：Liqiang Luo;Xiaojun Wu;Lu Gan;Guoli Liang;Guangzu Ma
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
42.ANALYSIS OF RESIDUAL STRESS STATE IN SPEED GEARS FOR AUTOMOTIVE VEHICLES

机译：用于汽车车辆速度齿轮的残余应力状态分析
- 作者：Vladimir Monine;Joel. R. Teod(o)sio;Tatiana Gurova
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
43.MEASUREMENT OF RESIDUAL PHASE STRESS OF THE METAL MATRIX COMPOSITE MATERIAL USING SYNCHROTRON RADIATION

机译：使用Synchrotron辐射测量金属基质复合材料的残留相应力
- 作者：Shigeki Takago;Toshihiko Sasaki;Koichi Akita;Yasuo Yoshioka;Yukio Hirose
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
44.EDXRF ANALYSIS OF PIGMENTS OF WORKS OF ART FROM THE SPAIN'S CULTURAL HERITAGE

机译：西班牙文化遗产艺术作品颜料的EDXRF分析
- 作者：J.L. Ferrero;C. Roldan;D. Juanes;C. Morera;E. Rollano
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
45.COMPARISON OF THREE UNIVERSAL CURVES FOR THE ESCAPE PROBABILITY OF X-RAY EXCITED ELECTRONS -I. THEORY

机译：三种通用曲线对X射线激发电子--I的逃逸概率的比较。理论
- 作者：Horst Ebel;Robert Svagera;Maria F. Ebel;Wolfgang S.M. Werner
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
46.The use of X-Ray Reflectometry for single film thickness analysis in GMR multilayer stacks

机译：在GMR多层叠层中使用X射线反射仪进行单膜厚度分析
- 作者：Christoph Schug;Brian York;Jan Marien;Hans-Richard Blank
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
47.Advance and Function of Geochemical Mapping Using Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometry in China

机译：地球化学映射在中国使用波长分散X射线荧光光谱法的推进与功能
- 作者：GuangZu Ma;Guoli Liang;Liqiang Luo;Xiuchun Zhan;Guohui Li
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
48.RESIDUAL STRAINS IN A PIGMA WELDED BERYLLIUM RING

机译：猪焊铍环中的残留菌株
- 作者：D. W. Brown;R. Varma;M. A. M. Bourke;P. Burgardt;S. Spooner;T. Ely;M. R. Daymond;B. Clausen
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
49.COMPARISON OF LABORATORY-BASED X-RAY MICRODIFFRACTION AND ELECTRON BACKSCATTER DIFFRACTION FOR PHASE IDENTIFICATION

机译：基于实验室的X射线微磨削和电子反向散射衍射相位鉴定的比较
- 作者：J. R. Verkouteren;J. A. Small;J. R. Michael
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
50.ENGINEERING APPLICATIONS OF X-RAY STRESS ANALYSIS

机译：X射线应力分析的工程应用
- 作者：Nikolaj Ganev;Ivo Kraus
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
51.PREDICTION OF THE CRYSTAL STRUCTURE OF BYNARY AND TERNARY INORGANIC COMPOUNDS USING SYMMETRY RESTRICTIONS AND POWDER DIFFRACTION DATA

机译：使用对称限制和粉末衍射数据预测二元和三元无机化合物的晶体结构
- 作者：Luis Reinaudi;Pablo Serra;Ezequiel P. M. Leiva;Ra(u)l E. Carbonio
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
52.STUDY AND SERVICE CONTROL OF STRESS STATE OF HIGH- STRENGTH STEEL CABLES USED IN PRESTRESSED CONCRETE STRUCTURES.

机译：预应力混凝土结构中高强度钢电缆应力状态的研究与服务控制。
- 作者：Vladimir Monine;Joel. R. Teodosio;Tatiana Gurova
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
53.TEXTURE CHARACTERIZATION IN X-RAY AND NEUTRON POWDER DIFFRACTION DATA USING THE GENERALIZED SPHERICAL-HARMONIC

机译：X射线和中子粉末衍射数据的纹理表征使用普通球状谐波
- 作者：H. Sitepu;H.J. Prask;M.D. Vaudin
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
54.EFFECT OF PRESSURE ON THE STRUCTURE OF NiAl_2O_4

机译：压力对nial_2o_4结构的影响
- 作者：Itzhak Halevy;Danut Dragoi;Ersan (U)st(u)ndag;Alan F. Yue;Elizabeth H. Arredondo;Jingzhu Hu;Maddury S. Somayazulu
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
55.AUTOMATED RIETVELD-ANALYSIS OF LARGE NUMBERS OF DATASETS

机译：自动化RIETVELD分析大量数据集
- 作者：Sven Vogel;Hans-Georg Priesmeyer
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
56.PROBLEMS BY USING PRESSED POWDER PELLETS FOR XRF ANALYSIS OF FERROSILICON ALLOYS

机译：用压制粉末粒料进行冰烷体合金XRF分析的问题
- 作者：Torkild Eivindson;0yvind Mikkelsen
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
57.CHARACTERIZATION OF X-RAY DIFFRACTION SYSTEM WITH A MICROFOCUS X-RAY SOURCE AND A POLYCAPILLARY OPTIC

机译：用微孔X射线源和多谱衍射系统的X射线衍射系统的表征及多百常光学
- 作者：Mikhail Gubarev;Ewa Ciszak;Igor Ponomarev;Walter Gibson;Marshall Joy
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
58.NUMERICAL SIMULATION OF THE X-RAY STRESS ANALYSIS TECHNIQUE IN POLYCRYSTALLINE MATERIALS WITH HEXAGONAL CRYSTAL SYMMETRY

机译：具有六边形晶体对称性多晶体材料X射线应力分析技术的数值模拟
- 作者：Harald Wern;Torsten Maas;Nico Koch
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
59.DETERMINATION OF FLUORESCENCE YIELDS USING MONOCHROMATIZED UNDULATOR RADIATION OF HIGH SPECTRAL PURITY AND WELL-KNOWN FLUX

机译：使用高光谱纯度和众所周知的通量的单色过渡辐射测定荧光产率的测定
- 作者：B.Beckhoff;G.Ulm
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
60.A CONTINUOUS ELECTRON DENSITY APPROACH IN RIETVELD ANALYSIS FOR STRUCTURE INVESTIGATIONS OF THE MESOPOROUS SILICATE MATERIALS

机译：Rietveld分析中的连续电子密度方法，用于介孔硅酸盐材料的结构研究
- 作者：L.A. Solovyov;S.D. Kirik;A.N. Shmakov;V.N. Romannikov
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
61.CALCULATION OF MAJOR CRYSTALLOGRAPHIC POLES ALONG ODF FIBERS PARALLEL TO THE GAMMA FIBER

机译：沿着与γ纤维平行的ODF纤维的主要晶体磁极的计算
- 作者：Scott H. Magner;Brent M. Wilson;Robert J. De Angelis
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
62.ANALYSIS OF PIGMENTS USED IN SCROLL PAINTINGS OF A NATIONAL TREASURE 'TALE OF GENJI' USING A PORTABLE X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

机译：使用便携式X射线荧光光谱仪分析全国宝藏“Genji的故事”滚动绘画颜料
- 作者：Keiichi SUGIHARA;Koichi TAMURA;Masao SATOH;Yasuhiro HAYAKAWA;Yoshimitsu HIRAO;Sadatoshi MIURA;Hideki YOTSUTSUJI;Yoshitaka TOKUGAWA
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
63.HIGH RESOLUTION TEXTURE ANALYSIS OF THIN BLANKET FILMS AND DISCREET TEST STRUCTURES IN SEMICONDUCTOR DEVICES

机译：半导体器件中薄橡皮布薄膜和谨慎测试结构的高分辨率纹理分析
- 作者：K. J. Kozaczek;R. I. Martin;D. S. Kurtz;P. R. Moran;S. P. OLeary;R. L. Martin
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
64.ACCURATE QUANTIFICATION OF DRIED RESIDUE THIN FILMS USING X-RAY FLUORESCENCE

机译：使用X射线荧光精确定量干燥残余物薄膜
- 作者：Christopher G. Worley;George J. Havrilla
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
65.INTELLIGENT INTERPOLATION FOR BACKGROUND SUBTRACTION - A HYBRID APPROACH FOR TRACE-ELEMENT ANALYSIS

机译：背景减法的智能插值 - 一种微量元素分析的混合方法
- 作者：Rex Couture
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年
66.STANDARD REFERENCE MATERIALTM (SRM 1990) FOR SINGLE CRYSTAL DIFFRACTOMETER ALIGNMENT

机译：单晶衍射仪对准的标准参考材料技术（SRM 1990）
- 作者：W. Wong-Ng;T. Siegrist;G. DeTitta;L. Finger;H. Evans;E. J. Gabe;G. D. Enright;J. Armstrong;M. Levenson;L.P. Cook;C.R. Hubbard
- 会议名称：《Denver X-ray conference》 | 2001年