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IEEE VLSI Test Symposium
IEEE VLSI Test Symposium
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1.
Current measurement for dynamic idd test
机译:
动态IDD测试的电流测量
作者:
Xiaoyun Sun
;
Bapiraju Vinnakota
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
2.
High-level crosstalk defect simulation for system-on-chip interconnects
机译:
用于系统片上互连的高级串扰缺陷仿真
作者:
Xiaoliang Bai
;
Sujit Dey
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
关键词:
Crosstalk;
System-on-chip;
Interconnect test;
Defect simulation;
High level;
3.
An on-chip short-time interval measurement technique for testing high-speed communication links
机译:
用于测试高速通信链路的片上的短时间间隔测量技术
作者:
Jiun-Lang Huang
;
Kwang-Ting Cheng
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
4.
Multiple scan chain design for two-pattern testing
机译:
两种模式测试的多扫描链设计
作者:
Ilia Polian
;
Bernd Becker
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
5.
Test scheduling for minimal energy consumption under power constraints
机译:
功率约束下最小能耗的测试调度
作者:
Tobias Schuele
;
Albrecht P. Stroele
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
6.
Flash memory disturbances: modeling and test
机译:
闪存干扰:建模和测试
作者:
Mohammad Gh. Mohammad
;
Kewal K. Saluja
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
7.
Test waveform shaping in mixed signal test bus by pre-equalization
机译:
通过预均衡测试混合信号测试总线中的测试波形
作者:
Yue-Tsang Chen
;
Chauchin Su
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
8.
Guaranteeing quality throughout the product life cycle: on-line test and repair to the rescue
机译:
保证整个产品生命周期的质量:在线测试和修复救援
作者:
Bottoms B.
;
Chung J.
;
Koenemann B.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
9.
Efficient transparency extraction and utilization in hierarchical test
机译:
高效透明度提取和分层测试中的利用
作者:
Yiorgos Makris
;
Vishal Patel
;
Alex Orailoglu
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
10.
Novel spectral methods for built-in self-test in a system-on-a-chip environment
机译:
用于芯片系统环境中内置自检的新型光谱方法
作者:
Ashish Giani
;
Shuo Sheng
;
Michael S. Hsiao
;
Vishwani D. Agrawal
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
11.
Efficient neighborhood pattern-sensitive fault test algorithms for semiconductor memories
机译:
半导体存储器的高效邻域图案敏感故障测试算法
作者:
Kuo-Liang Cheng
;
Ming-Fu Tsai
;
Cheng-Wen Wu
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
12.
Early error detection in systems-on-chip for fault-tolerance and at-speed debugging
机译:
用于容错和速度调试的片上系统的早期错误检测
作者:
E. S. Sogomonyan
;
A. Morosov
;
M. Gossel
;
A. Singh
;
J. Rzeha
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
13.
On the use of fault dominance in n-detection test generation
机译:
关于在N检测试验中使用故障优势的影响
作者:
Irith Pomeranz
;
Sudhakar M. Reddy
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
14.
Testable sequential circuit design: a partition and resynthesis approach
机译:
可测试顺序电路设计:分区和重新合成方法
作者:
Richard M. Chou
;
Kewal K. Saluja
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
15.
Embedded-software-based approach to testing crosstalk-induced faults at on-chip buses
机译:
基于软件的嵌入式软件方法来测试芯片诱导的芯片公交车的故障
作者:
Wei-Cheng La
;
Jing-Reng Huang
;
Kwang-Ting Cheng
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
16.
Precedence-based, preemptive, and power-constrained test scheduling for system-on-a-chip
机译:
基于优先的基于,替代和电源限制测试系统,用于系统上的芯片
作者:
Vikram Iyengar
;
Krishnendu Chakrabarty
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
17.
Author Index
机译:
作者索引
作者:
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
18.
Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001
机译:
诉讼19日IEEE VLSI测试研讨会。 vts 2001.
作者:
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
19.
Enabling embedded memory diagnosis via test response compression
机译:
通过测试响应压缩启用嵌入式内存诊断
作者:
John T. Chen
;
Janusz Rajski
;
Jitendra Khare
;
Omar Kebichi
;
Wojciech Maly
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
关键词:
BIST;
Diagnosis;
RAM testing;
Bitmap;
Process monitoring;
Memory repair;
20.
Design of redundant systems protected against common-mode failures
机译:
防止共模故障保护的冗余系统的设计
作者:
Subhasish Mitra
;
Edward J. McCluskey
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
21.
Scan wheel - a technique for interfacing a high speed scan-path with a slow speed tester
机译:
扫描轮 - 一种用慢速测试仪接口高速扫描路径的技术
作者:
Dilip K. Bhavsar
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
22.
A methodology for testing high-performance circuits at arbitrarily low test frequency
机译:
在任意低测试频率下测试高性能电路的方法
作者:
Muhammad Nummer
;
Manoj Sachdev
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
23.
An efficient methodology for generating optimal and uniform march tests
机译:
一种有效的方法,用于产生最佳和统一三月测试
作者:
Sultan M. Al-Harbi
;
Sandeep K. Gupta
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
24.
High-voltage stress test paradigms of analog CMOS ICs for gate-oxide reliability enhancement
机译:
用于栅极 - 氧化物可靠性增强的模拟CMOS IC的高压应力测试范例
作者:
Mohammad Athar Khalil
;
Chin-Long Wey
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
25.
Self-testable pipelined ADC with low hardware overhead
机译:
具有低硬件开销的自验证流水线ADC
作者:
Eduardo J. Peralias
;
Gloria Huertas
;
Adoracion Rueda
;
Jose L. Huertas
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
26.
A process and technology-tolerant I{sub(DDQ) method for IC diagnosis
机译:
IC诊断的过程和技术宽容I {Sub(DDQ)方法
作者:
Chintan Patel
;
Jim Plusquellic
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
27.
A modified clock scheme for a low power BIST test pattern generator
机译:
低功率BIST测试图案发生器的改进时钟方案
作者:
P. Girard
;
L. Guiller
;
C. Landrault
;
S. Pravossoudovitch
;
H. J. Wunderlich
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
28.
Compression technique for interactive BIST application
机译:
用于交互式的压缩技术是应用程序
作者:
Douglas Kay
;
Samiha Mourad
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
29.
Socillator test: a delay test scheme for embedded ICs in the boundary-scan environment
机译:
Socillator测试:边界扫描环境中嵌入式IC的延迟测试方案
作者:
Tek Jau Tan
;
Chung Len Lee
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
关键词:
Delay testing;
Embedded testing;
SOC testing;
Oscillation test;
System test;
30.
Tools for the characterization of bipolar CML testability
机译:
双极性CML可测试性表征的工具
作者:
Ginette Monte
;
Bernard Antaki
;
Serge Patenaude
;
Yvon Savaria
;
Claude Thibeault
;
Pieter Trouborst
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
关键词:
CML;
IFA;
Fault-modeling;
Automatic characterization;
31.
Breaking correlation to improve testability
机译:
断裂相关性以提高可测试性
作者:
Kelly Ockunzzi
;
Chris Papachristou
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
32.
Robust and low-cost BIST architectures for sequential fault testing in datapath multipliers
机译:
DataPath乘法器中顺序故障测试的强大和低成本BIST架构
作者:
M. Psarakis
;
D. Gizopoulos
;
A. Paschalis
;
N. Kranitis
;
Y. Zorian
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
33.
Automatic generation of diagnostic march tests
机译:
自动生成诊断课程测试
作者:
Dirk Niggemeyer
;
Elizabeth M. Rudnick
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
34.
Frequency-directed run-length (FDR) codes with application to system-on-a-chip test data compression
机译:
频率定向的运行长度(FDR)代码,应用于芯片上的系统测试数据压缩
作者:
Anshuman Chandra
;
Krishnendu Chakrabarty
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
35.
Current measurement for dynamic I/sub dd/ test
机译:
动态I / SUB DD / TEST的电流测量
作者:
Xiaoyun Sun
;
Vinnakota B.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
36.
Semi-formal test generation for a block of industrial DSP
机译:
一块工业DSP的半正式试验
作者:
Julia Dushina
;
Mike Benjamin
;
Daniel Geist
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
37.
SPIRIT: a highly robust combinational test generation algorithm
机译:
精神:一种高度稳健的组合测试生成算法
作者:
Emil Gizdarski
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
38.
Resistive opens in a class of CMOS latches: analysis and DFT
机译:
电阻在一类CMOS锁存器中打开:分析和DFT
作者:
Antonio Zenteno
;
Victor H. Champac
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
39.
RT-level fault simulation based on symbolic propagation
机译:
基于符号传播的RT级故障仿真
作者:
Ozgur Sinanoglu
;
Alex Orailoglu
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
40.
A low-cost adaptive ramp generator for analog BIST applications
机译:
用于模拟BIST应用的低成本自适应斜坡发生器
作者:
F. Azais
;
S. Bernard
;
Y. Bertrand
;
X. Michel
;
M. Renovell
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
41.
Testing of dynamic logic circuits based on charge sharing
机译:
基于充电共享的动态逻辑电路测试
作者:
Keerthi Heragu
;
Manish Sharma
;
Rahul Kundu
;
R. D. Blanton
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
42.
An evaluation of pseudo random testing for detecting real defects
机译:
检测真实缺陷的伪随机检测评价
作者:
Chao-Wen Tseng
;
Subhasish Mitra
;
Scott Davidson
;
Edward J. McCluskey
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
43.
A self-test methodology for IP cores in bus-based programmable SoCs
机译:
基于总线的可编程SoC中的IP核心的自测方法
作者:
Jing-Reng Huang
;
Madhu K. Iyer
;
Kwang-Ting Cheng
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
44.
On diagnosing path delay faults in an at-speed environment
机译:
在速度环境中诊断路径延迟故障
作者:
Ramesh C. Tekumalla
;
Srikanth Venkataraman
;
Jayabrata Ghosh-Dastidar
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
45.
Partial reset for synchronous sequential circuits using almost independent reset signals
机译:
使用几乎独立的复位信号进行同步顺序电路的部分复位
作者:
Dong Xiang
;
Yi Xu
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
46.
On improving the accuracy of multiple defect diagnosis
机译:
提高多缺陷诊断的准确性
作者:
Shi-Yu Huang
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
47.
Average leakage current estimation of CMOS logic circuits
机译:
CMOS逻辑电路的平均漏电流估计
作者:
Jose Pineda Gyvez
;
Eric van de Wetering
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
48.
Design diversity for concurrent error detection in sequential logic circuits
机译:
顺序逻辑电路中并发错误检测的设计多样性
作者:
Subhasish Mitra
;
Edward J. McCluskey
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
49.
Scan wheel-a technique for interfacing a high speed scan-path with a slow speed tester
机译:
扫描轮 - 具有慢速测试仪的高速扫描路径的技术
作者:
Bhavsar D.K.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
50.
MINVDD testing for weak CMOS ICs
机译:
弱CMOS IC的MINVDD测试
作者:
Chao-Wen Tseng
;
Ray Chen
;
Phil Nigh
;
Edward J. McCluskey
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
51.
Reducing power dissipation during test using scan chain disable
机译:
使用扫描链禁用测试期间减少功耗
作者:
Ranganathan Sankaralingam
;
Bahram Pouya
;
Nur A. Touba
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
52.
Fault equivalence identification using redundance information and static and dynamic extraction
机译:
使用冗余信息和静态和动态提取的故障等效标识
作者:
M. Enamul Amyeen
;
W. Kent Fuchs
;
Irith Pomeranz
;
Vamsi Boppana
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
53.
Hybrid BIST based on weighted pseudo-random testing: a new test resource partitioning scheme
机译:
基于加权伪随机测试的混合BIST:一种新的测试资源分区方案
作者:
Abhijit Jas
;
C. V. Krishna
;
Nur A. Touba
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
54.
Built-in-chip testing of voltage overshoots in high-speed SoCs
机译:
高速SOC中电压过冲的内置芯片测试
作者:
Amir Attarha
;
Mehrdad Nourani
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
55.
Diagnosis of tunneling opens
机译:
打开隧道的诊断
作者:
James C. -M. Li
;
E. J. McCluskey
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
56.
Design of parameterizable error-propagating space compactors for response observation
机译:
可参数化误差传播空间压实器设计,用于响应观察
作者:
A. Morosov
;
K. Chakrabarty
;
M. Gossel
;
B. Bhattacharya
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
57.
Defect oriented fault diagnosis for semiconductor memories using charge analysis: theory and experiments
机译:
使用电荷分析对半导体存储器的缺陷定向故障诊断:理论与实验
作者:
I. de Paul
;
M. Rosales
;
B. Alorda
;
J. Segura
;
C. Hawkins
;
J. Soden
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
58.
Electrically induced stimuli for MEMS self-test
机译:
MEMS自检的电诱导刺激
作者:
Benoit Charlot
;
Salvador Mir
;
Fabien Parrain
;
Bernard Courtois
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
59.
A geometric-primitives-based compression scheme for testing systems-on-a-chip
机译:
基于几何基元的压缩方案,用于测试芯片系统
作者:
Aiman El-Maleh
;
Saif Al Zahir
;
Esam Khan
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
60.
Test generation for maximizing ground bounce for internal circuitry with reconvergent fan-outs
机译:
用于最大化地面反弹的内部电路的试验生成,具有重新试验扇出
作者:
Yi-Shing Chang
;
Sandeep Gupta
;
Melvin Breuer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
61.
A method for measuring the cycle-to-cycle period jitter of high-frequency clock signals
机译:
一种测量高频时钟信号周期到循环周期抖动的方法
作者:
Takahiro J. Yamaguchi
;
Mani Soma
;
David Halter
;
Rajesh Raina
;
Jim Nissen
;
Masahiro Ishida
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
62.
Analysis of testing methodologies for custom designs in PowerPC microprocessor
机译:
PowerPC微处理器定制设计检测方法分析
作者:
Magdy S. Abadir
;
JuHong Zhu
;
Li-C. Wang
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
63.
Burn-in failures and local region yield: an integrated yield-reliability model
机译:
燃烧失败和局部地区产量:综合产量可靠性模型
作者:
Thomas S. Barnett
;
Adit D. Singh
;
Victor P. Nelson
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2001年
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