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Asian Test Symposium
Asian Test Symposium
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1.
Universal test complexity of field-programmable gate arrays
机译:
现场可编程门阵列的通用测试复杂性
作者:
Tomoo Inoue
;
Hideo Fujiwara
;
Hiroyuki Michinishi
;
Tokumi Yokohira
;
Takuji Okamoto
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
2.
Low power design and its testability
机译:
低功耗设计及其可测试性
作者:
Hiroaki Ueda
;
Kozo Kinoshita
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
关键词:
CMOS circuit;
Low power design;
Testability;
Transduction method;
3.
Software transformations for sequential test generation
机译:
顺序测试生成的软件转换
作者:
Arun Balakrishnan
;
Srimat T. Chakradhar
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
4.
A new framework for static timing analysis, incremental timing refinement, and timing simulation
机译:
静态定时分析,增量时序细化和定时仿真的新框架
作者:
Liang-Chi Chen
;
Sandeep K. Gupta
;
Melvin A. Breuer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
5.
A two-phase fault simulation scheme for sequential circuits
机译:
顺序电路的两相故障仿真方案
作者:
Wen Ching Wu
;
Chung Len Lee
;
Jwu E. Chen
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
6.
An efficient compact test generator for I{sub}(DDQ) testing
机译:
用于I {SUB}(DDQ)测试的高效紧凑的测试发生器
作者:
Hisashi Kondo
;
Kwang-Ting Cheng
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
7.
On the complexity of universal fault diagnosis for look-up table FPGAs
机译:
关于查找表FPGA通用故障诊断的复杂性
作者:
Tomoo Inoue
;
Satoshi Miyazaki
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
8.
A consistent scan design system for large-scale ASICs
机译:
大型Asics的一致扫描设计系统
作者:
Yoshihiro Konno
;
Kazushi Nakamura
;
Tatsushige Bitoh
;
Koji Saga
;
Seiken Yano
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
9.
Fast hierarchical test path construction for DFT-free controller-datapath circuits
机译:
无DFT的控制器-ATAPATH电路的快速分层测试路径施工
作者:
Yiorgos Makris
;
Jamison Collins
;
Alex Orailoglu
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
10.
Design of random pattern testable floating point adders
机译:
随机图案可测试浮点添加剂的设计
作者:
J. Rajski
;
J. Tyszer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
11.
On properties and implementation of inverting ALSC for use in built-in self-testing
机译:
内置自检中使用反相ALSC的性能与实现
作者:
Kiyoshi Furuya
;
Poh Yong Koh
;
Edward J. McCluskey
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
关键词:
Built-in self-test;
Two-pattern test;
Autonomous linear sequential circuit (ALSC);
12.
FaultMaxx: a perturbation based fault modeling and simulation for mixed-signal circuits
机译:
FaultMaxx:混合信号电路的基于扰动的故障建模与仿真
作者:
Naim Ben-Hamida
;
Khaled Saab
;
David Marche
;
Bozena Kaminska
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
13.
Test cycle count reduction in a parallel scan BIST environment
机译:
测试循环计数在并行扫描BIST环境中减少
作者:
Bechir Ayari
;
Prab Varma
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
14.
Accelerated test pattern generators for mixed-mode BIST environments
机译:
混合模式BIST环境加速测试图案发生器
作者:
Wei-Lun Wang
;
Kuen-Jong Lee
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
15.
A ring architecture strategy for BIST test pattern generation
机译:
BIST测试模式生成的环形建筑策略
作者:
C. Fagot
;
O. Gascuel
;
P. Girard
;
C. Landrault
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
16.
A global BIST methodology
机译:
全球是方法
作者:
T. Gheewala
;
H. Sucar
;
P. Varma
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
17.
An approach to design-for-testability for memory embedding logic LSIs
机译:
用于内存嵌入逻辑LSIS的可测试性的方法
作者:
Kazumi Hatayama
;
Terumine Hayashi
;
Masahiro Takakura
;
Takeshi Suzuki
;
Satoshi Michishita
;
Hiroyuki Satoh
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
18.
A design-for-test technique for multi-stage analog circuits
机译:
多级模拟电路的测试技术
作者:
M. Renovell
;
F. Azais
;
Y. Bertrand
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
19.
High resolution CD-SEM system
机译:
高分辨率CD-SEM系统
作者:
Yoichi Ose
;
Makoto Ezumi
;
Hideo Todokoro
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
20.
Efficiency improvements for multiple fault diagnosis of combinational circuits
机译:
组合电路多重故障诊断的效率改进
作者:
Nobuhiro Yanagida
;
Hiroshi Takahashi
;
Yuzo Takamatsu
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
21.
Robust self concurrent test of linear digital systems
机译:
线性数字系统的强大自同时测试
作者:
Emmanuel Simeu
;
Ahmad Abdelhay
;
Mohammad A. Naal
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
22.
BIST TPG for combinational cluster (glue logic) interconnect testing at board level
机译:
BIST TPG用于组合集群(胶合逻辑)在板级互连测试
作者:
Chen-Huan Chiang
;
Sandeep K. Gupta
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
23.
A concurrent fault detection method for superscalar processors
机译:
超大型处理器的并发故障检测方法
作者:
Alberto Palacios Pawlovsky
;
Makoto Hanawa
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
24.
On chip weighted random patterns
机译:
在芯片加权随机图案上
作者:
Jacob Savir
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
25.
EB-testing-pad method and its evaluation by actual devices
机译:
EB-Testing-Pad方法及其实际设备的评估
作者:
Norio Kuji
;
Takako Ishihara
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
26.
Short circuit faults in state-of-the-art ADCs-are they hard or soft?
机译:
最先进的ADC中的短路故障 - 它们是否难以或柔软?
作者:
A. Lechner
;
A. Richardson
;
B. Hermes
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
27.
Redundancy identification using transitive closure
机译:
使用传递闭合的冗余识别
作者:
Vishwani D. Agrawal
;
Michael L. Bushnell
;
Qing Lin
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
28.
New DFT techniques of non-scan sequential circuits with complete fault efficiency
机译:
完全故障效率的非扫描顺序电路的新DFT技术
作者:
Debesh Kumar Das
;
Satoshi Ohtake
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
29.
A method of diagnosing logical faults in combinational circuits
机译:
一种诊断组合电路逻辑故障的方法
作者:
Koji Yamazaki
;
Teruhiko Yamada
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
30.
False-path removal using delay fault simulation
机译:
使用延迟故障仿真拆除假路径
作者:
Marwan A. Gharaybeh
;
Vishwani D. Agrawal
;
Michael L. Bushnell
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
31.
Circuit partitioning for low power BIST design with minimized peak power consumption
机译:
低功率BIST设计的电路分区,最小化峰值功耗
作者:
P. Girard
;
L. Guiller
;
C. Landrault
;
S. Pravossoudovitch
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
32.
Vector restoration using accelerated validation and refinement
机译:
矢量恢复使用加速验证和细化
作者:
Surendra K. Bommu
;
Srimat T. Chakradhar
;
Kiran B. Doreswamy
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
33.
A genetic algorithm for the computation of initialization sequences for synchronous sequential circuits
机译:
一种遗传算法,用于计算同步顺序电路的初始化序列
作者:
F. Corno
;
P. Prinetto
;
M. Rebaudengo
;
M. Sonza Reorda
;
G. Squillero
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
34.
Synthesis for testability of PLA based finite state machines
机译:
基于PLA的有限状态机的可测试性的合成
作者:
M. J. Avedillo
;
J. M. Quintana
;
J. L. Huertas
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
35.
Testing for the programming circuit of LUT-based FPGAs
机译:
基于LUT的FPGA的编程电路测试
作者:
H. Michinishi
;
T. Yokohira
;
T. Okamoto
;
T. Inoue
;
H. Fujiwara
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
36.
Test generation for crosstalk-induced faults: framework and computational results
机译:
串扰引起的故障测试生成:框架和计算结果
作者:
Wei-Yu Chen
;
Sandeep K. Gupta
;
Melvin A. Breuer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
37.
An effective methodology for mixed scan and reset design based on test generation and structure of sequential circuits
机译:
基于测试生成和顺序电路结构的混合扫描和复位设计的有效方法
作者:
Hsing-Chung Liang
;
Chung Len Lee
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
38.
Combination of automatic test pattern generation and built-in intermediate voltage sensing for detecting CMOS bridging faults
机译:
用于检测CMOS桥接故障的自动测试模式生成和内置中间电压感应的组合
作者:
Kuen-Jong Lee
;
Jing-Jou Tang
;
Tsung-Chu Huang
;
Cheng-Liang Tsai
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
39.
Reduction of dynamic memory usage in concurrent fault simulation for synchronous sequential circuits
机译:
同步顺序电路并发故障仿真中的动态内存使用
作者:
Kyuchull Kim
;
Kewal K. Saluja
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
40.
Design for hierarchical two-pattern testability of data paths
机译:
数据路径的分层两型耐用性设计
作者:
Md. Altaf-Ul-Amin
;
Satoshi Ohtake
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
41.
Analysis and improvement of testability measure approximation algorithms
机译:
可测试性测量近似算法的分析与改进
作者:
James Bitner
;
Jawahar Jain
;
Jacob A. Abraham
;
Donald S. Fussell
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
42.
An evaluation of test generation algorithms for combinational circuits
机译:
组合电路测试生成算法的评估
作者:
Shiyi Xu
;
Tukwasibwe Justaf Frank
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
关键词:
Testability;
Genetic algorithm;
Forecasting;
Test generation;
43.
DC control and observation structures for analog circuits
机译:
模拟电路的直流控制和观察结构
作者:
Yeong-Ruey Shieh
;
Cheng-Wen Wu
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
44.
GID-testable two-dimensional sequential arrays for self-testing
机译:
盖德可测量的自检二维顺序阵列
作者:
Wei Kang Huang
;
F. Lombardi
;
Mi Lu
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
45.
Testability considerations in technology mapping
机译:
技术映射的可测试性考虑因素
作者:
Irith Pomeranz
;
Sudhakar M. Reddy
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
46.
Resource allocation and test scheduling for concurrent test of core-based SOC design
机译:
基于核心的SoC设计并发测试的资源分配与测试调度
作者:
Yu Huang
;
Wu-Tung Cheng
;
Chien-Chung Tsai
;
Nilanjan Mukherjee
;
Omer Samman
;
Yahya Zaidan
;
Sudhakar M. Reddy
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
47.
Test set partitioning and dynamic fault dictionaries for sequential circuits
机译:
测试设置分区和连续电路的动态故障词典
作者:
Paul G. Ryan
;
W. Kent Fuchs
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
48.
Test length for random testing of sequential machines application to RAMs
机译:
用于随机测试的顺序计算机应用于RAM的测试长度
作者:
Rene David
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
关键词:
Sequential machines;
RAMs;
Markov chains;
Initial state;
Random test;
49.
Theory and applications of cellular automata for synthesis of easily testable combinational logic
机译:
蜂窝自动机综合易于预测组合逻辑的理论与应用
作者:
S. Nandi
;
P. Pal Chaudhuri
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
50.
Efficient test sequence generation for localization of multiple faults in communication protocols
机译:
有效的测试序列生成,以便在通信协议中定位多个故障
作者:
Yoshiaki Kakuda
;
Hideki Yukitomo
;
Shinji Kusumoto
;
Tohru Kikuno
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
关键词:
Software testing;
Communication protocol;
Conformance test;
Fault localization;
Test sequence;
51.
March LA: a test for all linked memory faults
机译:
3月LA:对所有链接内存故障的测试
作者:
A. J. van de Goor
;
G. N. Gaydadjiev
;
V. N. Yarmolik
;
V. G. Mikitjuk
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
52.
Fanout fault analysis for digital logic circuits
机译:
数字逻辑电路的扇出故障分析
作者:
Jwu E. Chen
;
Chung Len Lee
;
Wen Zen Shen
;
Beyin Chen
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
53.
A class of sequential circuits with combinational test generation complexity under single-fault assumption
机译:
一类具有组合测试生成复杂性的顺序电路,在单故障假设下
作者:
Michiko Inoue
;
Emil Gizdarsk
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
54.
Boolean process-an analytical approach to circuit representation
机译:
布尔过程 - 电路表示的分析方法
作者:
Yinghua Min
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
关键词:
Boolean algebra;
Waveform;
Real-valued function;
Design verification;
Delay testing;
55.
Partially parallel scan chain for test length reduction by using retiming technique
机译:
部分平行扫描链通过使用重度技术进行测试长度减小
作者:
Yoshinobu Higami
;
Seiji Kajihara
;
Kozo Kinoshita
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
2001年
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