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International Symposium on Quality Electronic Design
International Symposium on Quality Electronic Design
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1.
A proposal for accurately modeling frequency-dependent on-chip interconnect impedance
机译:
准确地建模频率依赖性芯片互连阻抗的提案
作者:
Li-Fu Chang
;
Keh-Jeng Chang
;
Christophe Bianchi
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
2.
A pre-simulation measure of d.c. design-for-testability fault diagnosis quality
机译:
D.C的预仿真度量。设计设计故障诊断质量
作者:
Matthew Worsman
;
Mike W. T. Wong
;
Y. S. Lee
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
3.
Full-chip signal interconnect analysis for electromigration reliability
机译:
用于电迁移可靠性的全芯片信号互连分析
作者:
Steffen Rochel
;
N. S. Nagaraj
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
4.
Electronic process limited yield
机译:
电子过程有限的产量
作者:
Gary W. Maier
;
Shawn Smith
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
5.
On effective I/sub DDQ/ testing of low voltage CMOS circuits using leakage control techniques
机译:
在使用泄漏控制技术的低压CMOS电路的有效I / SUB DDQ /测试
作者:
Zhanping Chen
;
Liqiong Wei
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
6.
Quality memory blocks-balancing the trade-offs
机译:
质量内存块 - 平衡权衡
作者:
Prince B.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
7.
On testability of multiple precharged domino logic
机译:
关于多个预充电多米诺逻辑的可测试性
作者:
Th. Haniotakis
;
Y. Tsiatouhas
;
D. Nikolos
;
C. Efstathiou
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
8.
Low power BIST for wallace tree-based fast multipliers
机译:
基于华莱树的低功率BIST的快速乘法器
作者:
D. Bakalis
;
E. Kalligeros
;
D. Nikolos
;
H. T. Vergos
;
G. Alexiou
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
9.
Electrical characterization of signal routability and performance
机译:
信号可路由性和性能的电气表征
作者:
Mehdi M. Mechaik
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
10.
Three dimensional analysis of thermal degradation effects in FDSOI MOSFET's
机译:
FDSOI MOSFET中热劣化效应的三维分析
作者:
Kwan-Do Kim
;
Young-Kwan Park
;
Jun-Ha Lee
;
Jeong-Taek Kong
;
Hee-Sung Kang
;
Young-Wug Kim
;
Seok-Jin Kim
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
关键词:
FDSOI;
Self-heating;
Finger type;
Bar type;
11.
Measuring design quality by measuring design complexity
机译:
通过测量设计复杂性测量设计质量
作者:
Mike Keating
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
12.
Probabilistic bottom-up RTL power estimation
机译:
概率自下而向rtl功率估计
作者:
Ricardo Ferreira
;
A. -M. Trullemans
;
Jose Costa
;
Jose Monteiro
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
13.
A layout approach for electrical and physical design integration of high-performance analog circuits
机译:
高性能模拟电路的电气和物理设计集成的布局方法
作者:
Mohamed Dessouky
;
Marie-Minerve Louerat
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
14.
Enabling DIR(designing-in-reliability) through CAD capabilities
机译:
通过CAD功能启用DIR(设计可靠性)
作者:
Brad Potts
;
Ray Hokinson
;
Wonjae Kang
;
John Riley
;
David Doman
;
Frank Cano
;
Noel Durrant
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
15.
Early addressing IC and package relationship allows an overall better quality of complex SOC
机译:
早期寻址IC和包装关系允许整体更好的复杂SoC质量
作者:
Fontanelli A.
;
Arnone L.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
16.
Quality of electronic design: from architectural level to test coverage
机译:
电子设计质量:从建筑层面测试覆盖范围
作者:
O. P. Dias
;
M. B. Santos
;
J. P. Teixeira
;
J. Semiao
;
I. M. Teixeira
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
17.
Design quality and design efficiency; definitions, metrics and relevant design experiences
机译:
设计质量和设计效率;定义,指标和相关设计体验
作者:
Einar J. Aas
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
18.
Reducing power consumption of CMOS VlSI's through V{sub}DD and V{sub}TH control
机译:
降低CMOS VLSI的功耗通过V {SUB} DD和V {SUB} TH控制
作者:
Takayasu Sakurai
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
19.
Quality-driven system-on-a-chip design
机译:
质量驱动的系统上芯片设计
作者:
Lech Jozwiak
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
20.
An automated shielding algorithm and tool for dynamic circuits
机译:
一种用于动态电路的自动屏蔽算法和工具
作者:
Gin S. Yee
;
Ron Christopherson
;
Tyler Thorp
;
Ban P. Wong
;
Carl Sechen
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
21.
Internet-based virtual manufacturing: a verification tool for IC designs
机译:
基于互联网的虚拟制造:IC设计的验证工具
作者:
Wieslaw Kuzmicz
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
22.
DVDT: design for voltage drop test using onchip-voltage scan path
机译:
DVDT:使用onchip-电压扫描路径设计电压降测试
作者:
Makoto Ikeda
;
Hideyuki Aoki
;
Kunihiro Asada
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
23.
Efficient full-chip yield analysis methodology for OPC-corrected VLSI designs
机译:
OPC校正VLSI设计的高效全芯片产量分析方法
作者:
V. Axelrad
;
N. Cobb
;
M. OBrien
;
V. Boksha
;
T. Do
;
T. Donnelly
;
Y. Granik
;
E. Sahouria
;
A. Balasinski
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
24.
A reconfigurable low-power high-performance matrix multiplier design
机译:
可重新配置的低功耗高性能矩阵乘法器设计
作者:
Rong Lin
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
关键词:
Matrix multiplication;
Reconfigurable architecture;
Low-power CMOS circuits;
Parallel counter-multiplier circuits;
25.
Efficient delay calculation in presence of crosstalk
机译:
在串扰存在下有效的延迟计算
作者:
Tong Xiao
;
Malgorzata Marek-Sadowska
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
26.
Effects of package stackups on microprocessor performance
机译:
包装堆叠对微处理器性能的影响
作者:
Mehdi M. Mechaik
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
27.
A statistical model for electromigration failures
机译:
电迁移故障统计模型
作者:
Gilbert Yoh
;
Farid N. Najm
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
28.
A reliable clock tree design methodology for ASIC designs
机译:
一种可靠的时钟树设计方法为ASIC设计
作者:
Mely Chen Chi
;
Shih-Hsu Huang
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
29.
Noise safety design methodologies
机译:
噪音安全设计方法
作者:
M. Graziano
;
M. Delaurenti
;
G. Masera
;
G. Piccinini
;
M. Zamboni
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
30.
Deep sub-micron static timing analysis in presence of crosstalk
机译:
在串扰存在下深次微米静态定时分析
作者:
Peivand F. Tehrani
;
Shang Woo Chyou
;
Uma Ekambaram
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
31.
Dynamic timing analysis considering power supply noise effects
机译:
考虑电源噪声效应的动态定时分析
作者:
Yi-Min Jiang
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
32.
On effective I{sub}DDQ testing of low voltage CMOS circuits using leakage control techniques
机译:
在使用泄漏控制技术的低压CMOS电路的有效I {SUB} DDQ测试
作者:
Zhanping Chen
;
Liqiong Wei
;
Kaushik Roy
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
33.
GLACIER: a hot carrier gate level circuit characterization and simulation system for VLSI design
机译:
冰川:VLSI设计的热载波栅极电平电路表征和仿真系统
作者:
Lifeng Wu
;
Jingkun Fang
;
Hirokazu Yonezawa
;
Yoshiyuki Kawakami
;
Nobufusa Iwanishi
;
Heting Yan
;
Ping Chen
;
Alvin I-Hsien Chen
;
Norio Koike
;
Yoshifumi Okamoto
;
Chune-Sin Yeh
;
Zhihong Liu
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
34.
Extending Moore's Law through advances in semiconductor manufacturing equipment
机译:
通过半导体制造设备的进步扩展摩尔定律
作者:
Sinha A.K.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
35.
Efficient hierarchical approach to test generation for digital systems
机译:
数字系统测试生成的有效分层方法
作者:
Raimund Ubar
;
Jaan Raik
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
36.
Fixing antenna problem by dynamic diode dropping and jumper insertion
机译:
通过动态二极管滴加和跳线插入固定天线问题
作者:
Peter H. Chen
;
Sunil Malkani
;
Chun-Mou Peng
;
James Lin
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
37.
Combining advanced process technology and design for systems level integration
机译:
结合高级工艺技术和系统级集成设计
作者:
Ana Hunter
;
C. K. Lau
;
John Martin
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
38.
LEMINGS: LSI's EMI-noise analysis with gate level simulator
机译:
LEMMINGS:ISIS EMI噪声分析与闸门级仿真
作者:
Kenji Shimazaki
;
Hiroyuki Tsujikawa
;
Seijiro Kojima
;
Shouzou Hirano
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
39.
Project management for system-on-chip using multi-chip modules
机译:
使用多芯片模块的芯片系统的项目管理
作者:
Donald J. Dent
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
40.
A transition based BIST approach for passive analog circuits
机译:
基于过渡的被动模拟电路的BIST方法
作者:
Alvernon Walker
;
Parag K. Lala
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
41.
Should yield be a design objective?
机译:
应该产生设计目标吗?
作者:
Israel Koren
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
42.
An analytical model for delay and crosstalk estimation with application to decoupling
机译:
延迟和串扰估算的分析模型与解耦的应用
作者:
Murat Becer
;
Ibrahim N. Hajj
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
43.
Synthesis experiments and performance metrics for evaluating the quality of IP blocks and megacells
机译:
用于评估IP块和Megacells质量的合成实验和性能指标
作者:
Tomas Bautista
;
Antonio Nunez
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
44.
Quick on-chip self- and mutual-inductance screen
机译:
快速片上自动和互感屏幕
作者:
Shen Lin
;
Norman Chang
;
Sam Nakagawa
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
45.
Applying the OpenMORE assessment program for IP cores
机译:
应用OpenMore评估IP核心课程
作者:
Jean-Pierre Gueguen
;
Pierre Bricaud
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
46.
Overview of SiGe technology modeling and application (invited paper)
机译:
SiGe技术建模与应用概述(邀请纸)
作者:
Jiann S. Yuan
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
47.
An objective measure of digital system design quality
机译:
数字系统设计质量的客观措施
作者:
Dave Protheroe
;
Francesco Pessolano
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
48.
Achieving the quality of verification for behavioral models with minimum effort
机译:
以最小努力实现行为模型的验证质量
作者:
Tom Chen
;
Mehmet Sahinoglu
;
Anneliese Von Mayrhauser
;
Amjad Hajjar
;
Charles Anderson
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
关键词:
Behavioral model verification;
Compound poisson;
Effort-domain;
Empirical bayesian analysis;
Negative binomial distribution (NBD);
Poisson LSD;
Stopping rule;
Testing strategy;
49.
Power bus maximum voltage drop in digital VLSI circuits
机译:
数字VLSI电路的电源总线最大电压降
作者:
G. Bai
;
S. Bobba
;
I. N. Hajj
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
50.
Tool interoperability is key to improved design quality
机译:
工具互操作性是改进设计质量的关键
作者:
Richard Goldman
;
Karen Bartleson
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
51.
Peak power reduction in low power BIST
机译:
低功率BIST的峰值功率降低
作者:
Xiaodong Zhang
;
Kaushik Roy
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
关键词:
BIST synthesis;
Low power;
Testing;
Weighted random pattern generator;
52.
ESD: design for IC chip quality and reliability
机译:
ESD:IC芯片质量和可靠性设计
作者:
Charvaka Duvvury
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
53.
Design for variability in DSM technologies
机译:
DSM技术的可变性设计
作者:
Sani R. Nassif
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
54.
Author Index
机译:
作者索引
作者:
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
55.
Low power testing of VLSI circuits: problems and solutions
机译:
VLSI电路的低功耗测试:问题和解决方案
作者:
Patrick Girard
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
56.
Correct-by-design CAD enhancement for EMI and signal integrity
机译:
EMI和信号完整性的正确设计CAD增强
作者:
Erik A. McShane
;
Krishna Shenai
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
57.
Full chip thermal simulation
机译:
全芯片热仿真
作者:
Zhiping Yu
;
Dan Yergeau
;
Robert W. Dutton
;
Sam Nakagawa
;
Norman Chang
;
Shen Lin
;
Weize Xie
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
58.
Realistic worst-case modeling by performance level principal component analysis
机译:
性能级主成分分析现实最易用案例建模
作者:
Alessandra Nardi
;
Andrea Neviani
;
Carlo Guardiani
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
59.
Aliasing-free space and time compactions with limited overhead
机译:
无叠种空间和时间作品,有限的开销
作者:
Jin Ding
;
David Moloney
;
Xiaojun Wang
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
60.
Power macromodeling for a high quality RT-level power estimation
机译:
用于高质量的RT级功率估计的功率大规模
作者:
Roberto Zafalon
;
Massimo Rossello
;
Enrico Macii
;
Massimo Poncino
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
61.
Crosstalk aware static timing analysis: a two step approach
机译:
串扰意识到静态时序分析:两步方法
作者:
B. Franzini
;
C. Forzan
;
D. Pandini
;
P. Scandolara
;
A. Dal Fabbro
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
62.
An efficient rule-based OPC approach using a DRC tool for 0.18μm ASIC
机译:
一种基于高效的规则的OPC方法,使用DRC工具0.18μmAsiC
作者:
Ji-Soong Park
;
Chul-Hong Park
;
Sang-Uhk Rhie
;
Yoo-Hyon Kim
;
Moon-Hyun Yoo
;
Jeong-Taek Kong
;
Hyung-Woo Kim
;
Sun-Il Yoo
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
关键词:
CD;
OPC;
DRC;
Rule extraction;
Critical area;
63.
Early addressing IC package relationship allows an overall better quality of complex SOC
机译:
早期寻址IC和包裹关系允许整体更好的复杂SoC质量
作者:
Anna Fontanelli
;
Luigi Arnone
;
Roberto Branca
;
Giorgio Mastrorocco
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
64.
Quality of EDA CAD tools: definitions, metrics and directions
机译:
EDA CAD工具的质量:定义,指标和指示
作者:
A. H. Farrahi
;
D. J. Hathaway
;
M. Wang
;
M. Sarrafzadeh
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
65.
Quality memory blocks - balancing the trade-offs
机译:
质量内存块 - 平衡权衡
作者:
Betty Prince
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
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2000年
66.
EMI common-mode current dependence on delay skew imbalance in high speed differential transmission lines operating at 1 gigabit/second data rates
机译:
EMI共模电流依赖于在1千兆位/秒数据速率下运行的高速差分传输线中延迟偏斜的不平衡
作者:
J. L. Knighten
;
J. T. DiBene II
;
L. O. Hoeft
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
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2000年
67.
Coupling noise analysis for VLSI and ULSI circuits
机译:
VLSI和ULSI电路的耦合噪声分析
作者:
Kathirgamar Aingaran
;
Fabian Klass
;
Chin-Man Kim
;
Chaim Amir
;
Joydeep Mitra
;
Eileen You
;
Jamil Mohd
;
Sai-Keung Dong
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
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2000年
68.
Advancing customer-perceived quality in the EDA industry
机译:
推动EDA行业的客户感知质量
作者:
Giora Ben-Yaacov
;
Larry Bjork
;
Edward P. Stone
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
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2000年
69.
Design for testability in nanometer technologies; searching for quality
机译:
纳米技术的可测试性设计;寻找品质
作者:
T. W. Williams
;
Rohit Kapur
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
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2000年
70.
Transistor modeling for the VDSM era
机译:
VDSM时代的晶体管建模
作者:
Michael S. Shur
;
Tor A. Fjeldly
;
Trond Ytterdal
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2000年
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