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Asian Test Symposium
Asian Test Symposium
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1.
A parallel generation system of compact IDDQ test sets for large combinational circuits
机译:
大型组合电路紧凑型IDDQ测试集的平行生成系统
作者:
Tsuyoshi Shinogi
;
Terumine Hayashi
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
2.
Static and dynamic test sequence compaction methods for acyclic sequential circuits using a time expansion model
机译:
使用时间膨胀模型的无环顺序电路的静态和动态测试序列压实方法
作者:
Toshinori Hosokawa
;
Tomoo Inoue
;
Toshihiro Hiraoka
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
3.
A novel testing approach for safety-critical software
机译:
一种用于安全关键软件的新型测试方法
作者:
Zhongwei Xu
;
Fangmei Wu
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
4.
I/sub DDQ/ current dependency on test vectors and bridging resistance
机译:
I / SUB DDQ /电流依赖性测试向量和桥接电阻
作者:
Keshk A.
;
Miura Y.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
5.
Generating test cases for real-time software by time petri nets model
机译:
通过时间培养的Petri网模型生成实时软件的测试用例
作者:
Ian Ho
;
Jin-Cherng Lin
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
6.
I{sub}DDQ testing of input/output resources of SRAM-based FPGAs
机译:
I {Sub}基于SRAM的FPGA输入/输出资源的DDQ测试
作者:
Lan Zhao
;
D. M. H. Walker
;
Fabrizio Lombardi
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
7.
On compact test sets for multiple stuck-at faults for large circuits
机译:
在大型电路故障中的多个卡住的紧凑型测试集
作者:
Seiji Kajihara
;
Atsushi Murakami
;
Tomohisa Kaneko
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
8.
Analog metrology and stimulus selection in a noisy environment
机译:
嘈杂环境中的模拟计量和刺激选择
作者:
Chauchin Su
;
Yue-Tsang Chen
;
Chung-Len Lee
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
9.
An accurate logic threshold voltages determination model for CMOS gates to facilitate test generation and fault simulation
机译:
CMOS门的精确逻辑阈值电压确定模型,便于试验生成和故障仿真
作者:
Jing-Jou Tang
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
10.
Pattern sensitivity: a property to guide test generation for combinational circuits
机译:
模式敏感性:组合电路测试生成的属性
作者:
Irith Pomeranz
;
Sudhakar M. Reddy
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
11.
A high-level synthesis approach to partial scan design based on acyclic structure
机译:
基于无环结构的部分扫描设计的高级合成方法
作者:
Tomoya Takasaki
;
Tomoo Inoue
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
12.
Efficient test set design for analog and mixed-signal circuits and systems
机译:
用于模拟和混合信号电路和系统的高效测试集设计
作者:
Sam Huynh
;
Jinyan Zhang
;
Seongwon Kim
;
Giri Devarayanadurg
;
Mani Soma
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
13.
A fault partitioning method in parallel test generation for large scale VLSI circuits
机译:
大规模VLSI电路并行试验生成故障分区方法
作者:
Zhide Zeng
;
Jihua Chen
;
Pengxia Liu
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
关键词:
Parallel test generation;
Fault parallelism;
Fault partitioning;
Output fan-in cones;
Input fan-out cones;
Speed-up ratio;
14.
Test by distributed monitoring
机译:
通过分布式监控测试
作者:
Chenglian Peng
;
Baifeng Wu
;
Xiaoguang Sun
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
15.
Circuit partitioning for low power BIST design with minimized peak power consumption
机译:
低功率BIST设计的电路分区,最小化峰值功耗
作者:
P. Girard
;
L. Guiller
;
C. Landrault
;
S. Pravossoudovitch
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
16.
Fault (in)dependent cost estimates and conflict-directed backtracking to guide sequential circuit test generation
机译:
故障(in)依赖性成本估算和针对冲突的反向特权指导顺序电路测试生成
作者:
Konijnenburg M.
;
van der Linden H.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
17.
Accelerating test data processing
机译:
加速测试数据处理
作者:
Serge Demidenko
;
Kenneth Lever
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
18.
Research and implementation of a high speed test generation for ultra large scale combinational circuits
机译:
超大型组合电路高速试验的研究与实现
作者:
Zhide Zeng
;
Jihua Chen
;
Hefeng Cao
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
关键词:
Finite backtracking test pattern generation;
n to 1 tightly coupled integration mode;
Parallel-pattern;
Single-fault propagation;
Ultra large scale combinational circuit (ULSCC);
19.
Multiple fault diagnosis in logic circuits using EB tester and multiple/single fault simulators
机译:
EB测试仪和多个故障模拟器的逻辑电路中的多重故障诊断
作者:
Hiroshi Takahashi
;
Kwame Osei Boateng
;
Nobuhiro Yanagida
;
Yuzo Takamatsu
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
20.
How to design an environment simulator for safety critical software testing
机译:
如何设计安全关键软件测试环境模拟器
作者:
Haiying Tu
;
Fangmei Wu
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
关键词:
Simulation;
Software testing;
Black-box testing;
Safety-critical software;
Fault-injection;
Object-oriented design;
21.
A polynomial-time algorithm for power constrained testing of core based systems
机译:
基于核心系统的功率约束测试多项式时间算法
作者:
C. P. Ravikumar
;
Ashutosh Verma
;
Gaurav Chandra
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
22.
Automatic test pattern generation for improving the fault coverage of microprocessors
机译:
用于改善微处理器故障覆盖的自动测试模式
作者:
Junichi Hirase
;
Shinichi Yoshimura
;
Tomohisa Sezaki
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
23.
A new algorithm for retiming-based partial scan
机译:
一种新的基于重视部分扫描的算法
作者:
Zulan Huang
;
Yizheng Ye
;
Zhigang Mao
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
24.
Railway signaling safety-critical software testing based on dynamic decision table
机译:
基于动态决策表的铁路信号安全关键软件测试
作者:
Fangmei Wu
;
Meng Li
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
25.
I{sub}DDQ current dependency on test vectors and bridging resistance
机译:
i {sub} DDQ电流依赖性测试向量和桥接电阻
作者:
Arabi Keshk
;
Yukiya Miura
;
Kozo Kinoshita
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
26.
Minimizing the number of programming steps for diagnosis of interconnect faults in FPGAs
机译:
最小化FPGA中互联故障诊断的编程步骤数
作者:
Yinlei Yu
;
Jian Xu
;
Wei Kang Huang
;
Fabrizio Lombardi
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
关键词:
FPGA;
Fault detection;
Fault diagnosis;
27.
Author Index
机译:
作者索引
作者:
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
28.
An input control technique for power reduction in scan circuits during test application
机译:
测试应用过程中扫描电路电力降低的输入控制技术
作者:
Tsung-Chu Huang
;
Kuen-Jong Lee
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
29.
Identification of redundant crosspoint faults in sequential PLAs with fault-free hardware reset
机译:
用无故障硬件复位识别顺序PLA中的冗余交叉点故障
作者:
Teruhiko Yamada
;
Toshinori Kotake
;
Hiroshi Takahashi
;
Koji Yamazaki
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
30.
Easily path delay fault testable non - restoring cellular array dividers
机译:
易于路径延迟故障可测试无恢复蜂窝阵列分隔器
作者:
G. Sidiropoulos
;
H. T. Vergos
;
D. Nikolos
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
31.
I/sub DDQ/ testing of input/output resources of SRAM-based FPGAs
机译:
I / SUB DDQ /测试基于SRAM的FPGA的输入/输出资源
作者:
Lan Zhao
;
Walker D.M.H.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
32.
Fault simulation techniques to reduce IDDQ measurement vectors for sequential circuits
机译:
故障仿真技术减少序贯电路的IDDQ测量向量
作者:
Yoshinobu Higami
;
Yuzo Takamatsu
;
Kewal K. Saluja
;
Kozo Kinoshita
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
33.
Fault (in) dependent cost estimates and conflict-directed backtracking to guide sequential circuit test generation
机译:
故障(in)依赖性成本估算和针对冲突的反向特权指导顺序电路测试生成
作者:
Mario Konijnenburg
;
Hans van der Linden
;
Ad van de Goor
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
34.
Defining SRAM resistive defects and their simulation stimuli
机译:
定义SRAM电阻缺陷及其模拟刺激
作者:
A. J. van de Goor
;
J. E. Simonse
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
关键词:
Resistive defects;
SPICE simulation;
Simulation stimuli;
SRAM functional faults;
35.
Minimizing the number of test configurations for different FPGA families
机译:
最小化不同FPGA系列的测试配置数量
作者:
M. Renovell
;
J. M. Portal
;
J. Figueras
;
Y. Zorian
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
36.
Activation function manipulation for fault tolerant feedforward neural networks
机译:
容错函数操纵用于容错的前馈神经网络
作者:
Yasuyuki Taniguchi
;
Naotake Kamiura
;
Yutaka Hata
;
Nobuyuki Matsui
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
37.
Genetic algorithm based test generation for sequential circuits
机译:
基于遗传算法的顺序电路测试生成
作者:
Li Shen
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
38.
An effective methodology for mixed scan and reset design based on test generation and structure of sequential circuits
机译:
基于测试生成和顺序电路结构的混合扫描和复位设计的有效方法
作者:
Hsing-Chung Liang
;
Chung Len Lee
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
39.
Optimized statistical analog fault simulation
机译:
优化统计模拟故障模拟
作者:
Abdelhakim Khouas
;
Mohamed Dessouky
;
Anne Derieux
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
40.
Vector-based functional fault models for delay faults
机译:
基于矢量的功能故障模型,用于延迟故障
作者:
Irith Pomeranz
;
Sudhakar M. Reddy
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
41.
An approach to testing the nonexistence of initial state in Z specifications
机译:
一种测试Z规范中初始状态不存在的方法
作者:
Miao Huaikou
;
Gao Xiaolei
;
Liu Ling
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
关键词:
Z specifications;
States space;
Constructed function;
Constrained states space;
42.
Fault-tolerant analysis of feedback neural networks with threshold neurons
机译:
具有阈值神经元的反馈神经网络的容错分析
作者:
Tao Zhang
;
Dongcheng Hu
;
Shiyuan Yang
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
43.
A simplified method for testing the IBM pipeline partial-scan microprocessor
机译:
一种用于测试IBM管道部分扫描微处理器的简化方法
作者:
Xinghao Chen
;
Tom Snethen
;
Joe Swenton
;
Ron Walther
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
44.
A novel fault-detection technique for the parallel multipliers and dividers
机译:
一种新的平行乘法器和分隔线的故障检测技术
作者:
Chanyutt Arjhan
;
Raghvendra G. Deshmukh
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
关键词:
Parallel multiplier;
Array multiplier;
Parallel divider;
Parallel-array divider;
pf-model;
Design for testability;
Boundary scan;
Summand-generator;
Summand-counter;
Multiple faults functional testing;
45.
Practical application of automated fault diagnosis for stuck-at, bridging, and measurement condition dependent faults in fully scanned sequential circuits
机译:
自动故障诊断对完全扫描的顺序电路中的卡住,桥接和测量条件的自动故障诊断
作者:
Reisuke Shimoda
;
Takaki Yoshida
;
Masafumi Watari
;
Yasuhiro Toyota
;
Kiyokazu Nishi
;
Akira Motohara
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
46.
Test scheduling with loop folding and its application to test configurations with accumulators
机译:
用循环折叠测试调度及其应用于使用累加器测试配置
作者:
Albrecht P. Stroele
;
Frank Mayer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
47.
Fault-tolerant strategies and their design methods for application software
机译:
用于应用软件的容错策略及其设计方法
作者:
Jianhua Gao
;
Shihuang Shao
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
48.
Intelligent EB test system for automatic VLSI fault tracing
机译:
智能EB测试系统,用于自动VLSI故障跟踪
作者:
Katsuyoshi Miura
;
Koji Nakamae
;
Hiromu Fujioka
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
49.
On an effective selection of IDDQ measurement vectors for sequential circuits
机译:
关于顺序电路的IDDQ测量向量的有效选择
作者:
Hideyuki Ichihara
;
Kozo Kinoshita
;
Seiji Kajihara
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
50.
Identification of feedback bridging faults with oscillation
机译:
用振荡识别反馈桥接故障
作者:
Masaki Hashizume
;
Hiroyuki Yotsuyanagi
;
Takeomi Tamesada
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
51.
New DFT techniques of non-scan sequential circuits with complete fault efficiency
机译:
完全故障效率的非扫描顺序电路的新DFT技术
作者:
Debesh Kumar Das
;
Satoshi Ohtake
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
52.
Defect level prediction using multi-model fault coverage
机译:
使用多模型故障覆盖的缺陷级预测
作者:
Shyue-Kung Lu
;
Tsung-Ying Lee
;
Cheng-Wen Wu
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
53.
Procedure to overcome the byzantine general's problem for bridging faults in CMOS circuits
机译:
程序克服拜占庭将军在CMOS电路中桥接故障的问题
作者:
Arabi Keshk
;
Yukiya Miura
;
Kozo Kinoshita
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
54.
Failure analysis case studies using the IR-OBIRCH (infrared optical beam induced resistance CHange) method
机译:
使用IR-OBIRCH(红外光束诱导电阻变化)的失效分析案例研究
作者:
Kiyoshi Nikawa
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
55.
Investigation of Ga contamination due to analysis by dual beam FIB
机译:
采用双光束FIB分析引起的GA污染研究
作者:
Takahide Sakata
;
Toshiya Ogiwara
;
Hideyuki Takahashi
;
Tetsu Sekine
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
56.
An embedded core DFT scheme to obtain highly compressed test sets
机译:
嵌入式核心DFT方案,以获得高度压缩的测试集
作者:
Abhijit Jas
;
Kartik Mohanram
;
Nur A. Touba
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
57.
An evaluation of test generation algorithms for combinational circuits
机译:
组合电路测试生成算法的评估
作者:
Shiyi Xu
;
Tukwasibwe Justaf Frank
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
关键词:
Testability;
Genetic algorithm;
Forecasting;
Test generation;
58.
March tests for word-oriented two-port memories
机译:
3月对以字线的双端口记忆进行测试
作者:
Said Hamdioui
;
A. J. van de Goor
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
59.
A method of test generation for weakly testable data paths using test knowledge extracted from RTL description
机译:
使用RTL描述提取的测试知识进行弱可测试数据路径的测试生成方法
作者:
Satoshi Ohtake
;
Michiko Inoue
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
60.
A BIST TPG approach for interconnect testing with the IEEE 1149.1 STD
机译:
使用IEEE 1149.1 STD的互连测试的BIST TPG方法
作者:
W. Feng
;
W. K. Huang
;
F. J. Meyer
;
F. Lombardi
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
61.
Testing the logic cells and interconect resources for FPGAs
机译:
测试逻辑单元和FPGA的互连资源
作者:
Abderrahim Doumar
;
Hideo Ito
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
62.
Scan chain diagnosis using IDDQ current measurement
机译:
使用IDDQ电流测量扫描链诊断
作者:
Junichi Hirase
;
Naoki Shindou
;
Kouji Akahori
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
63.
High resolution CD-SEM system
机译:
高分辨率CD-SEM系统
作者:
Yoichi Ose
;
Makoto Ezumi
;
Hideo Todokoro
会议名称:
《Asian Test Symposium》
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1999年
64.
Scenario based integration testing for object-oriented software development
机译:
基于情景的面向对象软件开发的集成测试
作者:
Youngchul Kim
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C. Robert Carlson
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1999年
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