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Asian Test Symposium
Asian Test Symposium
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1.
Formal verification of self-testing properties of combinational circuits
机译:
组合电路自检特性的正式验证
作者:
Kawakubo K.
;
Tanaka K.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
2.
On design of fail-safe cellular arrays
机译:
故障安全蜂窝阵列设计
作者:
Kamiura N.
;
Hata Y.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
3.
Testable design and testing of MCMs based on multifrequency scan
机译:
基于多频扫描的MCMS的可测试设计与测试
作者:
Wang-Dauh Tseng
;
Kuochen Wang
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
4.
A practical implementation of dynamic testing of an AD converter
机译:
AD转换器动态测试的实际实现
作者:
Yuan Tzu Ting
;
Li Wei Chao
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
5.
AND/EXOR-based synthesis of testable KFDD-circuits with small depth
机译:
和/辐射基于耐用kfdd电路的综合,具有小深度
作者:
Hengster H.
;
Drechsler R.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
6.
A test methodology for interconnect structures of LUT-based FPGAs
机译:
基于LUT的FPGA互连结构的测试方法
作者:
Michinishi H.
;
Yokohira T.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
7.
BIST testability enhancement of system-level circuits: experience with an industrial design
机译:
BIST可测试性增强系统级电路:具有工业设计的经验
作者:
Kowen Lai
;
Papachristou C.A.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
8.
Concurrent error detection and fault location in a fast ATM switch
机译:
快速ATM交换机中的并发错误检测和故障位置
作者:
Yoon-Hwa Choi
;
Pong-Gyou Lee
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
9.
Test generation of analog switched-current circuits
机译:
模拟开关电路的测试生成
作者:
Cheng-Ping Wang
;
Chin-Long Wey
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
10.
A new scheme for the fault diagnosis of multiprocessor systems
机译:
多处理器系统故障诊断的新方案
作者:
Xiaofan Yang
;
Tinghuai Chen
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
11.
Realistic linked memory cell array faults
机译:
现实链接内存单元阵列故障
作者:
van de Goer A.J.
;
Gaydadjiev G.N.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
12.
Two modeling techniques for CMOS circuits to enhance test generation and fault simulation for bridging faults
机译:
CMOS电路的两个建模技术,增强桥接故障的试验和故障仿真
作者:
Kuen-Jong Lee
;
Jing-Jou Tang
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
13.
Easily testable data path allocation using input/output registers
机译:
使用输入/输出寄存器易于测试数据路径分配
作者:
Li-Ren Huang
;
Jing-Yang Jou
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
14.
An efficient compact test generator for I/sub DDQ/ testing
机译:
用于I / SUB DDQ /测试的高效紧凑型测试发生器
作者:
Kondo H.
;
Kwang-Ting Cheng
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
15.
Efficient multifrequency analysis of fault diagnosis in analog circuits based on large change sensitivity computation
机译:
基于大变化敏感性计算的模拟电路故障诊断有效多重分析
作者:
Tao Wei
;
Wong M.W.T.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
16.
Yield improvement by test error cancellation
机译:
通过测试错误取消产生提高
作者:
Mill-Jer Wang
;
Yen-Shung Chang
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
17.
On test generation for interconnected finite-state machines-the input sequence propagation problem
机译:
关于互联有限状态机的试验 - 输入序列传播问题
作者:
Pomeranz I.
;
Reddy S.M.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
18.
Thermal monitoring of safety-critical integrated systems
机译:
安全关键综合系统的热监控
作者:
Szekely V.
;
Rencz M.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
19.
An MISR computation algorithm for fast signature simulation
机译:
快速签名模拟的MISR计算算法
作者:
Bin-Hong Lin
;
Shao-Hui Shieh
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
20.
Hierarchical test generation with built-in fault diagnosis
机译:
具有内置故障诊断的分层测试生成
作者:
Stroobandt D.
;
Van Campenhout J.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
21.
Constructing an edge-route guaranteed optimal fault-tolerant routing for biconnected graphs
机译:
构建边缘路由保证的双联通图形的最佳容错路由
作者:
Yupin Luo
;
Shiyuan Yang
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
22.
A new model with time constraints for conformance testing of communication protocols
机译:
一种新模型,具有通信协议一致性测试的时间约束
作者:
Teratani D.
;
Kakuda Y.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
23.
Testing and diagnosis of board interconnects in microprocessor-based systems
机译:
基于微处理器的系统的电路板互连的测试和诊断
作者:
Po-Ching Hsu
;
Sying-Jyan Wang
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
24.
Comparison diagnosis in large multiprocessor systems
机译:
大型多处理器系统中的比较诊断
作者:
Fuhrman C.P.
;
Nussbaumer H.J.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
25.
On current testing of Josephson logic circuits using the 4JL gate family
机译:
关于Josephson逻辑电路的目前使用4JL门系列的测试
作者:
Yamada T.
;
Sasaki T.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
26.
E-groups: a new technique for fast backward propagation in system-level test generation
机译:
电子组:一种新技术,用于在系统级测试生成中快速向后传播
作者:
Nicolaidis M.
;
Parekhji R.A.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
27.
An approach to the synthesis of synchronizable finite state machines with partial scan
机译:
具有部分扫描的可同步有限状态机的合成方法
作者:
Inoue T.
;
Masuzawa T.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
28.
A design for testability method using RTL partitioning
机译:
RTL分区的可测试方法设计
作者:
Hosokawa T.
;
Kawaguchi K.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
29.
Hybrid pin control using boundary-scan and its applications
机译:
使用边界扫描及其应用的混合引脚控制
作者:
Ke W.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
30.
Redundancy identification using transitive closure
机译:
使用传递闭合的冗余识别
作者:
Agrawal V.D.
;
Bushnell M.L.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
31.
An efficient PRPG strategy by utilizing essential faults
机译:
利用必要的错误,高效的PRPG策略
作者:
Li-Ren Huang
;
Jing-Yang Jou
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
32.
Algorithmic test generation for supply current testing of TTL combinational circuits
机译:
用于TTL组合电路的电源电流测试的算法测试生成
作者:
Kuchii T.
;
Hashizume M.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
33.
A consistent scan design system for large-scale ASICs
机译:
大型Asics的一致扫描设计系统
作者:
Konno Y.
;
Nakamura K.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
34.
Hierarchical testing using the IEEE Std 1149.5 module test and maintenance slave interface module
机译:
使用IEEE STD 1149.5模块测试和维护从接口模块进行分层测试
作者:
Jin-Hua Hong
;
Chung-Hung Tsai
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
35.
Invalid state identification for sequential circuit test generation
机译:
顺序电路测试生成的状态识别无效
作者:
Hsing-Chung Liang
;
Chung Len Lee
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
36.
DP-BIST: a built-in self-test for DSP data paths-a low overhead and high fault coverage technique
机译:
DP-BIST:用于DSP数据路径的内置自检 - 一个低开销和高故障覆盖技术
作者:
Adham S.M.I.
;
Gupta S.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
37.
Lessons learned from practical applications of BIST/B-S technology
机译:
从BIST / B-S技术的实际应用中汲取的经验教训
作者:
Jarwala N.
;
Rutkowski P.W.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
38.
Partially parallel scan chain for test length reduction by using retiming technique
机译:
部分平行扫描链通过使用重度技术进行测试长度减小
作者:
Higami Y.
;
Kajihara S.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
39.
On-line testing in digital neural networks
机译:
数字神经网络中的在线测试
作者:
Demidenko S.
;
Piuri V.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
40.
Proceedings of the Fifth Asian Test Symposium (ATS'96)
机译:
第五届亚洲考试研讨会的诉讼程序(ATS'96)
作者:
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
41.
Syndrome simulation and syndrome test for unscanned interconnects
机译:
综合征模拟和未扫描互连的综合征测试
作者:
Chauchin Su
;
Shyh-Shen Hwang
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
42.
Author Index
机译:
作者索引
作者:
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
43.
Low-complexity fault diagnosis under the multiple observation time testing approach
机译:
多观察时间测试方法下的低复杂性故障诊断
作者:
Pomeranz I.
;
Reddy S.M.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
44.
Waveform polynomial manipulation using BDDs
机译:
使用BDD的波形多项式操作
作者:
Zhuxing Zhao
;
Zhongcheng Li
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
45.
Minimal delay test sets for unate gate networks
机译:
单人栅极网络的最小延迟测试集
作者:
Sparmann U.
;
Muller H.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
46.
A pragmatic, systematic and flexible synthesis for testability methodology
机译:
用于可测试性方法的务实,系统和灵活的合成
作者:
Alves V.C.
;
Antunes A.R.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
47.
Circuit partitioned automatic test pattern generation constrained by three-state buses and restrictors
机译:
电路分区自动测试模式由三级公交车和限制器约束
作者:
van der Linden J.T.
;
Konijnenburg M.H.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
48.
Combination of automatic test pattern generation and built-in intermediate voltage sensing for detecting CMOS bridging faults
机译:
用于检测CMOS桥接故障的自动测试模式生成和内置中间电压感应的组合
作者:
Kuen-Jong Lee
;
Jing-Jou Tang
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1996年
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