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Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA
Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA
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1.
Improved second harmonic two wavelength interferometer with refractive index correction without effect modulation
机译:
改进的二次谐波两波长干涉仪,无需校正折射率即可校正折射率
作者:
B. Bodermann
;
J. Fluegge
;
K. Meiners-Hagen
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
interferometry;
refractive index;
second harmonic;
micro- and nanometrology;
length measurement;
position measurement;
2.
Improved shape measurement in optical profiler
机译:
改进了光学轮廓仪中的形状测量
作者:
Joanna Schmit
;
Erik Novak
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
optical profiler;
white light interferometry;
calibration;
step height measurement;
3.
Minimizing interferometer misalignment errors for measurement of sub-nanometer length changes
机译:
最小化用于测量亚纳米长度变化的干涉仪失准误差
作者:
R. Schoedel
;
Arnold Nicolaus
;
G. Boensch
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
4.
Miniature interferometers for applications in microtechnology and nanotechnology
机译:
微型干涉仪,用于微技术和纳米技术
作者:
Gerd Jaeger
;
Eberhard Manske
;
Tino Hausotte
;
Roland Fuessl
;
Rainer Gruenwald
;
Hans Buechner
;
Walter Schott
;
Denys Dontsov
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
miniature interferometers;
plane-mirror retroreflectors;
corner-cube retroreflectors;
fiberoptic lightguides;
scanning force microscopes;
nanomeasuring machines;
laser-interferometric force sensors;
laser vibrometers;
5.
Improving a commercially available heterodyne laser interferometer to sub-nm uncertainty
机译:
将市售外差激光干涉仪提高到亚纳米不确定度
作者:
H. Haitjema
;
S.J.A.G. Cosijns
;
N.J.J. Roset
;
M.J.Jansen
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
laser interferometry;
heterodyne;
sub-nm;
non-linearity;
correction;
6.
Line scale comparison Nano3
机译:
线比例比较Nano3
作者:
Harald Bosse
;
Wolfgang Haessler-Grohne
;
Jens Fluegge
;
Rainer Koening
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
line scale;
international comparison;
metrology institutes;
measurement uncertainties;
reference values;
7.
Low-coherence tandem interferometer for remote calibration of gauge blocks
机译:
低相干串联干涉仪,用于量块的远程校准
作者:
Akiko Hirai
;
Hirokazu Matsumoto
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
length standards;
gauge blocks;
remote measurement;
low-coherence interferometer;
tandem interferometer;
8.
Pitch Calibration by Reflective Laser Diffraction
机译:
通过反射激光衍射进行音高校准
作者:
Chao-Jung Chen
;
Shen-Peng Pan
;
Liang-Chih Chang
;
Gwo-Sheng Peng
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
pitch calibration;
laser diffraction;
littrow configuration;
9.
Recent activities at PTB nanometer comparator
机译:
PTB纳米比较器的最新活动
作者:
Jens Fluegge
;
Rainer Koening
;
Harald Bosse
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
line scale;
encoder;
vacuum interferometry;
10.
Simple rubidium stabilized diode laser for gauge block interferometer
机译:
用于量块干涉仪的简单rub稳定二极管激光器
作者:
Youichi Bitou
;
Hajime Inaba
;
Atsushi Onae
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
frequency-stabilized laser;
gauge blocks;
interferometer;
11.
Principal length specifying parameters of material artifact, their physical meaning, methods for their measurements and typical uncertainties
机译:
指定材料伪影的主要长度,其物理含义,测量方法和典型不确定性
作者:
A. Titov
;
I. Malinovsky
;
C. A. Massone
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
length;
interferometry;
gauge block;
uncertainty;
12.
Stability of the reference flat used in Fizeau interferometer and its contribution to measurement uncertainty
机译:
Fizeau干涉仪中使用的参考平面的稳定性及其对测量不确定度的影响
作者:
Toshiuki Takatsuji
;
Sonko Osawa
;
Yutaka Kuriyama
;
Tomizo Kurosawa
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
flatness;
interferometry;
fizeau interferometer;
uncertainty;
13.
Image Processing Automatic Interferometric Calibration System for Line Scales
机译:
线刻度的图像处理自动干涉仪校准系统
作者:
Gonzalez H.
;
Galvan C.
;
Munoz J. A.
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
line scale;
uncertainty measurement;
image processing;
14.
Interferometric calibration of microdisplacement actuators
机译:
微位移执行器的干涉仪校准
作者:
Gian Bartolo Picotto
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
optical non-linearity;
heterodyne interferometry;
piezocapacitive actuators;
nanometrology;
15.
Absolute distance measurement with the MSTAR sensor
机译:
使用MSTAR传感器进行绝对距离测量
作者:
Oliver P. Lay
;
Serge Dubovitsky
;
Robert D. Peters
;
Johan Burger
;
Seh-Won Ahn
;
William H. Steier
;
Harrold R. Fetterman
;
Yian Chang
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
absolute metrology;
distance measurement;
16.
An extension of traceable calibration for electronic distance measuring instruments beyond the length of the laboratory
机译:
电子测距仪可追溯校准的扩展超出了实验室的范围
作者:
Lucy C. Forde
;
Eleanor F. Howick
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
17.
A Precision Metrology System for the Hubble Space Telescope Wide Field Camera 3 Instrument
机译:
哈勃空间望远镜广角相机3仪器的精密计量系统
作者:
Ronald W. Toland
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
cathetometer;
optical metrology;
calibration;
18.
Automated calibration system for laser interferometers
机译:
激光干涉仪的自动校准系统
作者:
Chung-chi Tang
;
Kai-Yu Cheng
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
laser interferometry;
automated calibration;
refractive index of air;
19.
Analytical solution of 'excess fractions' method in absolute distance interferometry
机译:
绝对距离干涉法中“多余分数”方法的解析解
作者:
Ilya P. Agurok
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
absolute distance interferometry;
chinese remainder theorem;
20.
Canister free videogrammetry system for thermal vacuum and space applications
机译:
适用于热真空和太空应用的无罐影像测量系统
作者:
Stephane Roose
;
Yvan Stockman
;
Jean-Christophe Bolsee
;
Dominic Doyle
;
Gerd Ulbrich
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
videogrammetry;
thermal vacuum testing;
21.
Automatic high precision calibration system for angle encoder (II)
机译:
角度编码器自动高精度校准系统(II)
作者:
Tsukasa Watanabe
;
Hiroyuki Fujimoto
;
Kan Nakayama
;
Tadashi Masuda
;
Makoto Kajitani
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
angle encoder;
angular standard;
self-checking method;
angle measurement;
uncertainty;
22.
Device for calibration of the height micrometers and the squareness standards
机译:
高度千分尺和垂直度标定装置
作者:
T. B. Eom
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
squareness;
height micrometer;
end standard;
abbe's offset;
cosine error;
plane mirror interferometer;
self-calibration;
23.
CONTACT MODEL OF THE PROBE IN FORM MEASUREMENT
机译:
探针在形式测量中的联系模型
作者:
Maria A. Saenz-Nuno
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
form measurement;
uncertainty budget;
probe deformation;
morphological filter;
contact interaction.;
24.
Ultra-high resolution, absolute, Cartesian electronic autocollimator
机译:
超高分辨率,绝对,笛卡尔电子自动准直仪
作者:
Douglas B. Leviton
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
electronic autocollimator;
absolute;
cartesian;
pattern recognition;
sensitivity;
linearity;
25.
Ultra-high resolution Cartesian absolute optical encoder
机译:
超高分辨率笛卡尔绝对光学编码器
作者:
Douglas B. Leviton
;
Jeff Kirk
;
Luke Lobsinger
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
optical encoder;
cartesian;
absolute;
two-dimensional;
pattern recognition;
sensitivity;
linearity;
26.
High accuracy form measurement of large optical surfaces
机译:
大型光学表面的高精度形状测量
作者:
M. Schulz
;
R. D. Geckeler
;
J. Illemann
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
scanning deflectometry;
flatness standard;
traceability;
topography;
autocollimator;
dimensional metrology;
curvature;
ESAD;
LACS;
27.
High-precision long-distance measurement using a frequency comb of a femtosecond mode-locked laser
机译:
飞秒锁模激光的频率梳进行高精度长距离测量
作者:
Hirokazu Matsumoto
;
Kaoru Minoshima
;
Souichi Telada
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
distance measurement;
long-length standards;
femto-comb frequency;
mode-locked laser;
28.
Measurements of Large Silicon Spheres Using the NIST M48 Coordinate Measuring Machine
机译:
使用NIST M48坐标测量机测量大型硅球
作者:
John Stoup
;
Theodore Doiron
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
accuracy;
CMM;
comparison;
silicon sphere;
uncertainty;
29.
New capabilities of the CEM-TEK 1200 interferometric comparator for calibrating long gauges, step gauges, and now line scales
机译:
CEM-TEK 1200干涉式比较器的新功能可用于校准长距规,阶梯距规和现在的线刻度
作者:
E. Prieto
;
J. Rodriguez
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
gauge blocks;
step gauges;
line scales;
interferometry;
CMC;
key comparisons;
uncertainty;
vision system;
30.
Metrological characterization of nanometer film thickness standards for XRR and ellipsometry applications
机译:
用于XRR和椭偏仪的纳米薄膜厚度标准的计量学表征
作者:
Klaus Hasche
;
Peter Thomsen-Schmidt
;
Michael Krumrey
;
George Ade
;
Gerhard Ulm
;
Juergen Stuempel
;
Stefan Schaedlich
;
Wilfried Frank
;
Mathias Procop
;
Uwe Beck
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
thin films;
nanometer range;
reference standards;
consistency of measurement results;
31.
Method for approximate noise elimination in form and roughness measurements
机译:
在形状和粗糙度测量中近似消除噪声的方法
作者:
H. Haitjema
;
M.A.A. Morel
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
noise reduction;
uncertainty;
roughness;
form;
roundness;
32.
Laser interferometer for calibration of a line scale module with analog output
机译:
激光干涉仪,用于校准带模拟输出的线刻度模块
作者:
Ichiro Fujima
;
Yasuaki Fujimoto
;
Kaoru Sasaki
;
Hideaki Yoshimori
;
Shigeo Iwasaki
;
Souichi Telada
;
Hirokazu Matsumoto
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
laser interferometer;
line standard;
line scale;
digital scale;
33.
Primary level gauge block interferometers for realisation of the SI length unit
机译:
用于实现SI长度单位的主液位块干涉仪
作者:
A.Titov
;
I. Malinovsky
;
H. Belaidi
;
R. S. Franca
;
M. Erin
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
length;
gauge block;
comparator;
interferometry;
temperature;
uncertainty;
34.
Next-Generation Kosters Interferometer
机译:
下一代Kosters干涉仪
作者:
Jennifer E. Decker
;
Rene Schoedel
;
Gerhard Boensch
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
|
2003年
关键词:
gauge block;
gage block;
interferometry;
interferometer;
measurement;
absolute length measurement;
refractive index of air;
refractometer;
phase stepping;
35.
Recent work at NML to establish traceability for survey electronic distance measurement (EDM)
机译:
NML最近的工作是建立用于测量电子距离测量(EDM)的可追溯性
作者:
Nick Brown
;
Rob Veugen
;
Gert-Jan van der Beek
;
Ronald F.H. Hugers
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
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2003年
关键词:
EDM calibration;
survey instruments;
baseline calibration;
ISO 17123;
36.
Traceability in metrology and uncertainty evaluation of a calibration system for GPS receivers
机译:
GPS接收机校准系统的计量可追溯性和不确定性评估
作者:
Chiung-Wu Lee
;
Ta-Kang Yeh
;
Gwo-Sheng Peng
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
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2003年
关键词:
GPS;
calibration system;
traceability;
reference standard;
expanded uncertainty;
37.
Static calibrations of LVDT sensors for traceable gauge blocks
机译:
LVDT传感器的静态校准,用于可溯源的量块
作者:
Chung-chi Tang
;
Kai-Yu Cheng
;
Huang-Chi Huang
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
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2003年
关键词:
LVDT sensor;
laser interferometer;
mechanical comparisons;
38.
Wringing deformation effects in basic length measurements by optical interferometry
机译:
通过光学干涉测量基本长度时的扭曲变形效应
作者:
A. Titov
;
I. Malinovsky
;
C. A. Massone
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
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2003年
关键词:
gauge block;
wringing deformations;
interferometry;
measurement accuracy;
39.
Wavelength-tracking capabilities of a Fabry-Perot cavity
机译:
法布里-珀罗腔的波长跟踪能力
作者:
Jack A. Stone
;
Alois Stejskal
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
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2003年
关键词:
index of refraction;
refractive index;
refractometer;
wavelength tracker;
interferometry;
helium;
40.
Developments on the NMi-VSL traceable Scanning Probe Microscope
机译:
NMi-VSL可追踪扫描探针显微镜的发展
作者:
K. Dirscherl
;
K.R. Koops
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
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2003年
41.
5 m-measurement system for traceable measurements of tapes and rules
机译:
5 m测量系统,用于磁带和尺子的可追溯测量
作者:
Tanfer Yandayan
;
Bulent Ozgur
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
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2003年
关键词:
measuring tapes;
legal metrology;
length;
42.
A fully traceable miniature CMM with sub-micrometre uncertainty
机译:
具有亚微米不确定度的可完全追踪的微型CMM
作者:
Andrew J. Lewis
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
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2003年
43.
Alternative measuring modes for Scanning Probe Instrumentation
机译:
扫描探针仪器的替代测量模式
作者:
K.R. Koops
;
K. Dirscherl
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
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2003年
44.
An acoustic method for determination of the effective temperature and refractive index of air
机译:
确定空气有效温度和折射率的声学方法
作者:
A. Lassila
;
V. Korpelainen
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
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2003年
关键词:
length interferometry;
effective temperature of air;
refractive index of air;
speed of ultrasound in air;
45.
Angle metrology using AAMACS and two small-angle measurement systems
机译:
使用AAMACS和两个小角度测量系统进行角度计量
作者:
Jack A Stone
;
Mohamed Amer
;
Bryon Faust
;
Jay Zimmerman
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
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2003年
关键词:
angle;
autocollimator;
fizeau interferometer;
metrology;
46.
An investigation into applying self-calibration techniques to measuring large optical components on a CMM
机译:
研究将自校准技术用于测量CMM上的大型光学组件
作者:
Eleanor F. Howick
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
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2003年
47.
Defining the measurand in radius of curvature measurements
机译:
定义曲率半径测量的被测量
作者:
Angela Davies
;
Tony L. Schmitz
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
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2003年
关键词:
radius of curvature;
calibration;
interferometry;
homogeneous transformation matrix;
traceability;
48.
Calibration of a nano-transducer by a monolithic x-ray interferometer
机译:
用单片X射线干涉仪校准纳米换能器
作者:
Jin Won Park
;
Sang Ho Byun
;
Cheon Il Eom
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
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2003年
关键词:
nano-transducer calibration;
monolithic x-ray interferometer;
nanometrology;
49.
Issues and advantages of gauge block calibration by mechanical comparison
机译:
通过机械比较校准量块的问题和优点
作者:
Ruedi Thalmann
;
Hugo Baechler
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
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2003年
关键词:
dimensional metrology;
calibration of gauge blocks;
mechanical comparison;
50.
Development of a digital controller for Iodine stabilized lasers
机译:
开发用于碘稳定激光器的数字控制器
作者:
Richard Koops
;
Rob Bergmans
;
Steven van den Berg
会议名称:
《Conference on Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements II; Aug 4-6, 2003; San Diego, California, USA》
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2003年
关键词:
traceability;
laser stabilization;
frequency standard;
length standard;
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