掌桥科研
一站式科研服务平台
科技查新
收录引用
专题文献检索
外文数据库(机构版)
更多产品
首页
成为会员
我要充值
退出
我的积分:
中文会员
开通
中文文献批量获取
外文会员
开通
外文文献批量获取
我的订单
会员中心
我的包量
我的余额
登录/注册
文献导航
中文期刊
>
中文会议
>
中文学位
>
中国专利
>
外文期刊
>
外文会议
>
外文学位
>
外国专利
>
外文OA文献
>
外文科技报告
>
中文图书
>
外文图书
>
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
美国国防部AD报告
美国能源部DE报告
美国航空航天局NASA报告
美国商务部PB报告
外军国防科技报告
美国国防部
美国参联会主席指示
美国海军
美国空军
美国陆军
美国海军陆战队
美国国防技术信息中心(DTIC)
美军标
美国航空航天局(NASA)
战略与国际研究中心
美国国土安全数字图书馆
美国科学研究出版社
兰德公司
美国政府问责局
香港科技大学图书馆
美国海军研究生院图书馆
OALIB数据库
在线学术档案数据库
数字空间系统
剑桥大学机构知识库
欧洲核子研究中心机构库
美国密西根大学论文库
美国政府出版局(GPO)
加利福尼亚大学数字图书馆
美国国家学术出版社
美国国防大学出版社
美国能源部文献库
美国国防高级研究计划局
美国陆军协会
美国陆军研究实验室
英国空军
美国国家科学基金会
美国战略与国际研究中心-导弹威胁网
美国科学与国际安全研究所
法国国际关系战略研究院
法国国际关系研究所
国际宇航联合会
美国防务日报
国会研究处
美国海运司令部
北约
盟军快速反应部队
北约浅水行动卓越中心
北约盟军地面部队司令部
北约通信信息局
北约稳定政策卓越中心
美国国会研究服务处
美国国防预算办公室
美国陆军技术手册
一般OA
科技期刊论文
科技会议论文
图书
科技报告
科技专著
标准
其它
美国卫生研究院文献
分子生物学
神经科学
药学
外科
临床神经病学
肿瘤学
细胞生物学
遗传学
公共卫生&环境&职业病
应用微生物学
全科医学
免疫学
动物学
精神病学
兽医学
心血管
放射&核医学&医学影像学
儿科
医学进展
微生物学
护理学
生物学
牙科&口腔外科
毒理学
生理学
医院管理
妇产科学
病理学
生化技术
胃肠&肝脏病学
运动科学
心理学
营养学
血液学
泌尿科学&肾病学
生物医学工程
感染病
生物物理学
矫形
外周血管病
药物化学
皮肤病学
康复学
眼科学
行为科学
呼吸学
进化生物学
老年医学
耳鼻喉科学
发育生物学
寄生虫学
病毒学
医学实验室检查技术
生殖生物学
风湿病学
麻醉学
危重病护理
生物材料
移植
医学情报
其他学科
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
主题
主题
题名
作者
关键词
摘要
高级搜索 >
外文期刊
外文会议
外文学位
外国专利
外文图书
外文OA文献
中文期刊
中文会议
中文学位
中国专利
中文图书
外文科技报告
清除
历史搜索
清空历史
首页
>
外文会议
>
其他
>
Asian Test Symposium
Asian Test Symposium
召开年:
召开地:
出版时间:
-
会议文集:
-
会议论文
热门论文
全部论文
全选(
0
)
清除
导出
1.
Test set partitioning and dynamic fault dictionaries for sequential circuits
机译:
测试设置分区和连续电路的动态故障词典
作者:
Ryan P.G.
;
Fuchs W.K.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
2.
Effectiveness of stuck-at test sets to detect bridging faults in Iddq environment
机译:
卡住测试集的有效性检测IDDQ环境中的桥接故障
作者:
Hwang S.
;
Rajsuman R.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
3.
LFSROM: A hardware test pattern generator for deterministic ISCAS85 test sets
机译:
LFSROM:用于确定性ISCAS85测试集的硬件测试模式生成器
作者:
Dufaza C.
;
Chevalier C.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
4.
Design of monitored self-checking sequential circuits for enhanced fault models
机译:
监控自检顺序电路的设计,用于增强故障模型
作者:
Parekhji R.A.
;
Venkatesh G.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
5.
PLANE: A new ATPG system for PLAs
机译:
飞机:PLAS的新ATPG系统
作者:
Huang J.-D.
;
Shen W.-Z.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
6.
Error localization in test outputs: A generalized analysis of signature compression
机译:
测试输出中的错误本地化:签名压缩的广义分析
作者:
Demidenko S.
;
Piuri V.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
7.
Achieving minimal hardware multiple signature analysis for BIST
机译:
实现BIST的最小硬件多重签名分析
作者:
Wu Y.
;
Ivanov A.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
8.
Additive cellular automata as an on-chip test pattern generator
机译:
添加剂蜂窝自动机作为片上测试图案发生器
作者:
Nandi S.
;
Chaudhuri P.P.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
9.
An optimal scheme of parallel processing for test generation in a distributed system
机译:
分布式系统中测试生成的并行处理的最佳方案
作者:
Inoue T.
;
Yonezawa T.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
10.
FASSAD: Fault simulation with sensitivities and depth-first propagation
机译:
FASSAD:具有敏感性和深度首次传播的故障模拟
作者:
Sureshkumar P.R.
;
Jacob J.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
11.
Optimal interconnect diagnosis
机译:
最佳互连诊断
作者:
Shi W.
;
Fuchs W.K.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
12.
Application of homing sequences to synchronous sequential circuit testing
机译:
归巢序列在同步顺序电路测试中的应用
作者:
Pomeranz I.
;
Reddy S.M.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
13.
Optimization of deterministic test sets using an estimation of product quality
机译:
使用产品质量估计优化确定性测试集
作者:
Spiegel G.
;
Stroele A.P.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
14.
An approach to the analysis of the current testability of IC analog sections
机译:
IC模拟部分电流可测试性分析的方法
作者:
Mateo D.
;
Roca M.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
15.
Proof that Akers' algorithm for locally exhaustive testing gives minimum test sets of combinational circuits with up to four outputs
机译:
证明局部详尽测试的AKERS算法提供了最多四个输出的最小测试组合电路
作者:
Michinishi H.
;
Yokohira T.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
16.
On properties and implementations of inverting ALSC for use in built-in self-testing
机译:
在内置自检中反转ALSC的性质与实现
作者:
Furuya K.
;
Koh P.Y.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
17.
A C-testable DCVS GF(2/sup m/) multiplier
机译:
C可测试的DCVS GF(2 / SUP M /)乘数
作者:
Chang T.-Y.
;
Chen J.-H.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
18.
Detection of multiple faults using SSFTS in CMOS logic circuits
机译:
在CMOS逻辑电路中使用SSFTS检测多个故障
作者:
Tong C.Q.
;
Lu D.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
19.
Parallel computation of LFSR signatures
机译:
LFSR签名的并行计算
作者:
Narendran B.
;
Franklin M.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
20.
GID-testable two-dimensional sequential arrays for self-testing
机译:
盖德可测量的自检二维顺序阵列
作者:
Huang W.K.
;
Lombardi F.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
21.
A global BIST methodology
机译:
全球是方法
作者:
Gheewala T.
;
Sucar H.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
22.
MISSED: An environment for mixed-signal microsystem testing and diagnosis
机译:
错过:混合信号微系统测试和诊断的环境
作者:
Kerkhoff H.G.
;
Docherty G.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
23.
Reliable fail-safe systems
机译:
可靠的故障安全系统
作者:
Lubaszewski M.
;
Courtois B.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
24.
A systematic method to classify scan cells
机译:
一种对扫描单元进行分类的系统方法
作者:
Lee K.-J.
;
Lu M.-H.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
25.
Software upset analysis: A case study of the HS1602 microprocessor
机译:
软件衰竭分析:HS1602微处理器的案例研究
作者:
Choi G.S.
;
Iyer R.K.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
26.
A distributed message routing algorithm for fault-tolerant hypercube systems
机译:
容错超立机系统的分布式消息路由算法
作者:
Min Y.-L.
;
Min Y.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
27.
T-BIST: A built-in self-test for analog circuits based on parameter translation
机译:
T-BIST:基于参数转换的模拟电路内置自检
作者:
Slamani M.
;
Kaminska B.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
28.
Test generation for E-beam testing of VLSI circuits
机译:
VLSI电路电子束测试的试验
作者:
Choy O.C.S.
;
Chan L.K.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
29.
An approach to large program testing with tool WHEN
机译:
使用工具进行大型程序测试的方法
作者:
Zhu H.
;
Chen F.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
30.
Multiple stuck-at fault diagnosis in combinational circuits based on restricted single sensitized paths
机译:
基于受限制的单一敏化路径的组合电路中的多重粘附故障诊断
作者:
Takahashi H.
;
Yanagida N.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
31.
General design principles of self-testing code-disjoint PLAs
机译:
自我测试代码不相交的PLAS的一般设计原则
作者:
Piestrak S.J.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
32.
On the eliminating of parameters /spl alpha/ and /spl beta/ in STAFAN
机译:
关于消除参数/ spl alpha /和/ spl beta / stin stafan
作者:
Ding J.
;
Hu J.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
33.
Limitations of built-in current sensors (BICS) for I/sub DDQ/ testing
机译:
I / SUB DDQ /测试内置电流传感器(BICS)的限制
作者:
Menon S.M.
;
Malaiya Y.K.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
34.
State encoding and functional decomposition for self-checking sequential circuit design
机译:
自检顺序电路设计的状态编码和功能分解
作者:
Pagey S.
;
Sherlekar S.D.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
35.
A two-phase fault simulation scheme for sequential circuits
机译:
顺序电路的两相故障仿真方案
作者:
Wu W.C.
;
Lee C.L.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
36.
A pragmatic test pattern generation system for scan-designed circuits with logic value constraints
机译:
具有逻辑值约束的扫描设计电路的语用测试模式生成系统
作者:
Park E.S.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
37.
Automatic fault location using E-beam and LSI testers
机译:
使用电子束和LSI测试仪自动故障位置
作者:
Itazaki N.
;
Sumioka T.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
38.
Universal test set generation for CMOS circuits
机译:
CMOS电路的通用测试集
作者:
Chen B.
;
Lee C.L.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
39.
An algorithm for test generation of combinational circuits - research and implementation for critical path tracing
机译:
组合电路试验生成算法 - 临界路径追踪的研究与实现
作者:
Yin S.
;
Wei D.-Z.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
40.
Study of fault propagation using fault injection in the UNIX system
机译:
UNIX系统故障注射故障传播研究
作者:
Kao W.-L.
;
Tang D.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
41.
The driver/receiver conflict problem in interconnect testing with boundary-scan
机译:
用边界扫描互连测试中的驱动程序/接收机冲突问题
作者:
Jin L.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
42.
Design and implementation of a JTAG boundary-scan interface controller
机译:
JTAG边界扫描接口控制器的设计与实现
作者:
Shen Xu Baang
;
Liang Song Hai
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
43.
Test sequence algorithms and formal languages
机译:
测试序列算法和正式语言
作者:
van de Burgt S.P.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
44.
Subjective fault evaluation method of electronic circuits
机译:
电子电路的主观故障评价方法
作者:
Hashizume M.
;
Iwata Y.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
45.
The complexity of determining the sequential diagnosability number in the Malek's comparison model
机译:
确定Malyk比较模型中的顺序诊断性数的复杂性
作者:
Zhou Liuding
;
Yang Xiaofan
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
46.
Neural network realization of Markov model of TMR systems with compensating failures
机译:
补偿故障的TMR系统马尔可夫模型的神经网络实现
作者:
Zhou Y.
;
Min Y.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
47.
Fault modelisation of external shorts in CMOS circuits
机译:
CMOS电路外部短路故障造型
作者:
Renovell M.
;
Huc P.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
48.
Testing of parallel programs based on primitive dependence graph
机译:
基于原语依赖性图的并行程序测试
作者:
Wu H.-P.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
49.
A new method for system diagnosis
机译:
一种系统诊断方法
作者:
Xu S.
;
Gao J.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
50.
On the testability of cascaded Reed Muller circuits
机译:
论级联簧片竖置竖置竖置型竖置电路的可测试性
作者:
Lee G.
;
Hwang M.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
51.
A current testing for CMOS static RAMs to reduce testing costs
机译:
CMOS静态RAM的电流测试,以降低测试成本
作者:
Yokoyama H.
;
Tamamoto H.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
52.
A 15-valued fast test generation for combinational circuits
机译:
组合电路的15值快速测试生成
作者:
Hong S.J.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
53.
Testing scheduling and control in a parallel processing environment
机译:
在并行处理环境中测试调度和控制
作者:
Xiang Dong
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
54.
Bayesian inference for fault diagnosis in real-time distributed systems
机译:
实时分布式系统中的故障诊断贝叶斯推断
作者:
Chang Y.L.C.
;
Lander L.C.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
55.
Design of efficient totally self-checking checkers for m-out-of-n code
机译:
用于M-Out-N代码的高效完全自检检查
作者:
Chang W.-F.
;
Wu C.-W.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
56.
Proceedings of 1993 IEEE 2nd Asian Test Symposium (ATS)
机译:
1993年IEEE第二亚洲考试研讨会(ATS)的诉讼程序
作者:
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
57.
Computer aided testing system for LC cell's optical properties
机译:
用于LC Cell的光学特性的计算机辅助测试系统
作者:
Jiang Min
;
Huang Ximin
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《Asian Test Symposium》
|
1993年
意见反馈
回到顶部
回到首页