掌桥科研
一站式科研服务平台
科技查新
收录引用
专题文献检索
外文数据库(机构版)
更多产品
首页
成为会员
我要充值
退出
我的积分:
中文会员
开通
中文文献批量获取
外文会员
开通
外文文献批量获取
我的订单
会员中心
我的包量
我的余额
登录/注册
文献导航
中文期刊
>
中文会议
>
中文学位
>
中国专利
>
外文期刊
>
外文会议
>
外文学位
>
外国专利
>
外文OA文献
>
外文科技报告
>
中文图书
>
外文图书
>
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
美国国防部AD报告
美国能源部DE报告
美国航空航天局NASA报告
美国商务部PB报告
外军国防科技报告
美国国防部
美国参联会主席指示
美国海军
美国空军
美国陆军
美国海军陆战队
美国国防技术信息中心(DTIC)
美军标
美国航空航天局(NASA)
战略与国际研究中心
美国国土安全数字图书馆
美国科学研究出版社
兰德公司
美国政府问责局
香港科技大学图书馆
美国海军研究生院图书馆
OALIB数据库
在线学术档案数据库
数字空间系统
剑桥大学机构知识库
欧洲核子研究中心机构库
美国密西根大学论文库
美国政府出版局(GPO)
加利福尼亚大学数字图书馆
美国国家学术出版社
美国国防大学出版社
美国能源部文献库
美国国防高级研究计划局
美国陆军协会
美国陆军研究实验室
英国空军
美国国家科学基金会
美国战略与国际研究中心-导弹威胁网
美国科学与国际安全研究所
法国国际关系战略研究院
法国国际关系研究所
国际宇航联合会
美国防务日报
国会研究处
美国海运司令部
北约
盟军快速反应部队
北约浅水行动卓越中心
北约盟军地面部队司令部
北约通信信息局
北约稳定政策卓越中心
美国国会研究服务处
美国国防预算办公室
美国陆军技术手册
一般OA
科技期刊论文
科技会议论文
图书
科技报告
科技专著
标准
其它
美国卫生研究院文献
分子生物学
神经科学
药学
外科
临床神经病学
肿瘤学
细胞生物学
遗传学
公共卫生&环境&职业病
应用微生物学
全科医学
免疫学
动物学
精神病学
兽医学
心血管
放射&核医学&医学影像学
儿科
医学进展
微生物学
护理学
生物学
牙科&口腔外科
毒理学
生理学
医院管理
妇产科学
病理学
生化技术
胃肠&肝脏病学
运动科学
心理学
营养学
血液学
泌尿科学&肾病学
生物医学工程
感染病
生物物理学
矫形
外周血管病
药物化学
皮肤病学
康复学
眼科学
行为科学
呼吸学
进化生物学
老年医学
耳鼻喉科学
发育生物学
寄生虫学
病毒学
医学实验室检查技术
生殖生物学
风湿病学
麻醉学
危重病护理
生物材料
移植
医学情报
其他学科
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
主题
主题
题名
作者
关键词
摘要
高级搜索 >
外文期刊
外文会议
外文学位
外国专利
外文图书
外文OA文献
中文期刊
中文会议
中文学位
中国专利
中文图书
外文科技报告
清除
历史搜索
清空历史
首页
>
外文会议
>
其他
>
European Test Conference
European Test Conference
召开年:
召开地:
出版时间:
-
会议文集:
-
会议论文
热门论文
全部论文
全选(
0
)
清除
导出
1.
Testing regular arrays: the boundary problem
机译:
测试常规数组:边界问题
作者:
Marnane W.P.
;
Moore W.R.
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
关键词:
IC testing;
VLSI;
logic testing;
logic arrays;
integrated circuit testing;
fault location;
cellular arrays;
systolic correlator;
edges;
fault effects;
test pattern generation;
regular arrays;
fine-grained VLSI arrays;
boundary;
2.
Hierarchical testability measurement and design for test selection by cost prediction
机译:
成本预测测试选择的分层可测试性测量和设计
作者:
Dear I.D.
;
Dislis C.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
3.
BIST and boundary-scan for board level test: test program pseudocode
机译:
BIST和边界扫描板级测试:测试程序伪代码
作者:
Tulloss R.E.
;
Yau C.W.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
4.
A graph-theoretic approach to testing iterative arrays
机译:
一种测试迭代阵列的图形理论方法
作者:
Burgess N.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
5.
Acceptance tests of distributed processing orientated supervisory control and data acquisition (SCADA) systems for offshore platforms
机译:
验收对海上平台的分布式加工定向监督控制和数据采集(SCADA)系统的测试
作者:
Ray S.K.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
6.
Designing mixed-mode test pattern generators for minimum-overhead self-testing VLSI circuits
机译:
设计混合模式测试图案发生器,用于最小开销自测试VLSI电路
作者:
Krasniewski A.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
7.
Implementing exhaustive self test using minimal cycle count and reduced area overhead
机译:
利用最小循环计数和减少面积开销实现详尽的自检
作者:
Lewis W.J.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
8.
Design and implementation of a hierarchical testable architecture using the boundary scan standard
机译:
使用边界扫描标准设计和实现分层可测试架构
作者:
van Riessen R.P.
;
Kerkhoff H.G.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
9.
Testing regular arrays: the boundary problem
机译:
测试常规数组:边界问题
作者:
Marnane W.P.
;
Moore W.R.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
10.
A self-test and self-diagnosis architecture for boards using boundary scans
机译:
使用边界扫描的电路板自诊断架构
作者:
Wang L.-T.
;
Marhoefer M.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
11.
Estimate of signal probability in combinational logic networks
机译:
组合逻辑网络中信号概率估计
作者:
Ercolani S.
;
Favalli M.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
12.
Timing accuracy in VLSI testing
机译:
VLSI测试中的定时准确性
作者:
Pavlik E.
;
Vuksic A.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
13.
Mixed level test generation for MOS circuits
机译:
MOS电路混合水平试验
作者:
Lioy A.
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
关键词:
MOS IC;
CMOS int;
automatic testing;
CPU time;
ternary simulation;
stuck-open faults;
adaptive backtrace;
dynamic partitioning;
fault injection;
I/O function;
switch levels;
mixed gate;
combinational circuits;
mixed level test generation;
CMOS;
VLSI;
14.
Are random vectors useful in test generation?
机译:
随机载体是否有用于测试生成?
作者:
Abramovici M.
;
Miller D.T.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
15.
Hazards effect on stuck-open fault testability
机译:
危险对粘滞开放故障可测试性的影响
作者:
Landrault C.
;
Pravossoudovitch S.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
16.
High-level test generation for sequential circuits
机译:
顺序电路的高级测试生成
作者:
Winter T.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
17.
A fault model for PLAs
机译:
PLAS的故障模型
作者:
Ligthart M.M.
;
Staus R.J.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
18.
Fast test method for serial A/D and D/A converters
机译:
串行A / D和D / A转换器的快速测试方法
作者:
Jongepier A.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
19.
Electrical properties and detection methods for CMOS IC defects
机译:
CMOS IC缺陷的电气性能和检测方法
作者:
Soden J.M.
;
Hawkins C.F.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
20.
Aliasing in signature analysis testing with multiple-input shift-registers
机译:
具有多输入移位寄存器的签名分析测试中的别名
作者:
Damiani M.
;
Olivo P.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
21.
Built-in self test using perturbed deterministic patterns
机译:
使用扰动的确定性模式内置自检
作者:
Wu D.M.
;
Waicukauski J.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
22.
Fault simulation for delay faults
机译:
延迟故障故障仿真
作者:
Oomman B.G.
;
Akers S.B.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
23.
Hierarchical fault simulation in combinational circuits
机译:
组合电路中的分层故障仿真
作者:
Schulz M.H.
;
Seiss B.H.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
24.
The testability of a modified Booth multiplier
机译:
修改展位倍增器的可测试性
作者:
Stans R.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
25.
Testability measures with concurrent good simulation
机译:
经良好仿真的可测试性度量
作者:
Cabodi G.P.
;
Camurati P.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
26.
Testability design for PLA-implemented finite state machine
机译:
PLA实施的有限状态机的可测试性设计
作者:
Renovell M.
;
Rayon S.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
27.
Interfacing, often a performance bottleneck between ATE and device under test
机译:
接口,通常是测试和设备之间的性能瓶颈
作者:
Pointl P.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
28.
Test generation for current testing
机译:
测试生成当前测试
作者:
Nigh P.
;
Maly W.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
29.
Pseudoexhaustive test techniques: a new algorithm to partition combinational networks
机译:
伪心测试技术:分区组合网络的新算法
作者:
Amazonas J.R.
;
Strum M.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
30.
The use of a test specification format in automatic test program generation
机译:
在自动测试程序生成中使用测试规范格式
作者:
Verhelst B.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
31.
Testing and characterization of ASICs by the user
机译:
用户的测试和表征ASICS
作者:
Kirschner N.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
32.
Contactless high-speed waveform measurements on GaAs integrated circuits with the photoemission sampling technique
机译:
GaAs集成电路的非接触式高速波形测量与光电采样技术
作者:
Seitz H.K.
;
Blacha A.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
33.
UUT and model data for multiple test-techniques
机译:
多种测试技术的UUT和模型数据
作者:
Taylor G.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
34.
BIST and boundary-scan for board level test: test program pseudocode
机译:
BIST和边界扫描板级测试:测试程序伪代码
作者:
Tulloss R.E.
;
Yau C.W.
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
关键词:
boundary-scan;
au;
verification;
initialization;
circuit-board test program;
built-in self-test;
BIST;
test access port;
standard architecture;
VLSI;
LSI;
standard-scan method;
Joint Test Action Group;
JTAG;
test program pseudocode;
board level test;
35.
Hybrid design of parallel signature analyzers
机译:
平行签名分析仪的混合设计
作者:
Hlawiczka A.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
36.
Test preparation and fault analysis using a bottom-up methodology
机译:
使用自下而上方法测试制备和故障分析
作者:
Gracio J.A.
;
Bicudo P.A.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
37.
Separating timing, data, and format in a tester-independent waveform representation
机译:
在测试符无关的波形表示中分离定时,数据和格式
作者:
Lunde R.
;
Faust M.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
38.
A three-valued fast fault simulator for scan-based VLSI-logic
机译:
基于扫描的VLSI逻辑的三维快速故障模拟器
作者:
Schulz M.H.
;
Pellkofer D.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
39.
Mixed level test generation for MOS circuits
机译:
MOS电路混合水平试验
作者:
Lioy A.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
40.
Implementing exhaustive self test using minimal cycle count and reduced area overhead
机译:
利用最小循环计数和减少面积开销实现详尽的自检
作者:
Lewis W.J.
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
关键词:
logic testing;
logic testing;
integrated logic circuits;
integrated circuit testing;
automatic testing;
statistical results;
test-pattern generation;
reduced area overhead;
minimal cycle count;
exhaustive self test;
41.
Automatic test program generation for a block oriented VLSI chip design
机译:
块面向VLSI芯片设计的自动测试程序生成
作者:
Hapke F.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
42.
Using hierarchy in macro cell test assembly
机译:
在宏小区测试组件中使用层次结构
作者:
Leenstra J.
;
Spaanenburg L.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
43.
100 MHz circuit pack test system: a reality
机译:
100 MHz电路包测试系统:现实
作者:
Shokoohi K.K.
;
Miranda J.M.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
44.
Board and component ATE-the challenge of the 1990s for suppliers and users
机译:
董事会和组成部分 - 20世纪90年代供应商和用户的挑战
作者:
Pujol D.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
45.
Hazards effect on stuck-open fault testability
机译:
危险对粘滞开放故障可测试性的影响
作者:
Landrault C.
;
Pravossoudovitch S.
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
关键词:
MOS IC;
logic;
integrated logic circuits;
integrated circuit testing;
fault location;
CMOS integrated circuits;
robust test sequences;
structural modifications;
internal delays;
hazard switching;
stuck-open fault testability;
IC testing;
VLSI;
CMOS;
46.
How to treat transmission line effects when testing high speed devices with a high performance test system
机译:
如何处理具有高性能测试系统的高速设备时的传输线效果
作者:
Plitschka R.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
47.
ATE and quality-an user's view
机译:
吃和质量 - 用户的观点
作者:
Gosselin P.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
48.
Grumman's real time automated test system
机译:
Grumman的实时自动化测试系统
作者:
Schiano C.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
49.
An expert system for the functional specification of test programs
机译:
测试程序功能规范的专家系统
作者:
Robach C.
;
Garcia N.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
50.
A theory of testability with application to fault coverage analysis
机译:
应用于故障覆盖分析的可测试性理论
作者:
Seth S.C.
;
Agrawal V.D.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
51.
A switching criterion for hybrid ATPG
机译:
混合ATPG的切换标准
作者:
Daehn W.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
52.
Proceedings of the 1st European Test Conference (IEEE Cat. No.89CH2696-3)
机译:
第一届欧洲考试会议的诉讼程序(IEEE CAT。No.89CH2696-3)
作者:
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
53.
New directions in electronics test philosophy, strategy, and tools
机译:
电子测试哲学的新方向,策略和工具
作者:
Claasen T.
;
Beenker F.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
54.
Designing mixed-mode test pattern generators for minimum-overhead self-testing VLSI circuits
机译:
设计混合模式测试图案发生器,用于最小开销自测试VLSI电路
作者:
Krasniewski A.
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
关键词:
CAD;
integrated circuit t;
automatic testing;
dynamic fault-detection;
built-in test control logic;
fault-sensitizing capabilities;
maximum testing speed;
minimum-overhead self-testing VLSI circuits;
mixed-mode test pattern generators;
logic testing;
55.
On the definition of critical areas for IC photolithographic spot defects
机译:
关于IC光刻点缺陷的关键区域的定义
作者:
Pineda de Gyvez J.
;
Jess J.A.G.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
56.
Testing multiple power connections with boundary scan
机译:
使用边界扫描测试多个电源连接
作者:
van de Lagemaat D.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
57.
Test and screening strategies for large memories
机译:
大记忆的测试和筛选策略
作者:
Birolini A.
;
Buchel W.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
58.
Cerberus: hierarchical DFT rule checker
机译:
Cerberus:分层DFT规则检查器
作者:
Knopf R.
;
Trischler E.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
59.
Easily testable iterative unidimensional CMOS circuits
机译:
易于可测试的迭代单向CMOS电路
作者:
Rubio A.
;
Anglada R.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
60.
UTILE system: a unified environment from simulation to test
机译:
Unile System:从模拟进行测试的统一环境
作者:
Becu J.-L.
;
Bouzaida L.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
61.
Debugging integrated circuits: AI can help
机译:
调试集成电路:AI可以提供帮助
作者:
Marzouki M.
;
Courtois B.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
62.
Fully-integrated dynamic fault imaging system for failure analysis and performance enhancement of VLSI
机译:
全集成动态故障成像系统,用于VLSI的故障分析和性能增强
作者:
Pelissier J.-L.
;
Flinois X.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
63.
Aliasing errors in multiple input signature analysis registers
机译:
多个输入签名分析寄存器中的混叠错误
作者:
Williams T.W.
;
Daehn W.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
64.
Testability strategy for registers and memories in a multi-processor architecture
机译:
多处理器架构中寄存器和记忆的可测试性策略
作者:
van Sas J.
;
Catthoor F.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《European Test Conference》
|
1989年
意见反馈
回到顶部
回到首页