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IDDQ Testing, 1996., IEEE International Workshop on
IDDQ Testing, 1996., IEEE International Workshop on
召开年:
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Washington, DC
出版时间:
-
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1.
Some faults need an I
ddq
test
机译:
有些故障需要进行I
ddq sub>测试
作者:
Makar S.R.
;
McCluskey E.J.
会议名称:
《IDDQ Testing, 1996., IEEE International Workshop on》
2.
Standard cell library characterization for setting current limitsfor I
DDQ
testing
机译:
用于设置电流限制的标准电池库特性用于I
DDQ sub>测试
作者:
Millman S.D.
;
Acken J.M.
会议名称:
《IDDQ Testing, 1996., IEEE International Workshop on》
3.
On chip I
DDX
sensor
机译:
片上I
DDX sub>传感器
作者:
Maidon Y.
;
Deval Y.
;
Fouillat P.
;
Tomas J.
;
Dom J.P.
会议名称:
《IDDQ Testing, 1996., IEEE International Workshop on》
4.
Semi-digital off-chip I
DDQ
monitor developments: towardsa general-purpose digital current monitor
机译:
半数字片外I
DDQ sub>监控器发展:朝通用数字电流监控器
作者:
Manhaeve H.
;
Svajda M.
;
Straka B.
会议名称:
《IDDQ Testing, 1996., IEEE International Workshop on》
5.
Automatic test pattern generation for Iddq faults based uponsymbolic simulation
机译:
自动生成基于Iddq故障的测试码型符号模拟
作者:
Ribas-Xirgo L.
;
Carrabina-Bordoll J.
会议名称:
《IDDQ Testing, 1996., IEEE International Workshop on》
6.
An efficient I
DDQ
test generation scheme for bridgingfaults in CMOS digital circuits
机译:
一种有效的I
DDQ sub>桥接测试生成方案CMOS数字电路故障
作者:
Tzuhao Chen
;
Hajj I.N.
;
Rudnick E.M.
;
Patel J.H.
会议名称:
《IDDQ Testing, 1996., IEEE International Workshop on》
7.
The effectiveness of IDDQ and high voltage stress for burn-inelimination CMOS production
机译:
IDDQ和高压应力对老化的有效性消除CMOS生产
作者:
Kawahara R.
;
Nakayama O.
;
Kurasawa T.
会议名称:
《IDDQ Testing, 1996., IEEE International Workshop on》
8.
Feasibility of employing an I
DDQ
output amplifier indeep submicron built-in current sensors
机译:
使用I
DDQ sub>输出放大器的可行性深亚微米内置电流传感器
作者:
Athan S.P.
;
Landis D.L.
会议名称:
《IDDQ Testing, 1996., IEEE International Workshop on》
9.
Digest of Papers 1996 IEEE International Workshop on IDDQ Testing
机译:
论文摘要1996 IEEE IDDQ测试国际研讨会
会议名称:
《IDDQ Testing, 1996., IEEE International Workshop on》
10.
Improving bridge-fault testability and confidence of IDDQ testingthrough circuit placement
机译:
提高桥接故障的可测试性和IDDQ测试的信心通过电路布置
作者:
Sharma N.
;
Ravikumar C.P.
会议名称:
《IDDQ Testing, 1996., IEEE International Workshop on》
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