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European Test Conference, 1989., Proceedings of the 1st
European Test Conference, 1989., Proceedings of the 1st
召开年:
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Paris
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-
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1.
Design and implementation of a hierarchical testable architectureusing the boundary scan standard
机译:
分层可测试架构的设计和实现使用边界扫描标准
作者:
van Riessen R.P.
;
Kerkhoff H.G.
;
Kloppenburg A.
会议名称:
《European Test Conference, 1989., Proceedings of the 1st》
2.
The use of a test specification format in automatic test programgeneration
机译:
在自动测试程序中使用测试规范格式代
作者:
Verhelst B.
会议名称:
《European Test Conference, 1989., Proceedings of the 1st》
3.
A self-test and self-diagnosis architecture for boards usingboundary scans
机译:
使用以下功能的板的自检和自诊断架构边界扫描
作者:
Wang L.-T.
;
Marhoefer M.
;
McCluskey E.J.
会议名称:
《European Test Conference, 1989., Proceedings of the 1st》
4.
How to treat transmission line effects when testing high speeddevices with a high performance test system
机译:
测试高速时如何处理传输线效应具有高性能测试系统的设备
作者:
Plitschka R.
会议名称:
《European Test Conference, 1989., Proceedings of the 1st》
5.
Testability strategy for registers and memories in amulti-processor architecture
机译:
寄存器和存储器的可测试性策略多处理器架构
作者:
van Sas J.
;
Catthoor F.
;
Inze L.
;
De Man H.
会议名称:
《European Test Conference, 1989., Proceedings of the 1st》
6.
Board and component ATE-the challenge of the 1990s for suppliersand users
机译:
董事会和部门ATE-1990年代对供应商的挑战和用户
作者:
Pujol D.
会议名称:
《European Test Conference, 1989., Proceedings of the 1st》
7.
Acceptance tests of distributed processing orientated supervisorycontrol and data acquisition (SCADA) systems for offshore platforms
机译:
面向分布式处理的监督的验收测试海上平台的控制和数据采集(SCADA)系统
作者:
Ray S.K.
会议名称:
《European Test Conference, 1989., Proceedings of the 1st》
8.
On the definition of critical areas for IC photolithographic spotdefects
机译:
关于IC光刻斑点关键区域的定义缺陷
作者:
Pineda de Gyvez J.
;
Jess J.A.G.
会议名称:
《European Test Conference, 1989., Proceedings of the 1st》
9.
Hierarchical testability measurement and design for test selectionby cost prediction
机译:
分级可测性测量和测试选择设计通过成本预测
作者:
Dear I.D.
;
Dislis C.
;
Lau S.C.
;
Miles J.
;
Ambler A.P.
会议名称:
《European Test Conference, 1989., Proceedings of the 1st》
10.
Aliasing in signature analysis testing with multiple-inputshift-registers
机译:
多输入签名分析测试中的别名移位寄存器
作者:
Damiani M.
;
Olivo P.
;
Favalli M.
;
Ercolani S.
;
Ricco B.
会议名称:
《European Test Conference, 1989., Proceedings of the 1st》
11.
Contactless high-speed waveform measurements on GaAs integratedcircuits with the photoemission sampling technique
机译:
集成GaAs的非接触式高速波形测量带有光发射采样技术的电路
作者:
Seitz H.K.
;
Blacha A.
;
Clauberg R.
;
Beha H.
;
Feder J.
会议名称:
《European Test Conference, 1989., Proceedings of the 1st》
12.
Separating timing, data, and format in a tester-independentwaveform representation
机译:
在独立于测试人员的位置分离时序,数据和格式波形表示
作者:
Lunde R.
;
Faust M.
会议名称:
《European Test Conference, 1989., Proceedings of the 1st》
13.
Automatic test program generation for a block oriented VLSI chipdesign
机译:
面向块的VLSI芯片的自动测试程序生成设计
作者:
Hapke F.
会议名称:
《European Test Conference, 1989., Proceedings of the 1st》
14.
Interfacing, often a performance bottleneck between ATE and deviceunder test
机译:
接口,通常是ATE和设备之间的性能瓶颈被测
作者:
Pointl P.
会议名称:
《European Test Conference, 1989., Proceedings of the 1st》
15.
Pseudoexhaustive test techniques: a new algorithm to partitioncombinational networks
机译:
拟穷举测试技术:一种新的分区算法组合网络
作者:
Amazonas J.R.
;
Strum M.
会议名称:
《European Test Conference, 1989., Proceedings of the 1st》
16.
BIST and boundary-scan for board level test: test programpseudocode
机译:
BIST和边界扫描以进行板级测试:测试程序伪码
作者:
Tulloss R.E.
;
Yau C.W.
会议名称:
《European Test Conference, 1989., Proceedings of the 1st》
17.
Fully-integrated dynamic fault imaging system for failure analysisand performance enhancement of VLSI
机译:
全集成动态故障成像系统,用于故障分析和VLSI的性能增强
作者:
Pelissier J.-L.
;
Flinois X.
会议名称:
《European Test Conference, 1989., Proceedings of the 1st》
18.
Proceedings of the 1st European Test Conference (IEEE Cat.No.89CH2696-3)
机译:
第一届欧洲测试会议论文集(IEEE Cat。编号89CH2696-3)
会议名称:
《European Test Conference, 1989., Proceedings of the 1st》
19.
Designing mixed-mode test pattern generators for minimum-overheadself-testing VLSI circuits
机译:
设计混合模式测试码型发生器以最小化开销自检VLSI电路
作者:
Krasniewski A.
会议名称:
《European Test Conference, 1989., Proceedings of the 1st》
20.
Implementing exhaustive self test using minimal cycle count andreduced area overhead
机译:
使用最少的周期数进行详尽的自检减少区域开销
作者:
Lewis W.J.
会议名称:
《European Test Conference, 1989., Proceedings of the 1st》
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