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IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
召开年:
2016
召开地:
Storrs(US)
出版时间:
-
会议文集:
-
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1.
A novel method for SEE validation of complex SoCs using Low-Energy Proton beams
机译:
低能量质子束用于复杂SoC的SEE验证的新方法
作者:
Gianluca Furano
;
Stefano Di Mascio
;
Tomasz Szewczyk
;
Alessandra Menicucci
;
Luigi Campajola
;
Francesco Di Capua
;
Andrea Fabbri
;
Marco Ottavi
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Protons;
Aerospace electronics;
Random access memory;
Ions;
Clocks;
Microcontrollers;
Testing;
2.
Prognosis of NBTI aging using a machine learning scheme
机译:
使用机器学习方案预测NBTI老化
作者:
Naghmeh Karimi
;
Ke Huang
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Aging;
Delays;
Integrated circuit modeling;
Prognostics and health management;
Negative bias temperature instability;
Thermal variables control;
Degradation;
3.
Construction of a soft error (SEU) hardened Latch with high critical charge
机译:
具有高临界电荷的软错误(SEU)硬化闩锁的构造
作者:
Hiroki Ueno
;
Kazuteru Namba
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Latches;
DH-HEMTs;
Robustness;
4.
Design and characterization of a high-safety hardware/software module for the acquisition of Eurobalise telegrams
机译:
用于获取Eurobalise电报的高安全性硬件/软件模块的设计和表征
作者:
Filippo Giuliani
;
Marco Ottavi
;
Gian Carlo Cardarilli
;
Marco Re
;
Luca Di Nunzio
;
Rocco Fazzolari
;
Antimo Bruno
;
Francesco Zuliani
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Field programmable gate arrays;
Safety;
Hardware;
Standards;
Rail transportation;
Built-in self-test;
Software;
5.
A new approach to deadlock-free fully adaptive routing for high-performance fault-tolerant NoCs
机译:
一种用于高性能容错NoC的无死锁的完全自适应路由的新方法
作者:
Amir Charif
;
Nacer-Eddine Zergainoh
;
Michael Nicolaidis
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Ports (Computers);
Routing;
System recovery;
Fault tolerance;
Fault tolerant systems;
Adaptation models;
Algorithm design and analysis;
6.
A Highly Robust Double Node Upset Tolerant latch
机译:
一个非常稳定的双节点翻转容错锁
作者:
Adam Watkins
;
Spyros Tragouodas
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Latches;
Clocks;
Delays;
Power demand;
Robustness;
Transistors;
Impedance;
7.
Fault-aware sensitivity analysis for probabilistic real-time systems
机译:
概率实时系统的故障感知灵敏度分析
作者:
Luca Santinelli
;
Zhishan Guo
;
Laurent George
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Mathematical model;
Safety;
Analytical models;
Sensitivity analysis;
Probabilistic logic;
Timing;
8.
An adaptive routing algorithm to improve lifetime reliability in NoCs architecture
机译:
一种提高NoC架构寿命可靠性的自适应路由算法
作者:
Juman Alshraiedeh
;
Avinash Kodi
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Routing;
Aging;
Ports (Computers);
Transistors;
Integrated circuit reliability;
Negative bias temperature instability;
9.
Guiding Genetic Algorithms using importance measures for reliable design of embedded systems
机译:
使用重要性度量指导遗传算法实现嵌入式系统的可靠设计
作者:
Hananeh Aliee
;
Stefan Vitzethum
;
Michael Glaß
;
Jürgen Teich
;
Emanuele Borgonovo
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Optimization;
Genetic algorithms;
Embedded systems;
Space exploration;
Reliability engineering;
Redundancy;
10.
Detecting intermittent resistive faults in digital CMOS circuits
机译:
检测数字CMOS电路中的间歇性电阻故障
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
11.
Experimental study and analysis of soft and permanent errors in digital cameras
机译:
数码相机中软性和永久性错误的实验研究与分析
作者:
Glenn H. Chapman
;
Rahul Thomas
;
Rohan Thomas
;
Israel Koren
;
Zahava Koren
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Integrated circuits;
Sensors;
Digital cameras;
Digital images;
ISO;
Single event upsets;
12.
Design and analysis of an approximate 2D convolver
机译:
近似二维卷积器的设计与分析
作者:
Ke Chen
;
Fabrizio Lombardi
;
Jie Han
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Kernel;
Two dimensional displays;
Convolvers;
Approximation algorithms;
Algorithm design and analysis;
Approximate computing;
13.
Error recovery through partial value similarity
机译:
通过部分值相似性恢复错误
作者:
Abdulaziz Eker
;
Oguz Ergin
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Registers;
Error correction;
Hamming distance;
Program processors;
Error correction codes;
Parity check codes;
Reliability;
14.
In-field functional test programs development flow for embedded FPUs
机译:
嵌入式FPU的现场功能测试程序开发流程
作者:
R. Cantoro
;
D. Piumatti
;
P. Bernardi
;
S. De Luca
;
A. Sansonetti
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Program processors;
Registers;
Circuit faults;
Microprocessors;
Built-in self-test;
Adders;
15.
Can flexible, domain specific programmable logic prevent IP theft?
机译:
灵活的,特定于域的可编程逻辑能否防止IP盗用?
作者:
Xiaotong Cui
;
Kaijie Wu
;
Siddharth Garg
;
Ramesh Karri
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
IP networks;
Foundries;
Security;
Schedules;
Adders;
Digital signal processing;
Intellectual property;
16.
Side channel attacks on STTRAM and low-overhead countermeasures
机译:
STTRAM的侧信道攻击和低开销对策
作者:
Anirudh Iyengar
;
Swaroop Ghosh
;
Nitin Rathi
;
Helia Naeimi
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Magnetic tunneling;
Thermal stability;
Resistance;
Monitoring;
Arrays;
Data privacy;
Temperature dependence;
17.
Efficient utilization of hierarchical iJTAG networks for interrupts management
机译:
有效利用分层iJTAG网络进行中断管理
作者:
Ahmed Ibrahim
;
Hans G. Kerkhoff
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Instruments;
Registers;
System-on-chip;
Organizations;
Standards;
Clocks;
Testing;
18.
CoBRA: Low cost compensation of TSV failures in 3D-NoC
机译:
CoBRA:低成本补偿3D-NoC中的TSV故障
作者:
Ronak Salamat
;
Masoumeh Ebrahimi
;
Nader Bagherzadeh
;
Freek Verbeek
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Through-silicon vias;
Routing;
Elevators;
System recovery;
Fault tolerance;
Fault tolerant systems;
Algorithm design and analysis;
19.
Reliable PUF design using failure patterns from time-controlled power gating
机译:
使用时间控制电源门控中的故障模式进行可靠的PUF设计
作者:
Xiaolin Xu
;
Daniel E. Holcomb
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Voltage control;
Random access memory;
Switching circuits;
Transistors;
Field programmable gate arrays;
Reliability;
Logic gates;
20.
On meta-obfuscation of physical layouts to conceal design characteristics
机译:
关于物理布局的元混淆以隐藏设计特征
作者:
Vinay C. Patil
;
Arunkumar Vijayakumar
;
Sandip Kundu
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Reverse engineering;
Standards;
Logic gates;
Visualization;
Libraries;
Integrated circuits;
Metals;
21.
BTI aware thermal management for reliable DVFS designs
机译:
具有BTI意识的热量管理可实现可靠的DVFS设计
作者:
Hardeep Chahal
;
Vasileios Tenentes
;
Daniele Rossi
;
Bashir M. Al-Hashimi
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Stress;
Logic gates;
Transistors;
Aging;
Integrated circuit modeling;
Propagation delay;
Reliability;
22.
Combined on-line lifetime-energy optimization for asymmetric multicores
机译:
非对称多核的组合在线寿命能量优化
作者:
Cristiana Bolchini
;
Matteo Carminati
;
Tulika Mitra
;
Thannirmalai Somu Muthukaruppan
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Optimization;
Energy consumption;
Multicore processing;
Reliability;
Quality of service;
Mathematical model;
23.
Effects of online fault detection mechanisms on Probabilistic Timing Analysis
机译:
在线故障检测机制对概率时序分析的影响
作者:
Chao Chen
;
Jacopo Panerati
;
Giovanni Beltrame
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Biological system modeling;
Silicon;
Hidden Markov models;
Benchmark testing;
Reliability;
24.
Bounding error detection latency in safety critical systems with enhanced Execution Fingerprinting
机译:
具有增强的执行指纹功能的安全关键系统中的错误检测延迟
作者:
Mojing Liu
;
Brett H. Meyer
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Registers;
Fingerprint recognition;
Checkpointing;
Hardware;
Redundancy;
Error correction codes;
Radiation detectors;
25.
Cross-layer fault-tolerant design of real-time systems
机译:
实时系统的跨层容错设计
作者:
Siva Satyendra Sahoo
;
Bharadwaj Veeravalli
;
Akash Kumar
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Lead;
Fault tolerance;
Fault tolerant systems;
26.
Soft error vulnerability assessment of the real-time safety-related ARM Cortex-R5 CPU
机译:
实时安全相关ARM Cortex-R5 CPU的软错误漏洞评估
作者:
Xabier Iturbe
;
Balaji Venu
;
Emre Ozer
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Circuit faults;
Registers;
Benchmark testing;
Computer architecture;
Ports (Computers);
Clocks;
Real-time systems;
27.
Applying efficient fault tolerance to enable the preconditioned conjugate gradient solver on approximate computing hardware
机译:
应用有效的容错能力以在近似计算硬件上启用预处理的共轭梯度求解器
作者:
Alexander Schöll
;
Claus Braun
;
Hans-Joachim Wunderlich
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Hardware;
Resilience;
Fault tolerance;
Fault tolerant systems;
Runtime;
Convergence;
Approximate computing;
28.
Fault-tolerant scheduling of multicore mixed-criticality systems under permanent failures
机译:
永久性故障下多核混合关键系统的容错调度
作者:
Zaid Al-bayati
;
Brett H. Meyer
;
Haibo Zeng
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Program processors;
Standards;
Reliability;
Time factors;
Multicore processing;
Transient analysis;
Real-time systems;
29.
Low cost resilient regular expression matching on FPGAs
机译:
FPGA上的低成本弹性正则表达式匹配
作者:
Marcos T. Leipnitz
;
Eduardo Nunes de Souza
;
Gabriel L. Nazar
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Field programmable gate arrays;
Fault tolerance;
Fault tolerant systems;
Hardware;
Throughput;
Tunneling magnetoresistance;
Clocks;
30.
In-place LUT polarity inVersion to mitigate soft errors for FPGAs
机译:
原位LUT极性inVersion以减轻FPGA的软错误
作者:
Juexiao Su
;
Ju-Yueh Lee
;
Chang Wu
;
Lei He
会议名称:
《IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2016年
关键词:
Field programmable gate arrays;
Circuit faults;
Integrated circuit interconnections;
Switches;
Routing;
Table lookup;
Emulation;
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