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IEEE International Test Conference in Asia
IEEE International Test Conference in Asia
召开年:
2020
召开地:
Taipei(CN)
出版时间:
-
会议文集:
-
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1.
ITC-Asia 2020 Opinion
机译:
ITC-Asia 2020意见
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
2.
Novel Circuit Probing for Tiny Inductor
机译:
微型电感器的新型电路探测
作者:
Chia-Heng Tsai
;
Chi-Chang Lai
;
Hao Chen
;
Min-Jer Wang
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
关键词:
Silicon-based inductor;
5G;
HPC;
power management;
SMD;
SoC;
ATE (Automatic Test Equipment);
calibration;
voltage regulator;
3.
High Efficiency and Low Overkill Testing for Probabilistic Circuits
机译:
概率电路的高效率和低杀伤力测试
作者:
Ming-Ting Lee
;
Chen-Hung Wu
;
Shi-Tang Liu
;
Cheng-Yun Hsieh
;
James Chien-Mo Li
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
关键词:
Probabilistic Circuits;
Test Pattern Compression;
4.
Site-aware Anomaly Detection with Machine Learning for Circuit Probing to Prevent Overkill
机译:
利用机器学习进行站点感知的异常检测,以进行电路探测以防止过度杀伤
作者:
Mincent Lee
;
Cheng-Tse Lu
;
Chia-Heng Tsai
;
Hao Chen
;
Min-Jer Wang
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
关键词:
machine learning;
anomaly detection;
predictive maintenance;
dimensionality-reduction;
Principal Component Analysis (PCA);
Integration Fan-Out (InFO) Wafer Level Package;
Integrated Fan-Out Package on Package (InFO-PoP);
chiplet;
Integrated Passive Device (IPD);
o;
5.
A Deep Learning-Based Screening Method for Improving the Quality and Reliability of Integrated Passive Devices
机译:
基于深度学习的筛选方法,用于提高集成无源器件的质量和可靠性
作者:
Chien-Hui Chuang
;
Kuan-Wei Hou
;
Cheng-Wen Wu
;
Mincent Lee
;
Chia-Heng Tsai
;
Hao Chen
;
Min-Jer Wang
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
关键词:
IC testing;
Integrated Passive Device (IPD);
Defect Level;
Quality;
Reliability;
DPAT;
GDBC;
6.
Development and Validation of a Novel Reliable Method for Wet Testing on Biochemical Chip
机译:
一种新型可靠的生化芯片湿法测试方法的开发与验证
作者:
Po-Ting Lai
;
Yu-Hao Chiu
;
Chieh-Wen Lu
;
Kuang-Hsiang Liu
;
Tung-Liang Chiu
;
Wendy Chen
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
关键词:
biochemical;
wet testing;
droplet;
microfluidic;
mass production;
7.
ECC Caching Techniques for Protecting NAND Flash Memories
机译:
用于保护NAND闪存的ECC缓存技术
作者:
Shyue-Kung Lu
;
Zeng-Long Tsai
;
Chun-Lung Hsu
;
Chi-Tien Sun
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
8.
Diagnosis technique for Clustered Multiple Transition Delay Faults
机译:
集群多重过渡时延故障的诊断技术
作者:
Yan-Shen You
;
Chih-Yan Liu
;
Mu-Ting Wu
;
Po-Wei Chen
;
James Chien-Mo Li
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
关键词:
clustered multiple faults;
multiple faults diagnosis;
transition delay faults diagnosis;
9.
Adaptive Test Pattern Reordering for Diagnosis using k-Nearest Neighbors
机译:
自适应测试模式重新排序以使用k最近邻进行诊断
作者:
Chenlei Fang
;
Qicheng Huang
;
R. D. Shawn Blanton
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
10.
The Decision Mechanism Uses the Multiple-Tests Scheme to Improve Test Yield in IC Testing
机译:
决策机制使用多重测试方案来提高IC测试中的测试良率
作者:
Chung-Huang Yeh
;
Jwu E Chen
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
关键词:
guardband test;
defect level;
test quality;
test specification;
test errors;
11.
W-ERA: One-Time Memory Repair with Wafer-Level Early Repair Analysis for Cost Reduction
机译:
W-ERA:一次性存储器修复,具有晶圆级早期修复分析,可降低成本
作者:
Hayoung Lee
;
Donghyun Han
;
Hogyeong Kim
;
Sungho Kang
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
关键词:
memory repair;
redundancy analysis (RA);
dynamic analysis;
yield;
repair rate;
repair time;
wafer-level repair;
package-level repair;
repair cost;
12.
Modified BER Test for SAR ADCs
机译:
SAR ADC的改良BER测试
作者:
Chia-Chuan Li
;
Soon-Jyh Chang
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
关键词:
Bit error rate;
SAR ADC;
noise;
metastability;
asynchronous;
13.
Test Methodology for Defect-based Bridge Faults
机译:
基于缺陷的桥梁故障的测试方法
作者:
Yu-Pang Hu
;
Shuo-Wen Chang
;
Kai-Chiang Wu
;
Chi Chun Wang
;
Fu-Sheng Huang
;
Yi-Lun Tang
;
Yung-Chen Chen
;
Ming-Chien Chen
;
Mango C.-T. Chao
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
14.
Path Delay Measurement with Correction for Temperature And Voltage Variations
机译:
路径延迟测量,对温度和电压变化进行校正
作者:
Yousuke Miyake
;
Takaaki Kato
;
Seiji Kajihara
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
关键词:
Field test;
Logic BIST;
Delay measurement;
Degradation detection;
Temperature and voltage variation;
15.
GPU-based Hybrid Parallel Logic Simulation for Scan Patterns
机译:
用于扫描模式的基于GPU的混合并行逻辑仿真
作者:
Liyang Lai
;
Qiting Zhang
;
Hans Tsai
;
Wu-Tung Cheng
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
关键词:
event-driven simulation;
GPGPU;
oblivious simulation;
parallel logic simulation;
16.
Estimation of Test Data Volume for Scan Architectures with Different Numbers of Input Channels
机译:
不同输入通道数的扫描架构的测试数据量估计
作者:
Fong-Jyun Tsai
;
Chong-Siao Ye
;
Yu Huang
;
Kuen-Jong Lee
;
Wu-Tung Cheng
;
Sudhakar M. Reddy
;
Mark Kassab
;
Janusz Rajski
;
Shi-Xuan Zheng
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
17.
A Self-Detection and Self-Repair Methodology for Reliable Speech Recognition Considering AWGN Noises
机译:
考虑AWGN噪声的可靠语音识别的自检测和自修复方法
作者:
Tong-Yu Hsieh
;
Yu-Min Chung
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
18.
Watermarking for Paper-Based Digital Microfluidic Biochips
机译:
纸基数字微流控生物芯片的水印技术
作者:
Jian-De Li
;
Sying-Jyan Wang
;
Katherine Shu-Min Li
;
Tsung-Yi Ho
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
关键词:
Paper-based DMFB;
Security;
Watermarking;
Trojan;
Man-in-the-Middle attack;
19.
Automatic IR-Drop ECO Using Machine Learning
机译:
使用机器学习的自动IR-Drop ECO
作者:
Heng-Yi Lin
;
Yen-Chun Fang
;
Shi-Tang Liu
;
Jia-Xian Chen
;
Chien-Mo Li
;
Eric Jia-Wei Fang
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
关键词:
IR-drop;
ECO;
Machine learning;
20.
Test Challenges of Providing Low Phase Noise Reference Clock Signal with ATE Platform
机译:
使用ATE平台提供低相位噪声参考时钟信号的测试挑战
作者:
Kevin Fan
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
关键词:
Mixed Signal;
Low Phase Noise Clock;
ATE;
21.
Design of a Highly Reliable SRAM Cell with Advanced Self-Recoverability from Soft Errors
机译:
通过软错误设计具有高度自恢复能力的高度可靠的SRAM单元
作者:
Zhengda Dou
;
Albin Yan
;
Jun Zhou
;
Yuanjie Hu
;
Yan Chen
;
Tianming Ni
;
Jie Cui
;
Patrick Girard
;
Xiaoqing Wen
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
22.
Refresh Power Reduction of DRAMs in DNN Systems Using Hybrid Voting and ECC Method
机译:
使用混合投票和ECC方法的DNN系统中的DRAM刷新功率降低
作者:
Tsung-Fu Hsieh
;
Jin-Fu Li
;
Jenn-Shiang Lai
;
Chih-Yen Lo
;
Ding-Ming Kwai
;
Yung-Fa Chou
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
关键词:
Deep neural network;
dynamic random access memory;
low power;
error-correction code;
23.
Diagnosis Outcome Prediction on Limited Data via Transferred Random Forest
机译:
通过转移随机森林对有限数据的诊断结果预测
作者:
Qicheng Huang
;
Chenlei Fang
;
R. D. Shawn Blanton
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
24.
On Optical Attacks Making Logic Obfuscation Fragile
机译:
光学攻击使逻辑混淆变得脆弱
作者:
Leonidas Lavdas
;
M Tanjidur Rahman
;
Mark Tehranipoor
;
Navid Asadizanjani
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
25.
A Novel Tampering Attack on AES Cores with Hardware Trojans
机译:
带有硬件木马的AES内核新型篡改攻击
作者:
Ayush Jain
;
Ujjwal Guin
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
关键词:
Advanced Encryption Standard;
Hardware Trojan;
Tampering;
26.
DSSP-ATPG: A Deterministic Search-Space Parallel Test Pattern Generator
机译:
DSSP-ATPG:确定性搜索空间并行测试模式生成器
作者:
Kuen-Wei Yeh
;
Jiun-Lang Huang
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
27.
On Enhancing Error-Tolerability of Videos via Re-Encoding with Adaptive I-Frame Insertion
机译:
关于通过自适应I帧插入进行重新编码来增强视频的容错性
作者:
Tong-Yu Hsieh
;
Chen-Chia Chung
;
Jun-Tsung Wu
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2020年
关键词:
error-tolerability;
erroneous video;
I-frame insertion;
video re-encoding;
video quality assessment;
video quality enhancement;
28.
Tutorials
机译:
教程
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Machine learning;
Tutorials;
Safety;
Conferences;
Business;
Testing;
Support vector machines;
29.
Automatic Generation of In-Circuit Tests for Board Assembly Defects
机译:
自动生成板组装缺陷的电路式测试
作者:
Harm van Schaaijk
;
Martien Spierings
;
Erik Jan Marinissen
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Probes;
Impedance;
Periodic structures;
Voltage measurement;
Testing;
Integrated circuits;
Tools;
30.
MTTF-Aware Reliability Task Scheduling for PIM-Based Heterogeneous Computing System
机译:
基于PIM的异构计算系统的MTTF感知可靠性任务调度
作者:
Desong Pang
;
Dawen Xu
;
Ying Wang
;
Huaguo Liang
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Task analysis;
Aging;
Delays;
Central Processing Unit;
Integrated circuit reliability;
Circuit faults;
31.
A Comprehensive Security System for Digital Microfluidic Biochips
机译:
数字微流体生物芯片综合安全系统
作者:
Chun-Yu Lin
;
Juinn-Dar Huang
;
Hailong Yao
;
Tsung-Yi Ho
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Trojan horses;
Security;
Electrodes;
Foundries;
Cameras;
Pins;
32.
Cost-Effective High Purity Signal Generator Using Pre-distortion
机译:
使用预失真的经济高效的高纯度信号发生器
作者:
Yuming Zhuang
;
Degang Chen
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Power harmonic filters;
Harmonic analysis;
Distortion;
Estimation;
Testing;
Performance evaluation;
Linearity;
33.
Skew-Aware Functional Timing Analysis Against Setup Violation for Post-Layout Validation
机译:
对布局后验证的安装违规的偏斜功能定时分析
作者:
Pin-Ru Jhao
;
Denny C.-Y. Wu
;
Charles H.-P. Wen
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Conferences;
Asia;
34.
Efficient Cell-Aware Defect Characterization for Multi-bit Cells
机译:
有效的单元感知多位单元格的缺陷表征
作者:
Ruifeng Guo
;
Brian Archer
;
Kevin Chau
;
Xiaolei Cai
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Pins;
SPICE;
Libraries;
Transistors;
Standards;
Complexity theory;
Flip-flops;
35.
RRAM-Based Neuromorphic Hardware Reliability Improvement by Self-Healing and Error Correction
机译:
基于RRAM的神经形态硬件可靠性通过自我愈合和纠错改进
作者:
Jia-Yun Hu
;
Kuan-Wei Hou
;
Chih-Yen Lo
;
Yung-Fa Chou
;
Cheng-Wen Wu
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Computer architecture;
Artificial neural networks;
Microprocessors;
Memristors;
Neuromorphics;
Hardware;
Synapses;
36.
Implementing Design-for-Test Within a Tile-Based Design Methodology - Challenges and Solutions
机译:
在基于平铺的设计方法中实现测试设计 - 挑战和解决方案
作者:
Venkat Yellapragada
;
Suresh Raman
;
Banadappa Shivaray
;
Luc Romain
;
Benoit Nadeau-Dostie
;
Martin Keim
;
Jean-Fran?ois C?té
;
Albert Au
;
Giri Podichetty
;
Ashok Anbalan
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Discrete Fourier transforms;
Layout;
Clocks;
Poles and towers;
Maintenance engineering;
Timing;
37.
Good Die Prediction Modelling from Limited Test Items
机译:
有限测试项目的良好模具预测建模
作者:
Takeru Nishimi
;
Yasuo Sato
;
Seiji Kajihara
;
Yoshiyuki Nakamura
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Dies;
Data models;
Predictive models;
Support vector machines;
Semiconductor device modeling;
Machine learning;
Business;
38.
Accurate Spectral Testing with Impure Test Stimulus for Multi-tone Test
机译:
具有不纯测试刺激的精确光谱测试,用于多色调测试
作者:
Yuming Zhuang
;
Degang Chen
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Testing;
Harmonic analysis;
Power harmonic filters;
Performance evaluation;
Indexes;
Discrete Fourier transforms;
Integrated circuits;
39.
An Automatic Approach to Evaluate Assertions' Quality Based on Data-Mining Metrics
机译:
基于数据挖掘度量评估断言质量的自动方法
作者:
Tara Ghasempouri
;
Siavoosh Payandeh Azad
;
Behrad Niazmand
;
Jaan Raik
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Data mining;
Correlation;
Analytical models;
Dairy products;
Current measurement;
Lead;
40.
Balancing Testability and Security by Configurable Partial Scan Design
机译:
通过可配置的部分扫描设计平衡可测试性和安全性
作者:
Xi Chen
;
Omid Aramoon
;
Gang Qu
;
Aijiao Cui
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Hardware;
Controllability;
Observability;
Testing;
Cryptography;
Switches;
41.
Error Indication Signal Collapsing for Implication-Based Concurrent Error Detection
机译:
误差指示信号折叠,用于基于含义的并发错误检测
作者:
Chih-Hao Wang
;
Chi-Hsuan Ho
;
Tong-Yu Hsieh
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Conferences;
Asia;
42.
DVFS Binning Using Machine-Learning Techniques
机译:
使用机器学习技术进行DVFS搭档
作者:
Keng-Wei Chang
;
Chun-Yang Huang
;
Szu-Pang Mu
;
Jian-Min Huang
;
Shi-Hao Chen
;
Mango C.-T. Chao
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Bayes methods;
Linear regression;
Training;
Predictive models;
Machine learning;
Semiconductor device measurement;
Ring oscillators;
43.
X-Sources Analysis for Improving the Test Quality
机译:
提高测试质量的X源分析
作者:
Kun-Han Tsai
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Clocks;
Logic gates;
Silicon;
Test pattern generators;
Delays;
Reliability;
44.
Industrial Case Studies of SoC Test Scheduling Optimization by Selecting Appropriate EDT Architectures
机译:
选择适当的EDT架构的SOC测试调度优化的工业案例研究
作者:
Guoliang Li
;
Henry Zhao
;
Qinfu Yang
;
Jun Qian
;
Yu Huang
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Pins;
Job shop scheduling;
Scheduling algorithms;
Testing;
Discrete Fourier transforms;
Bandwidth;
45.
Radiation Hardening by Design of a Novel Double-Node-Upset-Tolerant Latch Combined with Layout Technique
机译:
用布局技术的新型双节点易损锁存器设计辐射硬化
作者:
Aibin Yan
;
Zhile Chen
;
Zhengfeng Huang
;
Xiangsheng Fang
;
Maoxiang Yi
;
Jing Guo
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Latches;
Layout;
Radiation hardening (electronics);
Robustness;
Inverters;
Simulation;
46.
Grey Zone in Pre-Silicon Hardware Trojan Detection
机译:
硅五金五金木马检测中的灰色区域
作者:
Jing Ye
;
Yipei Yang
;
Yue Gong
;
Yu Hu
;
Xiaowei Li
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Hardware;
Trojan horses;
47.
A No-Reference Error-Tolerability Test Methodology for Image Processing Applications
机译:
图像处理应用程序的无参考差错可容许测试方法
作者:
Tong-Yu Hsieh
;
Chao-Ru Chen
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Image edge detection;
Image quality;
Circuit faults;
Hardware;
Benchmark testing;
Integrated circuit modeling;
48.
Generating Compact Test Patterns for Stuck-at Faults and Transition Faults in One ATPG Run
机译:
在一个ATPG运行中生成卡在故障和过渡故障的紧凑型测试模式
作者:
Yi-Cheng Kung
;
Kuen-Jong Lee
;
Sudhakar M. Reddy
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Circuit faults;
Integrated circuit modeling;
Test pattern generators;
Tools;
Fault location;
Logic gates;
49.
A Semi-Formal Technique to Generate Effective Test Sequences for Reconfigurable Scan Networks
机译:
半正式技术为可重构扫描网络生成有效的测试序列
作者:
Riccardo Cantoro
;
Aleksa Damljanovic
;
Matteo Sonza Reorda
;
Giovanni Squillero
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Registers;
Standards;
Circuit faults;
Instruments;
Testing;
Automata;
Integrated circuits;
50.
Low-Distortion One-Tone and Two-Tone Signal Generation Using AWG Over Full Nyquist Region
机译:
使用AWG在完整奈奎斯特地区的低失真一致性和双音信号生成
作者:
Tomonori Yanagida
;
Shohei Shibuya
;
Kosuke Machida
;
Koji Asami
;
Haruo Kobayashi
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Harmonic analysis;
Power harmonic filters;
Switches;
Testing;
Phase distortion;
Harmonic distortion;
51.
A Hierarchical Approach for Devising Area Efficient Concurrent Online Checkers
机译:
用于设计区域高效并发在线检查的分层方法
作者:
Behrad Niazmand
;
Siavoosh Payandeh Azad
;
Tara Ghasempouri
;
Jaan Raik
;
Gert Jervan
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Circuit faults;
Routing;
Transient analysis;
Fault detection;
Hardware;
Logic gates;
Systematics;
52.
Leveraging DRAM Refresh to Protect the Memory Timing Channel of Cloud Chip Multi-processors
机译:
利用DRAM刷新以保护云芯片多处理器的存储器定时通道
作者:
Ying Wang
;
Wen Li
;
Huawei Li
;
Xiaowei Li
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Timing;
Bandwidth;
Cloud computing;
Random access memory;
Side-channel attacks;
Memory management;
53.
Periodic Online LBIST Considerations for a Multicore Processor
机译:
多核处理器的定期在线LBIST考虑因素
作者:
Teresa McLaurin
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Testing;
Logic gates;
Random access memory;
Multicore processing;
Process control;
Safety;
Tools;
54.
Small Trojan Testing Using Bounded Model Checking
机译:
使用有限模型检查的小型木马测试
作者:
Ying Zhang
;
Lu Yu
;
Huawei Li
;
Jianhui Jiang
会议名称:
《IEEE International Test Conference in Asia》
|
2018年
关键词:
Trojan horses;
Hardware;
Very large scale integration;
Inspection;
Security;
Model checking;
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