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Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.
Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.
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1.
INVESTIGATION OF COPPER SEGREGATION TO THE S5(310)/001 SYMMETRIC TILT GRAIN BOUNDARY IN ALUMINUM
机译:
铝对S5(310)/ 001对称倾斜晶界的铜偏析的研究
作者:
Juergen M. Plitzko
;
Geoffrey H. Campbell
;
Wayne E. King
;
Stephen M. Foiles
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
2.
MICROCHARACTERIZATION OF HETEROGENEOUS SPECIMENS CONTAINING TIRE DUST
机译:
含尘土异质标本的微表征
作者:
MARINA CAMATINI
;
GAIA M CORBETTA
;
GIOVANNI F CROSTA
;
TIGRAN DOLUKHANYAN
;
GIAMPAOLO GIULIANI
;
CHANGMO SUNG
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
3.
A NEW APPROACH TOWARDS PROPERTY NANOMEASUREMENTS USING IN-SITU TEM
机译:
使用原位透射电镜进行财产纳米计量的新方法
作者:
Z.L. WANG
;
P. PONCHARAL
;
W.A. DE HEER
;
R.P. GAO
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
4.
IN-SITU OBSERVATION OF MELTING AND SOLIDIFICATION
机译:
熔化和凝固的原位观察
作者:
H.SAKA
;
S.ARAI
;
S.MUTO
;
H.MIYAI
;
S.TSUKIMOTO
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
5.
ON-PARTICLE EDS ANALYSIS OF BIMETALLIC, CARBON-SUPPORTED CATALYSTS
机译:
双金属,碳负载催化剂的颗粒内EDS分析
作者:
Deborah L. Boxall
;
Edward A. Kenik
;
Charles M. Lukehart
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
6.
STRUCTURE REFINEMENT OF S-PHASE PRECIPITATES IN Al-Cu-Mg ALLOYS BY QUANTITATIVE HRTEM
机译:
定量HRTEM对Al-Cu-Mg合金中S相析出物的结构修饰
作者:
R. KILAAS
;
V. RADMILOVIC
;
U. DAHMEN
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
7.
SPECIMEN CURRENT IMAGING OF DELAMINATION IN CERAMIC FILMS ON METAL SUBSTRATES IN THE SEM
机译:
扫描电镜下金属基体上陶瓷膜分层的标本电流成像
作者:
S. RANGARAJAN
;
A.H. KING
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
8.
THE ATOMIC STRUCTURE OF MOSAIC GRAIN BOUNDARY DISLOCATIONS IN GaN EPITAXIAL LAYERS
机译:
GaN表观层中镶嵌晶界位错的原子结构
作者:
V. POTIN
;
G. NOUET
;
P. RUTERANA
;
R.C. POND
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
9.
THE EFFECT OF DIFFERENT OXIDIZING ATMOSPHERES ON THE INITIAL KINETICS OF COPPER OXIDATION AS STUDIED BY IN SITU UHV-TEM
机译:
原位超高分辨透射电镜研究不同氧化气氛对铜氧化初始动力学的影响
作者:
MRIDULA D. BHARADWAJ
;
ANU GUPTA
;
J. MURRAY GIBSON
;
JUDITH C.YANG
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
10.
SURFACE SENSITIVITY EFFECTS WITH LOCAL PROBE SCANNING AUGER-SCANNING ELECTRON MICROSCOPY
机译:
局部探针扫描俄亥俄扫描电子显微镜的表面敏感性效应
作者:
D. T. L. VAN AGTERVELD
;
G. PALASANTZAS
;
J.TH.M. DE HOSSON
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
11.
STEM ANALYSIS OF THE SEGREGATION OF Bi TO ?9a GRAIN BOUNDARIES IN Cu
机译:
Cu中Bi至?9a晶界偏析的干法分析
作者:
W.SIGLE
;
L.-S. CHANG
;
W.GUST
;
M.RUeHLE
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
12.
X-RAY ELEMENTAL MAPPING OF MULTI-COMPONENT STEELS
机译:
多元钢的X射线元素映射
作者:
ADAM J. PAPWORTH
;
DAVID B. WILLIAMS
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
13.
FORMATION OF AlN FILMS ON Ti/TiN ARC-LAYER INTERFACE WITH Al-0.5Cu INTERCONECTS EVALUATED BY XPS AND ENERGY-FILTERED-TEM
机译:
XPS和能量过滤TEM评估的Al / 0.5%Cu互连的Ti / TiN弧-层界面上AlN膜的形成
作者:
J. GAZDA
;
J. ZHAO
;
P. SMITH
;
R. A. WHITE
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
14.
EPITAXY AND ATOMIC STRUCTURE DETERMINATION OF Au/TiO_2 INTERFACES BY COMBINED EBSD AND HRTEM
机译:
EBSD-HRTEM联用表观和原子结构测定Au / TiO_2界面
作者:
F. COSANDEY
;
P. STADELMANN
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
15.
DETERMINATION OF COHERENCY STRAIN FIELDS AROUND COHERENT PARTICLES IN NI-AL ALLOYS BY HREM AND CBED
机译:
用HREM和CBed测定镍合金中相干颗粒周围的相干应变场。
作者:
H. A. CALDERON
;
L. CALZADO
;
C. KISIELOWSKI
;
C. Y. WANG
;
R. KILAAS
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
16.
ENERGY DISPERSIVE X-RAY SPECTROMETRY WITH THE TRANSITION EDGE SENSOR MICROCALORIMETER: A REVOLUTIONARY ADVANCE IN MATERIALS MICROANALYSIS
机译:
过渡边缘传感器微量热仪的能量色散X射线光谱法:材料微观分析的革命性进展
作者:
DALE NEWBURY
;
DAVID WOLLMAN
;
KENT IRWIN
;
GENE HILTON
;
JOHN MARTINIS
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
17.
ENERGY-LOSS FILTERED IMAGING OF SEGREGATION-INDUCED INTERFACE BROADENING IN SiGe/Si P-CHANNEL MOSFET DEVICE STRUCTURES
机译:
SiGe / Si P沟道MOSFET器件结构中因偏析引起的界面渗出的能量损失滤波成像
作者:
D.J. NORRIS
;
A.G. CULLIS
;
T.J. GRASBY
;
E.H.C. PARKER
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
18.
ENVIRONMENTAL SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AS TOOL TO STUDY SHRINKAGE MICROCRACKS IN CEMENT-BASED MATERIALS
机译:
环境扫描电子显微镜作为研究水泥基材料收缩微裂纹的工具
作者:
J. BISSCHOP
;
J.G.M. VAN MIER
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
19.
ELECTRONIC EFFECTS ON GRAIN BOUNDARY STRUCTURE IN BCC METALS
机译:
BCC金属中晶界结构的电子效应
作者:
GEOFFREYH. CAMPBELL
;
WAYNE E. KING
;
JAMES BELAK
;
JOHN A. MORIARTY
;
STEPHEN M. FOILES
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
20.
ELECTRON BACKSCATTER DIFFRACTION: A POWERFUL TOOL FOR PHASE IDENTIFICATION IN THE SEM
机译:
电子背散射衍射:SEM中用于相识别的强大工具
作者:
J. R. MICHAEL
;
R. P. GOEHNER
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
21.
EFFECTS OF 'AS DEPOSITED' AND ALLOYING TEMPERATURES ON THE DISTRIBUTION OF Cu IN 0.5CuAlFILMS
机译:
沉积温度和合金化温度对0.5%CuAlFils中Cu分布的影响
作者:
P. L. SMITH
;
J. GAZDA
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
22.
ELECTRON MICROSCOPY OF SINGLE MOLECULES
机译:
单分子的电子显微镜
作者:
D.E. LUZZI
;
B.W. SMITH
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
23.
HIGH SPATIAL RESOLUTION X-RAY MICROANALYSIS OF RADIATION-INDUCED SEGREGATION IN PROTON-IRRADIATED STAINLESS STEELS
机译:
质子辐照不锈钢辐照偏析的高空间分辨X射线显微分析
作者:
E.A. KENIK
;
J.T. BUSBY
;
G.S. WAS
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
24.
EXPERIMENTAL METHODS AND DATA ANALYSIS FOR FLUCTUATION MICROSCOPY
机译:
波动显微镜的实验方法和数据分析
作者:
P. M. VOYLES
;
M. M. J. TREACY
;
J. M. GIBSON
;
H-C. JIN
;
J. R. ABELSON
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
25.
ELECTRON HOLOGRAPHY OF NANOSTRUCTURED MAGNETIC MATERIALS
机译:
纳米结构磁性材料的电子全息
作者:
R. E. DUNIN-BORKOWSKI
;
B. KARDYNAL
;
M. R. MCCARTNEY
;
M. R. SCHEINFEIN
;
DAVID J. SMITH
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
26.
ANALYTICAL HIGH RESOLUTION TEM STUDY OF Au/TiO_2 CATALYSTS
机译:
Au / TiO_2催化剂的解析高分辨TEM研究
作者:
T. Akita
;
K. Tanaka
;
S. Tsubota
;
M. Haruta
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
27.
ATOMIC AND ELECTRONIC STRUCTURE ANALYSIS OF ∑=3, 9 AND 27 BOUNDARY, AND MULTIPLE JUNCTION IN β-SiC
机译:
β-SiC中∑ = 3、9和27边界的原子和电子结构以及多结
作者:
K. Tanaka
;
M. Kohyama
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
28.
BONDING IN ION-IMPLANTED CARBON FILMS CHARACTERIZED BY TEM SPECTRUM LINES AND ENERGY-FILTERED IMAGING
机译:
TEM谱线和能量滤波成像表征的离子注入碳膜的键合
作者:
J. BENTLEY
;
K.C. WALTER
;
N.D. EVANS
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
29.
COMBINED HRTEM AND EFTEM STUDY OF PRECIPITATES IN TUNGSTEN AND CHROMIUM-CONTAINING TiB_2
机译:
钨和含铬TiB_2中沉淀物的组合HRTEM和EFTEM研究
作者:
W. MADER
;
B. FREITAG
;
K. KELM
;
R. TELLE
;
C. SCHMALZRIED
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
30.
INVESTIGATING ATOMIC SCALE PHENOMENA AT MATERIALS INTERFACES WITH CORRELATED TECHNIQUES IN STEM/TEM
机译:
用STEP / TEM中的相关技术研究材料界面上的原子尺度现象
作者:
N. D. BROWNING
;
A. W. NICHOLLS
;
E. M. JAMES
;
I. ARSLAN
;
Y. XIN
;
K. KISHIDA
;
S. STEMMER
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
31.
IMAGING HETEROPHASE MOLECULAR MATERIALS IN THE ENVIRONMENTAL SEM
机译:
在环境SEM中成像异相分子材料
作者:
B.L. THIEL
;
A.M. DONALD
;
D.J. STOKES
;
I.C. BACHE
;
N. STELMASHENKO
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
32.
THEORETICAL EXPLANATION OF Pt TRIMERS OBSERVED BY Z-CONTRAST STEM
机译:
Z对比干法观察的Pt修整器的理论解释
作者:
KARL SOHLBERG
;
SOKRATES T. PANTELIDES
;
STEPHEN J. PENNYCOOK
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
33.
HIGH SENSITIVITY CONVERGENT BEAM ELECTRON DIFFRACTION FOR THE DETERMINATION OF THE TETRAGONAL DISTORTION OF EPITAXIAL FILMS
机译:
高灵敏度会聚电子束衍射法测定薄膜的四角形畸变。
作者:
C.SCHUER
;
M.LEICHT
;
T.MAREK
;
H.P.STRUNK
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
34.
IN-SITU ANNEALING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY STUDY OF Pd/Ge/Pd/GaAs INTERFACIAL REACTIONS
机译:
Pd / Ge / Pd / GaAs界面反应的原位退火透射电子显微镜研究
作者:
F. RADULESCU
;
J.M. McCARTHY
;
E. A. STACH
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
35.
IN SITU STUDY OF ZIRCONIA STABILIZATION BY ANION EXCHANGE (N FOR O) USING HIGH TEMPERATURE, CONTROLLED ATMOSPHERE ELECTRON DIFFRACTION
机译:
高温,受控大气电子衍射通过阴离子交换(N对O)稳定氧化锆的原位研究
作者:
RENU SHARMA
;
EBERHARD SCHWEDA
;
DIRK NAEDELE
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
36.
INCOHERENT HIGH-RESOLUTION Z-CONTRAST IMAGING OF SILICON AND GALLIUM ARSENIDE USING HAADF-STEM
机译:
HAADF-STEM对硅和砷化镓的高分辨Z像差成像
作者:
Y. KOTAKA
;
T. YAMAZAKI
;
Y. KIKUCHI
;
K. WATANABE
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
37.
MEASURING THE THIN FILM STRAIN TENSOR NEAR ALUMINUM GRAIN BOUNDARIES VIA A NEW IMAGE PROCESSING APPROACH TO CBED HOLZ PATTERNS
机译:
通过CBED HOLZ模式的新图像处理方法测量铝晶粒边界附近的薄膜应变张量
作者:
J. INOUE
;
A. F. SCHWARTZMAN
;
L. B. FREUND
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
38.
Microdiffraction, EDS, and HREM investigation for phase identification with the electron microscope
机译:
用电子显微镜研究微衍射,EDS和HREM以鉴定相
作者:
P. Ruterana
;
A. Redjaiemia
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
39.
LEEM INVESTIGATIONS OF BCC METALS GROWN HETEROEPITAXIALLY ON SAPPHIRE
机译:
在蓝宝石上生长的BCC金属异质表位的LEEM研究
作者:
W. Swiech
;
M. Ondrejcek
;
R.S. Appleton
;
C.S. Durfee
;
M. Mundschau
;
C.P. Flynn
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
40.
MICROSTRUCTURAL CHARACTERIZATION OF LONGITUDINAL MAGNETIC RECORDING MEDIA
机译:
纵向磁记录介质的微观结构表征
作者:
ROBERT SINCLAIR
;
DONG-WON PARK
;
CLAUS HABERMEIER
;
KAI MA
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
41.
NANOCRYSTAL THICKNESS INFORMATION FROM Z-STEM: 3-D IMAGING IN ONE SHOT
机译:
Z-STEM的纳米厚度信息:一次成像中的3D成像
作者:
A.V. KADAVANICH
;
T. KIPPENY
;
M. ERWIN
;
S. J. ROSENTHAL
;
S. J. PENNYCOOK
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
42.
SEM/EDX SPECTRUM IMAGING AND STATISTICAL ANALYSIS OF A METAL/CERAMIC BRAZE
机译:
金属/陶瓷钎料的SEM / EDX光谱成像和统计分析
作者:
PAUL G. KOTULA
;
MICHAEL R. KEENAN
;
IAN M. ANDERSON
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
43.
QUANTITATIVE MAPPING OF CONCENTRATIONS AND BONDING STATES BY ENERGY FILTERING TEM
机译:
能量过滤TEM对浓度和键合态的定量映射
作者:
J. MAYER
;
J. M. PLITZKO
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
44.
ION-IMPLANTED AMORPHOUS SILICON STUDIED BY VARIABLE COHERENCE TEM
机译:
变相干法研究离子注入非晶硅
作者:
J-Y. CHENG
;
J. M. GIBSON
;
P. M. VOYLES
;
M. M. J. TREACY
;
D. C. JACOBSON
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
45.
SITE OCCUPANCY DETERMINATION BY ALCHEMI OF Nb AND Cr IN γ-TiAl AND THEIR EFFECTS ON THE α TO γ MASSIVE PHASE TRANSFORMATION
机译:
γ-TiAl中Nb和Cr的碱原子占据法测定及其对α-γ相转变的影响。
作者:
T.M. MILLER
;
L. WANG
;
W.H. HOFMEISTER
;
J.E. WITTIG
;
I.M. ANDERSON
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
46.
RELATIONSHIP BETWEEN STRUCTURE AND LUMINISCENT PROPERTIES OF EPITAXIAL GROWN Y_2O_3:Eu THIN FILMS ON LaAlO_3 SUBSTRATES
机译:
LaAlO_3衬底上外延生长Y_2O_3:Eu薄膜的结构与发光性能的关系。
作者:
H-J. GAO
;
G. DUSCHER
;
X.D. FAN
;
S.J. PENNYCOOK
;
D. KUMAR
;
K.G. CHO
;
P.H. HOLLOWAY
;
R.K. SINGH
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
47.
STRUCTURAL STUDY OF A 100 45°TWIST PLUS 7.5°TILT GRAIN BOUNDARY IN ALUMINIUM BY HREM
机译:
HREM研究铝中100 45°TWIST + 7.5°倾斜晶粒边界的结构
作者:
M. SHAMSUZZOHA
;
P. A. DEYMIER
;
DAVID J. SMITH
会议名称:
《》
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1999年
48.
FLUX MAPPING AND MAGNETIC BEHAVIOR OF GRAIN BOUNDARIES IN Nd-Fe-B MAGNETS
机译:
Nd-Fe-B磁体中晶界的通量映射和磁行为
作者:
V.V. VOLKOV
;
YIMEI ZHU
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
49.
HIGH-RESOLUTION SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND MICROANALYSIS OF SUPPORTED METAL CATALYSTS
机译:
支撑金属催化剂的高分辨扫描电子显微镜和显微分析
作者:
JINGYUE LIU
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
50.
CONTROLLED ENVIRONMENT TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY
机译:
可控环境透射电子显微镜
作者:
I. M. ROBERTSON
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
51.
ELECTRON CHANNELING X-RAY MICROANALYSIS FOR CATION CONFIGURATION IN IRRADIATED MAGNESIUM ALUMINATE SPINEL
机译:
电子通道X射线显微分析用于辐照铝镁尖晶石中阳离子的构象
作者:
S. MATSUMURA
;
T. SOEDA
;
N. J. ZALUZEC
;
C. KINOSHITA
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
52.
ANALYSIS OF THE ATOMIC SCALE DEFECT CHEMISTRY IN OXYGEN DEFICIENT MATERIALS BY STEM
机译:
氧气不足材料的原子尺度缺陷化学分析
作者:
Y. ITO
;
S. STEMMER
;
R. F. KLIE
;
N. D. BROWNING
;
A. SANE
;
T. J. MAZANEC
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
53.
AN ELECTRON MICROSCOPE STUDY OF DIFFUSION ASSISTED DISLOCATION PROCESSES IN INTERMETALLIC GAMMA TiAl
机译:
金属间γ-TiAl扩散辅助位错过程的电子显微镜研究
作者:
F. APPEL
;
U. LORENZ
;
M. OEHRING
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
54.
ATOMIC STRUCTURE OF GOLD AND COPPER BOUNDARIES
机译:
金和铜边界的原子结构
作者:
C.J.D. HETHERINGTON
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
55.
ATOMIC SCALE ANALYSIS OF CUBIC ZIRCONIA GRAIN BOUNDARIES
机译:
立方氧化锆晶粒边界的原子尺度分析
作者:
E.G. DICKEY
;
X. FAN
;
M. YONG
;
S.B. SINNOTT
;
S.J. PENNYCOOK
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
56.
CHARACTERIZATION OF INTERGRANULAR PHASES IN DOPED ZIRCONIA POLYCRYSTALS
机译:
掺杂的氧化锆多晶中晶间相的表征
作者:
N. D. EVANS
;
P. H. IMAMURA
;
J. BENTLEY
;
M. L. MECARTNEY
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
57.
ATOMIC-SCALE IMAGING OF DOPANT ATOM DISTRIBUTIONS WITHIN SILICON δ-DOPED LAYERS
机译:
硅δ掺杂层内掺杂原子分布的原子尺度成像
作者:
R. VANFLEET
;
D.A. MULLER
;
H.J. GOSSMANN
;
P.H. CITRIN
;
J. SILCOX
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
58.
CHARACTERIZATION OF THE INTERFACE BETWEEN LANTHANUM HEXA-ALUMINATE AND SAPPHIRE BY EXIT WAVE RECONSTRUCTION
机译:
出口波重构表征镧-铝酸盐与蓝宝石之间的界面
作者:
B. WESSLER
;
A. STEINECKER
;
W. MADER
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
59.
INTERFACE STRUCTURE AND Zn DIFFUSION IN THE Cd Te/ZnTe/Si SYSTEM GROWN BY MBE
机译:
MBE生长的Cd Te / ZnTe / Si体系中的界面结构和Zn扩散
作者:
S.-C. Y. Tsen
;
David J. Smith
;
P. A. Crozier
;
S. Rujirawat
;
G. Brill
;
S. Sivananthan
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
60.
INTERFACIAL INTERACTION BETWEEN CR THIN FILMS AND OXIDE GLASSES
机译:
CR薄膜与氧化物玻璃之间的界面相互作用
作者:
N. JIANG
;
J. SILCOX
会议名称:
《Symposium on Organic Electronic and Photonic Materials and Devices Nov 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
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