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IEEE East-West Design & Test Symposium

召开年：2013
召开地：Rostov-on-Don(RU)
出版时间：-

会议文集：-

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1.Low-voltage compatible linear voltage ramp generator for zero-crossing-based integrators

机译：适用于基于零交叉的积分器的低压兼容线性电压斜坡发生器
- 作者：Melikyan Vazgen Sh.;Dingchyan Hayk H.;Sahakyan Arthur S.;Vardan Grigoryants P.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
- low voltage;
- voltage ramp generator;
- zero crossing based;
2.Self-calibration method for capacitor mismatch elimination

机译：消除电容器失配的自校准方法
- 作者：Melikyan Vazgen;Stepanyan Harutyun;Aleksanyan Ani;Harutyunyan Ani
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
3.Static analysis of HDL descriptions: Extracting models for verification

机译：HDL描述的静态分析：提取模型进行验证
- 作者：Kamkin Alexander;Smolov Sergey;Melnichenko Igor
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
4.Increasing efficiency of information transmission with interference influence by the use of multi-parameter adaptation

机译：通过使用多参数自适应提高受干扰影响的信息传输效率
- 作者：Nechaev Y.B.;Kashenko G.A.;Plaksenko O.A.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
5.Nonlinear filtering of pseudonoise signals using high-order Markov chain model

机译：使用高阶马尔可夫链模型对伪噪声信号进行非线性滤波
- 作者：Prozorov Dmitriy;Chistyakov Anton
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
6.Coupled TCAD-SPICE simulation of parasitic BJT effect on SOI CMOS SRAM SEU

机译：TCAD-SPICE耦合模拟寄生BJT对SOI CMOS SRAM SEU的影响
- 作者：Petrosyants K.O.;Kharitonov I.A.;Popov D.A.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
7.Digital converter of frequency deviation based on three frequency generator

机译：基于三频发生器的频率偏差数字转换器
- 作者：Shakurskiy M.V.;Shakurskiy V.K.;Ivanov V.V.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
8.VLSI: An investigation into electromagnetic signatures (EMS) for non-invasive testing and signal-integrity verification

机译：VLSI：对用于非侵入式测试和信号完整性验证的电磁签名（EMS）的调查
- 作者：Kadim HJ;Coulibaly L.M.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
9.Extracting complete set of equations to analyze VHDL-AMS descriptions

机译：提取完整的方程组以分析VHDL-AMS描述
- 作者：Kamran Arezoo;Janfaza Vahid;Navabi Zainalabedin
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
10.Design of nonvolatile memory based on magnetic tunnel junction for special electronic systems

机译：基于磁隧道结的特殊电子系统非易失性存储器设计
- 作者：Kostrov Aleksandr;Nelayev Vladislav;Stempitsky Viktor;Belous Anatoly
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
11.Synthesis of clock trees for Sampled-Data Analog IC blocks

机译：采样数据模拟IC模块的时钟树综合
- 作者：Yuce Bilgiday;Korkmaz Seyrani;Esen Vahap Baris;Temizkan Fatih
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
12.Real-time interconnection network for single-chip many-core computers

机译：单芯片多核计算机的实时互连网络
- 作者：Richter Harald
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
- Benes Network;
- Looping Routing;
- Many-Core Computer;
- Real-time Network on Chip;
13.Invariant-oriented verification of HDL-based safety critical systems

机译：基于HDL的安全关键系统的不变导向验证
- 作者：Kharchenko V.;Konorev B.;Sklyar V.;Reva L.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
14.Experiences on the road from EDA developer to designer to educator

机译：从EDA开发人员到设计师再到教育者的旅途中的经验
- 作者：Ugurdag H.Fatih
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
15.Qubit model for solving the coverage problem

机译：解决覆盖问题的Qubit模型
- 作者：Hahanov V.I.;Litvinova E.I.;Chumachenko S.V.;Abbas Baghdadi Ammar Awni
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
16.Self-adaptive mobile wireless hotspot zones: Initial issues

机译：自适应移动无线热点区域：初始问题
- 作者：Yanovsky M.;Kharchenko V.;Gorbenko A.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
17.The positional structural-weight coding of the binary view of transformants

机译：转化子二元视图的位置结构权重编码
- 作者：Barannik V.;Krasnoruckiy A.;Hahanova A.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
18.Loop nests parallelization for digital system synthesis

机译：循环嵌套并行化用于数字系统综合
- 作者：Chemeris Alexander;Gorunova Julia;Lazorenko Dmiry
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
19.On structure of quasi optimal algorithm of analogue circuit designing

机译：关于模拟电路设计的拟最优算法的结构
- 作者：Zemliak A.;Michua A.;Markina T.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
20.Analyses of two run march tests with address decimation for BIST procedure

机译：针对BIST程序的两个具有地址抽取的运行进行测试的分析
- 作者：Mrozek Ireneusz
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
21.Decreasing the power consumption of content-addressable memory in the dataflow parallel computing system

机译：减少数据流并行计算系统中内容可寻址存储器的功耗
- 作者：Levchenko N.N.;Okunev A.S.;Yakhontov D.E.;Zmejev D.N.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
- CAM;
- DPCS;
- content-addressable memory;
- pipelining;
- power consumption;
22.Artificial neural network for software quality evaluation based on the metric analysis

机译：基于度量分析的人工神经网络软件质量评估
- 作者：Pomorova Oksana;Hovorushchenko Tetyana
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
23.An efficient fault diagnosis and localization algorithm for Successive-Approximation Analog to Digital Converters

机译：逐次逼近模数转换器的高效故障诊断和定位算法
- 作者：Melkumyan T.;Harutyunyan G.;Shoukourian S.;Vardanian V.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
24.Application of defect injection flow for fault validation in memories

机译：缺陷注入流程在存储器故障验证中的应用
- 作者：Amirkhanyan K.;Davtyan A.;Harutyunyan G.;Melkumyan T.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
- address decoder defects;
- defect injection;
- memory programming;
- process variation defects;
- test algorithm;
25.Lower bound of error in AOA based passive source localization using single moving platform

机译：使用单个移动平台的基于AOA的被动源定位中的错误下限
- 作者：Hejazi F.;Norouzi Y.;Nayebi M.M.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
26.Analysis of converters with heterogeneous three-pole chain structure

机译：异质三极链结构变流器的分析
- 作者：Sukhinets Zhanna;Gulin Artur
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
27.Smart road infrastructure

机译：智能道路基础设施
- 作者：Ziarmand Artur
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
28.Quantum technology for analysis and testing computing systems

机译：用于分析和测试计算系统的量子技术
- 作者：Gharibi Wajeb;Hahanov V.I.;Carlsson Anders;Hahanova I.V.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
29.Estimation of structural complexity of IIR digital filters

机译：估算IIR数字滤波器的结构复杂度
- 作者：Lesnikov Vladislav A.;Chastikov Alexander V.;Naumovich Tatiana V.;Armishev Sergey V.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
30.RTL IP abstraction into optimized embedded software

机译：将RTL IP抽象到优化的嵌入式软件中
- 作者：Bombieri Nicola;Forrini Diego;Fummi Franco;Laurenzi Matteo
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
31.Cyber security lifecycle and assessment technique for FPGA-based IC systems

机译：基于FPGA的I＆C系统的网络安全生命周期和评估技术
- 作者：Oleg Illiashenko;Vyacheslav Kharchenko;Andriy Kovalenko
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
32.Test data compression strategy while using hybrid-BIST methodology

机译：使用混合BIST方法测试数据压缩策略
- 作者：Karimi E.;Tabandeh M.;Haghbayan M.H.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
33.Coding tangible component of transforms to provide accessibility and integrity of video data

机译：编码转换的有形成分以提供视频数据的可访问性和完整性
- 作者：Barannik V.V.;Hahanova A.V.;Krivonos V.N.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
34.Matrix implementation of Moore FSM with nonstandard presentation of state codes

机译：具有非标准状态代码表示的Moore FSM矩阵实现
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
35.An approach to testing of planar integrated antennas in frequency range of 5–7 GHz

机译：一种测试5-7 GHz频率范围内的平面集成天线的方法
- 作者：Timoshenko Aleksandr;Lomovskaya Ksenia;Barinov Victor;Tikhomirov Andrey
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
36.Optimal project solution decision making in telecommunication systems using multicriteria optimization methods

机译：使用多准则优化方法的电信系统最优项目解决方案决策
- 作者：Bezruk Valery;Bukhanko Alexander
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
37.Multi-beam constant modulus adaptive arrays in real-valued arithmetic

机译：实值算法中的多光束恒模自适应阵列
- 作者：Djigan Victor I.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
38.Evolution of von Neumann's paradigm: Dependable and green computing

机译：冯·诺依曼范式的演变：可靠的绿色计算
- 作者：Kharchenko V.;Gorbenko A.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
39.Cloud traffic control system

机译：云流量控制系统
- 作者：Hahanov V.I.;Gus O.A.;Ziarmand A.;Umerah Ngene Christopher
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
40.Simulation of total dose influence on analog-digital SOI/SOS CMOS circuits with EKV-RAD macromodel

机译：用EKV-RAD宏模型模拟总剂量对模数SOI / SOS CMOS电路的影响
- 作者：Petrosyants K.O.;Kharitonov I.A.;Sambursky L.M.;Bogatyrev V.N.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
- BSIMSOI;
- EKV;
- SOI/SOS MOSFETs;
- compact model;
- floating-body effects;
- kink-effect;
- parameter extraction;
- radiation effects;
- radiation hardness;
- simulation time;
- subcircuit approach;
41.Models for embedded repairing logic blocks

机译：嵌入式修复逻辑模块的模型
- 作者：Hahanov V.I.;Litvinova E.I.;Frolov A.;Yves Tiecoura
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
42.Models for quality analysis of computer structures

机译：计算机结构质量分析模型
- 作者：Abbas Murad Ali;Chumachenko S.V.;Hahanova A.V.;Gorobets A.A.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年