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2010 15th IEEE European Test Symposium
2010 15th IEEE European Test Symposium
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1.
A multi-mode MEMS sensor design to support system test and health usage monitoring applications
机译:
多模式MEMS传感器设计可支持系统测试以及健康和使用情况监控应用
作者:
Xu Z.
;
Richardson A.
;
Li L.
;
Begbie M.
;
Koltsov D.
;
Wang C. H.
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
关键词:
HUMS;
bias superposition;
built-in-self-test;
humidity sensor;
multi-mode sensing;
online test;
pressure sensor;
self-repair;
sensor network;
sensor reliability;
wireless sensor network;
2.
A new built-in IDDQ testing method using programmable BICS
机译:
使用可编程BICS的新型内置IDDQ测试方法
作者:
Maltabas Samed
;
Ekekon Osman Kubilay
;
Margala Martin
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
关键词:
BICS;
BIST;
Charge Pump;
Current Based Testing;
DFT;
IDDQ;
Phase-Locked Loops;
Programmability;
3.
Algorithm-based fault tolerance for many-core architectures
机译:
多核架构的基于算法的容错能力
作者:
Braun Claus
;
Wunderlich Hans-Joachim
会议名称:
《》
|
2010年
4.
A diagnostic test generation system and a coverage metric
机译:
诊断测试生成系统和覆盖率指标
作者:
Zhang Yu
;
Agrawal Vishwani D.
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
5.
Robustness evaluation and improvements under laser-based fault attacks of an AES crypto-processor implemented on a SRAM-based FPGA
机译:
在基于SRAM的FPGA上实现的AES密码处理器的基于激光的故障攻击下的鲁棒性评估和改进
作者:
Canivet G.
;
Maistn P.
;
Leveugle R.
;
Valette F.
;
Clediere J.
;
Renaudin M.
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
6.
Evaluation of concurrent error detection techniques on the Advanced Encryption Standard
机译:
评估高级加密标准上的并发错误检测技术
作者:
Bousselam K.
;
Di Natale G.
;
Flottes M-L.
;
Rouzeyre B.
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
关键词:
Advanced Encryption Standard;
coding techniques;
concurrent fault detection;
7.
Test power reduction in compression-based reconfigurable scan architectures
机译:
在基于压缩的可重新配置扫描架构中测试功耗降低
作者:
Almukhaizim Sobeeh
;
Mohammad Mohammad Gh.
;
Khajah Mohammad
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
8.
Multivariate model for test response analysis
机译:
用于测试响应分析的多元模型
作者:
Krishnan Shaji
;
Kerkhoff Hans G.
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
9.
Hybrid test application in hybrid delay scan design
机译:
混合测试在混合延迟扫描设计中的应用
作者:
Yoshikawa Yuki
;
Nuwa Tomomi
;
Ichihara Hideyuki
;
Inoue Tomoo
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
10.
Reconfigurable Concurrent Error Detection adaptive to dynamicity of power constraints
机译:
可重新配置的并发错误检测,适应功率约束的动态
作者:
Almukhaizim Sobeeh
;
Bunian Sara
;
Sinanoglu Ozgur
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
11.
Increasing reliability of programmable mixed-signal systems by applying design diversity redundancy
机译:
通过应用设计多样性冗余来提高可编程混合信号系统的可靠性
作者:
de M. Borges Gabriel
;
Goncalves Luiz F.
;
Balen Tiago R.
;
Lubaszewski Marcelo S.
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
关键词:
design diversity TMR;
fault tolerance;
mixed-signal;
12.
Current-based testable design of level shifters in liquid crystal display drivers
机译:
液晶显示器驱动器中电平转换器的基于电流的可测试设计
作者:
Hashizume Masaki
;
Nakaminami Kazuya
;
Yotsuyanagi Hiroyuki
;
Nakajima Yukinori
;
Kinoshita Kozo
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
关键词:
DFT;
level shifter;
liquid cristal display driver;
supply current test;
13.
Scan cell reordering to minimize peak power during test cycle: A graph theoretic approach
机译:
扫描单元重新排序以最大程度地降低测试周期内的峰值功率:一种图形理论方法
作者:
Tudu Jaynarayan T
;
Larsson Erik
;
Singh Virendra
;
Fujiwara Hideo
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
14.
Test pattern selection to optimize delay test quality with a limited size of test set
机译:
选择测试模式,以有限的测试集大小来优化延迟测试质量
作者:
Inoue Michiko
;
Taketani Akira
;
Yoneda Tomokazu
;
Iwata Hiroshi
;
Fujiwara Hideo
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
15.
Setting test conditions for improving SRAM reliability
机译:
设置测试条件以提高SRAM的可靠性
作者:
Fonseca R. Alves
;
Dilillo L.
;
Bosio A.
;
Girard P.
;
Pravossoudovitch S.
;
Virazel A.
;
Badereddine N.
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
16.
Configurable fault-tolerant link for inter-die communication in 3D on-chip networks
机译:
可配置的容错链路,用于3D片上网络中的芯片间通信
作者:
Pasca Vladimir
;
Anghel Lorena
;
Rusu Claudia
;
Benabdenbi Mounir
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
17.
A shared BIST optimization methodology for memory test
机译:
共享的BIST优化方法用于内存测试
作者:
Zaourar Lilia
;
Chentoufi Jihane Alami
;
Kieffer Yann
;
Wenzel Arnaud
;
Grandvaux Frederic
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
关键词:
Bist;
memory;
optimization;
sharing;
18.
Pipelined parallel test structure for mixed-signal SoCs
机译:
混合信号SoC的流水线并行测试结构
作者:
Jin Yang
;
Wang Hong
;
Lv Zhengliang
;
Yang Shiyuan
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
19.
Add-on blocks and algorithms for improving stimulus compression
机译:
用于改善刺激压缩的附加模块和算法
作者:
Alawadhi Nader
;
Sinanoglu Ozgur
;
Al-Mulla Mohammed
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
20.
Defect-aware nanocrossbar logic mapping using Bipartite Subgraph Isomorphism canonization
机译:
使用Bipartite子图同构和规范化的缺陷感知纳米交叉逻辑映射
作者:
Goren Sezer
;
Ugurdag H. Fatih
;
Palaz Okan
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
关键词:
Bipartite Subgraph Isomorphism;
Fault Tolerance;
Nanelectronics;
Reconfigurable Architectures;
21.
New scan-based test strategy for a dependable many-core processor using a NoC as a Test Access Mechanism
机译:
使用NoC作为测试访问机制的可靠多核处理器基于扫描的新测试策略
作者:
Zhang Xiao
;
Kerkhoff Hans G.
;
Vermeulen Bart
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
22.
Design and implementation of Automatic Test Equipment IP module
机译:
自动测试设备IP模块的设计与实现
作者:
Fransi S.
;
Farre G. L.
;
Deiros L. G.
;
Manich S. B.
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
关键词:
Automatic Testing;
Digital Circuits;
Field Programmable Gate Arrays;
Intellectual Property;
Low Cost ICs;
Low Power Tester;
Multisite Tester;
23.
On measurement uncertainty of ADC nonlinearities in oscillation-based test
机译:
基于振荡测试的ADC非线性测量不确定度
作者:
Mrak Peter
;
Biasizzo Anton
;
Novak Franc
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
关键词:
analog-to-digital converter;
differential nonlinearity;
oscillation-based test;
24.
Fast simulation based testing of anti-tearing mechanisms for small embedded systems
机译:
基于快速仿真的小型嵌入式系统抗撕裂机制测试
作者:
Loinig Johannes
;
Steger Christian
;
Weiss Reinhold
;
Haselsteiner Ernst
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
25.
Input test data volume reduction based on test vector chains
机译:
基于测试向量链的输入测试数据量减少
作者:
Pomeranz Irith
;
Reddy Sudhakar M.
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
26.
Invited talk: Self-aware wireless communication and signal processing systems: Real-time adaptation for error resilience, low power and performance
机译:
特邀演讲:自我感知的无线通信和信号处理系统:实时自适应,以提高容错能力,低功耗和性能
作者:
Chatterjee Abhijit
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
27.
Plenary presentations: Keynote: The product complexity and test — How product complexity impacts test industry
机译:
全体会议演讲:主题演讲:产品复杂性和测试-产品复杂性如何影响测试行业
作者:
Campbell Michael
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
28.
ETS 2009 Best Paper
机译:
ETS 2009最佳论文
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
29.
Foreword
机译:
前言
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
30.
Copyright page
机译:
版权页
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
31.
Author index
机译:
作者索引
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
32.
TTTC: Test Technology Technical Council
机译:
TTTC:测试技术委员会
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
33.
Novel built-in methodology for defect testing of capacitor oxide in SAR analog to digital converters for critical automotive applications
机译:
新颖的内置方法可用于关键汽车应用中的SAR模数转换器中的电容器氧化物的缺陷测试
作者:
Malandruccolo V.
;
Ciappa M.
;
Fichtner W.
;
Rothleitner H.
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
关键词:
Built-in Reliability Test;
Capacitor Oxide Reliability;
SAR ADC;
Zero Defects;
34.
On estimation of NBTI-Induced delay degradation
机译:
关于NBTI引起的延迟退化的估计
作者:
Noda Mitsumasa
;
Kajihara Seiji
;
Sato Yasuo
;
Miyase Kohei
;
Wen Xiaoqing
;
Miura Yukiya
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
关键词:
Aging;
Delay Fault;
NBTI;
Path selection;
35.
Adaptive test directions
机译:
自适应测试方向
作者:
Maxwell Peter
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
关键词:
real-time analysis;
statistical data analysis;
test flow;
variability;
36.
Defect filter for alternate RF test
机译:
缺陷滤波器,用于备用射频测试
作者:
Stratigopoulos Haralampos-G.
;
Mir Salvador
;
Acar Erkan
;
Ozev Sule
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
37.
Improving CNF representations in SAT-based ATPG for industrial circuits using BDDs
机译:
使用BDD改进基于SAT的ATPG中用于工业电路的CNF表示
作者:
Tille Daniel
;
Eggersglus Stephan
;
Krenz-Baath Rene
;
Schloeffel Juergen
;
Drechsler Rolf
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
38.
Predicting dynamic specifications of ADCs with a low-quality digital input signal
机译:
预测具有低质量数字输入信号的ADC的动态规格
作者:
Sheng Xiaoqin
;
Kerzerho Vincent
;
Kerkhoff Hans G.
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
关键词:
ADC;
machine-learning-based;
pulse wave;
test;
39.
Test of embedded analog circuits based on a built-in current sensor
机译:
基于内置电流传感器的嵌入式模拟电路测试
作者:
Mozuelos Roman
;
Lechuga Yolanda
;
Martinez Mar
;
Bracho Salvador
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
关键词:
Built-in current sensor;
Design for test;
Dynamic current test;
Mixed-signal circuit;
40.
A Built-In Self-Test scheme for high speed I/O using cycle-by-cycle edge control
机译:
使用逐周期边缘控制的高速I / O内置自测方案
作者:
Kim Hyunjin
;
Chung Jaeyong
;
Abraham Jacob A.
;
Byun Eonjo
;
Woo Cheol-Jong
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
关键词:
Built-In Self-Test;
Data-Dependent Jitter;
Design for Testability;
High Speed I/O interfaces;
Per-Pin Skew;
41.
Constructing augmented time compactors
机译:
构造扩展时间压缩器
作者:
Gizdarski Emil
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
42.
Analysis of resistive-bridging defects in SRAM core-cells: A comparative study from 90nm down to 40nm technology nodes
机译:
SRAM核心单元中的电阻桥接缺陷分析:从90nm到40nm技术节点的比较研究
作者:
Fonseca R. Alves
;
Dilillo L.
;
Bosio A.
;
Girard P.
;
Pravossoudovitch S.
;
Virazel A.
;
Badereddine N.
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
关键词:
SRAM;
core-cell;
fault modeling;
resistive-bridge;
43.
A reconfigurable online BIST for combinational hardware using digital neural networks
机译:
使用数字神经网络的用于组合硬件的可重配置在线BIST
作者:
Hosseini S. Behdad
;
Shahabi Ali
;
Sohofi Hassan
;
Navabi Zainalabedin
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
关键词:
Digital Logic Modeling;
Digital Neural Networks;
On-line Testing;
Self-Checking;
44.
Diagnosis of full open defects in interconnect lines with fan-out
机译:
带扇出的互连线全开缺陷诊断
作者:
Rodriguez-Montanes R.
;
Arumi D.
;
Figueras J.
;
Einchenberger S.
;
Hora C.
;
Kruseman B.
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
45.
Diagnosis of failing scan cells through orthogonal response compaction
机译:
通过正交响应压缩诊断扫描单元故障
作者:
Benware Brady
;
Mrugalski Grzegorz
;
Pogiel Artur
;
Rajski Janusz
;
Solecki Jedrzej
;
Tyszer Jerzy
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
46.
An adaptive tester architecture for volume diagnosis
机译:
用于体积诊断的自适应测试仪架构
作者:
Bernardi P.
;
Grosso M.
;
Reorda M. Sonza
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
47.
Scan based speed-path debug for a microprocessor
机译:
基于扫描的微处理器速度路径调试
作者:
Zeng Jing
;
Guo Ruifeng
;
Cheng Wu-Tung
;
Mateja Michael
;
Wang Jing
;
Tsai Kun-Han
;
Amstutz Ken
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
48.
An integrated flow for the design of hardened circuits on SRAM-based FPGAs
机译:
在基于SRAM的FPGA上设计强化电路的集成流程
作者:
Bolchini Cristiana
;
Miele Antonio
;
Sandionigi Chiara
;
Battezzati Niccolo
;
Sterpone Luca
;
Violante Massimo
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
49.
A software-based self-test methodology for system peripherals
机译:
基于软件的系统外围设备自检方法
作者:
Grosso M.
;
Perez W. J. H.
;
Ravotto D.
;
Sanchez E.
;
Reorda M. Sonza
;
Medina J. Velasco
会议名称:
《》
|
2010年
关键词:
DMA controller;
SBST;
functional testing;
peripherals testing;
50.
Microprocessor fault-tolerance via on-the-fly partial reconfiguration
机译:
通过实时部分重新配置实现微处理器容错
作者:
Di Carlo Stefano
;
Miele Andrea
;
Prinetto Paolo
;
Trapanese Antonio
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
关键词:
fault tolerance;
graceful degradation;
partial reconfiguration;
self-repair architectures;
51.
A distributed architecture to check global properties for post-silicon debug
机译:
用于检查全局属性以进行硅后调试的分布式体系结构
作者:
Larsson Erik
;
Vermeulen Bart
;
Goossens Kees
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
|
2010年
关键词:
Post silicon debug;
distributed property checking;
monitors;
races;
validation;
52.
Automated conformance evaluation of SystemC designs using timed automata
机译:
使用定时自动机对SystemC设计进行自动一致性评估
作者:
Herber Paula
;
Pockrandt Marcel
;
Glesner Sabine
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
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2010年
53.
Calibration-enabled scalable built-in current sensor compatible with very low cost ATE
机译:
支持校准的可扩展内置电流传感器,与非常低成本的ATE兼容
作者:
Dasnurkar Sachin Dileep
;
Abraham Jacob A.
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
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2010年
54.
Computing the detection of Small Delay Defects caused by resistive opens of nanometer ICs
机译:
计算由纳米IC的电阻开路引起的小延迟缺陷的检测
作者:
Garcia-Gervacio Jose L.
;
Champac Victor
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
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2010年
55.
Modified T-Flip-Flop based scan cell for RAS
机译:
修改后的基于T触发器的扫描单元
作者:
Adiga Raghavendra
;
Arpit Gandhi
;
Singh Virendra
;
Saluja Kewal K
;
Singh Adit D.
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
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2010年
56.
Multiple fault diagnosis in crossbar nano-architectures
机译:
纵横制纳米结构中的多故障诊断
作者:
Farazmand Navid
;
Tahoori Mehdi B.
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
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2010年
57.
Full-circuit SPICE simulation based validation of dynamic delay estimation
机译:
基于全电路SPICE仿真的动态延迟估计验证
作者:
Peng Ke
;
Huang Yu
;
Mallick Pinki
;
Cheng Wu-Tung
;
Tehranipoor Mohammad
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
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2010年
关键词:
IR-drop;
SPICE;
delay estimation;
mixed-signal simulation;
validation;
58.
A two-layer SPICE model of the ATMEL TSTAC™ eFlash memory technology for defect injection and faulty behavior prediction
机译:
ATMEL TSTAC™eFlash存储器技术的两层SPICE模型,用于缺陷注入和故障行为预测
作者:
Mauroux P.-D.
;
Virazel A.
;
Bosio A.
;
Dilillo L.
;
Girard P.
;
Pravossoudovitch S.
;
Godard B.
;
Festes G.
;
Vachez L.
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
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2010年
关键词:
Fowler-Nordheim;
coupling effects;
defects;
electrical model;
embedded Flash;
fault modeling;
59.
A transient error tolerant self-timed asynchronous architecture
机译:
瞬态容错自定时异步体系结构
作者:
Zamani Masoud
;
Tahoori Mehdi B.
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
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2010年
60.
Parametric failure analysis of embedded SRAMs using fast accurate dynamic analysis
机译:
使用快速准确的动态分析对嵌入式SRAM进行参数故障分析
作者:
Vatajelu Elena I.
;
Panagopoulos Georgios
;
Roy Kaushik
;
Figueras Joan
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
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2010年
关键词:
SRAM DNM;
SRAM SNM;
SRAM failure analysis;
SRAM yield;
alpha-power current law;
61.
A low-cost built-in self-test scheme for an array of memories
机译:
用于存储器阵列的低成本内置自检方案
作者:
Huang Yu-Jen
;
Chou Che-Wei
;
Li Jin-Fu
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
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2010年
62.
Low-cost signature test of RF blocks based on envelope response analysis
机译:
基于包络响应分析的射频模块低成本签名测试
作者:
Barragan Manuel J.
;
Fiorelli Rafaella
;
Vazquez Diego
;
Rueda Adoracion
;
Huertas Jose L.
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
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2010年
关键词:
RF BIST;
RF test;
Signature test;
63.
Combining scan and trace buffers for enhancing real-time observability in post-silicon debugging
机译:
结合扫描和跟踪缓冲区以增强后硅调试中的实时可观察性
作者:
Ko Ho Fai
;
Nicolici Nicola
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
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2010年
64.
On the use of standard digital ATE for the analysis of RF signals
机译:
关于使用标准数字ATE分析RF信号
作者:
Pous N.
;
Azais F.
;
Latorre L.
;
Rivoir J.
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
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2010年
关键词:
analog/RF signals;
coherent under-sampling;
digital ATE;
post-processing algorithm;
test;
zero-crossing detection;
65.
Sensors for built-in alternate RF test
机译:
内置备用RF测试的传感器
作者:
Abdallah Louay
;
Stratigopoulos Haralampos-G.
;
Kelma Christophe
;
Mir Salvador
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
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2010年
66.
A low-cost and scalable test architecture for multi-core chips
机译:
用于多核芯片的低成本且可扩展的测试架构
作者:
Chi Chun-Chuan
;
Wu Cheng-Wen
;
Li Jin-Fu
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
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2010年
关键词:
array testing;
diagnosis;
multi-core;
scalable test architecture;
test;
test access mechanism;
67.
On the cost-effectiveness of matching repositories of pre-tested wafers for wafer-to-wafer 3D chip stacking
机译:
关于晶圆对晶圆3D芯片堆叠的预测试晶圆匹配存储库的成本效益
作者:
Verbree Jouke
;
Marinissen Erik Jan
;
Roussel Philippe
;
Velenis Dimitrios
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
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2010年
68.
Production test challenges for highly integrated mobile phone SOCs — A case study
机译:
高度集成的手机SOC的生产测试挑战—案例研究
作者:
Poehl Frank
;
Demmerle Frank
;
Alt Juergen
;
Obermeir Hermann
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
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2010年
69.
Test-architecture optimization for TSV-based 3D stacked ICs
机译:
基于TSV的3D堆叠IC的测试架构优化
作者:
Noia Brandon
;
Goel Sandeep Kumar
;
Chakrabarty Krishnendu
;
Marinissen Erik Jan
;
Verbree Jouke
会议名称:
《2010 15th IEEE European Test Symposium》
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2010年
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