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Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR
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1.
An optical 'workstation' for characterization and modification of MEMS
机译:
用于表征和修改MEMS的光学“工作站”
作者:
John Hedley
;
Jim S. Burdess
;
Alun J. Harris
;
Barry J. Gallacher
;
Calum J. McNeil
;
Peter J. Cumpson
;
Stefan Enderling
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
optical;
testing;
characterisation;
actuation;
tuning;
2.
Frequency measurement of refraction index of air for high-resolution laser interferometry
机译:
高分辨率激光干涉仪中空气折射率的频率测量
作者:
Ondfej Cip
;
Frantisek Petru
;
Vit Matousek
;
Josef Lazar
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
index of refraction of air;
high-resolution laser interferometry;
edlen formula;
3.
Interferometric methods for static and dynamic characterizations of micromembranes for sensing functions
机译:
用于感测功能的微膜静态和动态表征的干涉法
作者:
L. Salbut
;
J. Kacperski
;
A. Styk
;
M. Jozwik
;
C. Gorecki
;
H. Urey
;
A. Jacobelli
;
T. Dean
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
microelements;
MEMS/MOEMS;
optical metrology;
microinterferometry;
vibration analysis;
4.
Investigation on mechanical properties of porous alumina thin membranes using temporal sequence speckle pattern interferometry
机译:
时间序列散斑图干涉法研究多孔氧化铝薄膜的力学性能
作者:
Wu Xiaoping
;
Liu Zhaotao
;
Miao Hong
;
Gu Ping
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
porous alumina membrane;
temporal sequence speckle interferometry;
mechanical properties;
5.
Performance of a multi-fiber polarimetric strain sensor
机译:
多光纤极化应变传感器的性能
作者:
Gopalkrishna Hegde
;
Eluska Sukia
;
Lim Choo Min
;
Anand Asundi
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
polarimetric sensor;
all-fiber;
health monitoring;
composite;
6.
Optical characterization of micro-electro-mechanical structures
机译:
微机电结构的光学表征
作者:
Valeric Annovazzi-Lodi
;
Mauro Benedetti
;
Sabina Merlo
;
Michele Norgia
;
Benedetto Vigna
;
Simone Sassolini
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
micro-electro-mechanical-systems;
MEMS;
microsensors;
optical interferometry;
gyroscope;
accelerometer;
7.
Photopolymerization Induced Materialization of the Dipolar Response from Isolated Metallic Nanoparticles
机译:
光聚合诱导从孤立的金属纳米粒子的偶极响应的物化。
作者:
Gregory Wurtz
;
Dominique Burget
;
Christiane Carre
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
gold nanoparticles;
hybrid nanoparticles;
field enhancement;
local photopolymerization;
near-field optics;
nanolithography;
8.
Singular Stokes-polarimetry as new technique for metrology and inspection of polarized speckle fields
机译:
奇异斯托克斯极化技术作为计量和检查偏振散斑场的新技术
作者:
Marat S. Soskin
;
Vladimir G. Denisenko
;
Roman I. Egorov
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
elliptic polarimetry;
singular stokes-polarimetry;
polarization singularities;
speckle;
9.
Stroboscopic illumination and synchronous imaging for the characterization of MEMS vibrations
机译:
频闪照明和同步成像用于表征MEMS振动
作者:
B. Serio
;
J.J. Hunsinger
;
B. Cretin
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
MEMS;
in-plane vibration measurement;
mechanical constant measurement;
mechanical resonance;
10.
Three-dimensional dynamic environmental MEMS characterization
机译:
三维动态环境MEMS表征
作者:
Erik Novak
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
surface profiling;
MEMS characterization;
optical switch;
white light interferometry;
optical profiler;
strobed interferometry;
11.
TOMOGRAPHIC MICROINTERFEROMETRY OF REFRACTIVE INDEX DISTRIBUTION
机译:
折光指数分布的层析微干涉。
作者:
Pawel Kniazewski
;
Malgorzata Kujawinska
;
Heidi Ottevaere
;
Hugo Thienpont
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
optical metrology;
tomographic microinterferometry;
3D refractive index distribution;
optical fibers;
grin lens;
12.
A plastic fiber polarimetric sensor for dynamic applications
机译:
用于动态应用的塑料纤维偏振传感器
作者:
Gopalkrishna Hegde
;
E. Purnomo
;
E. Ang
;
Andrew Sabaratnam
;
Anand Asundi
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
plastic fiber;
fiber optic polarimetric sensor;
smart structure;
concrete;
health monitoring;
13.
Application on multi-channel V-groove inspection
机译:
在多通道V型槽检验中的应用
作者:
Chx Li
;
A. K. Asundi
;
Zh P Fang
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
MOEMS;
passive optical alignment;
multi-channel 3D measurement system;
14.
Scanning Diffraction Microscopy: far field microscopy by interferometry and diffraction combination
机译:
扫描衍射显微镜:通过干涉法和衍射相结合的远场显微镜
作者:
S. Selci
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
microscopy;
interferometry;
diffraction;
15.
Real time measurement of microscopic surface shape using high speed cameras with continuously scanning interference microscopy
机译:
使用具有连续扫描干涉显微镜的高速相机实时测量微观表面形状
作者:
Paul Montgomery
;
Cemal Draman
;
Wilfried Uhring
;
Francois Tomasini
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
4D characterization;
interference microscopy;
white light interferometry;
MOEMS microsystems;
real time measurement;
16.
Sensitivity-tunable interferometric system based on surface plasmon resonance
机译:
基于表面等离振子共振的灵敏度可调干涉系统
作者:
Chien-ming Wu
;
Ming-Chi Pao
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
surface plasmon resonance;
interferometry;
biosensors;
17.
Studies of the properties of the temporal phase shifting method applied to silicone microelement vibration investigations using the time average method
机译:
使用时间平均法的时间相移方法在有机硅微量元素振动研究中的特性研究
作者:
Krzysztof Patorski
;
Zbigniew Sienicki
;
Michal Pawlowski
;
Adam Styk
;
Agata Jozwicka
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
optical methods of testing;
vibration studies;
time averaged interferometry;
automatic fringe pattern analysis;
silicone microelements;
18.
Study of the roughness and optical near field of mass surface by using a SNOM with shear-force regulation
机译:
使用带剪力调节的SNOM研究质量表面的粗糙度和光学近场
作者:
Y. Haidar
;
F. de Fornel
;
C. Zerouki
;
P. Pinot
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
19.
Metrology of refractive microlens arrays
机译:
折射微透镜阵列的计量
作者:
Kenneth J. Weible
;
Reinhard Voelkel
;
Martin Eisner
;
Samuel Hoffmann
;
Toralf Scharf
;
Hans Peter Herzig
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
microlens arrays;
micro-optics;
aspheres;
interferometers;
metrology;
20.
Thickness measurement of thin transparent plates with a broad-band wavelength scanning interferometer
机译:
用宽带波长扫描干涉仪测量透明薄板的厚度
作者:
P. Maddaloni
;
G. Coppola
;
P. De Natale
;
S. De Nicola
;
P. Ferraro
;
M. Gioffre
;
M. Iodice
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
interferometry;
thin plates;
thickness;
dispersion;
21.
A miniaturized SNOM sensor based on the optical feedback inside the VCSEL cavity
机译:
基于VCSEL腔内部的光反馈的微型SNOM传感器
作者:
Christophe Gorecki
;
Dominique Heinis
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
scanning near field optical microscopy;
vertical cavity surface emitted laser;
nanosensing;
silicon micromachining;
22.
Analysis of static and dynamic operational behaviour of active micromembranes
机译:
活性微膜的静态和动态操作行为分析
作者:
Aswendt
;
Petra
;
Dean
;
Thierry
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
speckle interferometry;
deep ultraviolet light;
micromembranes;
MEMS;
23.
Digital holographic Microscope for thermal characterization of silicon Micro-Hotplates for gas sensor
机译:
用于气体传感器硅微热板热特性的数字全息显微镜
作者:
Giuseppe Coppola
;
Sergio De Nicola
;
Pietro Ferraro
;
Andrea Finizio
;
Piera Maccagnani
;
Giovanni Pierattini
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
digital holography characterization;
silicon micro-hotplate;
gas sensor;
residual stress;
24.
Design, testing and calibration of an integrated Mach-Zehnder based optical read-out architecture for MEMS characterization
机译:
基于集成Mach-Zehnder的光学读出架构的设计,测试和校准,用于MEMS表征
作者:
A. Sabac
;
C. Gorecki
;
M. Jozwik
;
T. Dean
;
A. Jacobelli
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
microsensors;
integrated optics;
MOEMS;
mach-zehnder interferometer;
25.
Application of the vortex transform to microscopic interferometry
机译:
涡旋变换在显微干涉测量中的应用
作者:
Sylvain Petitgrand
;
Alain Bosseboeuf
;
Matthieu Guirardel
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
interferometry;
fringe pattern analysis;
microscopy;
MEMS;
spiral phase;
vortex transform;
26.
Femtosecond ablation scaling for different materials
机译:
飞秒烧蚀对不同材料的缩放
作者:
P. Gonzales
;
R. Bernath
;
J. Duncan
;
T. Olmstead
;
M. Richardson
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
femtosecond ablation;
elements;
metal;
foil;
27.
Evolutionary approach to an inverse problem in near-field optics microscopy
机译:
近场光学显微镜反问题的进化方法
作者:
Demetrio Macias Dominique Barchiesi
;
Alexandre Vial
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
near-field optics;
inverse problem;
electromagnetics model;
28.
Holographic interferometry deformations metrology by using AR modelling
机译:
利用AR建模的全息干涉术变形计量学
作者:
Rabah Mokdad
;
Idriss El-hafidi
;
Patrick Meyrueis
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
holographic interferometry;
deformation analysis;
autoregressive modelling;
29.
Hybrid analysis of micromachined silicon thin film based on digital microscopic holography
机译:
基于数字显微全息的微加工硅薄膜的混合分析
作者:
Lei Xu
;
Xiaoyuan Peng
;
Jianmin Miao
;
Anand K. Asundi
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
thin film analysis;
micro metrology;
digital microscopic holography;
hybrid approach;
finite element method;
30.
Lateral error reduction in the 3D characterization of deep MOEMS devices using white light interference microscopy
机译:
使用白光干涉显微镜降低深度MOEMS器件3D表征中的横向误差
作者:
Paul Montgomery
;
Denis Montaner
;
Omar Manzardo
;
Hans-Peter Herzig
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
3D characterization;
interference microscopy;
white light interferometry;
MOEMS microsystems;
edge errors;
31.
Near-field optical measurements using rare-earth-doped glass-ceramic particles
机译:
使用稀土掺杂的玻璃陶瓷颗粒进行近场光学测量
作者:
L. Aigouy
;
M. Mortier
;
Y. De Wilde
;
J. Gierak
;
E. Bourhis
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
nanoparticle;
fluorescence;
near-field optics;
nanomanipulation;
electromagnetism;
32.
Makyoh topography: a simple yet powerful optical method for flatness and defect characterisation of mirror-like surfaces
机译:
Makyoh地形:一种简单但功能强大的光学方法,用于镜面状表面的平坦度和缺陷表征
作者:
Ferenc Riesz
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
|
2004年
关键词:
makyoh topography;
surface flatness;
surface morphology;
surface defects;
full-field optical characterisation techniques;
MEMS;
curvature measurements;
33.
Modified linear and circular carrier frequency Fourier transform method applied for studies of vibrating microelements
机译:
修正的线性和圆形载频傅里叶变换方法在振动微元素研究中的应用
作者:
Jacek Kacperski
;
Malgorzata Kujawinska
;
Jerzy Krezel
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
fringe pattern analysis;
spatial carrier frequency;
fourier transform method;
circular carrier frequency;
coordinate transform;
active microelements;
34.
Near-field scanning photoluminescence microscopy of InGaN/GaN quantum structures
机译:
InGaN / GaN量子结构的近场扫描光致发光显微镜
作者:
S. Tripathy
;
S.J. Chua
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
III-nitrides;
NSOM;
photoluminescence;
multi-quantum wells;
quantum dots;
35.
Real-time shape measurement system including CG-output
机译:
包括CG输出的实时形状测量系统
作者:
Yoshiharu MORIMOTO
;
Motoharu FUJIGAKT
;
Rodolphe SAUGIER
会议名称:
《Conference on Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology; 20040429-20040430; Strasbourg; FR》
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2004年
关键词:
real-time;
shape;
deformation;
measurement;
moire topography;
interferometry;
CG;
animation;
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