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European Test Workshop, 2003. Proceedings. The Eighth IEEE
European Test Workshop, 2003. Proceedings. The Eighth IEEE
召开年：
2003
召开地：
出版时间：
-
会议文集：
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1.
RF ATE equipment benefit from advanced network analyzer technology
机译：
RF ATE设备受益于先进的网络分析仪技术
作者：
Seth M.
会议名称：
《European Test Workshop, 2003. Proceedings. The Eighth IEEE》
|
2003年
关键词：
network analysers;
automatic test equipment;
mobile communication;
RF ATE equipment;
advanced network analyzer technology;
broadband MVNA;
VNA;
mobile communication systems;
broadband port circuitry;
parallel measurement architecture;
signal processors;
2.
Debug architecture for system on chip taking full advantage of the test access port
机译：
充分利用测试访问端口的片上系统的调试体系结构
作者：
Moerman E.
;
Bocq S.
;
Verfaillie J.
会议名称：
《European Test Workshop, 2003. Proceedings. The Eighth IEEE》
|
2003年
关键词：
system-on-chip;
logic testing;
design for testability;
computer debugging;
open systems;
design for debug;
open debug architecture;
SoC debug architecture;
system on chip debug;
test access port;
SoC system environment;
software debugging;
hardware debug;
3.
A practical evaluation of I/sub DDQ/ test strategies for deep submicron production test application. Experiences and targets from the field
机译：
对深亚微米生产测试应用程序的I / sub DDQ /测试策略的实际评估。实地经验和目标
作者：
Fudoli
;
A.
;
Ascagni
;
A.
;
Appello
;
D.
;
Manhaeve
;
H.
会议名称：
《European Test Workshop, 2003. Proceedings. The Eighth IEEE》
|
2003年
关键词：
production testing;
integrated circuit testing;
logic testing;
automatic test equipment;
boundary scan testing;
fast I/sub DDQ/ test strategies;
ATE measurement;
deep submicron production test;
scan testing;
functional testing;
measurement equipment qual;
4.
An efficient approach to SoC wrapper design, TAM configuration and test scheduling
机译：
SoC包装器设计，TAM配置和测试计划的有效方法
作者：
Pouget J.
;
Larsson E.
;
Peng Z.
;
Flottes M.-L.
;
Rouzeyre B.
会议名称：
《European Test Workshop, 2003. Proceedings. The Eighth IEEE》
|
2003年
关键词：
system-on-chip;
integrated circuit design;
integrated circuit testing;
integrated circuit interconnections;
logic design;
logic testing;
system buses;
SoC wrapper design;
TAM configuration;
test scheduling;
test application time;
core accessibility;
syst;
5.
Automatic worst case pattern generation using neural networks genetic algorithm for estimation of switching noise on power supply lines in CMOS circuits
机译：
使用神经网络和遗传算法自动生成最坏情况模式，以估算CMOS电路中电源线上的开关噪声
作者：
Liau E.
;
Schmitt-Landsiedel D.
会议名称：
《European Test Workshop, 2003. Proceedings. The Eighth IEEE》
|
2003年
关键词：
automatic test pattern generation;
integrated circuit testing;
integrated circuit noise;
CMOS integrated circuits;
neural nets;
genetic algorithms;
automatic test equipment;
pattern classification;
worst case input patterns;
automatic test pattern genera;
6.
Automating test program generation in STIL - expectations and experiences using IEEE 1450 standard test interface language
机译：
在STIL中自动生成测试程序-使用IEEE 1450 标准测试接口语言的期望和体验
作者：
Lang H.
;
Pande B.
;
Ahrens H.
会议名称：
《European Test Workshop, 2003. Proceedings. The Eighth IEEE》
|
2003年
关键词：
automatic test pattern generation;
integrated circuit testing;
IEEE standards;
automatic test equipment;
fault diagnosis;
electronic design automation;
standard test interface language;
automating test program generation;
STIL based tester;
IEEE 1450 sta;
7.
Automating the device interface board modeling for virtual test
机译：
自动化设备接口板建模以进行虚拟测试
作者：
Rona M.
;
Krampl G.
;
Raczkowski F.
会议名称：
《European Test Workshop, 2003. Proceedings. The Eighth IEEE》
|
2003年
关键词：
computer interfaces;
integrated circuit testing;
network synthesis;
circuit simulation;
program verification;
system-on-chip;
mixed analogue-digital integrated circuits;
integrated circuit modelling;
hardware description languages;
automatic test equipme;
8.
Characterization of the EME of integrated circuits with the help of the IEC standard 61967 electromagnetic emission
机译：
借助IEC标准61967 电磁辐射表征集成电路的EME
作者：
Ostermann T.
;
Deutschmann B.
会议名称：
《European Test Workshop, 2003. Proceedings. The Eighth IEEE》
|
2003年
关键词：
integrated circuit measurement;
electromagnetic compatibility;
IEC standards;
measurement standards;
IC EME;
IEC 61967 standard;
electromagnetic compatibility;
EMC requirements;
IEC 62132;
electromagnetic emission measurement;
electromagnetic immunity me;
9.
Code generation for functional validation of pipelined microprocessors
机译：
代码生成，用于流水线微处理器的功能验证
作者：
Corno F.
;
Squillero G.
;
Sonza Reorda M.
会议名称：
《European Test Workshop, 2003. Proceedings. The Eighth IEEE》
|
2003年
关键词：
microprocessor chips;
integrated circuit testing;
logic testing;
logic simulation;
pipeline processing;
evolutionary computation;
microprocessor design validation;
pipelined microprocessor;
microprocessor functional validation;
microprocessor test code g;
10.
Control-aware test architecture design for modular SOC testing
机译：
用于模块化SOC测试的可感知控制的测试架构设计
作者：
Goel S.K.
;
Marinissen E.J.
会议名称：
《European Test Workshop, 2003. Proceedings. The Eighth IEEE》
|
2003年
关键词：
system-on-chip;
integrated circuit design;
integrated circuit testing;
logic design;
logic testing;
test access mechanism;
control-aware test architecture design;
modular SOC testing;
pseudo-static test control;
dynamic test control;
shift-register;
dedi;
11.
Defect-oriented dynamic fault models for embedded-SRAMs
机译：
面向缺陷的嵌入式SRAM动态故障模型
作者：
Borri S.
;
Hage-Hassan M.
;
Girard P.
;
Pravossoudovitch S.
;
Virazel A.
会议名称：
《European Test Workshop, 2003. Proceedings. The Eighth IEEE》
|
2003年
关键词：
SRAM chips;
logic testing;
integrated circuit testing;
integrated circuit modelling;
logic simulation;
fault simulation;
defect-oriented dynamic fault models;
embedded-SRAMs;
resistive fault insertion;
core-cell array;
resistive opens defects;
VDSM techn;
12.
Enhanced P1500 compliant wrapper suitable for delay fault testing of embedded cores
机译：
增强的符合P1500的包装器，适用于嵌入式内核的延迟故障测试
作者：
Vermaak H.J.
;
Kerkhoff H.G.
会议名称：
《European Test Workshop, 2003. Proceedings. The Eighth IEEE》
|
2003年
关键词：
integrated circuit testing;
logic testing;
logic simulation;
logic design;
system-on-chip;
IEEE standards;
SOC;
embedded core testing;
delay fault testing;
P1500 compliant wrapper;
IEEE P1500 standard;
SECT;
test wrapper;
wrapper cells;
digital oscillati;
13.
Importance of dynamic faults for new SRAM technologies
机译：
动态故障对于新SRAM技术的重要性
作者：
Hamdioui S.
;
Wadsworth R.
;
Delos Reyes J.
;
van de Goor A.J.
会议名称：
《European Test Workshop, 2003. Proceedings. The Eighth IEEE》
|
2003年
关键词：
SRAM chips;
integrated circuit modelling;
logic testing;
integrated circuit testing;
fault simulation;
SRAM dynamic faults;
SRAM technologies;
fault primitive concept;
fault modeling;
dynamic fault testability;
DPM;
fault analysis;
functional fault model;
14.
Modeling feedback bridging faults with non-zero resistance
机译：
用非零电阻建模反馈桥接故障
作者：
Polian I.
;
Engelke P.
;
Renovell M.
;
Becker B.
会议名称：
《European Test Workshop, 2003. Proceedings. The Eighth IEEE》
|
2003年
关键词：
integrated circuit testing;
integrated circuit modelling;
circuit simulation;
logic simulation;
circuit oscillations;
circuit feedback;
fault simulation;
nonzero resistance bridging faults;
feedback bridging fault modeling;
bridge resistance;
circuit osc;
15.
On path selection for delay fault testing considering operating conditions logic IC testing
机译：
考虑操作条件的延迟故障测试的路径选择逻辑IC测试
作者：
Seshadri B.
;
Pomeranz I.
;
Reddy S.M.
;
Kundu S.
会议名称：
《European Test Workshop, 2003. Proceedings. The Eighth IEEE》
|
2003年
关键词：
integrated circuit testing;
integrated circuit modelling;
logic testing;
delay fault testing path selection;
operating condition considerations;
path delays;
operating temperature;
operating supply voltage;
test generation;
operating condition variations;
16.
On the selection of efficient arithmetic additive test pattern generators logic test
机译：
论高效算术加性测试模式生成器的选择逻辑测试
作者：
Manich S.
;
Garcia L.
;
Balado L.
;
Lupon E.
;
Rius J.
;
Rodriguez R.
;
Figueras J.
会议名称：
《European Test Workshop, 2003. Proceedings. The Eighth IEEE》
|
2003年
关键词：
built-in self test;
logic testing;
automatic test pattern generation;
digital arithmetic;
arithmetic additive test pattern generators;
built-in self test;
BIST;
TPG;
AdTPG;
internal datapath reuse;
triplets selection;
seed;
incremental addition;
test vec;
17.
Parity-based output compaction for core-based SOCs logic testing
机译：
基于奇偶校验的输出压缩，用于基于内核的SOC 逻辑测试
作者：
Sinanoglu O.
;
Orailoglu A.
会议名称：
《European Test Workshop, 2003. Proceedings. The Eighth IEEE》
|
2003年
关键词：
system-on-chip;
logic design;
logic testing;
boundary scan testing;
scan-based SOC test;
logic testing;
parity-based output compaction;
core-based SOC;
core test parallelism;
bandwidth allocation;
parallel core testing;
response compaction;
test response;
18.
Process-variability aware delay fault testing of /spl Delta/V/sub T/ and weak-open defects
机译：
/ spl Delta / V / sub T /和弱开路缺陷的过程可变性延迟故障测试
作者：
Arumi-Delgado
;
D.
;
Rodriguez-Montanes
;
R.
;
de Gyvez
;
J.P.
;
Gronthoud
;
G.
会议名称：
《European Test Workshop, 2003. Proceedings. The Eighth IEEE》
|
2003年
关键词：
statistical analysis;
integrated circuit testing;
integrated circuit modelling;
circuit simulation;
fault diagnosis;
process-variability aware testing;
delay fault testing;
weak-open defects;
functional testing;
performance testing;
fault diagnosis;
pote;
19.
Requirements for delay testing of look-up tables in SRAM-based FPGAs
机译：
在基于SRAM的FPGA中对查找表进行延迟测试的要求
作者：
Girard P.
;
Heron O.
;
Pravossoudovitch S.
;
Renovell M.
会议名称：
《European Test Workshop, 2003. Proceedings. The Eighth IEEE》
|
2003年
关键词：
field programmable gate arrays;
logic testing;
table lookup;
integrated circuit testing;
manufacturing oriented test procedure;
application-oriented test procedure;
field programmable gate arrays;
delay fault detection;
test sequence optimization;
SRAM-b;
20.
Scan test strategy for asynchronous-synchronous interfaces SoC testing
机译：
异步-同步接口的扫描测试策略SoC测试
作者：
Petre O.
;
Kerkhoff H.G.
会议名称：
《European Test Workshop, 2003. Proceedings. The Eighth IEEE》
|
2003年
关键词：
system-on-chip;
logic testing;
boundary scan testing;
synchronisation;
asynchronous circuits;
fault simulation;
system buses;
automatic test pattern generation;
synchronizers;
fault simulation;
scan test;
asynchronous-synchronous interfaces;
system on ch;
21.
Signal integrity loss in bus lines due to open shielding defects
机译：
由于开路的屏蔽缺陷导致总线信号完整性下降
作者：
Avendano V.
;
Champac V.
;
Figueras J.
会议名称：
《European Test Workshop, 2003. Proceedings. The Eighth IEEE》
|
2003年
关键词：
integrated circuit modelling;
shielding;
system buses;
integrated circuit interconnections;
RLC circuits;
CMOS integrated circuits;
coupled circuits;
earthing;
RLC circuit;
bus lines signal integrity loss;
open shielding defects;
high speed interconnect;
22.
TPI for improving PR fault coverage of Boolean and three-state circuits
机译：
TPI可改善布尔和三态电路的PR故障覆盖率
作者：
Geuzebroek M.J.
;
van de Goor A.J.
会议名称：
《European Test Workshop, 2003. Proceedings. The Eighth IEEE》
|
2003年
关键词：
design for testability;
logic testing;
ternary logic;
built-in self test;
test point insertion;
cost function;
pattern resistant fault coverage;
Boolean circuits;
three-state circuits;
circuit pseudo-random testability;
HCRF TPI algorithm;
COP testabilit;
23.
Yield analysis for repairable embedded memories
机译：
可修复嵌入式存储器的良率分析
作者：
Sehgal A.
;
Dubey A.
;
Marinissen E.J.
;
Wouters C.
;
Vranken H.
;
Chakrabarty K.
会议名称：
《European Test Workshop, 2003. Proceedings. The Eighth IEEE》
|
2003年
关键词：
integrated memory circuits;
integrated circuit design;
integrated circuit testing;
integrated circuit modelling;
integrated circuit yield;
logic design;
logic testing;
redundancy;
memory test;
memory design;
yield analysis tool;
repairable embedded memor;
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