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外文会议
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Conference on machine vision applications in industrial inspection
Conference on machine vision applications in industrial inspection
召开年:
2000
召开地:
San Jose, CA(US)
出版时间:
-
会议文集:
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1.
Comparison between two classification methods: application to defectsdetection by artificial vision in industrial field,
机译:
两种分类方法的比较:在工业领域中通过人工视觉检测缺陷的应用,
作者:
Pierre Geveaux
;
Univ. de Bourgogne
;
Le Creusot
;
France
;
Sophie Kohler
;
Univ. de Bourgogne
;
Le Creusot
;
France
;
J.Miteran
;
Univ. de Bourgogne
;
Le Creusot
;
France
;
Frederic Truchetet
;
Univ. de Bourgogne
;
Le Creusot
;
France
;
Fabrice Meriaudeau
;
Univ. de Bourgogne
;
Le Creusot
;
France.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
2.
Fault detection and feature analysis in interferometric fringe patternsby the application of wavelet filters in convolution processors,
机译:
小波滤波器在卷积处理器中的应用,在干涉条纹图案中进行故障检测和特征分析,
作者:
Sven Krueger
;
Humboldt Univ. zu Berlin
;
Berlin
;
Germany
;
Guenther K. Wernicke
;
Humboldt Univ. zu Berlin
;
Berlin
;
Germany
;
Wolfgang Osten
;
Bremer Institut fuer Angewandte Strahltechnik
;
Lilienthal
;
Germany
;
Daniel Kayser
;
Bremer Institut fuer Angewandte Strahltechnik
;
Bremen
;
Germany
;
Nazif Demoli
;
Univ. of Zagreb
;
Zagreb
;
Croatia
;
Hartmut Gruber
;
Humboldt Univ. zu Berlin
;
Berlin
;
Germany.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
3.
Access round-view datacloud for three-dimensional vision inspection a
机译:
访问圆视图数据云以进行三维视觉检查
作者:
Huicheng Zhou
;
Huazhong Univ. of Science
;
Technology
;
Wuhan Hubei
;
China
;
Jihong Chen
;
Huazhong Univ. of Science
;
Technology
;
Wuhan Hubei
;
China
;
Daoshan Yang
;
Huazhong Univ. of Science
;
Technology
;
Wuhan Hubei
;
China
;
Ji Zhou
;
Huazhong Univ. of Science
;
Technology
;
Wuhan
;
Hubei
;
China
;
Shawn Buckley
;
CAITech Inc.
;
San Jose
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
4.
Unambiguous interferometric surface profilometry using liquid crystal modulators
机译:
使用液晶调制器的干涉式表面轮廓仪
作者:
Mark L. Begbie
;
Univ. of Glasgow
;
Glasgow
;
United Kingdom
;
John P. Lesso
;
Univ. of St. Andrews
;
St Andrews Fife
;
United Kingdom
;
Wilson Sibbett
;
Univ. of St. Andrews
;
St Andrews Fife
;
United Kingdom
;
Miles J. Padgett
;
Univ. of Glasgow
;
Glasglow Scotland
;
United Kingdom.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
5.
Novel object detection method by probability velocity field
机译:
一种新的概率速度场目标检测方法
作者:
Yulong Cao
;
Nanjing Univ. of Science
;
Technology
;
Nanjing Jiangsu
;
China
;
Jingyu Yang
;
Nanjing Univ. of Science
;
Technology
;
Nanjing JiangSu
;
China
;
Mingwu Ren
;
Nanjing Univ. of Science
;
Technology
;
Nanjing Jiangsu
;
China
;
Wenjie Yang
;
Nanjing Univ. of Science
;
Technology
;
Nanjing
;
China.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
6.
Drop volume measurements by vision
机译:
通过视觉测量液滴体积
作者:
Heinz Hugli
;
Univ. de Neuchatel
;
Neuchatel
;
Switzerland
;
Jose J. Gonzalez
;
Univ. de Neuchatel
;
Neuchatel
;
Switzerland.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
7.
Subpixel edge detection for dimensional control by artificial vision
机译:
亚像素边缘检测,通过人工视觉进行尺寸控制
作者:
Frederic Truchetet
;
Univ. de Bourgogne
;
Le Creusot
;
France
;
Olivier Laligant
;
Univ. de Bourgogne
;
Le Creusot
;
France.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
8.
Automatic inspection of road surfaces
机译:
自动检查路面
作者:
Harry C. Rughooputh
;
Univ. of Mauritius
;
Reduit
;
Mauritius
;
Soonil D. Rughooputh
;
Univ. of Mauritius
;
Reduit
;
Mauritius
;
Jason M. Kinser
;
George Mason Univ.
;
Manassas
;
VA
;
USA.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
9.
CNN based visual processing for industrial inspection
机译:
基于CNN的用于工业检测的视觉处理
作者:
Domingo Guinea
;
Instituto de Automatica Industrial
;
Madrid
;
Spain
;
Victor M. Preciado Diaz
;
Instituto de Automatica Industrial
;
Madrid
;
Spain
;
J.Vicente
;
Instituto de Automatica Industrial
;
Arganda Madrid
;
Spain
;
Angela Ribeiro
;
Instituto de Automatica Industrial
;
Arganda Madrid
;
Spain
;
Maria C. Garcia-Alegre
;
Instituto de Automatica Industrial
;
Arganda Madrid
;
Spain.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
10.
Combined ellipsometer reflectometer scatterometer and Kerr effect microscope for thin film disk characterization
机译:
椭偏仪,反射仪,散射仪和Kerr效应显微镜相结合,用于薄膜圆盘表征
作者:
Steven W. Meeks
;
Candela Instruments
;
Fremont
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
11.
Design of an interferometer for the measurement of long radius optics
机译:
用于测量长半径光学元件的干涉仪的设计
作者:
Sen Han
;
Veeco Instruments Inc.
;
Tucson
;
AZ
;
USA
;
Joseph A. Lamb
;
Roper Scientific
;
Tucson
;
AZ
;
USA
;
Artur G. Olszak
;
Veeco Instruments Inc.
;
Tucson
;
AZ
;
USA
;
Erik Novak
;
Veeco Instruments Inc.
;
Tucson
;
AZ
;
USA.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
12.
Eggshell defects detection based on color processing
机译:
基于颜色处理的蛋壳缺陷检测
作者:
Maria C. Garcia-Alegre
;
Instituto de Automatica Industrial
;
Arganda Madrid
;
Spain
;
Angela Ribeiro
;
Instituto de Automatica Industrial
;
Arganda Madrid
;
Spain
;
Domingo Guinea
;
Instituto de Automatica Insustrial
;
Madrid
;
Spain
;
Gabriel Cristobal
;
Instituto de Optica
;
Madrid
;
Spain.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
13.
Form distance transform based implementation of morphological filter
机译:
基于形态距离变换的形态学滤波器实现
作者:
Bingcheng Li
;
Scansoft
;
Inc.
;
Peabody
;
MA
;
USA
;
Rene J. Villalobos
;
Arizona State Univ.
;
Tempe
;
AZ
;
USA.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
14.
Intelligent high-sensitivity CCD line scan camera with embedded image processing algorithms
机译:
具有嵌入式图像处理算法的智能高灵敏度CCD线扫描相机
作者:
Dan A. Lehotsky
;
DALSA Inc.
;
Waterloo
;
ON
;
Canada.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
15.
Machine vision system for positioning and part verification of gas oil filters based on eigenimages
机译:
基于特征图像的用于汽油滤清器定位和零件校验的机器视觉系统
作者:
Franci Lahajnar
;
Univ. of Ljubljana
;
Ljublana
;
Slovenia
;
Stanislav Kovacic
;
Univ. of Ljubljana
;
Ljubljana
;
Slovenia.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
16.
Comparison between two classification methods: application to defects detection by artificial vision in industrial field
机译:
两种分类方法的比较:在工业领域中通过人工视觉进行缺陷检测的应用
作者:
Author(s): Pierre Geveaux Univ. de Bourgogne Le Creusot France
;
Sophie Kohler Univ. de Bourgogne Le Creusot France
;
J.Miteran Univ. de Bourgogne Le Creusot France
;
Frederic Truchetet Univ. de Bourgogne Le Creusot France
;
Fabrice Meriaudeau Univ. de Bourgogne Le Creusot France.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
17.
Geometrical pose and structural estimation from a single image for automatic inspection of filter components
机译:
单个图像的几何姿态和结构估计,可自动检查过滤器组件
作者:
Yonghuai Liu
;
Univ. of Hull
;
Hull
;
United Kingdom
;
Marcos A. Rodrigues
;
Univ. of Hull
;
Hull
;
United Kingdom.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
18.
Neural network based automated texture classification system
机译:
基于神经网络的自动纹理分类系统
作者:
Harry C. Rughooputh
;
Univ. of Mauritius
;
Reduit
;
Mauritius
;
Soonil D. Rughooputh
;
Univ. of Mauritius
;
Reduit
;
Mauritius
;
Jason M. Kinser
;
George Mason Univ.
;
Manassas
;
VA
;
USA.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
19.
Probing of two-dimensional grid patterns by means of camera based image processing
机译:
通过基于摄像机的图像处理探测二维网格图案
作者:
Martin Schroeck
;
National Institute of Standards
;
Technology
;
Jena
;
Germany
;
Theodore D. Doiron
;
National Institute of Standards
;
Technology
;
Gaithersburg
;
MD
;
USA.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
20.
Visual recognition of objects for manipulation by calibration-free robots
机译:
视觉识别对象,以免校准机器人进行操作
作者:
Minh-Chinh Nguyen
;
Univ. der Bundeswehr Muenchen
;
Neubiberg
;
Germany
;
Volker Graefe
;
Univ. der Bundeswehr Muenchen
;
Neubiberg
;
Germany.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
21.
Fault detection and feature analysis in interferometric fringe patterns by the application of wavelet filters in convolution processors
机译:
小波滤波器在卷积处理器中的应用
作者:
Author(s): Sven Krueger Humboldt Univ. zu Berlin Berlin Germany
;
Guenther K. Wernicke Humboldt Univ. zu Berlin Berlin Germany
;
Wolfgang Osten Bremer Institut fuer Angewandte Strahltechnik Lilienthal Germany
;
Daniel Kayser Bremer Institut fuer Angewandte Strahltechnik Bremen Germany
;
Nazif Demoli Univ. of Zagreb Zagreb Croatia
;
Hartmut Gruber Humboldt Univ. zu Berlin Berlin Germany.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
22.
Computer vision camera with embedded FPGA processing
机译:
具有嵌入式FPGA处理功能的计算机视觉相机
作者:
Antoine Lecerf
;
Univ. Laval
;
Paris
;
France
;
Denis Ouellet
;
Univ. Laval
;
Quebec
;
QC
;
Canada
;
Miguel Arias-Estrada
;
National Institute for Astrophysics
;
Optics
;
Elec tronics
;
Puebla
;
PU
;
Mexico.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
23.
Error propagation due to color space transforms
机译:
由于色彩空间变换而导致的错误传播
作者:
Harro Stokman
;
Univ. of Amsterdam
;
Amsterdam
;
Netherlands
;
Theo Gevers
;
Univ. of Amsterdam
;
Amsterdam
;
Netherlands.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
24.
Machine vision systems in the metallurgy industry
机译:
冶金行业的机器视觉系统
作者:
Fabrice Meriaudeau
;
Univ. de Bourgogne
;
Le Creusot
;
France
;
Anne-Claire Legrand
;
Univ. de Bourgogne
;
Le Creusot
;
France.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
25.
Real-time FPGA architectures for computer vision
机译:
用于计算机视觉的实时FPGA架构
作者:
Miguel Arias-Estrada
;
Instituto Nacional de Astrofisica
;
Optica y Electroni ca
;
Puebla
;
PU
;
Mexico
;
Cesar Torres-Hutzil
;
Instituto Nacional de Astrofisica
;
Optica y Electroni ca
;
Puebla
;
PU
;
Mexico.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
26.
Submillimeter bolt location in car bodywork for production line quality inspection
机译:
汽车车身中亚毫米螺栓的位置,用于生产线质量检查
作者:
Leopoldo Altamirano-Robles
;
Instituto Nacional de Astrofisica
;
Optica y Electroni ca
;
Puebla
;
PU
;
Mexico
;
Miguel Arias-Estrada
;
Instituto Nacional de Astrofisica
;
Optica y Electroni ca
;
Puebla
;
PU
;
Mexico
;
Samuel Alviso-Quibrera
;
Univ. de las Americas
;
Puebla
;
PU
;
Mexico
;
Aurelio Lopez-Lopez
;
Instituto Nacional de Astrofisica
;
Optica y Electroni ca
;
Puebla
;
PU
;
Mexico.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
27.
Textile laser-optical system for inspecting fabric structure and form
机译:
用于检查织物结构和形状的纺织激光光学系统
作者:
Glenn O. Allgood
;
Oak Ridge National Lab.
;
Powell
;
TN
;
USA
;
Dale A. Treece
;
Oak Ridge National Lab.
;
Oak Ridge
;
TN
;
USA
;
David K. Mee
;
Lockheed Martin Energy Systems
;
Inc.
;
Oak Ridge
;
TN
;
USA
;
Larry R. Mooney
;
Lockheed Martin Energy Systems
;
Inc.
;
Oak Ridge
;
TN
;
USA.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
28.
True color tube bore inspection system
机译:
真彩色管孔检查系统
作者:
Martin J. Pechersky
;
Westinghouse Savannah River Co.
;
Aiken
;
SC
;
USA
;
Larry J. Harpring
;
Westinghouse Savannah River Co.
;
Aiken
;
SC
;
USA.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
29.
Configuration assistant for versatile vision-based inspection systems
机译:
多功能视觉检测系统的配置助手
作者:
Olivier Husser
;
Univ. de Neuchatel
;
Neuchatel
;
Switzerland
;
Heinz Hugli
;
Univ. de Neuchatel
;
Neuchatel
;
Switzerland.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
30.
Content-based image retrieval for semiconductor manufacturing
机译:
用于半导体制造的基于内容的图像检索
作者:
Thomas P. Karnowski
;
Oak Ridge National Lab.
;
Oak Ridge
;
TN
;
USA
;
Kenneth W. Tobin
;
Jr.
;
Oak Ridge National Lab.
;
Oak Ridge
;
TN
;
USA
;
Regina K. Ferrell
;
Oak Ridge National Lab.
;
Knoxville
;
TN
;
USA
;
Fred Lakhani
;
SEMATECH
;
Austin
;
TX
;
USA.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
31.
Detection probability evaluation of an automated inspection system
机译:
自动检查系统的检测概率评估
作者:
Wenyuan Xu
;
3M Co.
;
Woodbury
;
MN
;
USA
;
Steven P. Floeder
;
3M Co.
;
Woodbury
;
MN
;
USA.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
32.
Integration of multiple range and intensity image pairs using a volumetric method to create textured 3D models
机译:
使用体积方法集成多个距离和强度图像对,以创建带纹理的3D模型
作者:
W. Harvey Gray
;
Univ. of Tennessee/Knoxville
;
Knoxville
;
TN
;
USA
;
Christophe Dumont
;
Univ. de Bourgogne (France)
;
Knoxville
;
TN
;
USA
;
Mongi A. Abidi
;
Univ. of Tennessee/Knoxville
;
Knoxville
;
TN
;
USA.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
33.
Machine vision for solar cell characterization
机译:
机器视觉用于太阳能电池表征
作者:
Miguel A. Ordaz
;
Univ. of Texas/El Paso
;
El Paso
;
TX
;
USA
;
Gregory B. Lush
;
Univ. of Texas/El Paso
;
El Paso
;
TX
;
USA.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
34.
Multiscale moment-based technique for object matching and recognition
机译:
基于多尺度矩的物体匹配与识别技术
作者:
Hwee-Li Thio
;
Nanyang Technological Univ.
;
Singapore
;
Singapore
;
Liya Chen
;
Nanyang Technological Univ.
;
Singapore
;
Eam-Khwang Teoh
;
Nanyang Technological Univ.
;
Singapore
;
Singapore.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
|
2000年
35.
Optimized configuration of systems for texture analysis
机译:
优化的系统配置以进行纹理分析
作者:
Christian Kueblbeck
;
Fraunhofer Institute for Integrated Circuits
;
Erlangen
;
Germany.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
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2000年
36.
High-speed potato grading and quality inspection based on a color vision system
机译:
基于彩色视觉系统的高速马铃薯分级和质量检查
作者:
Jacco C. Noordam
;
Agrotechnological Research Institute
;
Wageningen Gelderland
;
Netherlands
;
Gerwoud W. Otten
;
Agrotechnological Research Institute
;
Wageningen Gelderland
;
Netherlands
;
Toine J. Timmermans
;
Agrotechnological Research Institute
;
Wageningen Gelderland
;
Netherlands
;
Bauke H. van Zwol
;
Agrotechnological Research Institute
;
Wageningen Gelderland
;
Netherlands.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
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2000年
37.
Image segmentation benchmark for evaluation of vision systems
机译:
用于视觉系统评估的图像分割基准
作者:
Edwige E. Pissaloux
;
Univ. de Rouen (France)
;
Laboratoire de Robotique de Paris
;
CNRS (France)
;
Mont Saint Aignan
;
France.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
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2000年
38.
Inspection of 3D parts using high accuracy range data
机译:
使用高精度范围数据检查3D零件
作者:
Flavio Prieto
;
INSA
;
Ecole de Technologie Superieure
;
Villeurbanne Cedex
;
France
;
Richard Lepage
;
Ecole de Technologie Superieure
;
Montreal
;
QC
;
Canada
;
Pierre Boulanger
;
National Research Council Canada
;
Ottawa
;
ON
;
Canada
;
Tanneguy Redarce
;
INSA
;
Villeurbanne Cedex
;
France.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
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2000年
39.
Accommodating multiple illumination sources in an imaging colorimetry environment
机译:
在成像比色环境中容纳多个照明源
作者:
Kenneth W. Tobin
;
Jr.
;
Oak Ridge National Lab.
;
Oak Ridge
;
TN
;
USA
;
James S. Goddard
;
Jr.
;
Oak Ridge National Lab.
;
Oak Ridge
;
TN
;
USA
;
Martin A. Hunt
;
Oak Ridge National Lab.
;
Oak Ridge
;
TN
;
USA
;
Kathy W. Hylton
;
Oak Ridge National Lab.
;
Knoxville
;
TN
;
USA
;
Thomas P. Karnowski
;
Oak Ridge National Lab.
;
Oak Ridge
;
TN
;
USA
;
Marc L. Simpson
;
Oak Ridge National Lab.
;
Oak Ridge
;
TN
;
USA
;
Roger K. Richards
;
Oak Ridge National Lab.
;
Oak Ridge
;
TN
;
USA
;
Dale A. Treece
;
Oak Ridge National Lab.
;
Oak Ridge
;
TN
;
USA.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
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2000年
40.
Precision reconstruction of manufactured free-form components
机译:
精确重建制造的自由形状零件
作者:
Mihailo Ristic
;
Imperial College of Science
;
Technology
;
Medicine
;
London
;
United Kingdom
;
Djordje Brujic
;
Imperial College of Science
;
Technology
;
Medicine
;
London
;
United Kingdom
;
Iain Ainsworth
;
Imperial College of Science
;
Technology
;
Medicine
;
London
;
United Kingdom.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
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2000年
41.
Ultra-thin DLC overcoats for improved areal density
机译:
超薄DLC外涂层可改善面密度
作者:
George G. Li
;
nk Technology
;
Inc.
;
Santa Clara
;
CA
;
USA
;
Weilu H. Xu
;
Seagate Magnetics
;
Fremont
;
CA
;
USA
;
Helen Zhu
;
nk Technology
;
Inc.
;
Santa Clara
;
CA
;
USA
;
Dale A. Harrison
;
nk Technology
;
Inc.
;
Santa Clara
;
CA
;
USA
;
A. Rahim Forouhi
;
nk Technology
;
Inc.
;
Santa Clara
;
CA
;
USA
;
Iris Bloomer
;
nk Technology
;
Inc.
;
Santa Clara
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
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2000年
42.
Three-dimensional inspection of sculptured surfaces using nonuniform sampling and view planning
机译:
使用非均匀采样和视图计划对雕刻表面进行三维检查
作者:
Chihhsiong S. Shih
;
Rensselaer Polytechnic Institute
;
Troy
;
NY
;
USA
;
Lester A. Gerhardt
;
Rensselaer Polytechnic Institute
;
Troy
;
NY
;
USA.
会议名称:
《Conference on machine vision applications in industrial inspection》
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2000年
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