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European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third

召开年：1993
召开地：Rotterdam
出版时间：-

会议文集：-

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1.A new DFT technique to reduce test duration for sequential circuits

机译：一种新的DFT技术，可减少顺序电路的测试时间
- 作者：Bertrand;Y.;Bancel;F.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
2.Automated comparison of measured versus expected signals in mixed signal device testing and its effect on fault localization strategies

机译：在混合信号设备测试中自动比较测量信号和预期信号及其对故障定位策略的影响
- 作者：Helmreich;K.;Chowanetz;M.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
3.Proceedings of ETC 93. Third European Test Conference (Cat. No.93TH0494-5)

机译：ETC 93的会议记录。第三届欧洲测试会议（目录号93TH0494-5）
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
4.A high-level test program language for analog and mixed-signal test program development

机译：用于模拟和混合信号测试程序开发的高级测试程序语言
- 作者：Harrold;S.J.;Diamant;P.E.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
5.A model for functional test generation and testability analysis

机译：功能测试生成和可测试性分析的模型
- 作者：Gulbins M.;Straube B.;Elst G.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
6.A new and secure selftest scheme for block cipher implementations

机译：一种新的安全的自检块密码实现方案
- 作者：Bonnenberg H.;Curiger A.;Zimmermann R.;Felber N.;Kaeslin H.;Fichtner W.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
7.An approach to mixed circuits testing

机译：混合电路测试的方法
- 作者：Bracho S.;Martinez M.;Arguelles J.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
8.Analysis of voltage forcing consequences during in-circuit testing

机译：在线测试期间的强迫电压后果分析
- 作者：Sartori M.;Chiado Piat A.;Gallesio A.;Truzzi C.;Bonaria L.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
9.Defect level as a function of fault coverage and yield

机译：缺陷级别与故障覆盖率和成品率的关系
- 作者：Corsi F.;Martino S.;Williams T.W.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
10.Design for testability techniques applicable to analog circuits

机译：适用于模拟电路的可测性技术设计
- 作者：Huertas J.L.;Rueda A.;Vazquez D.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
11.FNSIM: a functional fault simulator for efficient testability analysis

机译：FNSIM：一种功能故障模拟器，可进行有效的可测试性分析
- 作者：Ienne;P.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
12.Functional level testability analysis for digital circuits

机译：数字电路的功能级可测试性分析
- 作者：Ubar R.;Kuchcinski K.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
13.Functional validation methods for VLSI-based systems

机译：基于VLSI的系统的功能验证方法
- 作者：de Jonghe M.;Mehtani R.;Morren R.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
14.Logic circuit extraction for bridging fault equivalence identification in CMOS ICs

机译：用于桥接CMOS IC中的故障等效识别的逻辑电路提取
- 作者：Simoes;M.C.;Teixeira;I.M.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
15.Mixed-signal automatic test program generation

机译：混合信号自动测试程序生成
- 作者：Keady A.;Lyden C.;Ryan J.;Claffey S.;Murphy N.;Long B.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
16.Modelling delay in symbolic test for data paths with partial scan

机译：使用部分扫描的数据路径在符号测试中建模延迟
- 作者：Steensma J.;Catthoor F.;De Man H.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
17.New methods for parallel pattern fast fault simulation for synchronous sequential circuits

机译：同步时序电路并行模式快速故障仿真的新方法
- 作者：Mojtahedi;M.;Geisselhardt;W.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
18.On automatic fault isolation using DFT methodology for active analog filters

机译：使用DFT方法对有源模拟滤波器进行自动故障隔离
- 作者：Novak;F.;Biasizzo;A.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
19.On the diagnosability of DNMR testing

机译：关于DNMR测试的可诊断性
- 作者：Guterman A.;Savaria Y.;Dagenais M.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
20.Resynthesis for testability of redundant combinational circuits

机译：重新合成冗余组合电路的可测试性
- 作者：Evans A.H.;Macii E.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
21.RT level test scheduling

机译：RT水平测试计划
- 作者：Blatny J.;Kotasek Z.;Hlavicka J.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
22.Testing analog circuits by using a sigma-delta modulator

机译：使用sigma-delta调制器测试模拟电路
- 作者：Huertas J.L.;Rueda A.;Vazquez D.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
23.Testing of analogue to digital converter macros in ASICs

机译：测试ASIC中的模数转换器宏
- 作者：Cobley R.A.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
24.Testing of resistive bridging faults in CMOS flip-flop

机译：在CMOS触发器中测试电阻桥接故障
- 作者：Metra C.;Favalli M.;Olivo P.;Ricco B.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
25.The structure of complete test sets for programmable logic arrays

机译：可编程逻辑阵列完整测试集的结构
- 作者：Goldberg E.I.;Novikov Y.A.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
26.Testing crossbar switch interconnection networks

机译：测试纵横开关互连网络
- 作者：Sosnowski J.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
27.Combinational ATPG theorems for identifying untestable faults in sequential circuits

机译：组合式ATPG定理，用于识别顺序电路中无法测试的故障
- 作者：Agrawal;V.D.;Chakradhar;S.T.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
28.Current vs. logic testability of bridges in scan chains

机译：扫描链中电桥的电流与逻辑可测试性
- 作者：Rodriguez-Montanes R.;Figueras J.;Rubio A.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
29.A fault signature approach to analog devices testing

机译：故障签名方法用于模拟设备测试
- 作者：Corsi F.;Chiarantoni M.;Lorusso R.;Marzocca C.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
30.A reconvergent fanout analysis for the CPT algorithm used in delay-fault diagnosis

机译：用于时延故障诊断的CPT算法的重新收敛扇出分析
- 作者：Girard;P.;Landrault;C.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
31.Aliasing minimization in signature analysis testing

机译：签名分析测试中的混淆最小化
- 作者：Olivo P.;Damiani M.;Ricco B.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
32.Basic boundary-scan for in-circuit test

机译：基本边界扫描，用于在线测试
- 作者：Albee A.J.;Ellis M.;Robinson G.D.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
33.Fast, accurate, integrated gate and switch-level fault simulation

机译：快速，准确，集成的门级和开关级故障仿真
- 作者：Meyer W.;Camposano R.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
34.Integration of IEEE 1149.1 with mixed ECL, TTL and differential logic signals

机译：将IEEE 1149.1与ECL，TTL和差分逻辑信号混合在一起
- 作者：Andrews;J.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
35.Methodology of detection of spurious signals in VLSI circuits

机译：在VLSI电路中检测杂散信号的方法
- 作者：Moll F.;Rubio A.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
36.MixTest: a mixed signal extension to the HP82000

机译：MixTest：HP82000的混合信号扩展
- 作者：Mehtani R.;De Jonghe M.;Morren R.;Seuren G.;Zwemstra T.;Atzema B.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
37.Optimized test cost using fault probabilities

机译：利用故障概率优化测试成本
- 作者：Spiegel G.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
38.The effect of guardbands on errors in production testing

机译：防护带对生产测试中的错误的影响
- 作者：Williams R.H.;Hawkins C.F.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
39.A contribution to testing of analog integrated circuits in the DC domain

机译：对DC域中的模拟集成电路测试的贡献
- 作者：Leenaerts;D.M.W.;van Spaandonk;J.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
40.Absolute dynamic measurements of temperature changes in electronic components from a thermoreflectance optical test probe

机译：用热反射光学测试探头对电子元件中的温度变化进行绝对动态测量
- 作者：Claeys;W.;Dilhaire;S.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
41.Fast and high quality in-circuit test development through expert debug

机译：通过专家调试快速，高质量地进行在线测试
- 作者：Loopik;A.;Crook;D.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
42.Incoming inspection of FPGA's

机译：FPGA的进货检查
- 作者：Jordan C.;Marnane W.P.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
43.Testing interconnects: a pin adjacency approach

机译：测试互连：引脚邻接法
- 作者：McBean D.;Moore W.R.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
44.Testing mixed signal ASICs through the use of supply current monitoring

机译：通过使用电源电流监控来测试混合信号ASIC
- 作者：Eckersall;K.R.;Wrighton;P.L.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
45.A deductive method for simulating transistor stuck-open faults in CMOS circuits

机译：模拟CMOS电路中晶体管卡死故障的一种演绎方法
- 作者：Yanbing Xu;Abd-El-Barr;M.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
46.A pattern skipping method for weighted random pattern testing

机译：加权随机模式测试的模式跳过方法
- 作者：Konemann B.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
47.Analog fault diagnosis: a fault clustering approach

机译：模拟故障诊断：故障聚类方法
- 作者：Somayajula S.S.;Sanchez-Sinencio E.;Pineda de Gyvez J.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
48.Concurrent error detection of CMOS digital and analog faults

机译：并发错误检测CMOS数字和模拟故障
- 作者：Yeong-Ruey Shieh;Cheng-Wen Wu
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
49.Fault coverage and yield predictions: do we need more than 100 coverage?

机译：故障覆盖率和产量预测：我们是否需要超过100％的覆盖率？
- 作者：Huisman;L.M.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
50.Implementation of the transient response measurement of mixed-signal circuits

机译：混合信号电路瞬态响应测量的实现
- 作者：Shepherd;P.R.;Bertin;A.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
51.Interconnect testing for bus-structured systems

机译：总线结构系统的互连测试
- 作者：Dickinson P.J.;Wilkins B.R.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
52.I-path analysis

机译：路径分析
- 作者：Blatny J.;Kotasek Z.;Hlavicka J.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
53.Partial scan: what problem does it solve?

机译：部分扫描：它可以解决什么问题？
- 作者：Bennetts R.G.;Beenker F.P.M.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
54.Phase coherent, event synchronized test system architecture

机译：相干，事件同步测试系统架构
- 作者：Dinteman B.J.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
55.Redundant states in test control block design

机译：测试控制块设计中的冗余状态
- 作者：Thijssen L.;Bouwman F.;Vink H.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
56.Towards a mixed-signal testability bus standard P1149.4

机译：迈向混合信号可测试性总线标准P1149.4
- 作者：Wilkins B.R.;Oresjo S.;Suparjo B.S.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
57.A framework for test quality assessment

机译：测试质量评估框架
- 作者：Tromp G.-J.;van der Goor A.J.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
58.Algebraic ATPG of combinational circuits using binary decision diagrams

机译：使用二进制决策图的组合电路的代数ATPG
- 作者：Srinivasan;S.;Swaminathan;G.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
59.Analog test signal generation on a digital tester

机译：在数字测试仪上生成模拟测试信号
- 作者：Zwemstra T.;Seuren G.P.H.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
60.Experimental results on aliasing errors in circular BIST design

机译：圆形BIST设计中混叠误差的实验结果
- 作者：Kothari R.D.;Dong Sam Ha
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
61.Fault simulation for synchronous sequential circuits under the multiple observation time testing approach

机译：多重观测时间测试方法下的同步时序电路故障仿真
- 作者：Pomeranz;I.;Reddy;S.M.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
62.Implementing BIST and boundary-scan in a digital signal processor ASIC for radiocommunication applications

机译：在用于无线电通信应用的数字信号处理器ASIC中实现BIST和边界扫描
- 作者：Pichon;F.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
63.Modular-addition signature analysis for built-in self-test

机译：内置自检的模块化附加签名分析
- 作者：Cheng-Wen Wu;Hun-Song Chen
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
64.Modules for gigahertz digital testing of ECL

机译：用于ECL的千兆赫数字测试的模块
- 作者：Keezer D.C.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
65.On the application of fault detection observers to analog circuit testing

机译：故障检测观察器在模拟电路测试中的应用
- 作者：Vermeiren;W.;Straube;B.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
66.Testability and test protocol expansion in hierarchical macro testing

机译：分层宏测试中的可测试性和测试协议扩展
- 作者：Marinissen;E.J.;Kuiper;K.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
67.A fuzzy decision-making approach for test space exploration

机译：测试空间探索的模糊决策方法
- 作者：Fares M.;Kaminska B.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
68.Checking signatures on boundary scan boards

机译：检查边界扫描板上的签名
- 作者：Lubaszewski M.;Castro Alves V.;Nicolaidis M.;Courtois B.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
69.Emitter coupled logic testability analysis and comparison with CMOS BiCMOS circuits

机译：发射极耦合逻辑可测试性分析以及与CMOS和BiCMOS电路的比较
- 作者：Al-Khalili;D.;Esonu;M.O.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
70.Essential testability guidelines for current technology

机译：当前技术的基本可测试性准则
- 作者：Phillips J.C.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
71.Experience with biased random pattern generation to meet the demand for a high quality BIST

机译：有偏差的随机码型生成经验，可以满足对高质量BIST的需求
- 作者：Gruetzner;M.;Starke;C.W.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
72.Fast test pattern generation for all path delay faults considering various test classes

机译：考虑各种测试类别，针对所有路径延迟故障快速生成测试码型
- 作者：Fuchs;K.;Wittmann;H.C.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
73.Functional memory array testing using associative search algorithms

机译：使用关联搜索算法进行功能性存储器阵列测试
- 作者：Elm C.;Tavangarian D.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
74.Influence of IC synthesis on the random pattern testability of parametric bridging faults

机译：IC合成对参数桥接故障随机模式可测试性的影响
- 作者：Dalpasso;M.;Favalli;M.
- 会议名称：《》 | 1993年
75.Is there any future for deterministic self-test of embedded RAMs?

机译：嵌入式RAM确定性的自测试是否有未来？
- 作者：Krasniewski A.;Gaj K.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
76.Multiple-domain concurrent and comparative simulation

机译：多域并发和比较模拟
- 作者：Lentz K.P.;Ulrich E.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
77.On scan path design for stuck-open and delay fault detection

机译：在扫描路径设计中用于开路和延迟故障检测
- 作者：Leenstra J.;Koch M.;Schwederski T.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
78.On the testability of FFT arrays

机译：关于FFT阵列的可测试性
- 作者：Lombardi F.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
79.Random test length for bounded faults in RAMs

机译：RAM中有限故障的随机测试长度
- 作者：David R.;Brzozowski J.A.;Jurgensen H.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
80.Reliability aspects of defect analysis

机译：缺陷分析的可靠性方面
- 作者：Bruls E.M.J.G.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
81.System-level fault modeling and test pattern generation with process algebras

机译：使用过程代数的系统级故障建模和测试模式生成
- 作者：Camurati;P.;Corno;F.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
82.Test pattern generation for multiple stuck-at faults

机译：针对多个卡死故障的测试码型生成
- 作者：Karkouri Y.;Aboulhamid E.M.;Cerny E.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
83.Trade-offs in scan path and BIST implementations for RAMs

机译：RAM的扫描路径和BIST实现的权衡
- 作者：Nicolaidis M.;Castro Alves V.;Kebichi O.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年
84.Using EDIF in IC testing: experience from the Everest project

机译：在IC测试中使用EDIF：Everest项目的经验
- 作者：Baker K.;Morren R.;Wahl M.;Verhelst B.
- 会议名称：《European Test Conference, 1993. Proceedings of ETC 93., Third》 | 1993年