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ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference
ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference
召开年:
2014
召开地:
San Francisco, CA(US)
出版时间:
-
会议文集:
-
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1.
Radiation-induced soft error analysis of SRAMs in SOI FinFET technology: A device to circuit approach
机译:
SOI FinFET技术中SRAM的辐射引起的软错误分析:器件到电路方法
作者:
Kiamehr Saman
;
Osiecki Thomas
;
Tahoori Mehdi
;
Nassif Sani
会议名称:
《ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference》
|
2014年
2.
Robust and in-situ self-testing technique for monitoring device aging effects in pipeline circuits
机译:
鲁棒的现场自检技术,用于监视管道电路中的设备老化影响
作者:
Li Jiangyi
;
Seok Mingoo
会议名称:
《ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference》
|
2014年
关键词:
device aging;
on-chip aging monitoring;
reliability;
self-test;
temperature-insensitive design;
3.
BTI-induced aging under random stress waveforms: Modeling, simulation and silicon validation
机译:
BTI引起的随机应力波形下的老化:建模,仿真和硅验证
作者:
Sutaria Ketul
;
Ramkumar Athul
;
Zhu Rongjun
;
Rajveev Renju
;
Ma Yao
;
Cao Yu
会议名称:
《ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference》
|
2014年
关键词:
Bias Temperature In-stability;
DVS;
Random Stress Waveform;
Reliability Prediction;
4.
A new asynchronous pipeline template for power and performance optimization
机译:
用于功率和性能优化的新异步管道模板
作者:
Ho Kuan-Hsien
;
Chang Yao-Wen
会议名称:
《ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference》
|
2014年
关键词:
Asynchronous Circuits;
Pipelines;
Template Designs;
5.
C-Mine: Data mining of logic common cases for low power synthesis of Better-Than-Worst-Case designs
机译:
C-Mine:逻辑上最常用的案例的低功耗综合的逻辑常见情况的数据挖掘
作者:
Lin Chen-Hsuan
;
Wan Lu
;
Chen Deming
会议名称:
《ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference》
|
2014年
关键词:
Common case;
Data Mining;
Energy efficiency;
Resynthesis;
SAT solving;
Scalability;
Timing error resilience;
6.
Fast and accurate thermal modeling and optimization for monolithic 3D ICs
机译:
单片3D IC的快速准确的热建模和优化
作者:
Samal Sandeep Kumar
;
Panth Shreepad
;
Samadi Kambiz
;
Saedi Mehdi
;
Du Yang
;
Lim Sung Kyu
会议名称:
《ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference》
|
2014年
关键词:
Modeling;
Monolithic 3D;
Optimization;
Thermal;
7.
Hardware/software co-design of elliptic-curve cryptography for resource-constrained applications
机译:
椭圆曲线密码学的硬件/软件协同设计,用于资源受限的应用
作者:
Holler Andrea
;
Druml Norbert
;
Kreiner Christian
;
Steger Christian
;
Felicijan Tomaz
会议名称:
《ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference》
|
2014年
关键词:
Elliptic Curve Cryptography;
Embedded Devices;
RFID;
8.
Techniques for foundry identification
机译:
铸造厂识别技术
作者:
Wendt James B.
;
Koushanfar Farinaz
;
Potkonjak Miodrag
会议名称:
《ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference》
|
2014年
9.
QMS: Evaluating the side-channel resistance of masked software from source code
机译:
QMS:从源代码评估被屏蔽软件的侧通道电阻
作者:
Eldib Hassan
;
Wang Chao
;
Taha Mostafa
;
Schaumont Patrick
会议名称:
《ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference》
|
2014年
关键词:
SMT solver;
Side channel attack;
countermeasure;
differential power analysis;
quantitative masking strength;
10.
A multiple equivalent execution trace approach to secure cryptographic embedded software
机译:
一种多重等效执行跟踪方法,用于保护加密嵌入式软件
作者:
Agosta Giovanni
;
Barenghi Alessandro
;
Pelosi Gerardo
;
Scandale Michele
会议名称:
《ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference》
|
2014年
关键词:
Power Analysis Attacks;
Software Countermeasures;
Static Analysis;
11.
System-level security for network processors with hardware monitors
机译:
具有硬件监视器的网络处理器的系统级安全性
作者:
Hu Kekai
;
Wolf Tilman
;
Teixeira Thiago
;
Tessier Russell
会议名称:
《ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference》
|
2014年
12.
Protecting SRAM-based FPGAs against multiple bit upsets using erasure codes
机译:
使用擦除码保护基于SRAM的FPGA免受多位干扰
作者:
Rao Parthasarathy M.B.
;
Ebrahimi Mojtaba
;
Seyyedi Razi
;
Tahoori Mehdi B.
会议名称:
《ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference》
|
2014年
13.
The first EDA MOOC: Teaching design automation to planet earth
机译:
第一个EDA MOOC:向地球教授设计自动化
作者:
Rutenbar Rob A.
会议名称:
《ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference》
|
2014年
关键词:
ASIC;
CAD;
EDA;
Layout;
Logic;
MOOC;
VLSI;
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