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1.
Two-wavelength laser-diode interferometry with electronic calibration techniques
机译:
具有电子校准技术的两波长激光二极管干涉法
作者:
Ribun Onodera
;
Univ. of Industrial Technology
;
Kanagawa
;
Japan
;
Yukihiro Ishii
;
Univ. of Industrial Technology
;
Kanagawa
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
2.
Method for measuring small displacements by using an electro-optic modulator
机译:
通过使用电光调制器测量小位移的方法
作者:
Li-Horng Shyu
;
National Chiao Tung Univ.
;
Hsinchu
;
Taiwan
;
Chieh-Li Chen
;
National Chiao Tung Univ.
;
Hsinchu
;
Taiwan
;
Der-Chin Su
;
National Chiao Tung Univ.
;
Hsinchu
;
Taiwan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
3.
Zone-plate null interferometer for measuring aspherical mirror with large aperture
机译:
用于测量大孔径非球面反射镜的零板零干涉仪
作者:
Toshio Honda
;
Tokyo Institute of Technology
;
Yokohama
;
Japan
;
Y.Kawamoto
;
Tokyo Institute of Technology
;
Yokohama
;
Japan
;
Haike Guan
;
Tokyo Institute of Technology
;
Yokohama
;
Japan
;
Masahiro Yamaguchi
;
Tokyo Institute of Technology
;
Midori-ku
;
Yokohama
;
J
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
4.
Two-dimensional birefringence measurement using the phase-shifting technique
机译:
使用相移技术的二维双折射测量
作者:
Yukitoshi Otani
;
Tokyo Univ. of Agriculture
;
Technology
;
Koganei-shi
;
Tokyo
;
Japan
;
Takuya Shimada
;
Tokyo Univ. of Agriculture
;
Technology
;
Koganei-shi
;
Tokyo
;
Japan
;
Toru Yoshizawa
;
Tokyo Univ. of Agriculture
;
Technology
;
Koganei-shi
;
Tokyo
;
Japan
;
Norihiro
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
5.
Super-smooth surface polishing on aspherical optics
机译:
非球面光学元件的超光滑表面抛光
作者:
Manabu Ando
;
Canon Inc.
;
Ohta-ku
;
Tokyo
;
Japan
;
Mahito Negishi
;
Canon Inc.
;
Ohta-ku
;
Tokyo
;
Japan
;
Masafumi Takimoto
;
Canon Inc.
;
Ohta-ku
;
Tokyo
;
Japan
;
Akinobu Deguchi
;
Canon Inc.
;
Ohta-ku
;
Tokyo
;
Japan
;
Nobuo Nakamura
;
Canon Inc.
;
Ohta-ku
;
Tokyo
;
Japan
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
6.
Talbot projected 3D profilometry by means of one-step phase-shift algorithms
机译:
Talbot通过单步相移算法投影3D轮廓
作者:
Ruowei Gu
;
Beijing Institute of Technology
;
Koganei
;
Tokyo
;
Japan
;
Toru Yoshizawa
;
Tokyo Univ. of Agriculture
;
Technology
;
Koganei-shi
;
Tokyo
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
7.
Technological challenges in the Japan National Large Telescope project (Invited Paper)
机译:
日本国家大型望远镜项目的技术挑战(特邀论文)
作者:
Keiichi Kodaira
;
National Astronomical Observatory
;
Mitaka
;
Tokyo
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
8.
Scattering characteristics of dielectric optical multilayers in visible region
机译:
介电光学多层膜在可见光区域的散射特性
作者:
Takayuki Akiyama
;
Nikon Corp.
;
Sagamihara
;
Kanagawa
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
9.
Refractive index measurement for irregular-shaped samples
机译:
异形样品的折射率测量
作者:
Shu-Mieh Yang
;
Industrial Technology Research Institute
;
Hsinchu
;
Taiwan
;
K.H. Chang
;
Industrial Technology Research Institute
;
Hsinchu
;
Taiwan
;
Ta-Kun Kung
;
Industrial Technology Research Institute
;
Chutung-Hsingchu
;
Taiwan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
10.
Real-time surface roughness measurement under speckle pattern illumination
机译:
斑点图案照明下的实时表面粗糙度测量
作者:
Kiyoshi Nakagawa
;
Kobe Univ.
;
Kobe
;
Japan
;
Takeaki Yoshimura
;
Kobe Univ.
;
Kobe
;
Japan
;
Takumi Minemoto
;
Kobe Univ.
;
Kobe
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
11.
Radiation damage of multilayer mirrors for soft x-ray lasers
机译:
软X射线激光器的多层反射镜的辐射损伤
作者:
Masami Tsukamoto
;
Canon Inc.
;
Atsugi-shi
;
Kanagawa-ken
;
Japan
;
Masahito Niibe
;
Canon Inc.
;
Atsugi-shi
;
Kanagawa-ken
;
Japan
;
Yutaka Watanabe
;
Canon Inc.
;
Atsugi
;
Kanagawa
;
Japan
;
Akira Miyake
;
Canon Inc.
;
Atsugi
;
Kanagawa
;
Japan
;
Takashi Iizuka
;
Canon Inc.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
12.
Measurement of large plane surface shape with interferometric aperture synthesis
机译:
利用干涉光圈合成测量大平面形状
作者:
Masashi Otsubo
;
Chiba Univ.
;
Chiba-shi
;
Chiba-ken
;
Japan
;
Katsuyuji Okada
;
Chiba Univ.
;
Chiba
;
Japan
;
Jumpei Tsujiuchi
;
Chiba Univ.
;
Edogawa-ku
;
Tokyo
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
13.
HOE interferometer for cylindrical surface
机译:
圆柱面HOE干涉仪
作者:
Yoshitaka Minami
;
Fuji Photo Optical Co.
;
Ltd.
;
Ohmiya
;
Japan
;
Kenji Yasuda
;
Fuji Photo Optical Co.
;
Ltd.
;
Omiya-shi
;
Saitama-ken
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
14.
Heterodyne common-path interferometer for testing surface roughness
机译:
外差共通干涉仪,用于测试表面粗糙度
作者:
Chang-Yuan Han
;
Changchun Institute of Optics
;
Fine Mechanics
;
Changchun
;
Jilin
;
China
;
Bin Liu
;
Changchun Institute of Optics
;
Fine Mechanics
;
Changchun
;
Jilin
;
China
;
Zhenwu Lu
;
Changchun Institute of Optics
;
Fine Mechanics
;
Changchun
;
Jilin
;
China
;
Qu-Wu
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
15.
Fringe-scanning white-light microscope for surface profile measurement and material identification
机译:
边缘扫描白光显微镜,用于表面轮廓测量和材料识别
作者:
Kumiko Matsui
;
Osaka Univ.
;
Yokohama
;
Japan
;
Satoshi Kawata
;
Osaka Univ.
;
Suita
;
Osaka
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
16.
Fabrication of Wolter type I mirror for soft x-ray
机译:
制造用于柔和X射线的Wolter I型反射镜
作者:
Tetsuji Onuki
;
Nikon Corp.
;
Shinagawa
;
Tokyo
;
Japan
;
Katsumi Sugisaki
;
Nikon Corp.
;
Shinagawa
;
Tokyo
;
Japan
;
Sadao Aoki
;
Univ. of Tsukuba
;
Tsukuba
;
Ibaraki
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
17.
Fabrication and testing issues in free-space digital optical switching and computing (Invited Paper)
机译:
自由空间数字光交换和计算中的制造和测试问题(邀请论文)
作者:
Frederick B. McCormick
;
Jr.
;
ATT Bell Labs.
;
Naperville
;
IL
;
USA
;
Jose M. Sasian
;
ATT Bell Labs.
;
Naperville
;
IL
;
USA
;
Randall J. Crisci
;
ATT Bell Labs.
;
Princeton
;
NJ
;
USA
;
Richard L. Morrison
;
ATT Bell Labs.
;
Naperville
;
IL
;
USA
;
Frank A. Tooley
;
AT
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
18.
Application of a fringe scanning method to zone-plate interferometry,
机译:
条纹扫描方法在波带片干涉仪中的应用
作者:
Takashi Nomura
;
Toyama Prefectural Univ.
;
Toyama-Ken
;
Japan
;
Hiroshi Miyashiro
;
Toyama Prefectural Univ.
;
Toyama-Ken
;
Japan
;
Kazuhide Kamiya
;
Toyama Prefectural Univ.
;
Toyama
;
Japan
;
Kazuo Yoshikawa
;
Toyama Univ.
;
Toyama
;
Japan
;
Hatsuzo Tashiro
;
Toyama Un
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
19.
Needs for super-smooth surfaces (Invited Paper)
机译:
需要超光滑的表面(邀请纸)
作者:
Theodore T. Saito
;
Lawrence Livermore National Lab.
;
Livermore
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
20.
Absolute surface measurements of processed material using two-color lasers
机译:
使用双色激光对加工材料进行绝对表面测量
作者:
Hirokazu Matsumoto
;
National Research Lab. of Metrology
;
Tsukuba
;
Ibaraki
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
21.
Advances in optical disk lens (Invited Paper)
机译:
光盘镜头的发展(特邀论文)
作者:
Tadashi Kojima
;
Konica Corp.
;
Hachioji-shi
;
Tokyo
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
22.
Precision polarimetry of optical components (Invited Paper)
机译:
光学组件的精密偏振法(特邀论文)
作者:
Russell A. Chipman
;
Univ. of Alabama in Huntsville
;
Huntsville
;
AL
;
USA.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
23.
Phase-shifting common-path interferometers using double-focus lenses for surface profiling
机译:
使用双焦点透镜进行表面轮廓分析的相移共路径干涉仪
作者:
Hisao Kikuta
;
Univ. of Osaka Prefecture
;
Osaka
;
Japan
;
Koichi Iwata
;
Univ. of Osaka Prefecture
;
Osaka
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
24.
Oblique incidence interferometry for gear-tooth surface profiling
机译:
斜入射干涉仪用于齿轮齿表面轮廓分析
作者:
Tomomi Ino
;
Univ. of Tsukuba
;
Tsukuba
;
Ibaraki
;
Japan
;
Toyohiko Yatagai
;
Univ. of Tsukuba
;
Tsukuba-shi
;
Ibaraki-ken
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
25.
Null test of aspheric surfaces in zone-plate interferometer
机译:
区域平板干涉仪中非球面的零测试
作者:
Junejei Huang
;
Industrial Technology Research Institute
;
Hsinchu
;
Taiwan
;
Chihui Chang
;
Industrial Technology Research Institute
;
Hsinchu
;
Taiwan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
26.
Progress at the Center for Optics Manufacturing
机译:
光学制造中心的进展
作者:
Stephen D. Jacobs
;
The Institute of Optics/Univ. of Rochester
;
Rochester
;
NY
;
USA.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
27.
New machining method of a large-size asymmetric aspheric mirror
机译:
大型非对称非球面镜的新加工方法
作者:
Yasuo Higashi
;
National Lab. for High Energy Physics
;
Tsukuba
;
Japan
;
Sigeaki Koike
;
National Lab. for High Energy Physics
;
Ibaraki
;
Japan
;
Toshikazu Takatomi
;
National Lab. for High Energy Physics
;
Ibaraki
;
Japan
;
Shin Koizumi
;
National Lab. for High Ene
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
28.
Fringe contrast improvement in Twyman-Green interferometer for lens test
机译:
Twyman-Green干涉仪用于镜头测试的边缘对比度改善
作者:
Hitoshi Ohashi
;
Olympus Optical Co.
;
Ltd.
;
Hachioji-shi
;
Tokyo
;
Japan
;
Yoichi Iba
;
Olympus Optical Co.
;
Ltd.
;
Hachioji-shi
;
Tokyo
;
Japan
;
Toshiro Okamura
;
Olympus Optical Co.
;
Ltd.
;
Hachioji-shi
;
Tokyo
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
29.
Contour mapping of dynamic stress distributions by novel polarizationinterferometry,
机译:
利用新型偏振干涉法绘制动态应力分布的轮廓图,
作者:
Kazuhiko Oka
;
Hokkaido Univ.
;
Sapporo
;
Hokkaido
;
Japan
;
Yoshihiro Ohtsuka
;
Hokkaido Univ.
;
Sapporo
;
Hokkaido
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
30.
Fabrication and testing of grazing incidence mirrors for hard x rays
机译:
硬X射线掠入射反射镜的制作和测试
作者:
Fumihiko Uchida
;
Hitachi
;
Ltd.
;
Kokubunji-shi
;
Tokyo
;
Japan
;
Yoshio Suzuki
;
Hitachi
;
Ltd.
;
Hikigun
;
Saitama-ken
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
31.
Estimation of the size parameters of fine rectangular grooves based on Fraunhofer diffraction
机译:
基于弗劳恩霍夫衍射的矩形细槽尺寸参数估计
作者:
Takashi Miyoshi
;
Osaka Univ.
;
Osaka
;
Japan
;
Yasuhiro Takaya
;
Osaka Univ.
;
Nishi 8 Chome
;
Sapporo
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
32.
Design and fabrication of the Schwarzschild objective for soft x-ray microscopes
机译:
用于软X射线显微镜的Schwarzschild物镜的设计和制造
作者:
Yoshiaki Horikawa
;
Olympus Optical Co.
;
Ltd.
;
Tokyo
;
Japan
;
Shouichirou Mochimaru
;
Olympus Optical Co.
;
Ltd.
;
Tokyo
;
Japan
;
Yoshinori Iketaki
;
Olympus Optical Co.
;
Ltd.
;
Hachioji-shi
;
Tokyo
;
Japan
;
Koumei Nagai
;
Olympus Optical Co.
;
Ltd.
;
Tokyo
;
Japan
;
Ka
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
33.
Design fabrication and polarization of soft x-ray transmission multilayers
机译:
软X射线透射多层膜的设计制作和偏振
作者:
Hiroshi Nomura
;
Tohoku Univ.
;
Kawasaki
;
Japan
;
Kou Mayama
;
Tohoku Univ.
;
Aoba-ku
;
Sendai
;
Japan
;
Takuya Sasaki
;
Tohoku Univ.
;
Aoba-ku
;
Sendai
;
Japan
;
Masaki Yamamoto
;
Tohoku Univ.
;
Aoba-ku
;
Sendai-shi
;
Miyagi
;
Japan
;
Mihiro Yanagihara
;
Tohoku Univ.
;
Aoba-
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
34.
Digital wavefront measuring interferometer for testing optical surfaces and lenses
机译:
数字波前测量干涉仪,用于测试光学表面和透镜
作者:
Tianning Cao
;
Zhejiang Univ.
;
Hangzhou
;
China.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
35.
Digital receiving mode of radial gratings and its receiving precision
机译:
径向光栅的数字接收方式及其接收精度
作者:
Song Shen
;
Ministry of Electronic Industry of China
;
Hangzhou
;
China
;
Xiangqun Cao
;
Zhejiang Univ.
;
Hangzhou
;
China.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
36.
Development of ultraprecise injection molding method for thermoplasticlenses
机译:
热塑性透镜超精密注射成型方法的发展
作者:
Akiro Fukushima
;
RICOH Co.
;
Ltd.
;
Atsugi-City
;
Kanagawa
;
Japan
;
Motoaki Kawazu
;
RICOH Co.
;
Ltd.
;
Atsugi-City
;
Kanagawa
;
Japan
;
Hidenori Ito
;
RICOH Co.
;
Ltd.
;
Atsugi-City
;
Kanagawa
;
Japan
;
Hisaaki Koseko
;
RICOH Co.
;
Ltd.
;
Atsugi-City
;
Kanagawa
;
Japan
;
Tosh
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
37.
Development of new instrument detecting integrated intensity fluctuations for surface roughness measurements
机译:
开发用于检测整体强度波动以测量表面粗糙度的新型仪器
作者:
Eiichi Miyazaki
;
Kobe Univ.
;
Kobe
;
Japan
;
Kunifumi Nakanishi
;
Kobe Univ.
;
Kobe
;
Japan
;
Takeaki Yoshimura
;
Kobe Univ.
;
Kobe
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
38.
Comparison of surface roughness measured with an optical profiler and a scanning probe microscope (Invited Paper)
机译:
用光学轮廓仪和扫描探针显微镜(邀请纸)测量的表面粗糙度比较
作者:
Jay Jahanmir
;
WYKO Corp.
;
Tucson
;
AZ
;
USA
;
James C. Wyant
;
WYKO Corp.
;
Tucson
;
AZ
;
USA.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
39.
Calculation of grating transmission functions by determining the spectral intensity
机译:
通过确定光谱强度来计算光栅透射函数
作者:
Xiangqun Cao
;
Zhejiang Univ.
;
Hangzhou
;
China
;
Hong Xie
;
Zhejiang Univ.
;
Hangzhou
;
China
;
Ling Chen
;
Shanghai Institute of Mechanical Engineering
;
Shangai
;
China.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
40.
Analysis of zone-plate interference fringe pattern
机译:
区域板干涉条纹图分析
作者:
Kazuhide Kamiya
;
Toyama Prefectural Univ.
;
Toyama
;
Japan
;
Takashi Nomura
;
Toyama Prefectural Univ.
;
Toyama-Ken
;
Japan
;
Hiroshi Miyashiro
;
Toyama Prefectural Univ.
;
Toyama-Ken
;
Japan
;
Kazuo Yoshikawa
;
Toyama Univ.
;
Toyama
;
Japan
;
Hatsuzo Tashiro
;
Toyama Un
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
41.
Application of a fringe scanning method to zone-plate interferometry
机译:
条纹扫描法在波带干涉仪中的应用
作者:
Author(s): Takashi Nomura Toyama Prefectural Univ. Toyama-Ken Japan
;
Hiroshi Miyashiro Toyama Prefectural Univ. Toyama-Ken Japan
;
Kazuhide Kamiya Toyama Prefectural Univ. Toyama Japan
;
Kazuo Yoshikawa Toyama Univ. Toyama Japan
;
Hatsuzo Tashiro
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
42.
Approach to high-accuracy qualification of long-radius spherical surfaces (Invited Paper)
机译:
长半径球面的高精度鉴定方法(邀请论文)
作者:
Author(s): George C. Hunter Zygo Corp. Middlefield CT USA
;
P.L. Pfluke Zygo Corp. Middlefield CT USA
;
Lars A. Selberg Zygo Corp. Middlefield CT USA.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
43.
Two-stage x-ray mirror system for microscopic x-ray photoelectron spectroscopy
机译:
用于显微X射线光电子能谱的两级X射线镜系统
作者:
Ken Ninomiya
;
Hitachi
;
Ltd.
;
Kokubunji
;
Tokyo
;
Japan
;
Masaki Hasegawa
;
Hitachi
;
Ltd.
;
Kokubunji
;
Tokyo
;
Japan
;
Sadao Aoki
;
Univ. of Tsukuba
;
Tsukuba
;
Ibaraki
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
44.
Two holographic methods for flatness testing with subwavelength or multiple-wavelength sensitivity
机译:
两种全息法用于亚波长或多波长灵敏度的平坦度测试
作者:
Pierre M. Boone
;
Univ. of Gent
;
Gavere
;
Belgium
;
Pierre M. Jacquot
;
Swiss Federal Institute of Technology
;
Lausanne
;
Switzerland.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
45.
Thickness dependence of the optical constants of thin Pt Au and Rh films in the soft x-ray region
机译:
软X射线区域中Pt Au和Rh薄膜的光学常数的厚度依赖性
作者:
Mihiro Yanagihara
;
Tohoku Univ.
;
Aoba-ku
;
Sendai
;
Japan
;
Takaumi Maehara
;
Tohoku Univ.
;
Tokyo
;
Japan
;
Masaki Yamamoto
;
Tohoku Univ.
;
Aoba-ku
;
Sendai-shi
;
Miyagi
;
Japan
;
Takeshi Namioka
;
Tohoku Univ.
;
Greenbelt
;
MD
;
USA.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
46.
Soft x-ray polarization measurement with a laboratory reflectometer
机译:
使用实验室反射仪进行软X射线偏振测量
作者:
Masaki Yamamoto
;
Tohoku Univ.
;
Aoba-ku
;
Sendai-shi
;
Miyagi
;
Japan
;
Kou Mayama
;
Tohoku Univ.
;
Aoba-ku
;
Sendai
;
Japan
;
Hiroshi Nomura
;
Tohoku Univ.
;
Kawasaki
;
Japan
;
Hiroaki Kimura
;
Tohoku Univ.
;
Tukuba-shi
;
Japan
;
Mihiro Yanagihara
;
Tohoku Univ.
;
Aoba-ku
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
47.
Structure and x-ray optical properties of MBE-grown multilayers (Invited Paper)
机译:
MBE生长的多层膜的结构和X射线光学性质(邀请论文)
作者:
Charles M. Falco
;
Optical Sciences Ctr./Univ. of Arizona
;
Tucson
;
AZ
;
USA
;
Patrick A. Kearney
;
Optical Sciences Ctr./Univ. of Arizona
;
Tucson
;
AZ
;
USA
;
Judith A. Ruffner
;
Optical Sciences Ctr./Univ. of Arizona
;
Tucson
;
AZ
;
USA
;
Jon M. Slaughter
;
Optical S
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
48.
Surface condition measurement using optical heterodyne method
机译:
使用光学外差法测量表面状况
作者:
Hiroo Fujita
;
Citizen Watch Co.
;
Ltd.
;
Saitama
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
49.
Measurement of large-scale and high-precision optics using a noncontact form-measuring probe
机译:
使用非接触式形状测量探头测量大型,高精度光学器件
作者:
Seiichiro Murai
;
Toshiba Corp.
;
Yokohama
;
Kanagawa
;
Japan
;
Katsunobu Ueda
;
Toshiba Corp.
;
Yokohama-shi
;
Japan
;
Shigeru Sakuta
;
Toshiba Corp.
;
Yokohama
;
Kanagawa
;
Japan
;
Katsushi Ishikawa
;
Toshiba Corp.
;
Yokohama
;
Kanagawa
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
50.
Measurement of phase change of light on reflection
机译:
测量反射光的相变
作者:
Takuma Doi
;
National Research Lab. of Metrology
;
Tsukuba
;
Japan
;
Kouji Toyoda
;
National Research Lab. of Metrology
;
Tsukuba
;
Japan
;
Yoshihisa Tanimura
;
National Research Lab. of Metrology
;
Tsukuba-shi
;
Ibaraki-ken
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
51.
Measurement of radius of concave mirror by zone-plate interferometer
机译:
用区板干涉仪测量凹面镜的半径
作者:
Zhi Q. Liu
;
Chiba Univ.
;
Chiba-shi
;
Chiba-ken
;
Japan
;
Katsuyuji Okada
;
Chiba Univ.
;
Chiba
;
Japan
;
Jumpei Tsujiuchi
;
Chiba Univ.
;
Edogawa-ku
;
Tokyo
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
52.
Measurement of 2D birefringence distribution
机译:
二维双折射分布的测量
作者:
Masato Noguchi
;
Asahi Optical Co.
;
Ltd.
;
Itabashi-ku
;
Tokyo
;
Japan
;
Tsuyoshi Ishikawa
;
Asahi Optical Co.
;
Ltd.
;
Itabashi-ku
;
Tokyo
;
Japan
;
Masahiro Ohno
;
Asahi Optical Co.
;
Ltd.
;
Itabashi-ku
;
Tokyo
;
Japan
;
Satoru Tachihara
;
Asahi Optical Co.
;
Ltd.
;
Itabas
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
53.
General principles behind JCII's testing of optical instruments (Invited Paper)
机译:
JCII对光学仪器进行测试的一般原则(特邀论文)
作者:
Hideki Kondo
;
JCII
;
Chiyoda-Ku
;
Tokyo
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
54.
Fabrication of lenslet grating with multilevel phases
机译:
多级相位微透镜光栅的制作
作者:
Yingbai Yan
;
Tsinghua Univ.
;
Beijing
;
China
;
Xu Wang
;
Tsinghua Univ.
;
Beijing
;
China
;
Changkun Yao
;
Tsinghua Univ.
;
Beijing
;
China
;
Guofan Jin
;
Tsinghua Univ.
;
Beijing
;
China
;
Minxian Wu
;
Tsinghua Univ.
;
Beijing
;
China.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
55.
New type of instrument for the orientation of the optical axis of crystal
机译:
用于晶体光轴定向的新型仪器
作者:
Tianning Cao
;
Zhejiang Univ.
;
Hangzhou
;
China.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
56.
Present and future standard specimens for surface-finish metrology (Summary Only)
机译:
当前和将来的表面处理计量标准样品(仅摘要)
作者:
Theodore V. Vorburger
;
National Institute of Standards
;
Technology
;
Gaithersburg
;
MD
;
USA
;
J.F. Song
;
National Institute of Standards
;
Technology
;
Gaithersburg
;
MD
;
USA
;
Egon Marx
;
National Institute of Standards
;
Technology
;
Gaithersburg
;
MD
;
USA
;
Robert I.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
57.
Noncontact measuring methods of optical surface roughness
机译:
光学表面粗糙度的非接触式测量方法
作者:
Feng Liang
;
Zhejiang Univ.
;
Hangzhou
;
China
;
Tianning Cao
;
Zhejiang Univ.
;
Hangzhou
;
China.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
58.
Advanced interferometry at Carl Zeiss (Summary Only)
机译:
卡尔·蔡司的高级干涉仪(仅概述)
作者:
Michael F. Kuechel
;
Carl Zeiss
;
Oberkochen
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
59.
Present situation and prospect on optical components processing and measuring techniques in China
机译:
中国光学元件加工与测量技术的现状与展望
作者:
Pengfei Zhou
;
Shanghai Institute of Mechanical Engineering
;
Shanghai
;
China
;
Jiang-wu Ding
;
Shanghai Institute of Mechanical Engineering
;
Shanghai
;
China.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
60.
Modern surface technique and its valuation on ultraprecise metrology grating
机译:
现代表面技术及其在超精密计量光栅上的价值
作者:
Lin Chen
;
Shanghai Institute of Mechanical Engineering
;
Shanghai
;
China.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
61.
Multiobjective space datum line available through paralleled plate
机译:
可通过平行平板获得多目标空间基准线
作者:
Dachun Shi
;
Shanghai Institute of Mechanical Engineering
;
Shanghai
;
China
;
Ge Shuai
;
Shanghai Institute of Mechanical Engineering
;
Shanghai
;
China
;
Pengfei Zhou
;
Shanghai Institute of Mechanical Engineering
;
Shanghai
;
China.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
62.
Fabrication and testing of x-ray optical elements
机译:
X射线光学元件的制造和测试
作者:
Changxin Zhou
;
Changchun Institute of Optics
;
Fine Mechanics
;
Changchun
;
Jilin
;
China.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
63.
Fabrication and testing of x-ray telescope
机译:
X射线望远镜的制造和测试
作者:
Jingchi Yu
;
Changchun Institute of Optics
;
Fine Mechanics
;
Changchun
;
Jilin
;
China
;
Xiafei Sun
;
Changchun Institute of Optics
;
Fine Mechanics
;
Changchun
;
Jilin
;
China
;
Zhangnan Huang
;
Changchun Institute of Optics
;
Fine Mechanics
;
Changchun
;
Jilin
;
China.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
64.
Fabrication and evaluation of Cr-C multilayer mirrors for soft x rays
机译:
用于软X射线的Cr-C多层反射镜的制备和评估
作者:
Masahito Niibe
;
Canon Inc.
;
Atsugi-shi
;
Kanagawa-ken
;
Japan
;
Masami Tsukamoto
;
Canon Inc.
;
Atsugi-shi
;
Kanagawa-ken
;
Japan
;
Takashi Iizuka
;
Canon Inc.
;
Atsugi
;
Kanagawa
;
Japan
;
Akira Miyake
;
Canon Inc.
;
Atsugi
;
Kanagawa
;
Japan
;
Yutaka Watanabe
;
Canon Inc.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
65.
Crystal streak camera for infrared light pulse
机译:
水晶条纹相机用于红外光脉冲
作者:
Osamu Matsumoto
;
Hamamatsu Photonics K.K.
;
Hamamatsu
;
Japan
;
Yasushi Ohbayashi
;
Hamamatsu Photonics K.K.
;
Hamakita
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
66.
Aspheric lens LD collimator for an optical intersatellite link
机译:
非球面透镜LD准直仪,用于卫星间光学链接
作者:
Mitsuo Nohara
;
ATR Optical
;
Radio Communications Research Labs.
;
Soraku-gun
;
Kyoto
;
Japan
;
Keizo Inagaki
;
ATR Optical
;
Radio Communications Research Labs.
;
Nara
;
Japan
;
Hideaki Koyanagi
;
HOYA Corp.
;
Tokyo
;
Japan
;
Isao Ishibai
;
HOYA Corp.
;
Tokyo
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
67.
Electronic pseudocolor encoder for optical testing
机译:
电子伪彩色编码器,用于光学测试
作者:
Suganda Jutamulia
;
Kowa Co.
;
Ltd.
;
San Jose
;
CA
;
USA
;
Akihiro Fujita
;
Kowa Co.
;
Ltd.
;
San Jose
;
CA
;
USA
;
Shinji Toyoda
;
Kowa Co.
;
Ltd.
;
San Jose
;
CA
;
USA
;
Eiichi Ito
;
Kowa Co.
;
Ltd.
;
San Jose
;
CA
;
USA
;
Aris Tanone
;
The Pennsylvania State Univ.
;
Huntsville
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
68.
Error sources in phase-measuring interferometry (Invited Paper)
机译:
相位测量干涉仪中的误差源(特邀论文)
作者:
Katherine Creath
;
Optical Sciences Ctr./Univ. of Arizona
;
Tucson
;
AZ
;
USA.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
69.
Aspheric machining form correction by form-measuring instrument and aspheric programming system
机译:
通过形状测量仪和非球面编程系统对非球面加工形式进行校正
作者:
Hideki Ogawa
;
Rank Taylor Hobson K.K.
;
Tokyo
;
Japan
;
Yukio Endo
;
Rank Taylor Hobson K.K.
;
Tokyo
;
Japan
;
Seiichi Itoh
;
Topcon Corp.
;
Itabashi-ku
;
Tokyo
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
70.
Aspheric technology for zoom lenses (Invited Paper)
机译:
变焦镜头的非球面技术(特邀论文)
作者:
Toshihide Dohi
;
Minolta Camera Co.
;
Ltd.
;
Takatsuki-shi
;
Osaka
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
71.
Displacement meter with ferroelectric liquid crystal spatial light modulator utilizing speckle photography
机译:
带有散斑摄影的铁电液晶空间光调制器位移计
作者:
Yuji Kobayashi
;
Hamamatsu Photonics K.K.
;
Hamakita-shi
;
Shizuoka
;
Japan
;
Tamiki Takemori
;
Hamamatsu Photonics K.K.
;
Shizuoka
;
Japan
;
Naohisa Mukohzaka
;
Hamamatsu Photonics K.K.
;
Hamakita-shi
;
Shizuoka-ken
;
Japan
;
Narihiro Yoshida
;
Hamamatsu Photonics K. K
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
72.
Computer-controlled polishing of aspheric surfaces
机译:
非球面的计算机控制抛光
作者:
Tianning Cao
;
Zhejiang Univ.
;
Hangzhou
;
China
;
Jianping Zhang
;
Zhejiang Univ.
;
Hangzhou
;
China.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
73.
Calibration of phase-shift interferometer
机译:
移相干涉仪的标定
作者:
Der-Shen Wan
;
Chung-Shan Institute of Science
;
Technology
;
Lung-Tan
;
Taiwan
;
Wen-Shang Chiang
;
Chung-Shan Institute of Science
;
Technology
;
Lung-Tan
;
Taiwan
;
Ming-Wen Chang
;
National Central Univ.
;
Chung-Li
;
Taiwan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
74.
Contour mapping of dynamic stress distributions by novel polarization interferometry
机译:
新型偏振干涉法测绘动态应力分布的轮廓图
作者:
Author(s): Kazuhiko Oka Hokkaido Univ. Sapporo Hokkaido Japan
;
Yoshihiro Ohtsuka Hokkaido Univ. Sapporo Hokkaido Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
75.
Surface roughness and waviness measurements for optical parts (Invited Paper)
机译:
光学零件的表面粗糙度和波纹度测量(邀请纸)
作者:
Thomas C. Bristow
;
Chapman Instruments
;
Rochester
;
NY
;
USA.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
76.
Advancements in one-dimensional profiling with a long-trace profiler
机译:
使用长轨迹分析器进行一维分析的进展
作者:
Steven C. Irick
;
Lawrence Berkeley Lab.
;
Berkeley
;
CA
;
USA
;
Wayne R. McKinney
;
Lawrence Berkeley Lab.
;
Berkeley
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
77.
X-ray mirrors for SR lithography (Invited Paper)
机译:
用于SR光刻的X射线镜(特邀论文)
作者:
Takashi Kaneko
;
NTT/LSI Labs.
;
Atsugi-shi
;
Kanagawa
;
Japan
;
Sei-ichi Itabashi
;
NTT/LSI Labs.
;
Atsugi-Shi
;
Kanagawa
;
Japan
;
Yasunao Saitoh
;
NTT/LSI Labs.
;
Atsugi-Shi
;
Kanagawa
;
Japan
;
Ikuo Okada
;
NTT/LSI Labs.
;
Atsugi-shi
;
Kanagawa
;
Japan
;
Hideo Yoshihara
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
78.
Adhesive analysis of the thin film on the different optical polishing surface
机译:
薄膜在不同光学抛光面上的黏着力分析
作者:
Yueshan Liang
;
Shanghai Institute of Mechanical Engineering
;
Shanghai
;
China
;
Pengfei Zhou
;
Shanghai Institute of Mechanical Engineering
;
Shanghai
;
China.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
79.
X-ray multilayer mirrors for grazing incidence
机译:
X射线多层反射镜,用于掠入射
作者:
Masaaki Sudoh
;
Toshiba Corp.
;
Yokohama-shi
;
Japan
;
Katsunobu Ueda
;
Toshiba Corp.
;
Yokohama-shi
;
Japan
;
Shinichi Nakamura
;
Toshiba Corp.
;
Saiwai-ku
;
Kawasaki
;
Japan
;
Hirobumi Ohmori
;
Toshiba Corp.
;
Saiwai-ku
;
Kawasaki
;
Japan.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
80.
X-ray imaging optics in Japan (Invited Paper)
机译:
日本的X射线成像光学器件(特邀论文)
作者:
Takeshi Namioka
;
Universities Space Research Association
;
Greenbelt
;
MD
;
USA
;
Koujun Yamashita
;
Institute of Space
;
Astronautical Science
;
Nagoya
;
Japan
;
Masaki Yamamoto
;
Tohoku Univ.
;
Aoba-ku
;
Sendai-shi
;
Miyagi
;
Japan
;
Tadashi Matsushita
;
National Lab.
会议名称:
《Intl Symp on Optical Fabrication, Testing, and Surface Evaluation》
|
1992年
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