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Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997
Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997
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1.
Single crystalline thin film screens for cathode ray tubes: possibilitiesof application, peculiarities, and light parameters,
机译:
用于阴极射线管的单晶薄膜屏幕:应用的可能性,特性和光参数
作者:
Yuri V. Zorenko
;
Lviv State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
M.Batenchuk
;
Lviv State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
M.Pashkovsky
;
Lviv State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
Ivan V. Konstankevych
;
Lviv State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
V.Gorbenko
;
Institute of Materials
;
Lviv
;
Ukraine
;
P.Yur
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
2.
Use of photodepolarization spectra for diagnostics and characterization of alternating current thin-film electroluminescent (ACTFEL) devices
机译:
使用光去极化光谱进行交流薄膜电致发光(ACTFEL)器件的诊断和表征
作者:
Nataliya A. Vlasenko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
A.I. Beletskii
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Z.L. Denisova
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Ya. F. Kononets
;
Institute of Semiconductor Physi
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
3.
Use of Raman-scattering waves for the optical diagnostics of semiconductor materials for microelectronics
机译:
拉曼散射波在微电子半导体材料光学诊断中的应用
作者:
Olexander Y. Semchuk
;
Institute of Surface Chemistry
;
Kiev
;
Ukraine
;
Leonid G. Grechko
;
Institute of Surface Chemistry
;
Kiev 28
;
Ukraine
;
Vladimir M. Ogenko
;
Institute of Surface Chemistry
;
Kiev 2
;
Ukraine
;
Vasilii A. Shenderovskii
;
Institute of Physics
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
4.
Nanostructure of a-C:N films characterized by Raman spectroscopy
机译:
拉曼光谱表征a-C:N薄膜的纳米结构
作者:
Andrey V. Vasin
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kyiv 28
;
Ukraine
;
O.V. Vasylyk
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Ludmila A. Matveeva
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kyiv 28
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
5.
Aging of elements of the integral optics and light guides
机译:
集成光学元件和光导元件的老化
作者:
G.E. Chaika
;
Ukrainian Academy of Communications
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.N. Malnev
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
M.I. Panfilov
;
Ukrainian Academy of Communications
;
Kiev
;
Ukraine
;
D.E. Edgorbekov
;
Hodgent Polytechnical Institute
;
Hodgent
;
Tajikistan.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
6.
Photoacoustic techniques for determination of thresholds of failure during laser processing of substrate materials for integrated electronics
机译:
用于确定集成电子设备基板材料激光加工过程中失效阈值的光声技术
作者:
Sergei M. Baschenko
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Ivan V. Blonskij
;
Institute of Physics
;
Kiev-28
;
Ukraine
;
Viacheslav M. Puzikov
;
Institute for Single Crystals
;
Kharkov
;
Ukraine
;
Oleg Y. Danko
;
Institute for Single Crystals
;
Kharkiv
;
Ukraine
;
Al
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
7.
Photoluminescence investigation of Dy incorporation into InP during liquid phase epitaxy
机译:
液相外延过程中Dy掺入InP的光致发光研究
作者:
Balint Podor
;
Research Institute for Technical Physics
;
Budapest
;
Hungary
;
Evgenii F. Venger
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Tatyana G. Kryshtab
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev 10
;
Ukraine
;
Galina N. Semenova
;
Institute of Se
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
8.
Role of growth defects on carrier dynamics: semi-insulating GaAs
机译:
生长缺陷对载流子动力学的作用:半绝缘GaAs
作者:
V.Mizeikis
;
Vilnius Univ.
;
Vilnius
;
Lithuania
;
Kestutis Jarasiunas
;
Vilnius Univ.
;
Vilnius
;
Lithuania
;
J.Storasta
;
Vilnius Univ.
;
Vilnius
;
Lithuania
;
V.Gudelis
;
Vilnius Univ.
;
Vilnius Lithuania
;
Lithuania
;
L.Bastiene
;
Vilnius Univ.
;
Vilnius
;
Lithuania
;
M.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
9.
Photostructural transformations in amorphous Ge-S thin films: a light-scattering study
机译:
非晶Ge-S薄膜的光结构转变:光散射研究
作者:
N.V. Bondar
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
N.A. Davydova
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.V. Tishchenko
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
GSP-28
;
Ukraine
;
Miroslav Vlcek
;
Univ. of Pardubice
;
Pardubice
;
Czech Republic.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
10.
Refractivity dispersion in glassy As2S5 for infrared optics
机译:
玻璃态As2S5中的折射率分散,用于红外光学
作者:
Ivan Rosola
;
Uzhgorod State Univ.
;
Uzhgorod
;
Ukraine
;
Alexander A. Kikineshi
;
Uzhgorod State Univ.
;
Uzhgorod
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
11.
Optical and photoelectric- and gas-sensitive properties of porous silicon
机译:
多孔硅的光学,光电和气体敏感性
作者:
Valentin A. Smyntyna
;
Odessa State Univ.
;
Odessa
;
Ukraine
;
Yurij A. Vashpanov
;
Odessa State Univ.
;
Odessa
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
12.
Optical diagnostics of light-emitting Si clusters in SiO2 formed by ion implantation
机译:
离子注入形成的SiO2中发光Si团簇的光学诊断
作者:
Mikhail Y. Valakh
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.A. Yukhimchuk
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.Y. Bratus
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
A.N. Nasarov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Ki
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
13.
Optical disk mastering process control methods
机译:
光盘母版制作过程控制方法
作者:
Andrey A. Kryuchin
;
Institute for Information Recording
;
Kiev
;
Ukraine
;
Viacheslav V. Petrov
;
Institute for Information Recording
;
Kiev
;
Ukraine
;
Semen M. Shanoylo
;
Institute for Information Recording
;
Kiev
;
Ukraine
;
Vasyliy G. Kravets
;
Institute for Info
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
14.
Optical inhomogeneity and defect formation in Mg-doped lithium niobate single crystals
机译:
掺镁铌酸锂单晶的光学不均匀性和缺陷形成
作者:
N.I. Deryugina
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
K.Polgar
;
Research Lab. for Crystal Physics
;
Budapest
;
Hungary
;
V.M. Gabu
;
RPA Carat
;
Lviv
;
Ukraine
;
Dmitry Y. Sugak
;
RPA Carat
;
Lviv
;
Ukraine
;
Andrej O. Matkovskii
;
RPA Carat
;
Lviv
;
Ukrai
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
15.
Optical properties of thin Al films studied by ordinary and polariton spectroellipsometry
机译:
普通和偏光分光光度法研究铝薄膜的光学性质
作者:
Igor A. Shaikevich
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Pavel V. Kolesnik
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Victoria Pasko
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Vasiliy V. Prorok
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
16.
Optical properties and structure of porous silicon
机译:
多孔硅的光学性质和结构
作者:
V.S. Stashhuk
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.B. Shevchenko
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
17.
Radiation-stable infrared optical components
机译:
辐射稳定的红外光学组件
作者:
N.D. Savchenko
;
Uzhgorod State Univ.
;
Uzhgorod
;
Ukraine
;
T.Shchurova
;
Uzhgorod State Univ.
;
Uzhgorod
;
Ukraine
;
A.Kondrat
;
Uzhgorod State Univ.
;
Uzhgorod
;
Ukraine
;
N.Dovgoshey
;
Uzhgorod State Univ.
;
Uzghorod
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
18.
Optical study of the influence of oxygen on the synthesis of SiC-buried layer in Cz-Si and Fz-Si
机译:
氧对Cz-Si和Fz-Si中SiC埋层合成的影响的光学研究
作者:
V.A. Yukhimchuk
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.P. Melnik
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
B.N. Romanjuk
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.G. Popov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukr
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
19.
Random error behavior for rotating-analyzer ellipsometers
机译:
旋转分析仪椭偏仪的随机误差行为
作者:
Eugene G. Bortchagovsky
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
20.
Raman-scattering diagnostics of the structure of hydrogenated amorphous diamond-like carbon films
机译:
氢化无定形类金刚石碳膜结构的拉曼散射诊断
作者:
Mikhail Y. Valakh
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
O.V. Vasylyk
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
A.G. Gontar
;
Institute of Superhard Materials
;
Kiev
;
Ukraine
;
A.M. Kutsay
;
Institute of Superhard Materials
;
Kiev
;
Ukrai
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
21.
Investigation using MAI ellipsometry of damage by surface metallic doping of near-surface layers in semiconductors
机译:
使用MAI椭圆光度法研究半导体中近表面层的表面金属掺杂造成的损害
作者:
Nikolas L. Dmitruk
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Lubov A. Zabashta
;
Sumy State Univ.
;
Sumy
;
Ukraine
;
Oleg I. Zabashta
;
Sumy State Univ.
;
Sumy
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
22.
Interface roughness and confined LO phonon modes in (ZnSe)2 (ZnS) 11/GaAs(100) superlattices grown by PAVPE
机译:
PAVPE生长的(ZnSe)2(ZnS)11 / GaAs(100)超晶格中的界面粗糙度和局域LO声子模
作者:
V.V. Tishchenko
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
GSP-28
;
Ukraine
;
Y.S. Raptis
;
National Technical Univ.
;
Athens
;
Greece
;
Evangelos Anastassakis
;
National Technical Univ.
;
Athens
;
Greece.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
23.
Luminescent purity diagnostics of ZnSe crystals
机译:
ZnSe晶体的发光纯度诊断
作者:
Olegh V. Vakulenko
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Vladyslav M. Kravchenko
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Zinovij Z. Janchuk
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
24.
Luminescence of ZnS polycrystals prepared by SSHTS
机译:
SSHTS制备的ZnS多晶体的发光
作者:
Yu. F. Vaksman
;
Odessa State Univ.
;
Odessa
;
Ukraine
;
E.V. Stankova
;
Odessa State Univ.
;
Odessa
;
Ukraine
;
S.V. Zubritskiy
;
Odessa State Univ.
;
Odessa
;
Ukraine
;
Yu. N. Purtov
;
Odessa State Univ.
;
Odessa
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
25.
Light-activated photoluminescence of porous silicon
机译:
多孔硅的光激活光致发光
作者:
Mykola S. Boltovec
;
Research Institute Orion
;
Kiev
;
Ukraine
;
Oleksandr I. Dacenko
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Svitlana M. Naumenko
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Tetjana V. Ostapchuk
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Olga V. Rudenko
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
26.
New technique for investigation of solar cell sheet resistance distribution by laser beam scanning
机译:
激光扫描研究太阳能电池薄层电阻分布的新技术
作者:
Vadym O. Goncharov
;
Kiev Univ.
;
Kiev MSP
;
Ukraine
;
Leonid M. Ilchenko
;
Kiev Univ.
;
Kiev MSP
;
Ukraine
;
S.Kilchitskaya
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
S.Litvinenko
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Eugene M. Smirnov
;
Kiev Univ.
;
Kiev MSP
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
27.
Monitoring the aging of high-power laser diode arrays
机译:
监视大功率激光二极管阵列的老化
作者:
Jens W. Tomm
;
Max-Born-Institut fuer Nichtlineare Optik und Kurzzei tspektroskopie
;
Berlin
;
Germany
;
A.Baerwolff
;
Max-Born-Institut fuer Nichtlineare Optik und Kurzzei tspektroskopie
;
Berlin
;
Germany
;
Ch. Lienau
;
Max-Born-Institut fuer Nichtlineare Optik
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
28.
Absorption diagnostics of quantum size effect on the excited states of SbI3 clusters in FAU zeolite
机译:
量子尺寸对FAU分子筛中SbI3团簇激发态的吸收诊断
作者:
Sergij V. Virko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev 28
;
Ukraine
;
Fedir V. Motsnyi
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev-28
;
Ukraine
;
German M. Telbiz
;
Institute of Physical Chemistry
;
Kyiv
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
29.
Adjustment of optical properties of nonlinear composites by an external electrical field
机译:
外部电场对非线性复合材料光学特性的调节
作者:
Leonid G. Grechko
;
Institute of Surface Chemistry
;
Kiev 28
;
Ukraine
;
O.A. Davidova
;
Institute of Surface Chemistry
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.N. Malnev
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
30.
Optical characterization of carbon ion implantation into Si and SiGe alloys
机译:
碳离子注入Si和SiGe合金的光学表征
作者:
A.Perez-Rodriguez
;
Univ. de Barcelona
;
Barcelona
;
Spain
;
A.Romano-Rodriguez
;
Univ. de Barcelona
;
Barcelona
;
Spain
;
C.Serre
;
Univ. de Barcelona
;
Barcelona
;
Spain
;
L.Calvo-Barrio
;
Univ. de Barcelona
;
Barcelona
;
Spain
;
O.Gonzalez-Varona
;
Univ. de Barcelona
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
31.
Optical and photoelectrical studies of strain fields in semiconductor crystals
机译:
半导体晶体中应变场的光学和光电研究
作者:
B.K. Serdega
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.G. Zykov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Galina N. Semenova
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
L.V. Shekhovtsov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Ki
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
32.
Optical characterization of As40S40Se20 inorganic resist
机译:
As40S40Se20无机抗蚀剂的光学表征
作者:
Alexander V. Stronski
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Miroslav Vlcek
;
Univ. of Pardubice
;
Pardubice
;
Czech Republic
;
Peter E. Shepeljavi
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Apollinary I. Stetsun
;
Institute of Semiconduc
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
33.
Optical methods of control and characterization of materials for infrared detectors
机译:
控制和表征红外探测器材料的光学方法
作者:
Yuri V. Vorobiev
;
Univ. of Queretaro
;
Qro Qro
;
Mexico
;
Jesus Gonzalez-Hernandez
;
Univ. of Queretaro
;
Qro Qro
;
Mexico
;
Martin Yanez-Limon
;
Univ. of Queretaro
;
Qro Qro
;
Mexico
;
Juan F. Perez-Robles
;
Univ. of Queretaro
;
Queretaro
;
Mexico
;
Francisco J. Espino
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
34.
Oxygen concentration distribution determination in silicon wafers by semiconductor IR laser spectroscopy
机译:
半导体红外激光光谱法测定硅片中的氧浓度分布
作者:
Sergey D. Darchuk
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Fiodor F. Sizov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
35.
Cd1-xMnxTe/CdyHg1-yTe heterostructures: structure and optical properties
机译:
Cd1-xMnxTe / CdyHg1-yTe异质结构:结构和光学性质
作者:
Aleksandr I. Vlasenko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Vladimir N. Babentsov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev-28
;
Ukraine
;
Z.K. Vlasenko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.V. Kremenitskiy
;
Institute of Semico
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
36.
Computer-aided mode diagnostics and parameters optimization of a picosecond laser setup based on a modified Sagnak interferometer
机译:
基于改进的Sagnak干涉仪的皮秒激光设置的计算机辅助模式诊断和参数优化
作者:
Dmitry N. Boldovskii
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Eugen A. Tikhonov
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
37.
Diagnostics of nitrogen-implanted diamond-like carbon films by optical and microhardness measurements
机译:
通过光学和显微硬度测量诊断植入氮的类金刚石碳膜
作者:
Victor V. Artamonov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Nickolai I. Klyui
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
B.N. Romanyuk
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Mikhail Y. Valakh
;
Institute of Semiconductor P
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
38.
Complete diagnostics of pyroactive structures for smart systems of optoelectronics
机译:
完整诊断用于光电子智能系统的热活性结构
作者:
Svetlana L. Bravina
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Nicholay V. Morozovsky
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
39.
Determination of the concentration of shallow impurities in semi-insulating GaAs by low-temperature (77 K) photoluminescence
机译:
低温(77 K)光致发光法测定半绝缘GaAs中浅杂质的浓度
作者:
K.D. Glinchuk
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev 28
;
Ukraine
;
N.M. Litovchenko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev 28
;
Ukraine
;
A.V. Prokhorovich
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev 28
;
Ukraine
;
Oksana N. Strilchuk
;
Institute of Semico
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
40.
Detection of deep boron-involved thermal donor formation in silicon by combined photoluminescent Hall and ESR techniques
机译:
结合光致发光霍尔和ESR技术检测硅中深硼参与的热供体形成
作者:
V.M. Babich
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
N.P. Baran
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.L. Kiritsa
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Galina Y. Rudko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev-28
;
U
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
41.
Diagnostic of the energy level distribution of tetragonal cadmium and zinc diphosphides
机译:
四方镉和二磷化锌的能级分布诊断
作者:
Ishtvan V. Fekeshgazi
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Dragomanov Ped agogical Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
G.Grischenko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Dragomanov Ped agogical Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
P.Romanyk
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Dragomanov
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
42.
Effect of disorder on exciton dynamics in cation-substituted ZnxCd1-xS mixed crystals
机译:
无序对阳离子取代的ZnxCd1-xS混合晶体中激子动力学的影响
作者:
Serhiy G. Shevel
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Volodymyr L. Vozny
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Mykola I. Vytrykhivsky
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Arno Euteneuer
;
Philipps-Univ. Marburg
;
Marburg
;
Germany
;
Ernst O. G
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
43.
Effect of lateral inhomogeneity of barrier height on the photoresponse characteristics of Schottky junctions
机译:
势垒高度横向不均匀性对肖特基结光响应特性的影响
作者:
Zsolt J. Horvath
;
Research Institute for Technical Physics
;
Budapest Ujpest
;
Hungary
;
Vo V. Tuyen
;
Research Institute for Technical Physics
;
Budapest
;
Hungary.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
44.
Effects of structure microdefects on scintillation and photostimulated properties of CdWO4 crystals
机译:
结构微缺陷对CdWO4晶体闪烁和光刺激特性的影响
作者:
V.G. Bondar
;
Institute for Single Crystals
;
Kharkov
;
Ukraine
;
S.F. Burachas
;
Institute for Single Crystals
;
Kharkov
;
Ukraine
;
K.A. Katrunov
;
Institute for Single Crystals
;
Kharkov
;
Ukraine
;
V.P. Martynov
;
Institute for Single Crystals
;
Kharkov
;
Ukraine
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
45.
Electroluminescent control technique of dislocation density in GaP
机译:
GaP中位错密度的电致发光控制技术
作者:
Olexsandr M. Gontaruk
;
Dragomanov Pedagogical Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Dmytro V. Korbutyak
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Anatoly P. Kudin
;
Dragomanov Pedagogical Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Volodimir I. Kuts
;
Institute of Nuclear Research
;
Ki
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
46.
Infrared spectroscopy of luminescent porous silicon
机译:
发光多孔硅的红外光谱
作者:
Vladimir A. Makara
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.S. Stashhuk
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.B. Shevchenko
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
47.
IR reflection spectra of the ZnO/Al2O3 structure
机译:
ZnO / Al2O3结构的红外反射光谱
作者:
Evgenii F. Venger
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
A.V. Melnichuk
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev-28
;
Ukraine
;
Y.A. Pasechnik
;
Dragomanov Pedagogical Univ.
;
Kiev-28
;
Ukraine
;
E.I. Sukhenko
;
Dragomanov Pedagogical Univ.
;
Kiev-3
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
48.
Thin films for nonlinear optics: sol-gel preparation Raman and XAS characterization of alpha-Fe2O3
机译:
非线性光学薄膜:溶胶-凝胶制备拉曼光谱和XAS表征α-Fe2O3
作者:
Pier P. Lottici
;
INFM
;
Univ. degli Studi di Parma
;
Parma
;
Italy
;
Camilla Baratto
;
INFM
;
Univ. degli Studi di Parma
;
Parma
;
Italy
;
Danilo Bersani
;
INFM
;
Univ. degli Studi di Parma
;
Parma
;
Italy
;
Gianni Antonioli
;
INFM
;
Univ. degli Studi di Parma
;
Parma
;
Italy
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
49.
Optical study on microstructure of laser-deposited Si-containing films
机译:
激光沉积含硅薄膜微观结构的光学研究
作者:
Sergei V. Svechnikov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
E.B. Kaganovich
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
E.G. Manoilov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
A.A. Kudryavtsev
;
Institute of Semiconductor Phy
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
50.
Random electric fields and coherent phonon excitation in C60 films by femtosecond laser pulses
机译:
飞秒激光脉冲在C60薄膜中的随机电场和相干声子激发
作者:
V.M. Farztdinov
;
Institute of Spectroscopy
;
Troitsk
;
Russia
;
S.A. Kovalenko
;
Max-Planck-Institut fuer Biophysikalische Chemie
;
Goettingen
;
Germany
;
A.L. Dobryakov
;
Institute of Spectroscopy
;
Troitsk
;
Russia
;
Yurii E. Lozovik
;
Institute of Spectroscopy
;
Tr
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
51.
Measurement of dispersive properties of optical materials and mirrors using spectrally resolved white-light interferometry
机译:
使用光谱分辨白光干涉法测量光学材料和反射镜的色散特性
作者:
Zsolt Bor
;
Jozsef Attila Univ.
;
Szeged
;
Hungary
;
Attila P. Kovacs
;
Jozsef Attila Univ.
;
Szeged
;
Hungary
;
Karoly Osvay
;
Jozsef Attila Univ.
;
Szeged
;
Hungary
;
Robert Szipocs
;
Research Institute for Solid State Physics
;
Budapest
;
Hungary.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
52.
Laser radiation action on c-Si with dislocations and their diagnostics
机译:
激光对位错的c-Si的作用及其诊断
作者:
Vladimir A. Makara
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
L.P. Steblenko
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.A. Pasechny
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Vladimir S. Ovechko
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
P.T. Petrosian
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Andrii M. Dmitruk
;
Kiev Univ.
;
K
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
53.
Laser damage threshold and microfaultness of large KDP crystals
机译:
大型KDP晶体的激光损伤阈值和微断层
作者:
V.I. Salo
;
Institute for Single Crystals
;
Kharkov
;
Ukraine
;
V.F. Tkachenko
;
Institute for Single Crystals
;
Kharkov
;
Ukraine
;
M.A. Rom
;
Institute for Single Crystals
;
Kharkov
;
Ukraine
;
Viacheslav M. Puzikov
;
Institute for Single Crystals
;
Kharkov
;
Ukraine
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
54.
Nonlinear-carrier-transport-governed nonresonant optical nonlinearity in A3B5 crystals
机译:
A3B5晶体中非线性载流子控制的非共振光学非线性
作者:
Kestutis Jarasiunas
;
Vilnius Univ.
;
Vilnius
;
Lithuania
;
Liudvikas Subacius
;
Semiconductor Physics Institute
;
Vilnius
;
Lithuania.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
55.
Optical characterization of Fe- and Cu-doped SiO2 glasses prepared by the sol-gel method
机译:
溶胶-凝胶法制备的Fe和Cu掺杂的SiO2玻璃的光学表征
作者:
Juan F. Perez-Robles
;
Univ. Autonoma de Queretaro
;
Queretaro
;
Mexico
;
Francisco J. Rodriguez
;
Univ. Autonoma de Queretaro
;
Queretaro
;
Mexico
;
Jesus Gonzalez-Hernandez
;
Univ. Autonoma de Queretaro
;
Qro Qro
;
Mexico
;
Sergio Jimenez-Sandoval
;
Univ. Autonoma d
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
56.
Chlorine-related photoluminescence of CdTe gamma detector material
机译:
CdTeγ探测器材料中与氯有关的光致发光
作者:
P.N. Tkachuk
;
Chernivtsi State Univ.
;
Chernivtsi
;
Ukraine
;
V.I. Tkachuk
;
Chernivtsi State Univ.
;
Chernivtsi
;
Ukraine
;
Dmytro V. Korbutyak
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
N.D. Raransky
;
Chernivtsi State Univ.
;
Chernivtsi
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
57.
Characterization of layered structures by photoacoustic piezoelectric technique
机译:
用光声压电技术表征层状结构
作者:
Margarita L. Shendeleva
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
58.
Cryogenic spectrometric ellipsometer for studying solid state optical properties
机译:
低温光谱椭偏仪,用于研究固态光学特性
作者:
Alla I. Belyaeva
;
Institute for Low Temperature Physics
;
Engineering
;
Kharkov
;
Ukraine
;
T.G. Grebennik
;
Institute for Low Temperature Physics
;
Engineering
;
Kharkov
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
59.
Controlling of the state of CoSi2 thin film by laser radiation
机译:
通过激光辐射控制CoSi2薄膜的状态
作者:
M.Knite
;
Riga Technical Univ.
;
Riga
;
Latvia
;
Arthur Medvid
;
Riga Technical Univ.
;
Riga
;
Latvia.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
60.
Effect of impurities on the value of the bulk laser damage threshold of KDP single crystals
机译:
杂质对KDP单晶的整体激光损伤阈值的影响
作者:
V.I. Salo
;
Institute for Single Crystals
;
Kharkov
;
Ukraine
;
M.I. Kolybayeva
;
Institute for Single Crystals
;
Kharkov
;
Ukraine
;
Viacheslav M. Puzikov
;
Institute for Single Crystals
;
Kharkov
;
Ukraine
;
Igor M. Pritula
;
Institute for Single Crystals
;
Kharkov
会议名称:
《》
|
1997年
61.
Direct study of nonequilibrium carriers near Fermi level of Au film by optical reflection and transmission in femtosecond scale
机译:
飞秒级光反射和透射直接研究金膜费米能级附近的非平衡载流子
作者:
A.L. Dobryakov
;
Institute of Spectroscopy
;
Troitsk
;
Russia
;
Yurii E. Lozovik
;
Institute of Spectroscopy
;
Troitsk
;
Russia
;
V.M. Farztdinov
;
Institute of Spectroscopy
;
Troitsk
;
Russia
;
S.A. Kovalenko
;
Max-Planck-Institut fuer Biophysikalische Chemie
;
Goetti
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
62.
Ellipsometric probing of metallic mirrors with modified surfaces
机译:
表面修饰的金属镜的椭偏探测
作者:
Leonid V. Poperenko
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Vladimir S. Voitsenya
;
Institute of Physics
;
Technology
;
Kharkov
;
Ukraine
;
M.V. Vinnichenko
;
Kiev Univ.
;
Glushkov
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
63.
Femtosecond evolution of semiconductor microcavity modes
机译:
飞秒演化的半导体微腔模式
作者:
Evgenyi A. Vinogradov
;
Institute of Spectroscopy
;
Moscow Region
;
Russia
;
A.L. Dobryakov
;
Institute of Spectroscopy
;
Troitsk
;
Russia
;
V.M. Farztdinov
;
Institute of Spectroscopy
;
Troitsk
;
Russia
;
Yurii E. Lozovik
;
Institute of Spectroscopy
;
Troitsk
;
Russia
会议名称:
《》
|
1997年
64.
Identification of electron-hole transitions in short-period GaAs/AlAs superlattices by time-resolved photoluminescence
机译:
通过时间分辨光致发光识别短周期GaAs / AlAs超晶格中的电子-空穴跃迁
作者:
Vladimir G. Litovchenko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Dmytro V. Korbutyak
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
S.G. Krylyuk
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Holger T. Grahn
;
Paul-Drude-Institut fuer
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
65.
Fullerene-embedded Langmuir-Blodgett films probed by spectroscopic ellipsometry
机译:
椭圆偏振光谱法探测富勒烯包埋的Langmuir-Blodgett膜
作者:
Eugene G. Bortchagovsky
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Igor A. Yurchenko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Zoya I. Kazantseva
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Josef Humlicek
;
Masaryk Univ.
;
Brno
;
C
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
66.
Single crystalline thin film screens for cathode ray tubes: possibilities of application peculiarities and light parameters
机译:
用于阴极射线管的单晶薄膜屏幕:应用特性和光参数的可能性
作者:
Author(s): Yuri V. Zorenko Lviv State Univ. Lviv Ukraine
;
M.Batenchuk Lviv State Univ. Lviv Ukraine
;
M.Pashkovsky Lviv State Univ. Lviv Ukraine
;
Ivan V. Konstankevych Lviv State Univ. Lviv Ukraine
;
V.Gorbenko Institute of Materials Lviv Ukr
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
67.
Optical properties and electron zone structure of AnXO4 single crystals
机译:
AnXO4单晶的光学性质和电子区结构
作者:
Yuri A. Hizhnii
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Sergiy G. Nedelko
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
68.
Raman diagnostics of new types of A3B2X9 layered crystals
机译:
新型A3B2X9层状晶体的拉曼诊断
作者:
Olegh V. Vakulenko
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Victor O. Gubanov
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Stepan V. Kun
;
Uzhgorod State Univ.
;
Uzhgorod
;
Ukraine
;
Fedir V. Motsnyi
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev-28
;
Ukraine
;
Eugen Y. Peresh
;
Uzhgorod State Un
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
69.
Raman spectra and effects of electrical field and stress in DQW AlGaAs lasers
机译:
DQW AlGaAs激光器中的拉曼光谱以及电场和应力的影响
作者:
A.J. Semjonow
;
GOS
;
Berlin
;
Germany.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
70.
Photoluminescent investigations of SHF irradiation effect on defect states in GaAs:Sn(Te) and InP crystals
机译:
SHF辐照对GaAs:Sn(Te)和InP晶体中缺陷态的影响的光致发光研究
作者:
Irene B. Ermolovich
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Evgenii F. Venger
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Raisa V. Konakova
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Viktor V. Milenin
;
Institute of Semiconduct
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
71.
Influence of different types of surface treatment on photoelectric and optical properties of CdTe crystals
机译:
不同类型的表面处理对CdTe晶体光电性能的影响
作者:
Alia Baidullaeva
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev-028
;
Ukraine
;
Peter E. Mozol
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev-28
;
Ukraine
;
Aleksandr I. Vlasenko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
72.
Mechanism of the ZnGa2S4 monolayer formation on an NaCl surface
机译:
NaCl表面上ZnGa2S4单层形成的机理
作者:
N.Popovich
;
Uzghorod State Univ.
;
Uzghorod
;
Ukraine
;
V.Zhikharev
;
Uzghorod State Univ.
;
Uzghorod
;
Ukraine
;
N.Dovgoshey
;
Uzghorod State Univ.
;
Uzghorod
;
Ukraine
;
I.Kacher
;
Uzghorod State Univ.
;
Uzghorod
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
73.
Measurement and spectrometry of fluxes of charged particles using a scintillator-photodiode-preamplifier (S-PD-PA) and new types of scintillators based on semiconductor AIIBVI compounds
机译:
使用闪烁体-光电二极管前置放大器(S-PD-PA)和基于半导体AIIBVI化合物的新型闪烁体对带电粒子的通量进行测量和光谱分析
作者:
V.D. Ryzhikov
;
Institute for Single Crystals
;
Ukraine
;
V.V. Chernikov
;
Institute for Single Crystals
;
Kharkov
;
Ukraine
;
L.P. Galchinetskii
;
Institute for Single Crystals
;
Kharkov
;
Ukraine
;
S.N. Galkin
;
Institute for Single Crystals
;
Kharkov
;
Ukraine
;
E.A
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
74.
Micro-Raman characterization of GaN epilayers
机译:
GaN外延层的微拉曼表征
作者:
Marion Renucci
;
Univ. Paul Sabatier
;
Toulouse Cedex
;
France
;
F.Demangeot
;
Univ. Paul Sabatier
;
Toulouse Cedex
;
France
;
J.Frandon
;
Univ. Paul Sabatier
;
Toulouse Cedex
;
France.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
75.
Methods and devices for check-up of content of contamination in liquid media with low absorbability
机译:
检查吸收性低的液体介质中污染物含量的方法和装置
作者:
O.I. Bilyi
;
Ivan Franko State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
V.B. Getman
;
Ivan Franko State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
Ya. P. Ferensovich
;
Ivan Franko State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
T.V. Tetyuk
;
Ivan Franko State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
A.K. Chkolnyi
;
AS Rodon
;
Ivano-Franki
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
76.
Metal-proximity-induced phosphorescence of C60 molecules
机译:
金属邻近诱导的C60分子的磷光
作者:
Igor A. Yurchenko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Univ. of Penns ylvania
;
Kiev
;
Ukraine
;
E.Burstein
;
Univ. of Pennsylvania
;
Philadelphia
;
PA
;
USA
;
Dung-Hai Lee
;
Univ. of California/Berkeley
;
Berkeley
;
CA
;
USA
;
V.Krotov
;
Univ. of California/Berkeley
;
B
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
77.
Luminescence of ZnSe(Te) crystals melt-grown from the charge and enriched in selenium
机译:
从电荷中熔融生长并富硒的ZnSe(Te)晶体的发光
作者:
V.D. Ryzhikov
;
Institute for Single Crystals
;
Ukraine
;
L.P. Galchinetskii
;
Institute for Single Crystals
;
Kharkov
;
Ukraine
;
S.N. Galkin
;
Institute for Single Crystals
;
Kharkov
;
Ukraine
;
K.A. Katrunov
;
Institute for Single Crystals
;
Kharkov
;
Ukraine
;
E.K.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
78.
Luminescence of CdSiP2 crystals
机译:
CdSiP2晶体的发光
作者:
Tsezarii A. Kryskov
;
Kamianets-Podilsky Pedagogical Institute
;
Kamianets-Podilskyi
;
Ukraine
;
Vasyl Golonzhka
;
Podillja Khmelnitsky Technological Univ.
;
Khmelnitsky
;
Ukraine
;
Antonina A. Gubanova
;
Kamianets-Podilsky Pedagogical Institute
;
Kamianets-Podilsk
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
79.
Luminescence method for the determination of the current injection component in red GaAs1-xPx light-emitting diodes
机译:
发光法测定红色GaAs1-xPx发光二极管中的电流注入成分。
作者:
K.D. Glinchuk
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev 28
;
Ukraine
;
G.A. Sukach
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
80.
Acousto-stimulated change of the electrical and photoelectrical properties of CdxHg1-xTe (x=0.2) crystals
机译:
CdxHg1-xTe(x = 0.2)晶体的电和光电特性的声激发变化
作者:
Yaroslav M. Olikh
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Rada K. Savkina
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Aleksandr I. Vlasenko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
81.
Basics of luminescent diagnostics of the dislocation structure of SiC crystals
机译:
SiC晶体位错结构的发光诊断基础
作者:
Ivan S. Gorban
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Galina N. Mishinova
;
Kiev Univ.
;
Kiev-17
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
82.
Structure and optical parameters of the system with porous silicon: ellipsometric study
机译:
多孔硅系统的结构和光学参数:椭偏研究
作者:
Volodymyr A. Odarych
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Oleksandr I. Dacenko
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Mykola S. Boltovec
;
Research Institute Orion
;
Kiev
;
Ukraine
;
Olga V. Rudenko
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Volodymyr O. Pasichnyj
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
83.
Temperature behavior and the optical damage threshold of holographic gratings based on photopolymerizable materials
机译:
基于可光聚合材料的全息光栅的温度特性和光学损伤阈值
作者:
Oksana V. Sakhno
;
Institute of Physics
;
Kiev 28
;
Ukraine
;
Tatiana N. Smirnova
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Eugen A. Tikhonov
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
84.
Single crystalline imaging plates based on epitaxial and diffusion structures of alkali halide compounds
机译:
基于碱金属卤化物化合物的外延和扩散结构的单晶成像板
作者:
Ivan V. Konstankevych
;
Lviv State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
Yuri V. Zorenko
;
Lviv State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
M.Batenchuk
;
Lviv State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
M.Pashkovsky
;
Lviv State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
R.Fasbender
;
Univ. Erlangen-Nuernberg
;
Erlangen
;
Germany
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
85.
Vacuum-deposited dye films and their optical properties
机译:
真空沉积染料膜及其光学性质
作者:
Konstantin P. Gritsenko
;
Metal-Polymer Research Institute
;
Gomel
;
Belarus
;
Yuri L. Slominsky
;
Institute of Organic Chemistry
;
Kiev-9
;
Ukraine
;
Konstantin V. Fedotov
;
Institute of Organic Chemistry
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
86.
Vacuum-thermal-deposited films of organic dyes as sensitive materials in electrodigit visualization processes
机译:
电子染料可视化过程中有机染料的真空热沉积薄膜作为敏感材料
作者:
J.A. Zhizhenko
;
Institute of Physical Organic Chemistry
;
Minsk
;
Belarus
;
Vladimir E. Agabekov
;
Institute of Physical Organic Chemistry
;
Minsk
;
Belarus
;
Yu. K. Mikhailovskii
;
Institute of Physical Organic Chemistry
;
Minsk
;
Belarus
;
E.V. Kotov
;
Institute of
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
87.
Visible luminescent Si nanocrystals: optical characterization and a
机译:
可见光发光硅纳米晶体:光学表征和
作者:
Sergei V. Svechnikov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
E.B. Kaganovich
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
88.
Diagnostics of noncrystalline films by using interference of Raman signals in thin and superthin films
机译:
利用拉曼信号干涉薄膜和超薄膜来诊断非晶膜
作者:
Vladymyr M. Mitsa
;
Uzhgorod State Univ.
;
Uzhgorod
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
89.
X-ray introscopic digital systems of nondestructive testing based on SELDI detectors
机译:
基于SELDI检测器的X射线内窥镜数字系统无损检测
作者:
V.D. Ryzhikov
;
Institute for Single Crystals
;
Ukraine
;
L.P. Galchinetskii
;
Institute for Single Crystals
;
Kharkov
;
Ukraine
;
A.D. Opolonin
;
Institute for Single Crystals
;
Kharkov
;
Ukraine
;
V.M. Svishch
;
Institute for Single Crystals
;
Kharkov
;
Ukraine
;
E.M
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
90.
Polarimetry of inhomogeneous slab of anisotropic medium
机译:
各向异性介质非均质平板的极化分析
作者:
Borys M. Kolisnychenko
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Vitalij N. Kurashov
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Valeri V. Marienko
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine
;
Sergey N. Savenkov
;
Kiev Univ.
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《》
|
1997年
91.
Photoacoustic spectroscopy of semiconductor nanoclusters incorporated into various dielectric matrices
机译:
纳入各种介电基质的半导体纳米团簇的光声光谱
作者:
Ivan V. Blonskij
;
Institute of Physics
;
Kiev-28
;
Ukraine
;
Volodymyr A. Tkhoryk
;
Institute of Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
German M. Telbiz
;
Institute of Physical Chemistry
;
Kiev
;
Ukraine
;
Roman V. Turchack
;
Lviv State Univ.
;
Lviv
;
Ukraine
;
Vadim O. Salnikov
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
92.
Short-wave emission of Tb3+ as an optical indicator of TFELS matrix changes
机译:
作为TFELS基质的光学指示剂的Tb3 +的短波发射发生变化
作者:
V.S. Khomchenko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
V.E. Rodionov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Yu. A. Tzirkunov
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
93.
Study of optical properties of layered systems by multiangle ellipsometry
机译:
多角度椭圆偏振法研究层状体系的光学性质
作者:
Lubov A. Zabashta
;
Sumy State Univ.
;
Sumy
;
Ukraine.
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
94.
Structural peculiarities and phonon spectra of A3B2C9 compounds: a Raman-scattering diagnostic
机译:
A3B2C9化合物的结构特点和声子谱:拉曼散射诊断
作者:
Mikhail P. Lisitsa
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
Eugen Y. Peresh
;
Uzhgorod State Univ.
;
Uzhgorod
;
Ukraine
;
O.V. Trylis
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine
;
A.M. Yaremko
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukrain
会议名称:
《Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics 1997》
|
1997年
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