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Modeling aspects in optical metrology II
Modeling aspects in optical metrology II
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1.
Estimation of 3D reconstruction errors in a stereo-vision system
机译:
立体视觉系统中3D重建误差的估计
作者:
Belhaoua A.
;
Kohler S.
;
Hirsch E.
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
quality control;
stereo-vision;
segmentation;
error analysis;
CAD Data;
planning;
SGT;
2.
Towards Deconvolution in Holography
机译:
走向全息反卷积
作者:
Nan Wang
;
Claas Falldorf
;
Christoph von Kopylow
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
3D reconstruction;
digital holography;
holographic imaging;
deconvolution;
out of band extrapolation;
3.
Roughness Measurement Methodology according to DIN 4768 Using Optical Coherence Tomography (OCT)
机译:
根据DIN 4768的粗糙度测量方法,使用光学相干断层扫描(OCT)
作者:
Marcello M. Amaral
;
Marcus P. Raele
;
Jose P. Caly
;
Ricardo E. Samad
;
Nilson D. Vieira Jr.
;
Anderson Z. Freitas
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
optical coherence tomography;
OCT;
roughness;
DIN 4768;
4.
Multiplexing and de-multiplexing of digital holograms recorded in microscopic configuration
机译:
显微配置中记录的数字全息图的复用和解复用
作者:
Melania Paturzo
;
Pasquale Memmolo
;
Antonia Tulino
;
Andrea Finizio
;
Lisa Miccio
;
Pietro Ferraro
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
digital holography;
microscopy;
fourier optics and signal processing;
5.
Evaluation of measurement uncertainties in EUV scatterometry
机译:
评估EUV散射法中的测量不确定度
作者:
H. Gross
;
F. Scholze
;
A. Rathsfeld
;
M. Baer
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
lithographic masks;
inverse problem;
uncertainty estimates;
Monte Carlo method;
6.
Angle-resolved Optical Metrology using Multi-Technique Nested Uncertainties
机译:
使用多技术嵌套不确定度的角度分辨光学计量
作者:
R.M. Silver
;
B.M. Barnes
;
H. Zhou
;
N.F. Zhang
;
R. Dixson
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
nested uncertainty;
uncertainty analysis;
Bayesian statistics;
optical critical dimension;
reference metrology;
7.
A model based approach to reference-free straightness measurement at the Nanometer Comparator
机译:
基于模型的纳米比较器无基准直线度测量方法
作者:
C. Weichert
;
M. Stavridis
;
M. Walzel
;
C. Elster
;
A. Wiegmann
;
M. Schulz
;
R. Koening
;
J. Fluegge
;
R. Tutsch
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
straightness measurement;
Monte Carlo simulation;
virtual experiment;
error separation;
8.
Measuring and Modeling the appearance of coated steel surfaces
机译:
测量和建模涂层钢表面的外观
作者:
V. Goossens
;
E. Stijns
;
S. Van Gils
;
R. Finsy
;
H. Terryn
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
scattering;
modeling;
reflections and steel;
9.
Power Spectral Density Specification and Analysis of Large Optical Surfaces
机译:
大光学表面的功率谱密度指标和分析
作者:
Erkin Sidick
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
power spectral density;
wavefront;
optical surface specification;
large optical surfaces;
10.
Sensing performance of a Shack Hartmann Wavefront Sensor versus the properties of the light beam
机译:
Shack Hartmann波前传感器的传感性能与光束特性
作者:
L P Zhao
;
W J Guo
;
X Li
;
Z W Zhong
会议名称:
《》
|
2009年
关键词:
shack-hartmann wavefront sensor;
simulation;
performance;
light beam;
11.
Full-field absolute phase measurements in the heterodyne interferometer with an electro-optic modulator
机译:
带电光调制器的外差干涉仪中的全场绝对相位测量
作者:
Y. L. Chen
;
H. C. Hsieh
;
W. T. Wu
;
D. C. Su
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
electro-optic modulator;
phase measurement;
heterodyne interferometer;
12.
Fabrication of tunable grating with silver nanoparticles
机译:
银纳米粒子可调谐光栅的制备
作者:
Tung-Kai Liu
;
Wen-Chi Hung
;
Ming-Shan Tsai
;
Yong-Chang Tsao
;
I-Min Jiang
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
silver nanoparticle;
grating;
localized surface plasmon;
first order diffraction efficiency;
13.
Prospects and Limits of the Rayleigh Fourier Approach for Diffraction Modelling in Scatterometry and Lithography
机译:
散射和平版印刷中的衍射建模的瑞利傅里叶方法的前景和局限性
作者:
Joerg Bischoff
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
optical scatterometry;
lithography simulation;
grating diffraction;
14.
Far field of binary phase gratings with errors in the height of the strips
机译:
二元相位光栅的远场,其条带高度存在误差
作者:
Jose Maria Rico-Garcia
;
Luis Miguel Sanchez-Brea
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
15.
Diffraction microtomography with sample rotation: primary result on the influence of a missing apple core in the recorded frequency space
机译:
带有样品旋转的衍射显微断层照相术:在记录的频率空间中缺少苹果核的影响的主要结果
作者:
Stanislas Vertu
;
Ichiro Yamada
;
Jean-Jacques Delaunay
;
Olivier Haeberle
;
Jens Fluegge
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
three-dimensional microscopy;
coherent tomography;
holographic interferometry;
fourier optics;
image reconstruction;
16.
Inspection of misalignment factors in lens assembly
机译:
检查镜头组件中的未对准因素
作者:
Li Xiang
;
Zhao Liping
;
Fang Zhong Ping
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
contrast zernike coefficient;
misalignment;
lens assembly;
dual directional wavefront sensing;
17.
Metallic nonlinear magnetooptical nonreciprocal isolator
机译:
金属非线性磁光不可逆隔离器
作者:
Hala J. El-Khozondar
;
Rifa J. El-Khozondar
;
Mohammed M. Shabat
;
Alexander W. Koch
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
nonlinear waveguide;
isolator;
magnetooptic;
nonreciprocal devices;
planar waveguide;
optical fiber;
18.
Assistance system for optical sensors
机译:
光学传感器辅助系统
作者:
R. Schmitt
;
F. Koerfer
;
J. Seewig
;
W. Osten
;
A. Weckenmann
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
assistance system;
whitelight interferometry;
confocal;
profilers;
measurement uncertainty;
19.
Temperature Sensitivity of TE double-negative metamaterial optical sensor
机译:
TE双负超材料光学传感器的温度灵敏度
作者:
Hala J. El-Khozondar
;
Mathias Mueller
;
Rifa J. El-Khozondar
;
Mohammed M. Shabat
;
Alexander W. Koch
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
optical waveguide;
sensor;
double- negative materials;
Metamaterials;
sensitivity;
temperature sensors;
left handed materials;
20.
Spatial elliptical polariscope for polarization distribution measurements
机译:
空间椭圆偏振镜,用于偏振分布测量
作者:
Wladyslaw A. Wozniak
;
Slawomir Drobczynski
;
Piotr Kurzynowski
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
polarization;
birefringence;
optical activity;
polariscope;
Fourier analysis;
21.
Determination of phase and modulation transfer function (PTF and MTF) of a printer by the convolution of transmission function measurement
机译:
通过传输函数测量的卷积确定打印机的相位和调制传递函数(PTF和MTF)
作者:
Khosro Madanipour
;
Ameneh Bostani
;
Parviz Parvin
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
OTF;
MTF;
PTF;
convolution;
moire pattern;
autocorrelation;
22.
Numerical and experimental study of the characteristic functions of polygon scanners
机译:
多边形扫描仪特征函数的数值和实验研究
作者:
Virgil-Florin Duma
;
Mirela Nicolov
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
scanner;
polygon;
measuring system;
optical design;
optical metrology;
23.
Optimized square Fresnel zone plates for microoptics applications
机译:
优化的方形菲涅耳波带片,用于微光学应用
作者:
Jose Maria Rico-Garcia
;
Francisco Javier Salgado-Remacha
;
Luis Miguel Sanchez-Brea
;
Javier Alda
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
24.
On numerical reconstructions of lithographic masks in DUV scatterometry
机译:
DUV散射法中光刻掩模的数值重建
作者:
M.-A. Henn
;
R. Model
;
M. Baer
;
M. Wurm
;
B. Bodermann
;
A. Rathsfeld
;
H. Gross
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
DUV scatterometry;
inverse problems;
diffractive optics;
25.
Numerical investigations of prospects, challenges and limitations of non-imaging optical metrology of structured surfaces
机译:
结构化表面非成像光学计量的前景,挑战和局限性的数值研究
作者:
B. Bodermann
;
M. Wurm
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
scatterometry;
Ellipsometry;
Reflectometry;
Diffractometry;
CD;
pitch;
edge profile;
polarisation;
inverse diffraction problem;
26.
Analysis of the positioning error on lateral shearing surface reconstruction with a Fizeau interferometer
机译:
用Fizeau干涉仪分析横向剪切表面时的定位误差
作者:
Josep Vidal
;
Josep Nicolas
;
Juan Campos
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
x-ray optical mirror testing;
fizeau interferometer;
lateral shearing;
27.
Method of matrix Riccati equation for nanoshape control of diffraction gratings
机译:
用于衍射光栅纳米形状控制的矩阵Riccati方程法
作者:
Mikhail Yu. Barabanenkov
;
Vyacheslav V. Kazmiruk
;
Sergey Yu. Shapoval
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
diffraction grating;
riccati equation;
spectral order;
resonance scattering;
28.
Reduced basis method for fast and robust simulation of electromagnetic scattering problems
机译:
用于电磁散射问题的快速鲁棒模拟的简化基方法
作者:
Jan Pomplun
;
Frank Schmidt
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
inspection;
photo mask;
simulation;
reduced basis;
inverse metrology;
model order reduction;
29.
Comparison of electromagnetic field solvers for the 3D analysis of plasmonic nano antennas
机译:
用于等离子体纳米天线3D分析的电磁场求解器的比较
作者:
Johannes Hoffmann
;
Christian Hafner
;
Patrick Leidenberger
;
Jan Hesselbarth
;
Sven Burger
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
MMP;
FDTD;
FEM;
FVTD;
structured;
unstructured;
mesh free;
nano antenna;
30.
Method for measuring the refractive index distribution of a GRIN lens with heterodyne interferometry
机译:
用外差干涉法测量GRIN透镜的折射率分布的方法
作者:
H. C. Hsieh
;
Y. L. Chen
;
W. T. Wu
;
D. C. Su
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
circular-polarized light;
full-field heterodyne interferometry;
refractive index;
GRIN lens;
absolute phase;
electro-optic modulator;
31.
3D Finite-Element Simulations of Enhanced Light Transmission Through Arrays of Holes in Metal Films
机译:
通过金属膜中的孔阵列增强的光传输的3D有限元模拟
作者:
Sven Burger
;
Lin Zschiedrich
;
Jan Pomplun
;
Frank Schmidt
;
Benjamin Kettner
;
Daniel Lockau
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
subwavelength aperture;
3D Maxwell solver;
finite-element method;
nanophotonics;
plasmonics;
32.
Depth-of-field extension and 3D reconstruction in digital holographic microscopy
机译:
数字全息显微镜中的景深扩展和3D重建
作者:
Isabelle Bergoeend
;
Tristan Colomb
;
Nicolas Pavilion
;
Yves Emery
;
Christian Depeursinge
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
digital holographic microscopy;
depth-of-field extension;
3D reconstruction;
33.
Shape measurement of diffuse and transparent objects by two wavelength contouring using phase retrieval
机译:
使用相位检索通过两个波长轮廓线测量漫反射和透明物体的形状
作者:
Arun Anand
;
Vani K Chhaniwal
;
Giancarlo Pedrini
;
Wolfgang Osten
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
shape measurement;
contouring;
volume speckle field;
diffraction theory;
angular spectrum propagation;
34.
Interferometric Ronchi test by using substructured gratings
机译:
使用子结构光栅的干涉Ronchi测试
作者:
Manuel Campos-Garcia
;
Fermin Granados-Agustin
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
ronchi test;
optical testing;
substructured grating;
35.
Lithography Simulation: Modeling Techniques and Selected Applications
机译:
光刻模拟:建模技术和所选应用
作者:
Andreas Erdmann
;
Tim Fuehner
;
Feng Shao
;
Peter Evanschitzky
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
lithography simulation;
image modeling;
photoresist modeling;
computational lithography;
lithography masks;
double exposure and patterning;
EUV-lithography;
36.
Traceability of the F25 vision system for calibration of grated structures with sub-micron accuracy
机译:
F25视觉系统的可追溯性,可用于磨碎结构的亚微米精度校准
作者:
Ancuta I. Mares
;
Rob H. Bergmans
;
Gerard J. W. L. Kotte
;
Rutger R. Tromp
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
vision system;
VIScan;
illumination;
traceability;
uncertainty sources;
edge detection;
two-dimensional standards;
line width;
37.
Inverse optical design: building and testing an artificial eye
机译:
逆光学设计:构建和测试人造眼
作者:
Alexander V. Goncharov
;
Brice Lerat
;
Maciej Nowakowski
;
Christopher Dainty
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
optical testing;
eye model;
ray-tracing;
interferometry;
aberrations;
optical design;
38.
Adaptive Bessel-autocorrelation of ultrashort pulses with phase-only spatial light modulators
机译:
具有仅相位空间光调制器的超短脉冲的自适应贝塞尔自相关
作者:
Silke Huferath-von Luepke
;
Martin Bock
;
Ruediger Grunwald
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
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2009年
关键词:
bessel autocorrelator;
pulse characterization;
ultrashort pulses;
phase shift;
spatial light modulator;
39.
Variable waveplate-based polarimeter for polarimetric metrology
机译:
基于可变波片的偏振计,用于偏振计量
作者:
Alba Peinado
;
Angel Lizana
;
Josep Vidal
;
Claudio Iemmi
;
Andres Marquez
;
Ignacio Moreno
;
Juan Campos
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
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2009年
关键词:
polarimeter;
LCD;
Stokes vector;
variable waveplate;
state of polarization;
40.
Measurement Errors from Internal Shear Strain within Fiber-Bragg-Grating Sensors
机译:
光纤光栅传感器内部剪切应变引起的测量误差
作者:
Mathias S. Mueller
;
Thorbjoern C. Buck
;
Hala J. El-Khozondar
;
Alexander W. Koch
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
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2009年
关键词:
fiber Bragg grating;
fiber-optic sensors;
measurement error;
shear strain;
41.
Modelling of the polarization mode dispersion in the single mode optical fiber links
机译:
单模光纤链路中偏振模色散的建模
作者:
L. Cherbi
;
M. Mehenni
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
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2009年
关键词:
birefringence;
differential group delay(DGD);
polarization mode dispersion (PMD);
single mode fiber;
modelling;
transmission optical system;
hight debit;
Digital signal;
propagation constant;
bandwidth;
42.
Optical characteristics of a one-dimensional photonic crystal with an additional regular layer
机译:
具有附加规则层的一维光子晶体的光学特性
作者:
V.A. Tolmachev
;
A .V. Baldycheva
;
E.Yu. Krutkova
;
T.S. Perova
;
K. Berwick
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
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2009年
关键词:
1D photonic crystal;
tunable photonic crystal;
multicomponent photonic crystal;
photonic gap map;
43.
Modelling of laser range-measurement of under-water objects in maritime environment
机译:
海洋环境中水下物体激光测距建模
作者:
Roman Ostrowski
;
Artur Cywinski
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
laser rangefinder;
extinction coefficient;
range detection;
under-water object;
maritime environment;
44.
Talbot effect with aberrated beams
机译:
塔尔博特效应与畸变光束
作者:
Francisco Jose Torcal-Milla
;
Luis Miguel Sanchez-Brea
;
Eusebio Bernabeu
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
|
2009年
关键词:
diffraction gratings;
aberrated beam;
self-imaging;
45.
Optical testing of a parabolic trough solar collector by a null screen with stitching
机译:
通过带缝线的零屏对抛物槽式太阳能集热器进行光学测试
作者:
V.I. Moreno-Oliva
;
M. Campos-Garcia
;
F. Granados-Agustin
;
M. J. Arjona-Perez
;
R. Diaz-Uribe
;
M. Avendano-Alejo
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
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2009年
关键词:
null screen;
parabolic trough solar collector;
optical testing;
46.
Modeling of adaptive compensation of aberrations of optical system using deformable mirror
机译:
使用可变形反射镜的光学系统像差自适应补偿建模
作者:
A. Miks
;
J. Novak
;
P. Novak
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
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2009年
关键词:
adaptive optics;
deformable mirror;
compensation of aberrations;
47.
Nanoshaped objects of equal phase volume: scattered far field comparison
机译:
等相体积的纳米物体:分散远场比较
作者:
Alexander Normatov
;
Boris Spektor
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
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2009年
关键词:
nanoscale object;
measurement sensitivity;
nano-object shape;
48.
Specular and diffuse scattering from random asperities of any profile using the rigorous method for x-rays and neutrons
机译:
使用严格的X射线和中子方法,从任意轮廓的随机凹凸上进行镜面和漫反射散射
作者:
Leonid I. Goray
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology II》
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2009年
关键词:
x-ray and neutron scattering;
grazing-incidence x-ray reflectometry;
random roughness;
quantum dots;
boundary integral equations;
specular and diffuse reflectance;
numerical scattering analysis;
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