摘要：脉冲放电氦离子化检测器作为一种通用型检测器,对几乎所有气体组分均具有很高的灵敏度.中心切害技术通过对气体的切割,可有效分离低含量待测组分,防止底气干扰.二者的结合可较好的用于对高纯气体中痕量杂质测定.本文以He、N2、Ar三种高纯气体分析为例,阐述了中心切割技术及脉冲放电氦离子化气相色谱技术的应用,并对操作过程中可能遇到的问题进行了讨论.通过对He、N2、Ar三种高纯气体的分析显示:(1)本文描述的色谱系统具有较好的重复性，但对于峰面积很小的组分,重复性较差;(2)PDHID对高纯气体中的无机杂质具有很好的响应;(3)中心切割技术对气体的分析具有很好的效果,尤其是对于色谱载气以外的气体可以显著减少底气信号对谱图的影响,提高分析速度及灵敏度.需要注意的是,在使用中心切割时,需要设置合适的阀开关时间,确保待测物完全分离出来,通常在实际操作过程中需设置多个时间组合,观察目标物峰面积的变化.
