摘要:讨论了Nb中Ta的分析现状以及面临的困难,以寻找更理想的分析线为出发点,将光谱谱线表200nm~400nm波长范围内几万条谱线与谱板进行对照,在330nm长波方向发现了3条Ta分析线,其中2条由于基体线干扰不能采用,实验显示了波长位于331.12nm的分析线长短波两侧无干扰线存在,这条Ta分析线虽能级为4p级,但它位于长波方向.本研究正是利用了长波谱线灵敏度高的这一特点来实现最终目标的.试验确定了波长为331.12nm的分析线,与过去相比,灵敏度提高了两个级差相当于一个数量级.结果表明:利用原方法与其它杂质同时测定,提高了分析速度,缩短了工作时间,简化了方法的复杂性,使操作简便易行。