業績向上に直結する品質管理の方法: 第11回シックスシグマの実際(続)

摘要

検査機器で不良を後工程に漏洩させる要因はすでに前章で述べた通り、繰返し誤差の発生であることを説明した。繰返し誤差による不良漏洩にもう1つの発生原因があり、これを説明したい。過去に経験した事例を紹介しよう。HDD用媒体に使用される、サブストレイトと呼ばれるアルミニウム円盤の偏心を検査していた。そのサブストレィトはァメリカの出荷検査良品を受人検査で検查すると不良品が多発し大問題になつた。受入検查で不良品を返却し、再検査を依頼した結果良品であると回答してきた。