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Working with Lenses Beyond the Visible

机译:超越可见光使用镜头

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摘要

With the availability of high-resolution indium gallium arsenide (InGaAs) shortwave-infrared (SWIR) sensors, infrared imaging is now practical in commercial and industrial inspection and imaging applications. As the number of SWIR imaging applications has increased, so has the need for affordable off-the-shelf SWIR imaging lenses. While much of the conventional wisdom regarding lens performance criteria in visible imaging translates well to SWIR, SWIR is not without its own unique set of challenges. Infrared wavelengths exist in the part of the electromagnetic spectrum that extends from approximately 700 nm. The IR portion of the spectrum can be divided into sections generally referred to as near (NIR)/shortwave, midwave (MWIR), and longwave (LWIR). While no exact definitions exist, the 700-to-1800-nm SWIR wavelength corresponds approximately to the standard InGaAs sensor response curve (see Fig. 1).
机译:随着高分辨率砷化铟镓(InGaAs)短波红外(SWIR)传感器的问世,红外成像现已在商业和工业检查和成像应用中变得实用。随着SWIR成像应用程序数量的增加,对可负担得起的现成SWIR成像镜头的需求也随之增加。尽管关于可见光成像中镜头性能标准的许多传统观点可以很好地转化为SWIR,但SWIR并非没有其自身独特的挑战。红外波长存在于电磁光谱的大约700 nm范围内。频谱的IR部分可以分为通常称为近(NIR)/短波,中波(MWIR)和长波(LWIR)的部分。虽然没有确切的定义,但700至1800 nm的SWIR波长大致对应于标准InGaAs传感器响应曲线(见图1)。

著录项

  • 来源
    《Vision Systems Design》 |2012年第9期|31-3437|共5页
  • 作者

    Lucas Willis;

  • 作者单位

    Optics (Barrington, NJ, USA;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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